技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種精準(zhǔn)檢測(cè)可見光空間相位的裝置，待測(cè)可見光光源經(jīng)過反射鏡和1/2波片后，經(jīng)過拋物面鏡聚焦，電離焦點(diǎn)附近的空氣介質(zhì)形成等離子體拉絲，在等離子體拉絲一側(cè)相應(yīng)的位置安放可調(diào)節(jié)狹縫和MCP探測(cè)器，電離過程中產(chǎn)生的部分電子可以從可調(diào)節(jié)狹縫的縫隙中逸出，MCP探測(cè)器放在可調(diào)節(jié)狹縫的縫隙之后，用來收集和探測(cè)逸出的電子，經(jīng)過處理得到等離子體拉絲不同空間位置處的電場(chǎng)強(qiáng)度分布。當(dāng)1/2波片的角度是0°時(shí)，MCP探測(cè)器探測(cè)到等離子體拉絲其中一側(cè)的電場(chǎng)強(qiáng)度分布；當(dāng)1/2波片旋轉(zhuǎn)180°時(shí)，MCP探測(cè)器探測(cè)到等離子體拉絲另一側(cè)的電場(chǎng)強(qiáng)度分布；將兩側(cè)的電場(chǎng)強(qiáng)度分布作差值求解，就能夠得到縫隙對(duì)應(yīng)處的可見光空間相位。

技術(shù)研發(fā)人員：彭滟;張秀平;朱亦鳴;王俊煒;殷晨暉;莊松林
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海理工大學(xué)
文檔號(hào)碼：201610581215
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.22
技術(shù)公布日：2016.11.16