1.一種油浸式電容型套管進(jìn)水受潮缺陷的測試系統(tǒng)，包括在線監(jiān)測裝置和局部放電測試儀，其特征在于，還包括：與交流電源連接的調(diào)壓器，用于調(diào)整測試所用的運行電壓，與所述調(diào)壓器連接的變壓器，與所述變壓器的次級繞組連接的保護(hù)電阻，與所述保護(hù)電阻連接的第一試品電容和第二試品電容，與所述第一試品電容連接的第一檢測阻抗，所述局部放電測試儀與所述第一檢測阻抗連接用于檢測所述第一檢測阻抗兩端的局部放電信號，與所述第二試品電容連接的第二檢測阻抗，所述在線監(jiān)測裝置與所述第二檢測阻抗連接用于檢測所述第二檢測阻抗處的電信號；
其中，所述變壓器包含待測套管，所述第一檢測阻抗的另一端和所述第二檢測阻抗的另一端接地。
2.一種油浸式電容型套管進(jìn)水受潮缺陷的測試方法，用于權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：
S10：在初始狀態(tài)下，測量得到常溫環(huán)境中各待測套管的油中微水含量、本體介損、電容量、絕緣電阻值以及吸收比；
S11：在升溫過程中，依次測量所述待測套管在各溫度值下所對應(yīng)的10kV介損和電容量，在降溫過程中，通過在線監(jiān)測裝置得到所述待測套管在各溫度值下所對應(yīng)的10kV介損、電容量、高壓介損和泄露電流值；
S12：對所述待測套管注入預(yù)定量的水后，在升溫過程中，測量所述待測套管在各溫度值下所對應(yīng)的10kV介損和電容量，在降溫過程中，測量所述待測套管在各溫度值下所對應(yīng)的10kV介損、電容、高壓介損和泄露電流；
S13：在常溫環(huán)境中，通過所述在線監(jiān)測裝置得到各所述待測套管的10kV介損和電容量，同時通過局部放電測試儀得到所述待測套管的局部放電信號；
S14：當(dāng)達(dá)到預(yù)定時間時，判斷當(dāng)前測量結(jié)果與步驟S13中的10kV介損、電容量和局部放電信號是否發(fā)生變化，如果是，返回步驟S12，否則控制調(diào)壓器持續(xù)調(diào)壓，同時周期性地測量所述待測套管的介損和電容量，直至所述待測套管出現(xiàn)滲漏油、裂紋或超過步驟S13中電容量5％以上為止。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述待測套管的數(shù)量為3支。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S11中，所述升溫過程的起點為常溫，最大溫度值為90℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S11中，所述降溫過程的起點為90℃，終點為常溫。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S11，在所述升溫過程中，每次升溫幅度為10℃，且保溫3小時。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S12中首次對所述待測套管注入預(yù)定量的水分別為10ml、20ml、30ml，后續(xù)均為30ml。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S12在升溫過程之前還包括：在將所述待測套管置于烘房內(nèi)的情況下，周期性地測量所述待測套管的油中微水含量和10kV介損，直至測量結(jié)果沒有變化為止。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S12，在所述升溫過程中，每次升溫幅度為10℃，且保溫3小時。
10.根據(jù)權(quán)利要求2至9任意一項所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S14中，所述預(yù)定時間為3周時間。