技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種適用于平板端射陣列天線的幅相誤差校正方法，包括：（1）搭建幅相誤差校正系統(tǒng)；（2）布置暗室測試場景；（3）執(zhí)行校正操作：基于設(shè)定好的測試系統(tǒng)參數(shù)，進(jìn)行接收內(nèi)校、發(fā)射內(nèi)校、接收外校、發(fā)射外校操作，同時(shí)記錄測試結(jié)果；（4）計(jì)算幅相誤差補(bǔ)償系數(shù)：根據(jù)近場掃描探頭的位置，計(jì)算由于傳播路徑不同導(dǎo)致的平板端射陣列天線各通道傳輸信號(hào)的幅度相位差異；然后，結(jié)合內(nèi)校和外校測試數(shù)據(jù)，計(jì)算平板端射陣列天線各通道接收和發(fā)射的幅相誤差補(bǔ)償系數(shù)；（5）波瓣測試驗(yàn)證。本發(fā)明可以精確的校正平板端射陣列天線各通道的幅相誤差，提高平板端射陣在實(shí)際應(yīng)用中的天線性能；采用數(shù)字技術(shù)來實(shí)現(xiàn)幅相誤差，可移植性強(qiáng)，控制靈活。

技術(shù)研發(fā)人員：代澤洋;劉寶泉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所
文檔號(hào)碼：201610715118
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.24
技術(shù)公布日：2017.01.11