本發(fā)明涉及復(fù)雜曲面檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試和標(biāo)定裝置及方法。
背景技術(shù):
大口徑復(fù)雜曲面是現(xiàn)代光學(xué)系統(tǒng)重要的組成元件。在復(fù)雜曲面的制造過程中,頂點曲率半徑、離軸量及偏心等幾何參數(shù)是表述反射面的重要參數(shù),其光學(xué)參數(shù)的精確測試和標(biāo)定是研制過程中保證其質(zhì)量的關(guān)鍵。
當(dāng)前,測量復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)的方法主要為采用鋼尺或已知長度的間隔桿測量、利用激光跟蹤儀進(jìn)行直接測量兩種方式。利用鋼尺或已知長度的間隔桿測量時,采用估讀的方式,鋼尺及測量桿的精度較低且無法準(zhǔn)確測量到大口徑復(fù)雜曲面的頂點位置,導(dǎo)致該測量方法的精度較低;利用激光跟蹤儀進(jìn)行直接測量時,只能測量補(bǔ)償元件及復(fù)雜曲面的一部分基準(zhǔn)面,由于基準(zhǔn)面信息的缺失會放大測試過程中的偶然因素,導(dǎo)致光學(xué)參數(shù)測試精度的降低。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
有鑒于此,本發(fā)明提供了大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試和標(biāo)定裝置及方法,通過轉(zhuǎn)站來實現(xiàn)補(bǔ)償元件及復(fù)雜曲面所有基準(zhǔn)面的測量,能夠?qū)崿F(xiàn)對復(fù)雜曲面頂點曲率半徑R、離軸量d及偏心Δ等光學(xué)參數(shù)的精確測試及標(biāo)定,數(shù)據(jù)處理及運(yùn)算過程較簡單,操作簡單方便,測試成本低、通用性好。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的:大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試和標(biāo)定裝置,該裝置針對待測復(fù)雜曲面進(jìn)行測試和標(biāo)定;包括:激光跟蹤儀、激光干涉儀、補(bǔ)償元件、變換矩陣標(biāo)定機(jī)構(gòu)以及測試標(biāo)定模塊;補(bǔ)償元件和待測復(fù)雜曲面順次安放在激光干涉儀的出射光路上。
該裝置所針對的待測復(fù)雜曲面由反射面以及包圍在反射面四周的基準(zhǔn)面組成。
變換矩陣標(biāo)定機(jī)構(gòu)包括M個位置預(yù)先設(shè)定的球座和位于球座上的靶標(biāo)球;其中任意三個靶標(biāo)球不共線。
激光跟蹤儀依次設(shè)置于在待測復(fù)雜曲面的反射面兩側(cè)選取的N個位置上,分別測試獲得待測復(fù)雜曲面的反射面和所有基準(zhǔn)面的面形數(shù)據(jù),并同時測試獲得M個靶標(biāo)球的位置坐標(biāo)。
測試標(biāo)定模塊獲取激光干涉儀檢測得到的復(fù)雜曲面的面形,并發(fā)出控制信號給激光干涉儀、補(bǔ)償元件以及待測復(fù)雜曲面的調(diào)整機(jī)構(gòu),控制調(diào)整機(jī)構(gòu)實現(xiàn)對三者的相對位置和相對角度的調(diào)整,使得激光干涉儀檢測得到的復(fù)雜曲面的面形的均方根誤差最小且離焦量為零;測試標(biāo)定模塊同時獲取激光跟蹤儀在N個位置上測試獲得的待測復(fù)雜曲面的反射面和所有基準(zhǔn)面的面形數(shù)據(jù)以及M個靶標(biāo)球的位置坐標(biāo),基于M個靶標(biāo)球的位置坐標(biāo)建立激光跟蹤儀在N個位置轉(zhuǎn)站過程中的坐標(biāo)變換矩陣;基于坐標(biāo)變換矩陣,將N個位置獲得的面形數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)變換到同一坐標(biāo)系中;對同一坐標(biāo)系中的所有面形數(shù)據(jù)進(jìn)行建模分析并計算,得到補(bǔ)償元件與待測復(fù)雜曲面中心的間隔L、待測復(fù)雜曲面的離軸量d及偏心量Δ;將間隔L代入待測復(fù)雜曲面的光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果并進(jìn)一步優(yōu)化,得到待測復(fù)雜曲面的頂點曲率半徑R;將頂點曲率半徑R、離軸量d及偏心量Δ代入光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果中并進(jìn)一步優(yōu)化,優(yōu)化結(jié)果即為基于反射鏡實測參數(shù)的最優(yōu)光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果。
進(jìn)一步地,調(diào)整機(jī)構(gòu)包括第一調(diào)整機(jī)構(gòu)、第二調(diào)整機(jī)構(gòu)、第三調(diào)整機(jī)構(gòu);激光干涉儀、補(bǔ)償元件以及待測復(fù)雜曲面分別由第一調(diào)整機(jī)構(gòu)、第二調(diào)整機(jī)構(gòu)和第三調(diào)整機(jī)構(gòu)進(jìn)行相對位置和相對角度的調(diào)整。
進(jìn)一步地,M和N的關(guān)系為:3MN>6(N-1)+3M。
進(jìn)一步地,N為2,M為4。
進(jìn)一步地,方法具體包括如下步驟:
步驟1)調(diào)節(jié)第一調(diào)整機(jī)構(gòu)、第二調(diào)整機(jī)構(gòu)和第三調(diào)整機(jī)構(gòu)的相對位置和相對角度,使激光干涉儀檢測得到的復(fù)雜曲面的面形的均方根誤差最小且離焦量為零。
步驟2)將激光跟蹤儀依次置于N個位置上,激光跟蹤儀在每一位置上均測試待測復(fù)雜曲面的反射面和所有可測基準(zhǔn)面的面形數(shù)據(jù),并測試固定的M個球座的靶標(biāo)球位置坐標(biāo)。
步驟3)基于步驟2)中測得的靶標(biāo)球位置坐標(biāo),建立激光跟蹤儀在N個位置轉(zhuǎn)站過程中的坐標(biāo)變換矩陣。
步驟4)基于坐標(biāo)變換矩陣,將N個位置獲得的面形數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)變換到同一坐標(biāo)系中。
步驟5)對同一坐標(biāo)系中的所有面形數(shù)據(jù)進(jìn)行建模分析并計算,得到補(bǔ)償元件與待測復(fù)雜曲面中心的間隔L、待測復(fù)雜曲面的離軸量d及偏心量Δ。
步驟6)將間隔L代入待測復(fù)雜曲面的光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果并進(jìn)一步優(yōu)化,得到待測復(fù)雜曲面的頂點曲率半徑R。
步驟7)將步驟5)和步驟6)得到的頂點曲率半徑R、離軸量d及偏心量Δ代入光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果中并進(jìn)一步優(yōu)化,優(yōu)化結(jié)果即為基于反射鏡實測參數(shù)的最優(yōu)光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果。
進(jìn)一步地,步驟3)中,激光跟蹤儀在第一位置和第二位置兩個位置轉(zhuǎn)站過程中的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換矩陣包括第一和第二位置處直角坐標(biāo)系之間的相對平移量P和繞各坐標(biāo)軸的角度量Q,具體求解方法為:首先將激光跟蹤儀在N個位置處測得的靶標(biāo)球位置坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為直角坐標(biāo)系下的坐標(biāo);依據(jù)第一和第二位置處直角坐標(biāo)系之間的相對平移量P和繞各坐標(biāo)軸的角度量Q構(gòu)建轉(zhuǎn)站誤差以及轉(zhuǎn)站誤差的評價函數(shù),針對轉(zhuǎn)站誤差的評價函數(shù)采用奇異值分解法求解得到P和Q。
其中激光跟蹤儀在第i個位置處測得的靶標(biāo)球位置坐標(biāo)分別為xi,yi;則轉(zhuǎn)站誤差為:ei=Qxi+P-yi,i=1,2,...,N。
轉(zhuǎn)站誤差的評價函數(shù)為
有益效果:
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過建立激光跟蹤儀在不同位置時的轉(zhuǎn)站變換矩陣,能夠測試補(bǔ)償元件和復(fù)雜曲面的所有基準(zhǔn)面并進(jìn)行建模分析,實現(xiàn)了大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)的精確測試與標(biāo)定。該方法物理概念明確,數(shù)據(jù)處理與建模簡單,操作方便,測試成本低、精度高、通用性好。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試的裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明的建立兩臺激光跟蹤儀之間變換矩陣的裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本發(fā)明的大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試和標(biāo)定的流程圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖并舉實施例,對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。
實施例1、如圖1所示,本發(fā)明的大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試的裝置包括:激光跟蹤儀如圖1中位置1及位置2所示、激光干涉儀3、補(bǔ)償元件4、待測復(fù)雜曲面5、調(diào)整機(jī)構(gòu)6、調(diào)整機(jī)構(gòu)7、調(diào)整機(jī)構(gòu)8以及測試標(biāo)定模塊。
如圖2所示,本發(fā)明的建立兩臺激光跟蹤儀之間變換矩陣的裝置包括激光跟蹤儀圖2中位置1及位置2所示、球座9、球座10、球座11、球座12。
結(jié)合圖1和圖2說明本發(fā)明的具體實施方式,大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試和標(biāo)定裝置針對待測復(fù)雜曲面5進(jìn)行測試和標(biāo)定;待測復(fù)雜曲面5由反射面以及包圍在反射面四周的基準(zhǔn)面組成。
變換矩陣標(biāo)定機(jī)構(gòu)包括M個位置預(yù)先設(shè)定的球座和位于球座上的靶標(biāo)球;其中任意三個靶標(biāo)球不共線。
位置關(guān)系具體為:補(bǔ)償元件4和待測復(fù)雜曲面5順次安放在激光干涉儀3的出射光路上;在待測復(fù)雜曲面5的反射面兩側(cè)選取N個位置,將激光跟蹤儀依次設(shè)置于N個位置上,分別測試獲得待測復(fù)雜曲面5的反射面和所有基準(zhǔn)面的面形數(shù)據(jù),并同時測試獲得M個靶標(biāo)球的位置坐標(biāo)。
測試標(biāo)定模塊獲取激光干涉儀3檢測得到的復(fù)雜曲面的面形,并發(fā)出控制信號給激光干涉儀3、補(bǔ)償元件4以及待測復(fù)雜曲面5的調(diào)整機(jī)構(gòu),控制調(diào)整機(jī)構(gòu)實現(xiàn)對三者的相對位置和相對角度的調(diào)整,使得激光干涉儀3檢測得到的復(fù)雜曲面的面形的均方根誤差最小且離焦量為零;測試標(biāo)定模塊同時獲取激光跟蹤儀在N個位置上測試獲得的待測復(fù)雜曲面5的反射面和所有基準(zhǔn)面的面形數(shù)據(jù)以及M個靶標(biāo)球的位置坐標(biāo),基于M個靶標(biāo)球的位置坐標(biāo)建立激光跟蹤儀在N個位置轉(zhuǎn)站過程中的坐標(biāo)變換矩陣;基于坐標(biāo)變換矩陣,將N個位置獲得的面形數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)變換到同一坐標(biāo)系中;對同一坐標(biāo)系中的所有面形數(shù)據(jù)進(jìn)行建模分析并計算,得到補(bǔ)償元件4與待測復(fù)雜曲面5中心的間隔L、待測復(fù)雜曲面5的離軸量d及偏心量Δ;將間隔L代入待測復(fù)雜曲面5的光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果并進(jìn)一步優(yōu)化,得到待測復(fù)雜曲面5的頂點曲率半徑R;將頂點曲率半徑R、離軸量d及偏心量Δ代入光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果中并進(jìn)一步優(yōu)化,優(yōu)化結(jié)果即為基于反射鏡實測參數(shù)的最優(yōu)光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果。
本實施例中,假設(shè)激光跟蹤儀的位置數(shù)為N,靶標(biāo)球個數(shù)為M,每個位置的激光跟蹤儀在空間有6個參數(shù),相對平移量x,y,z和繞各坐標(biāo)軸的角度量α,β,γ,每個固定測點有3個測量值,水平角H、俯仰角V、距離D。根據(jù)共線性方程,每個位置的激光跟蹤儀與每個固定測點之間可以有3個方程,則激光跟蹤儀轉(zhuǎn)站的求解條件為:
3MN>6(N-1)+3M 1
本發(fā)明中,激光跟蹤儀的位置數(shù)N為2,固定測點數(shù)M為4,滿足公式1的求解條件,可以進(jìn)行激光跟蹤儀的轉(zhuǎn)站關(guān)系求解。
實施例2、如實施例1的大口徑復(fù)雜曲面光學(xué)參數(shù)精確測試和標(biāo)定裝置的測試和標(biāo)定方法,該方法具體包括如下步驟:
步驟1)調(diào)節(jié)第一調(diào)整機(jī)構(gòu)6、第二調(diào)整機(jī)構(gòu)7和第三調(diào)整機(jī)構(gòu)8的相對位置和相對角度,使激光干涉儀3檢測得到的復(fù)雜曲面的面形的均方根誤差最小且離焦量為零;
步驟2)將激光跟蹤儀依次置于N個位置上,激光跟蹤儀在每個位置上測試待測復(fù)雜曲面5的反射面和所有可測基準(zhǔn)面的面形數(shù)據(jù),并測試固定的M個球座的靶標(biāo)球位置坐標(biāo);
步驟3)基于步驟2)中測得的靶標(biāo)球位置坐標(biāo),建立激光跟蹤儀在N個位置轉(zhuǎn)站過程中的坐標(biāo)變換矩陣;
激光跟蹤儀在第一位置和第二位置兩個位置轉(zhuǎn)站過程中的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換矩陣包括第一和第二位置處直角坐標(biāo)系之間的相對平移量P和繞各坐標(biāo)軸的角度量Q,具體求解方法為:
首先,可將激光跟蹤儀直接測得的數(shù)據(jù)(H,V,D)轉(zhuǎn)換為直角坐標(biāo)系下的(X,Y,Z)坐標(biāo)形式,即:
假設(shè)固定測點靶標(biāo)球在激光跟蹤儀處于位置2坐標(biāo)系下的坐標(biāo)為yi,在激光跟蹤儀處于位置1坐標(biāo)系下的坐標(biāo)為xi,轉(zhuǎn)站參數(shù)中,相對平移量為P(x,y,z),繞各坐標(biāo)軸的角度量為Q(α,β,γ),由于固定測點之間的相對位置是固定不變的,則激光跟蹤儀分別位于位置1和位置2時,yi和xi之間存在空間幾何變換關(guān)系,即:
ei=Qxi+P-yi 3
式中,ei為轉(zhuǎn)站誤差。
為解算轉(zhuǎn)站關(guān)系中的最優(yōu)P和Q,構(gòu)建針對所有固定測點的轉(zhuǎn)站誤差的評價函數(shù)為:
式中,N為固定測點的數(shù)目,在本發(fā)明中,N為4。
對于公式4,采用奇異值分解法求解得到轉(zhuǎn)站參數(shù)P和Q,則激光跟蹤儀在位置2中任意點的測量值可由在位置1時的測量點經(jīng)坐標(biāo)變換得到,具體關(guān)系如下:
y=Qx+P 5
步驟4)基于坐標(biāo)變換矩陣,將N個位置獲得的面形數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)變換到同一坐標(biāo)系中;
步驟5)對同一坐標(biāo)系中的所有面形數(shù)據(jù)進(jìn)行建模分析并計算,得到補(bǔ)償元件4與待測復(fù)雜曲面5中心的間隔L、待測復(fù)雜曲面5的離軸量d及偏心量Δ;
步驟7)將間隔L代入待測復(fù)雜曲面5的光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果并進(jìn)一步優(yōu)化,得到待測復(fù)雜曲面5的頂點曲率半徑R;
步驟8)將步驟5)和步驟6)得到的頂點曲率半徑R、離軸量d及偏心量Δ代入光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果中并進(jìn)一步優(yōu)化,優(yōu)化結(jié)果即為基于反射鏡實測參數(shù)的最優(yōu)光學(xué)檢驗補(bǔ)償器設(shè)計結(jié)果。
綜上,以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。