技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種通信光纖宏彎損耗測試方法，將待測通信光纖按照測試要求的半徑和圈數(shù)繞圈后，置于光功率吸收劑中，采用宏彎損耗測試裝置對待測光纖的宏彎損耗進(jìn)行測試，從而實(shí)現(xiàn)在測試過程中有效吸收泄露出光纖的光功率，抑制W波對測試的影響，獲得光纖宏彎損耗的真實(shí)數(shù)值，保證了宏彎損耗測試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

技術(shù)研發(fā)人員：李琳瑩;甘露;宋志佗;李秋云
受保護(hù)的技術(shù)使用者：電信科學(xué)技術(shù)第五研究所
文檔號碼：201610723643
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.25
技術(shù)公布日：2017.02.22