技術(shù)特征：

1.用于對材料的試樣(P)進行熱機械分析的方法，所述方法包括：

(a)將所述試樣(P)布置在熱機械分析設(shè)備(10)中并且借助該分析設(shè)備根據(jù)經(jīng)調(diào)制的溫度程序?qū)λ鲈嚇?P)調(diào)溫，

(b)記錄借助所述分析設(shè)備獲取的數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)表示所述試樣(P)在調(diào)溫過程中的長度變化(dL)，

(c)評估數(shù)據(jù)，以求出所述試樣(P)的長度變化(dL)的可逆的分量(dL_rev)和/或熱膨脹系數(shù)(α)的可逆的分量(α_rev)，

(d)借助校正參數(shù)(k)計算長度變化(dL)和/或熱膨脹系數(shù)(α)的經(jīng)校正的可逆的分量(dL_rev-corr；α_rev-corr)，該校正參數(shù)在使用由所述數(shù)據(jù)求出的、表征總的長度變化(dL_total)的參數(shù)(α_total)和表征長度變化(dL)的可逆的分量(dL_rev)的參數(shù)(α_rev)的比例的情況下計算得出，

其特征在于，所述溫度程序具有包括第一基礎(chǔ)加熱速率(β1)的第一階段(S1)，并且根據(jù)來自所述第一階段(S1)的數(shù)據(jù)與溫度相關(guān)地由在所述第一階段(S1)的所述試樣(P)沒有經(jīng)受由熱引起的轉(zhuǎn)變過程的區(qū)域中的所述比例的與溫度相關(guān)的函數(shù)的估算來計算校正參數(shù)(k)；并且所述溫度程序具有包括第二基礎(chǔ)加熱速率(β2)的第二階段(S2)，并且為了計算在第二階段(S2)中的長度變化(dL)和/或熱膨脹系數(shù)(α)的經(jīng)校正的可逆的分量(dL_rev-corr；α_rev-corr)使用根據(jù)來自第一階段(S1)的數(shù)據(jù)算出的校正參數(shù)(k)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二基礎(chǔ)加熱速率(β2)的數(shù)值等于所述第一基礎(chǔ)加熱速率(β1)的數(shù)值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二基礎(chǔ)加熱速率(β2)的數(shù)值小于所述第一基礎(chǔ)加熱速率(β1)的數(shù)值。

4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述第一基礎(chǔ)加熱速率(β1)的數(shù)值大于0.5K/min、尤其大于1K/min。

5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述第二基礎(chǔ)加熱速率(β2)的數(shù)值小于0.5K/min、尤其小于0.2K/min。

6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述第一基礎(chǔ)加熱速率(β1)的數(shù)值和所述第二基礎(chǔ)加熱速率(β2)的數(shù)值彼此相差至少一個因子2、尤其至少一個因子5。

7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述試樣(P)在所述第二階段(S2)內(nèi)經(jīng)受由熱引起的轉(zhuǎn)變過程。

8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在所述第二階段(S2)的過程中所述試樣(P)的溫度提高并且超過500℃的值、尤其超過1000℃的值。

9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在評估數(shù)據(jù)時還求出所述長度變化(dL)的不可逆的分量(dL_nonrev)。

10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，對根據(jù)來自所述第一階段(S1)的數(shù)據(jù)算出的校正參數(shù)(k)建立數(shù)學的估算函數(shù)的模型，該數(shù)學的估算函數(shù)給出所述校正參數(shù)(k)與所述試樣(P)的溫度(T)的相關(guān)性，并且根據(jù)數(shù)學的估算函數(shù)計算校正參數(shù)(k)，該校正參數(shù)待用來在所述第二階段(S2)中計算長度變化(dL)的經(jīng)校正的可逆的分量(dL_rev-corr)。

11.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在溫度程序的過程中在時間上看，所述第二階段(S2)緊接在所述第一階段(S1)之后；或者，所述第一階段緊接在所述第二階段之后。

12.用于對材料的試樣(P)進行熱機械分析的設(shè)備(10)，所述設(shè)備包括：

-用于容納試樣(P)的試樣容納部(1)，

-用于根據(jù)經(jīng)調(diào)制的溫度程序?qū)λ鲈嚇?P)調(diào)溫的調(diào)溫裝置(ST、L1、3)，

-用于測量所述試樣(P)在調(diào)溫過程中的溫度(T)的溫度測量裝置(L1)，

-用于測量所述試樣(P)在調(diào)溫過程中的長度變化(dL)的長度測量裝置(20)，

-用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄裝置(ST)，這些數(shù)據(jù)表示在調(diào)溫過程中所述試樣(P)的長度變化(dL)以及表示在調(diào)溫過程中所述試樣(P)的溫度的變化(dT)，

-評估裝置(ST)，其用于求出所述試樣(P)的長度變化(dL)的可逆的分量(dL_rev)和/或熱膨脹系數(shù)(α)的可逆的分量(α_rev)并且借助校正參數(shù)(k)計算長度變化(dL)和/或熱膨脹系數(shù)(α)的經(jīng)校正的可逆的分量(dL_rev-corr；α_rev-corr)，該校正參數(shù)在使用由數(shù)據(jù)求出的、表征總的長度變化(dL_total)的參數(shù)(α_total)和表征長度變化(dL)的可逆的分量(dL_rev)的參數(shù)(α_rev)的比例的情況下計算得出，

其特征在于，調(diào)溫裝置(ST、L1、3)構(gòu)造成，在溫度程序的過程中設(shè)有包括第一基礎(chǔ)加熱速率(β1)的第一階段(S1)和包括第二基礎(chǔ)加熱速率(β2)的第二階段(S2)，

并且評估裝置(ST)構(gòu)造成，使得根據(jù)來自所述第一階段(S1)的數(shù)據(jù)、與溫度相關(guān)地由在第一階段(S1)的所述試樣(P)沒有經(jīng)受由熱引起的轉(zhuǎn)變過程的區(qū)域中的上述比例的與溫度相關(guān)的函數(shù)的估算來計算校正參數(shù)(k)，并且為了計算在所述第二階段(S2)中的長度變化(dL)和/或熱膨脹系數(shù)(α)的經(jīng)校正的可逆的分量(dL_rev-corr；α_rev-corr)使用根據(jù)來自所述第一階段(S1)的數(shù)據(jù)計算的校正參數(shù)(k)。