技術特征：

1.一種檢測CT光子計數(shù)型探測器準確性的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟1、搭建第一CT掃描系統(tǒng)，包括光源(1)、模體(2)和探測器(3)，對模體掃描得到第一組掃描數(shù)據(jù)，具體包括：

步驟101、設置光源(1)為X射線球管；

步驟102、所述模體(2)設于所述光源(1)與探測器(3)之間，所述模體(2)設置為三棱柱形雙材料模體，所述三棱柱的上下底面為全等的等腰鈍角三角形，以上下底面的底邊上的高所在的矩形切面為界，將三棱柱模體均分為兩個等大的楔形部分，一側(cè)楔形為第一種衰減材料(201)，另一側(cè)楔形為第二種衰減材料(202)；所述三棱柱中等腰鈍角三角形的底邊所在的矩形側(cè)面作為入射面(203)，另外兩個矩形側(cè)面分別為第一出射面(204)和第二出射面(205)，所述入射面(203)正對所述光源(1)放置；

步驟103、設置探測器(3)為普通平板電荷積分型X射線探測器；

步驟104、利用所述第一CT掃描系統(tǒng)掃描所述三棱柱形雙材料模體，啟動所述X射線球管發(fā)射X射線，發(fā)出的X射線從入射面(203)射入，同時穿過所述雙材料模體的兩種衰減材料，從所述第一出射面(204)和第二出射面(205)射出；

步驟105、所述探測器(3)接收穿過所述模體(2)后的X射線信號，得到第一組掃描數(shù)據(jù)；

步驟2、去掉所述第一CT掃描系統(tǒng)中的模體(2)，其他參數(shù)和條件不變，形成第二CT掃描系統(tǒng)，啟動光源(1)，進行空掃，得到第二組掃描數(shù)據(jù)；

步驟3、基于衰減透射原理，進行X射線能譜測量，依據(jù)掃描得到的第一組掃描數(shù)據(jù)和第二組掃描數(shù)據(jù)對X射線能譜進行求解，得到X射線第一離散能譜；

步驟4、用待測的CT光子計數(shù)型探測器替換所述第二CT掃描系統(tǒng)中的普通平板探測器，光源(1)的設置不變，進行空掃，得到X射線第二離散能譜；

步驟5、將所述X射線第二離散能譜與所述X射線第一離散能譜進行對比，如果兩者一致或誤差在預定誤差范圍內(nèi)，則CT光子計數(shù)型探測器準確性達到要求，否則，準確性不足。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測CT光子計數(shù)型探測器準確性的方法，其特征在于，所述步驟1中，所述模體(2)的大小及設于所述光源(1)與探測器(3)之間的具體位置依據(jù)光源(1)與探測器(3)的距離、X射線覆蓋到的角度和探測器(3)工作面的大小設置，使所述光源(1)發(fā)射的X射線覆蓋整個模體(2)，且被探測器(3)工作面接收到。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測CT光子計數(shù)型探測器準確性的方法，其特征在于，所述三棱柱形雙材料模體的等腰鈍角三角形的鈍角角度依據(jù)X射線覆蓋到的角度、光源(1)與模體(2)之間的距離及衰減材料的厚度設置，既要保證X射線能覆蓋整個模體(2)，又要保證模體(2)的厚度不至于使光子數(shù)衰減過于嚴重而影響探測效果。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測CT光子計數(shù)型探測器準確性的方法，其特征在于，所述步驟3中，基于衰減透射原理，進行X射線能譜測量的方法具體為：

步驟301、利用兩次掃描得到的第一組掃描數(shù)據(jù)和第二組掃描數(shù)據(jù)，獲得X射線透射率隨衰減材料的厚度變化的線性方程組，線性方程的公式為：

$T\left(x_{s,i}\right)=\underset{j=1}{\overset{n}{\Σ}}F\left(E_j\right)\exp \[-{\mathrm{\μ}}_s\left(E_j\right){\mathrm{\ρ}}_s{x}_{s,i}\]\mathrm{\Δ}E$

式中，x_s，i(i＝1，…，m，s＝1，2)表示第s種衰減材料的第i種厚度，s＝1表示為第一種衰減材料(201)，s＝2表示為第二種衰減材料(202)，m表示第s種衰減材料的厚度總個數(shù)，m的取值由探測器(3)上劃分的探測區(qū)域的個數(shù)決定；T(x_s，i)表示離散化的X射線透射率，T(x_s，i)＝I(x_s，i)/I(O_s)，I(x_s，i)為第一組掃描數(shù)據(jù)，表示經(jīng)過厚度為x_s，i的衰減材料后的探測器接收信號強度，I(O_s)為第二組掃描數(shù)據(jù)，表示空掃得到的未經(jīng)衰減的探測器接收信號強度；E_j(j＝1，…，n)表示離散光子能量，j表示不同離散光子能量的編號，n表示離散光子能量的總個數(shù)，n的取值在實際操作中依據(jù)實際操作條件并保證方程的個數(shù)大于等于n而設定，E₁＝E_min，表示光子能量下限，E_n＝E_max，表示光子能量上限；F(E_j)表示離散能譜值；μ_s(E_j)表示在每個離散能量下衰減材料s的質(zhì)量衰減系數(shù)；ρ_s表示衰減材料s的密度；ΔE表示離散能量區(qū)間寬度，ΔE＝(E_max-E_min)/(n-1)；

步驟302、求解步驟301中的線性方程組，重建X射線能譜，利用最大期望算法求解線性方程，得到X射線第一離散能譜值F(E_j)。

5.根據(jù)權利要求1至4任一項所述的一種檢測CT光子計數(shù)型探測器準確性的方法，其特征在于，所述第一種衰減材料(201)為鐵，第二種衰減材料(202)為鋁。