本發(fā)明涉及自動(dòng)控制技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種異常處理方法及模塊。

背景技術(shù)：

隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，人們對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性要求越來(lái)越高。高可靠性的電子產(chǎn)品通常具有長(zhǎng)的使用壽命，能夠給使用者提供高的性價(jià)比。在半導(dǎo)體行業(yè)中，完成半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)之后，通常會(huì)對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行許多功能測(cè)試，以識(shí)別并挑選出壞片，只有通過(guò)測(cè)試的合格芯片才可以銷售使用。芯片測(cè)試系統(tǒng)在對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，常采用測(cè)試箱進(jìn)行測(cè)試，一個(gè)測(cè)試箱對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試功能，測(cè)試完成后，各測(cè)試箱會(huì)將測(cè)試結(jié)果進(jìn)行反饋。

然而，在對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，很可能出現(xiàn)一個(gè)測(cè)試箱異常，導(dǎo)致芯片測(cè)試系統(tǒng)無(wú)法對(duì)芯片完成全項(xiàng)功能測(cè)試的情況，此時(shí)則需要技術(shù)人員人工對(duì)該測(cè)試系統(tǒng)中的多個(gè)測(cè)試箱重新調(diào)整，較為費(fèi)事費(fèi)力，且降低了芯片測(cè)試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種異常處理方法及模塊，當(dāng)有操作箱發(fā)生異常時(shí)，工件操作系統(tǒng)能夠自動(dòng)地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統(tǒng)能夠完成全項(xiàng)功能操作。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的實(shí)施方式提供了一種異常處理方法，應(yīng)用于包含多個(gè)功能操作組的工件操作系統(tǒng)，各功能操作組對(duì)應(yīng)于一種功能項(xiàng)操作且各功能操作組包含至少一操作箱，異常處理方法包含以下步驟：當(dāng)一個(gè)操作箱發(fā)生異常時(shí)，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操 作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統(tǒng)中是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組；預(yù)設(shè)條件為功能操作組包含多個(gè)操作箱；若存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個(gè)操作箱中選擇至少一個(gè)操作箱，其中，所述選擇的操作箱的數(shù)目小于所述功能操作組中包含的操作箱的數(shù)目；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。

本發(fā)明的實(shí)施方式還提供了一種異常處理模塊，包含：應(yīng)用于包含多個(gè)功能操作組的工件操作系統(tǒng)，各功能操作組對(duì)應(yīng)于一種功能項(xiàng)操作，異常處理模塊包含：數(shù)目判斷單元、操作箱選擇單元以及組別劃分單元；當(dāng)一個(gè)操作箱發(fā)生異常時(shí)，數(shù)目判斷單元用于判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若是，數(shù)目判斷單元還用于判斷是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組；預(yù)設(shè)條件為功能操作組包含多個(gè)操作箱；操作箱選擇單元用于從功能操作組包含的多個(gè)操作箱中選擇至少一個(gè)操作箱，其中，選擇的操作箱的數(shù)目小于功能操作組中包含的操作箱的數(shù)目；組別劃分單元用于將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。

本發(fā)明實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，當(dāng)一個(gè)操作箱發(fā)生異常時(shí)，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統(tǒng)中是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組；預(yù)設(shè)條件為功能操作組包含多個(gè)操作箱；若存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個(gè)操作箱中選擇至少一個(gè)操作箱；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。通過(guò)這種方式，當(dāng)有一個(gè)功能操作組的操作箱出現(xiàn)異常，而使得工件操作系統(tǒng)無(wú)法完成全項(xiàng)功能操作時(shí)，工件操作系統(tǒng)的異常處理模塊會(huì)自動(dòng)對(duì)該情況進(jìn)行處理，及時(shí)的利用其它功能操作組中的正常操作箱頂替該異常操作箱。即，工件操作系統(tǒng)具有自我調(diào)節(jié)、修復(fù)的功能，能夠自動(dòng)地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統(tǒng)能夠完成全項(xiàng)功能操作。

另外，當(dāng)滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組數(shù)目為多個(gè)時(shí)，則比較各功能操作組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)操作時(shí)長(zhǎng)，并獲取功能項(xiàng)操作時(shí)長(zhǎng)較短的功能操作組；然后進(jìn)入從功能操作組包含的多個(gè)操作箱中選擇至少一個(gè)操作箱的步驟。其中，各功能操作組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)操作時(shí)長(zhǎng)為各功能操作組中的各操作箱進(jìn)行一次功能項(xiàng)操作所需時(shí)間，從而盡量的平衡各功能操作組的操作效率，使得各功能操作組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高工件操作系統(tǒng)的整體效率。

另外，當(dāng)滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組數(shù)目為多個(gè)時(shí)，則根據(jù)各功能操作組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)操作時(shí)長(zhǎng)與各功能操作組包含的操作箱數(shù)目，計(jì)算各功能操作組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)操作時(shí)長(zhǎng)中的工件操作數(shù)目；比較各功能操作組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)操作時(shí)長(zhǎng)中的工件操作數(shù)目，并獲取工件操作數(shù)目較多的功能操作組；進(jìn)入從功能操作組包含的多個(gè)操作箱中選擇至少一個(gè)操作箱的步驟，從而盡量的平衡各功能操作組的操作效率，使得各功能操作組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高工件操作系統(tǒng)的整體效率。

另外，將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組的步驟，包含以下子步驟：將異常操作箱對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)操作的操作程序下載至選擇的操作箱；控制選擇的操作箱安裝操作程序。即，對(duì)從其它功能操作組中所選擇出的正常操作箱重新分配功能，從而確保了工件操作系統(tǒng)能夠完成全項(xiàng)功能操作。

另外，從功能操作組包含的多個(gè)操作箱中選擇至少一個(gè)操作箱的步驟，包含以下子步驟：計(jì)算功能操作組包含的各操作箱與異常操作箱之間的機(jī)械手移動(dòng)路徑；選擇與異常操作箱之間的機(jī)械手移動(dòng)路徑較短的操作箱。通過(guò)這種方式，盡可能的縮短了機(jī)械手從上一個(gè)操作箱抓取待測(cè)物件至所選擇的操作箱時(shí)的移動(dòng)路徑，從而盡可能的減小了對(duì)操作效率的影響。

附圖說(shuō)明

圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式中的一種異常處理方法的流程圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式中的一種異常處理方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施方式中的一種異常處理方法的流程圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施方式中的一種異常處理模塊的方框圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明第五實(shí)施方式中的一種異常處理模塊的方框圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明第六實(shí)施方式中的一種異常處理模塊的方框圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本發(fā)明各實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒(méi)有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。

本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及一種異常處理方法，應(yīng)用于包含多個(gè)功能操作組的工件操作系統(tǒng)，各功能操作組對(duì)應(yīng)于一種功能項(xiàng)操作且各功能操作組包含至少一操作站其其中，本實(shí)施方式對(duì)應(yīng)用的具體場(chǎng)景不作任何限制，即該工件操作系統(tǒng)可以為測(cè)試系統(tǒng)(例如測(cè)試電子元件或電子設(shè)備)、鎖附系統(tǒng)(例如自動(dòng)鎖螺絲)、碼垛系統(tǒng)等等可以適用的任意場(chǎng)景。

本實(shí)施方式以工件測(cè)試為例進(jìn)行說(shuō)明；即，本實(shí)施方式中的工件操作系統(tǒng)為工件的測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包含多個(gè)功能測(cè)試組(相當(dāng)于多個(gè)功能操作組)，各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)于一種功能項(xiàng)測(cè)試且各功能測(cè)試組包含至少一測(cè)試箱(相當(dāng)于多個(gè)功能操作站)。測(cè)試系統(tǒng)還可以包含主控設(shè)備及機(jī)械手，主控設(shè)備連接于各功能測(cè)試組及機(jī)械手。其中，工件例如為手機(jī)芯片，然并 不限于此。。

本實(shí)施方式的異常處理方法的具體流程如圖1所示。

步驟101，檢測(cè)到一個(gè)測(cè)試箱發(fā)生異常。

具體的說(shuō)，各測(cè)試箱與主控設(shè)備建立通信連接，各測(cè)試箱將其當(dāng)前的工作狀態(tài)發(fā)送至主控設(shè)備，主控設(shè)備對(duì)接收到的各工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，判斷是否檢測(cè)到某個(gè)測(cè)試箱所發(fā)送的工作狀態(tài)異常。若是，則判定該測(cè)試箱異常；否則，判定測(cè)試系統(tǒng)中無(wú)設(shè)備異常。

步驟102，判斷異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組是否僅包含異常測(cè)試箱。若是，則執(zhí)行步驟103，否則結(jié)束。

具體的說(shuō)，主控設(shè)備中預(yù)先存有各功能測(cè)試組與測(cè)試箱的對(duì)應(yīng)關(guān)系，該對(duì)應(yīng)關(guān)系可以以表格的形式存在，如“功能測(cè)試組—測(cè)試箱對(duì)照表”。主控設(shè)備通過(guò)查表的方式，獲得異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組，并根據(jù)查詢到的功能測(cè)試組獲取該功能測(cè)試組中的正常的測(cè)試箱的數(shù)目，通過(guò)判斷該功能測(cè)試組中的正常的測(cè)試箱的數(shù)目是否為0的方式，判斷異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組是否僅包含異常測(cè)試箱。若是，判定結(jié)果為是；否則，判定結(jié)果為否。

步驟103，判斷測(cè)試系統(tǒng)中是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組。若是，則執(zhí)行步驟104，否則結(jié)束。

具體的說(shuō)，預(yù)設(shè)條件為功能測(cè)試組包含多個(gè)測(cè)試箱，主控設(shè)備依照“功能測(cè)試組—測(cè)試箱對(duì)照表”中的功能測(cè)試組的排列順序，查詢各功能測(cè)試組中的測(cè)試箱的數(shù)目，判斷是否存在某個(gè)功能測(cè)試組中所包含的測(cè)試箱的數(shù)目大于或等于2，從而判斷是否有某個(gè)功能測(cè)試組包含有多個(gè)測(cè)試箱。若是，則判定測(cè)試系統(tǒng)中存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組；否則，判定測(cè)試系統(tǒng)中不存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組。其中，預(yù)設(shè)條件可以由用戶預(yù)先設(shè)置并保存在主控設(shè)備中。

步驟104，從功能測(cè)試組中包含的多個(gè)測(cè)試箱中選擇至少一個(gè)測(cè)試箱。

其中，主控設(shè)備所選擇的測(cè)試箱的數(shù)目小于功能測(cè)試組中所包含的測(cè)試箱的數(shù)目。

具體的說(shuō)，主控設(shè)備選擇功能測(cè)試組的方式可以是：主控設(shè)備依照“功能測(cè)試組—測(cè)試箱對(duì)照表”中的功能測(cè)試組的排列順序進(jìn)行查詢，當(dāng)查詢到滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組時(shí)，則將該功能測(cè)試組作為待選擇的測(cè)試箱所在的測(cè)試組。

本實(shí)施方式中，主控設(shè)備選擇至少一個(gè)測(cè)試箱時(shí)，還對(duì)功能測(cè)試組包含的各測(cè)試箱與異常測(cè)試箱之間的機(jī)械手移動(dòng)路徑進(jìn)行計(jì)算，選擇與異常測(cè)試箱之間的機(jī)械手移動(dòng)路徑較短的測(cè)試箱，從而盡可能的縮短了機(jī)械手從上一個(gè)測(cè)試箱抓取待測(cè)物件至所選擇的測(cè)試箱時(shí)的移動(dòng)路徑，從而盡可能的減小了對(duì)測(cè)試效率的影響。當(dāng)然，在實(shí)際操作時(shí)，主控設(shè)備也可以對(duì)測(cè)試箱進(jìn)行隨機(jī)選擇，僅以此舉例為限，在此不做任何限制。

步驟105，將選擇的測(cè)試箱劃分至異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組。

其中，步驟105包含子步驟1051以及子步驟1052.

子步驟1051，將異常測(cè)試箱對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試的測(cè)試程序下載至選擇的測(cè)試箱。

具體的說(shuō)，主控設(shè)備預(yù)先存有功能項(xiàng)測(cè)試與測(cè)試程序的對(duì)應(yīng)關(guān)系，例如以功能項(xiàng)測(cè)試—測(cè)試程序?qū)φ毡淼男问奖硎?。主控設(shè)備通過(guò)查詢功能測(cè)試組—測(cè)試箱對(duì)照表，獲取異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組，從而根據(jù)功能測(cè)試組的功能項(xiàng)測(cè)試獲取異常測(cè)試箱的功能項(xiàng)測(cè)試，再通過(guò)查詢功能項(xiàng)測(cè)試—測(cè)試程序?qū)φ毡淼姆绞?，獲取功能項(xiàng)測(cè)試所對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，從而能夠?qū)惓y(cè)試箱對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試的測(cè)試程序發(fā)送至所選擇的測(cè)試箱。

子步驟1052，控制選擇的測(cè)試箱安裝測(cè)試程序。

具體的說(shuō)，主控設(shè)備控制選擇的測(cè)試箱安裝測(cè)試程序(可以直接覆蓋原來(lái)的測(cè)試程序；或者，先將原來(lái)的測(cè)試程序卸載掉在安裝下載的測(cè)試程序)，以使得所選擇的測(cè)試箱具備異常測(cè)試箱的測(cè)試功能，從而使得所選擇的測(cè)試箱能夠代替異常測(cè)試箱進(jìn)行工作，使得測(cè)試系統(tǒng)能夠完成對(duì)芯片的全項(xiàng)功能測(cè)試。

不難看出，本實(shí)施方式中，當(dāng)有一個(gè)功能測(cè)試組的測(cè)試箱出現(xiàn)異常，而使得測(cè)試系統(tǒng)無(wú)法完成全項(xiàng)功能測(cè)試時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)的異常處理模塊會(huì)自動(dòng)對(duì)該情況進(jìn)行處理，及時(shí)的利用其它功能測(cè)試組中的正常測(cè)試箱頂替該異常測(cè)試箱。即，測(cè)試系統(tǒng)具有自我調(diào)節(jié)、修復(fù)的功能，能夠自動(dòng)地重新配置各測(cè)試箱的測(cè)試功能，以確保測(cè)試系統(tǒng)能夠完成全項(xiàng)功能測(cè)試。

本發(fā)明的第二實(shí)施方式涉及一種異常處理方法，具體流程如圖2所示。第二實(shí)施方式在第一實(shí)施方式的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：在本發(fā)明第二實(shí)施方式的技術(shù)方案中，在滿足預(yù)設(shè)條件且功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組中進(jìn)行測(cè)試箱的選擇，從而盡量的平衡各功能測(cè)試組的測(cè)試效率，使得各功能測(cè)試組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高測(cè)試系統(tǒng)的整體效率。

本實(shí)施方式中的步驟201至步驟203與第一實(shí)施方式中的步驟101至步驟103大致相同，步驟206至步驟207與第一實(shí)施方式中的步驟104至步驟105大致相同，為避免重復(fù)，在此不再贅述。

步驟204，判斷滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組是否為多個(gè)。若是，則執(zhí)行步驟205，否則執(zhí)行步驟206。

具體的說(shuō)，主控設(shè)備通過(guò)查詢“功能測(cè)試組—測(cè)試箱對(duì)照表”的方式，查詢各功能測(cè)試組中所包含的測(cè)試箱，并對(duì)處于同一功能測(cè)試組的測(cè)試箱的數(shù)目進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。當(dāng)所統(tǒng)計(jì)的數(shù)目大于或等于2時(shí)，則認(rèn)為該功能測(cè)試組滿足預(yù)設(shè)條件。然后，對(duì)滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組的數(shù)目進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，判斷滿足 預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組的數(shù)目是否大于1。若是，則判定滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組為多個(gè)。

步驟205，比較各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，獲取功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組。

具體的說(shuō)，在主控設(shè)備中預(yù)先存有功能測(cè)試時(shí)長(zhǎng)與功能測(cè)試組的對(duì)應(yīng)關(guān)系，該對(duì)應(yīng)關(guān)系可以以表格的形式存在，如“功能測(cè)試組—功能測(cè)試時(shí)長(zhǎng)對(duì)照表”。主控設(shè)備通過(guò)查表的方式獲取滿足預(yù)設(shè)條件的各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，并將獲取的各功能測(cè)試時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行比較，獲取功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組；即步驟205中所述的功能測(cè)試組為功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組。

不難看出，本實(shí)施方式中，主控設(shè)備選擇功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組，在該功能測(cè)試箱中選擇一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試箱來(lái)替換異常測(cè)試箱，從而避免了由于功能測(cè)試組測(cè)試箱的缺少，所造成的該功能測(cè)試組的功能測(cè)試項(xiàng)時(shí)長(zhǎng)拉長(zhǎng)導(dǎo)致的芯片檢測(cè)的堆積的問(wèn)題。

本發(fā)明的第三實(shí)施方式涉及一種異常處理方法，具體流程如圖3所示。第三實(shí)施方式與第二實(shí)施方式大致相同，主要區(qū)別之處在于：在第二實(shí)施方式的技術(shù)方案中，在滿足預(yù)設(shè)條件且功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組中進(jìn)行測(cè)試箱的選擇。而在本發(fā)明第三實(shí)施方式中，測(cè)試系統(tǒng)根據(jù)各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)與各功能測(cè)試組包含的測(cè)試箱數(shù)目，計(jì)算各功能測(cè)試組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)中的工件測(cè)試數(shù)目，獲取工件測(cè)試數(shù)目較多的功能測(cè)試組，從而盡量的平衡各功能測(cè)試組的測(cè)試效率，使得各功能測(cè)試組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高測(cè)試系統(tǒng)的整體效率。

其中，本實(shí)施方式中的步驟301至步驟304與第二實(shí)施方式中的步驟201至步驟204大致相同，步驟307至步驟308與第二實(shí)施方式中的步驟206至步驟207大致相同，為避免重復(fù)，在此不再贅述。

步驟305，計(jì)算各功能測(cè)試組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)中的工件測(cè)試數(shù)目。

如，當(dāng)一個(gè)功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為30s(即每個(gè)測(cè)試箱完成該測(cè)試項(xiàng)目所需要的功能測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為30s)，該功能測(cè)試組中包含有三個(gè)測(cè)試箱，則該功能測(cè)試組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)30s中的工件測(cè)試數(shù)目為3個(gè)。

步驟306，獲取工件測(cè)試數(shù)目較多的功能測(cè)試組。

不難看出，本實(shí)施方式中，測(cè)試系統(tǒng)選擇包含測(cè)試箱最多的功能測(cè)試組，在該功能測(cè)試箱中選擇一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試箱來(lái)替換異常測(cè)試箱，從而盡量的避免了由于使用其它功能測(cè)試組中的正常的測(cè)試箱頂替異常測(cè)試箱，所導(dǎo)致的芯片測(cè)試效率降低的情況。

上面各種方法的步驟劃分，只是為了描述清楚，實(shí)現(xiàn)時(shí)可以合并為一個(gè)步驟或者對(duì)某些步驟進(jìn)行拆分，分解為多個(gè)步驟，只要包含相同的邏輯關(guān)系，都在本專利的保護(hù)范圍內(nèi)；對(duì)算法中或者流程中添加無(wú)關(guān)緊要的修改或者引入無(wú)關(guān)緊要的設(shè)計(jì)，但不改變其算法和流程的核心設(shè)計(jì)都在該專利的保護(hù)范圍內(nèi)。

本發(fā)明第四實(shí)施方式涉及一種異常處理模塊，如圖4所示，應(yīng)用于包含多個(gè)功能測(cè)試組的測(cè)試系統(tǒng)，各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)于一種功能項(xiàng)測(cè)試，異常處理模塊包含：數(shù)目判斷單元、測(cè)試箱選擇單元以及組別劃分單元。

當(dāng)一個(gè)測(cè)試箱發(fā)生異常時(shí)，數(shù)目判斷單元用于判斷異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組是否僅包含異常測(cè)試箱；若是，數(shù)目判斷單元還用于判斷是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組；預(yù)設(shè)條件為功能測(cè)試組包含多個(gè)測(cè)試箱；

測(cè)試箱選擇單元用于從功能測(cè)試組包含的多個(gè)測(cè)試箱中選擇至少一個(gè)測(cè)試箱；其中，選擇的測(cè)試箱的數(shù)目小于功能測(cè)試組中包含的測(cè)試箱的數(shù)目；組別劃分單元用于將選擇的測(cè)試箱劃分至異常測(cè)試箱所在的功能測(cè)試組。

其中，組別劃分單元包含下載子單元與安裝子單元。下載子單元用于將異常測(cè)試箱對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試的測(cè)試程序下載至選擇的測(cè)試箱；安裝子單元用于控制選擇的測(cè)試箱安裝測(cè)試程序。測(cè)試箱選擇單元包含計(jì)算子單元與選擇子單元。計(jì)算子單元用于計(jì)算功能測(cè)試組包含的各測(cè)試箱與異常測(cè)試箱之間的機(jī)械手移動(dòng)路徑；選擇子單元用于選擇與異常測(cè)試箱之間的機(jī)械手移動(dòng)路徑較短的測(cè)試箱。

不難發(fā)現(xiàn)，本實(shí)施方式為與第一實(shí)施方式相對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)實(shí)施例，本實(shí)施方式可與第一實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第一實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第一實(shí)施方式中。

值得一提的是，本實(shí)施方式中所涉及到的各模塊均為邏輯模塊，在實(shí)際應(yīng)用中，一個(gè)邏輯單元可以是一個(gè)物理單元，也可以是一個(gè)物理單元的一部分，還可以以多個(gè)物理單元的組合實(shí)現(xiàn)。此外，為了突出本發(fā)明的創(chuàng)新部分，本實(shí)施方式中并沒(méi)有將與解決本發(fā)明所提出的技術(shù)問(wèn)題關(guān)系不太密切的單元引入，但這并不表明本實(shí)施方式中不存在其它的單元。

本發(fā)明第五實(shí)施方式涉及一種異常處理模塊，如圖5所示。第五實(shí)施方式在第四實(shí)施方式的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：異常處理模塊還包含功能測(cè)試組獲取單元；數(shù)目判斷單元還用于判斷滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組數(shù)目是否為多個(gè)；功能測(cè)試組獲取單元用于比較各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，并獲取功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)較短的功能測(cè)試組；其中，各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為各功能測(cè)試組中的各測(cè)試箱進(jìn)行一次功能項(xiàng)測(cè)試所需時(shí)間。

本發(fā)明第六實(shí)施方式涉及一種異常處理模塊，如圖6所示。第六實(shí)施方式在第四實(shí)施方式的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：異常處理模塊還包含工件測(cè)試數(shù)目計(jì)算單元與功能測(cè)試組獲取單元；數(shù)目判斷單元還用于判 斷滿足預(yù)設(shè)條件的功能測(cè)試組數(shù)目是否為多個(gè)；工件測(cè)試數(shù)目計(jì)算單元用于根據(jù)各功能測(cè)試組對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)與各功能測(cè)試組包含的測(cè)試箱數(shù)目，計(jì)算各功能測(cè)試組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)中的工件測(cè)試數(shù)目；功能測(cè)試組獲取單元用于比較各功能測(cè)試組在其對(duì)應(yīng)的功能項(xiàng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)中的工件測(cè)試數(shù)目，并獲取工件測(cè)試數(shù)目較多的功能測(cè)試組。

本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的具體實(shí)施例，而在實(shí)際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變，而不偏離本發(fā)明的精神和范圍。