本發(fā)明整體上涉及用于執(zhí)行多級均衡的電路，該電路可用在例如自動(dòng)測試設(shè)備的裝置接口板中。

背景技術(shù)：

自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)是指用于對裝置進(jìn)行測試的通常由計(jì)算機(jī)驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化系統(tǒng)，所述裝置諸如半導(dǎo)體、電子電路和印刷電路板組件。ATE所測試的裝置通常被稱為受測裝置(DUT)。ATE通常包括計(jì)算機(jī)系統(tǒng)和測試儀器或者具有相應(yīng)功能的單個(gè)裝置。ATE能夠向DUT提供測試信號，接收來自DUT的響應(yīng)信號，并轉(zhuǎn)發(fā)這些響應(yīng)信號以供處理從而確定DUT是否符合測試資質(zhì)。來自ATE的測試信號中存在的抖動(dòng)可影響ATE所執(zhí)行的測試的質(zhì)量。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

一種用于連接在自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)與受測裝置(DUT)之間的示例性設(shè)備包括：依次布置在ATE與DUT之間的多個(gè)級，其中所述多個(gè)級中的每一者包括驅(qū)動(dòng)器，所述多個(gè)級中的至少兩者各自包括濾波器，每個(gè)濾波器布置在兩個(gè)驅(qū)動(dòng)器之間，并且每個(gè)濾波器被配置為減少在ATE與DUT之間傳輸?shù)男盘栔械挠汕耙粋€(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)。

該示例性設(shè)備可獨(dú)立地或組合地包括以下特征結(jié)構(gòu)中的一個(gè)或多個(gè)。所述多個(gè)級中的最后一者可包括驅(qū)動(dòng)器，而不包括位于驅(qū)動(dòng)器與DUT之間的濾波器。所述多個(gè)級中的最后一者可包括驅(qū)動(dòng)器以及位于驅(qū)動(dòng)器與DUT之間的濾波器。濾波器中的至少兩者可具有不同的配置，這些不同的配置歸因于減少抖動(dòng)所需的不同校正。濾波器中的至少一者可包括高通補(bǔ)償濾波器。驅(qū)動(dòng)器中的至少一者可包括與門、分離器或它們的組合。

一種用于連接在自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)與受測裝置(DUT)之間的示例性設(shè)備包括：包括第一驅(qū)動(dòng)器和第一濾波器的第一級，其中所述第一驅(qū)動(dòng)器用于接收基于ATE的輸出的初始信號，所述第一驅(qū)動(dòng)器用于輸出基于初始信號的第一輸出信號，并且所述第一濾波器用于接收來自第一驅(qū)動(dòng)器的第一輸出信號并且用于對第一輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第一級信號；包括第二驅(qū)動(dòng)器和第二濾波器的第二級，其中所述第二驅(qū)動(dòng)器用于接收第一級信號并且用于輸出基于第一級信號的第二輸出信號，并且所述第二濾波器用于接收來自第二驅(qū)動(dòng)器的第二輸出信號并且用于對第二輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第二級信號；以及包括第三驅(qū)動(dòng)器的第三級，其中所述第三驅(qū)動(dòng)器用于接收第二級信號并且用于輸出基于第二級信號的第三輸出信號，并且所述第三輸出信號沿一路徑輸出至DUT。該示例性設(shè)備可獨(dú)立地或組合地包括以下特征結(jié)構(gòu)中的一個(gè)或多個(gè)。

第三級可包括位于通往DUT的路徑上的第三濾波器，其中所述第三濾波器用于接收來自第三驅(qū)動(dòng)器的第三輸出信號并且用于對第三輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第三級信號。該示例性設(shè)備還可包括第四級，該第四級包括第四驅(qū)動(dòng)器，其中所述第四驅(qū)動(dòng)器用于接收第三級信號并且用于輸出基于第三級信號的第四輸出信號，并且所述第四輸出信號沿一路徑輸出至DUT。第四級可包括位于通往DUT的路徑上的第四濾波器，其中所述第四濾波器用于接收來自第四驅(qū)動(dòng)器的第四輸出信號并且用于對第四輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第四級信號。

該示例性設(shè)備可包括第五級，該第五級包括第五驅(qū)動(dòng)器，其中所述第五驅(qū)動(dòng)器用于接收第四級信號并且用于輸出基于第四級信號的第五輸出信號，并且所述第五輸出信號沿一路徑輸出至DUT。第五級可包括位于第五級與DUT之間的第五濾波器，其中所述第五濾波器用于接收來自第五驅(qū)動(dòng)器的第五輸出信號并且用于對第五輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生提供至DUT的第五級信號。

第一濾波器可被配置為校正由第一驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)，第二濾波器可被配置為校正由第二驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)，第三濾波器可被配置為校正由第三驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)，第四濾波器可被配置為校正由第四驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)。第一驅(qū)動(dòng)器、第二驅(qū)動(dòng)器、第三驅(qū)動(dòng)器和第四驅(qū)動(dòng)器中的至少兩者可具有不同的配置。

第一濾波器和第二濾波器中的至少一者可包括高通補(bǔ)償濾波器。第一驅(qū)動(dòng)器可包括與門或分離器，并且第二驅(qū)動(dòng)器可包括與門或分離器。在一些例子中，在第五驅(qū)動(dòng)器與DUT之間不存在濾波器。在一些例子中，在第三驅(qū)動(dòng)器與DUT之間不存在濾波器。

一種示例性測試系統(tǒng)包括：向受測裝置(DUT)輸出測試信號的自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)；以及位于ATE與DUT之間的接口，其中該接口包括依次布置的驅(qū)動(dòng)器以及布置在驅(qū)動(dòng)器之間的濾波器，用以對從ATE輸出至DUT的測試信號執(zhí)行多級均衡。該示例性測試系統(tǒng)可獨(dú)立地或組合地包括以下特征結(jié)構(gòu)中的一個(gè)或多個(gè)。

接口可包括：依次布置在ATE與DUT之間的多個(gè)級，其中所述多個(gè)級中的每一者包括驅(qū)動(dòng)器，所述多個(gè)級中的至少兩者各自包括濾波器，每個(gè)濾波器布置在兩個(gè)驅(qū)動(dòng)器之間，并且每個(gè)濾波器被配置為減少在ATE與DUT之間傳輸?shù)男盘栔械挠汕耙粋€(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)。

所述多個(gè)級中的最后一者可包括驅(qū)動(dòng)器，而不包括位于驅(qū)動(dòng)器與DUT之間的濾波器。濾波器中的至少兩者可具有不同的配置，這些不同的配置歸因于減少抖動(dòng)所需的不同校正。濾波器中的至少三者可具有不同的配置，這些不同的配置歸因于減少抖動(dòng)所需的不同校正。

本說明書中(包括本發(fā)明內(nèi)容部分中)所述的任意兩個(gè)或更多個(gè)特征可組合以形成本文未具體描述的具體實(shí)施。

本文所述的測試系統(tǒng)和技術(shù)，或者它們的部分，可實(shí)施為計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品或通過計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品來控制，該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括存儲在一個(gè)或多個(gè)非暫態(tài)機(jī)器可讀存儲介質(zhì)上并且可在一個(gè)或多個(gè)處理裝置上執(zhí)行以控制(例如，協(xié)調(diào))本文所述的操作的指令。本文所述的測試系統(tǒng)和技術(shù)，或者它們的部分，可實(shí)施為一種設(shè)備、方法或電子系統(tǒng)，該設(shè)備、方法或電子系統(tǒng)可包括一個(gè)或多個(gè)處理裝置以及用于存儲用于實(shí)施各種操作的可執(zhí)行指令的存儲器。

一個(gè)或多個(gè)具體實(shí)施的細(xì)節(jié)在以下附圖和描述中予以闡述。從說明書及附圖以及從權(quán)利要求中可顯而易見本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)。

附圖說明

圖1示出了多級均衡電路的例子。

圖2示出了具有抖動(dòng)的信號的例子。

圖3示出了抖動(dòng)比圖1的信號少的信號的例子。

圖4示出了多級均衡電路中的濾波器的例子。

圖5示出了包括測試儀器的示例性ATE。

圖6為示例性測試儀器的框圖。

不同圖中類似的參考標(biāo)號指示類似的元件。

具體實(shí)施方式

制造商可在各個(gè)制造階段測試裝置。在示例性制造過程中，在單個(gè)硅晶片上大量制作集成電路。將晶片切割成獨(dú)立的集成電路，稱為晶粒。將每個(gè)晶粒裝載到框架中，并且接合線是用于將晶粒連接至框架的附接芯片級封裝。然后將已裝載的框架封裝在塑料或另一封裝材料中以形成最終產(chǎn)品。

制造商出于經(jīng)濟(jì)誘因要在制造過程中盡可能早地檢測并丟棄次品。因此，許多制造商在將晶片切割成晶粒之前，在晶片級測試集成電路。有缺陷的電路被標(biāo)記并通常在封裝前丟棄，從而節(jié)省了對次品晶粒進(jìn)行封裝的成本。作為終檢，許多制造商測試每個(gè)最終產(chǎn)品，然后再發(fā)貨。相比對裸晶粒進(jìn)行測試，此類過程測試封裝中的零件增加了額外的開支。因此，擁有準(zhǔn)確的測試結(jié)果就能夠降低對丟棄有價(jià)值零件的需求。

為了對大量部件進(jìn)行測試，制造商通常使用ATE(或“測試器”)。響應(yīng)于測試程序集(TPS)中的指令，一些ATE自動(dòng)生成要施加至受測裝置(DUT)的輸入信號并且監(jiān)測輸出信號。ATE將輸出信號與預(yù)期的響應(yīng)進(jìn)行比較以確定DUT是否有缺陷。ATE通常包括計(jì)算機(jī)系統(tǒng)和測試儀器或者具有相應(yīng)功能的單個(gè)裝置。在一些情況下，測試儀器向DUT提供電源。

ATE通常還包括有接口，該接口可以是、也可以不是裝置接口板(DIB)的一部分。接口可被配置為(例如，包括一個(gè)或多個(gè)接口)在ATE與一個(gè)或多個(gè)DUT之間路由信號。在一些具體實(shí)施中，接口被配置為在一個(gè)或多個(gè)ATE與一個(gè)或多個(gè)DUT之間路由信號。在一些情況下，接口包括一個(gè)或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器。在此場合，驅(qū)動(dòng)器通常是指輸出電信號的任何類型的電路。例如，邏輯門(例如，與門、或門等)、分離器、放大器等均可被視為驅(qū)動(dòng)器，因?yàn)樗鼈儠?huì)輸出信號。不同的驅(qū)動(dòng)器可將不同類型的抖動(dòng)引入到信號中。抖動(dòng)可對測試造成不利影響，因?yàn)樗笵UT接收的信號失真。抖動(dòng)可包括但不限于符號間干擾、占空比失真、周期性抖動(dòng)以及隨機(jī)性抖動(dòng)。

本文描述了一種多級均衡系統(tǒng)，該多級均衡系統(tǒng)采用位于不同驅(qū)動(dòng)器之間的均衡電路(例如，頻域?yàn)V波器)來補(bǔ)償(例如，至少部分地校正)由緊鄰的前一個(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)。均衡電路，在每個(gè)級處，可被定制(例如，在每個(gè)級處不同)以校正由前一個(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的特定類型和/或強(qiáng)度的抖動(dòng)。通過校正每個(gè)級處的抖動(dòng)，可能能夠減少DUT在接口的輸出處所經(jīng)歷的總體抖動(dòng)并從而提供質(zhì)量更好的測試信號。

圖1示出了可納入到DIB中的接口電路或位于DUT與ATE之間的任何其他適當(dāng)接口的例子。在該示例性具體實(shí)施中，接口10包括依次布置在ATE(未示出)與DUT(未示出)之間的多個(gè)級1、2、3、4、5。所述多個(gè)級中的每一者包括驅(qū)動(dòng)器11、12、13、14、15，并且所述多個(gè)級中的至少兩者各自包括布置在兩個(gè)驅(qū)動(dòng)器之間的均衡電路，諸如頻域?yàn)V波器。就此而言，在圖1中，均衡電路(例如，均衡器)與驅(qū)動(dòng)器在同一框(級)中被示出；然而，這并不意在暗示它們是組成驅(qū)動(dòng)器的電路的一部分。例如，在一些具體實(shí)施中，均衡器位于驅(qū)動(dòng)器部件外部。每個(gè)濾波器可被配置為減少在ATE與DUT之間傳輸?shù)男盘栔械挠汕耙粋€(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)。更一般來講，每個(gè)級處的抖動(dòng)是驅(qū)動(dòng)器部件自身的抖動(dòng)、每個(gè)部件之間的印刷電路板跡線、以及下一個(gè)驅(qū)動(dòng)器的輸入的失真的總和。均衡電路旨在校正這些的總和。例如，減小信號的過零寬度就是可執(zhí)行的一種類型的抖動(dòng)減少。例如，圖2示出了過零寬度值為“x”的信號20，并且圖3示出了抖動(dòng)減少的信號21，其過零寬度小于圖2的值“x”。在該例子中，抖動(dòng)并不是零，盡管在一些例子中，抖動(dòng)可減少至實(shí)際上為零的水平。通過使用干預(yù)性均衡電路，諸如濾波器，來減少抖動(dòng)，實(shí)現(xiàn)了測試信號的多級均衡。

在圖1的例子中，接口10包括五個(gè)驅(qū)動(dòng)器11至15。在其他具體實(shí)施中，可以存在比圖1所示的那些更少的驅(qū)動(dòng)器(例如，兩個(gè)、三個(gè)或四個(gè))或者更多的驅(qū)動(dòng)器(例如，五個(gè)、六個(gè)、七個(gè)等)。接口10還包括均衡電路–在該例子中為頻域?yàn)V波器17、18、19、20(或者，簡稱為“濾波器”)。濾波器17電連接在驅(qū)動(dòng)器11和12之間；濾波器18電連接在驅(qū)動(dòng)器12和13之間；濾波器19電連接在驅(qū)動(dòng)器13和14之間；并且濾波器20電連接在驅(qū)動(dòng)器14和15之間。在該示例性具體實(shí)施中，沒有濾波器電連接至驅(qū)動(dòng)器15的輸出(例如，在驅(qū)動(dòng)器15與DUT之間)，原因?qū)⒃谙挛慕忉尅?/p>

濾波器17至20中的每一者可被配置(例如，被定制)為校正(例如，減少或者以其他方式影響)由緊鄰的前一個(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)的量(例如，類型和/或強(qiáng)度)。例如，濾波器17可被配置為減少驅(qū)動(dòng)器11產(chǎn)生的抖動(dòng)量；濾波器18可被配置為減少驅(qū)動(dòng)器12產(chǎn)生的抖動(dòng)量；濾波器19可被配置為減少驅(qū)動(dòng)器13產(chǎn)生的抖動(dòng)量；并且濾波器20可被配置為減少驅(qū)動(dòng)器14產(chǎn)生的抖動(dòng)量。在一些具體實(shí)施中，濾波器17至20中的每一者可被配置(例如，被定制)為校正(例如，減少或者以其他方式影響)僅由緊鄰的前一個(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)的量(例如，類型和/或強(qiáng)度)。在一些具體實(shí)施中，濾波器17至20中的每一者可被配置(例如，被定制)為校正(例如，減少或者以其他方式影響)由信號路徑6中的兩個(gè)或更多個(gè)先前驅(qū)動(dòng)器(包括，例如，從ATE到DUT的所有或部分傳輸介質(zhì)和電路)產(chǎn)生的累積抖動(dòng)的量(例如，類型和/或強(qiáng)度)。在一些具體實(shí)施中，均衡電路(例如，均衡器)還可被配置為部分地預(yù)校正鏈中的后續(xù)驅(qū)動(dòng)器中的抖動(dòng)。在一些具體實(shí)施中，在驅(qū)動(dòng)器之間可存在濾波器組合，所述濾波器中的一些被配置為減少僅由緊鄰的前一個(gè)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的抖動(dòng)量，并且所述濾波器中的一些被配置為減少由信號路徑6中的兩個(gè)或更多個(gè)先前驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的累積抖動(dòng)。

在圖1的例子中，在第一級1中，第一驅(qū)動(dòng)器11接收基于ATE的輸出的初始信號。第一驅(qū)動(dòng)器輸出基于初始信號的第一輸出信號22。第一濾波器17接收來自第一驅(qū)動(dòng)器的第一輸出信號并且對第一輸出信號執(zhí)行均衡(例如，抖動(dòng)校正)以產(chǎn)生第一級信號23。在第二級2中，第二驅(qū)動(dòng)器12接收第一級信號并且輸出基于第一級信號的第二輸出信號24。第二濾波器18接收來自第二驅(qū)動(dòng)器的第二輸出信號并且對第二輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第二級信號25。在第三級3中，第三驅(qū)動(dòng)器13接收第二級信號并且輸出基于第二級信號的第三輸出信號26。第三濾波器19接收來自第三驅(qū)動(dòng)器的第三輸出信號并且對第三輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第三級信號27。在第四級4中，第四驅(qū)動(dòng)器14接收第三級信號并且輸出基于第三級信號的第四輸出信號28。第四濾波器20接收來自第四驅(qū)動(dòng)器的第四輸出信號并且對第四輸出信號執(zhí)行均衡以產(chǎn)生第四級信號29。在第五級5中，第五驅(qū)動(dòng)器15接收第四級信號并且輸出基于第四級信號的第五輸出信號30。在該示例性具體實(shí)施中，第五輸出信號20沿一路徑輸出至DUT。例如，第五驅(qū)動(dòng)器15和DUT可電連接，使得第五驅(qū)動(dòng)器15將第五輸出信號30直接輸出至DUT或者沿一電氣路徑將第五輸出信號輸出至DUT(其中第五輸出信號30可通過一個(gè)或多個(gè)其他電路元件和/或傳輸介質(zhì)并且可在到達(dá)DUT之前被轉(zhuǎn)換或以其他方式處理)。

在一些具體實(shí)施中，如在上述例子中那樣，在多級均衡器的最后一級5的輸出處(例如，驅(qū)動(dòng)器15之后)不存在均衡電路，例如不存在濾波器(在上述例子中，最后一級為第五級，然而在多級均衡器中可存在任何適當(dāng)數(shù)量的級)。這是因?yàn)檩敵鰹V波器可改變驅(qū)動(dòng)器信號的形狀和/或振幅，從DUT的角度講，這是不期望的。因此，在一些具體實(shí)施中，在測試期間，最終輸出級產(chǎn)生的抖動(dòng)可被容忍，具體地講是因?yàn)樵摱秳?dòng)通常只是原本將產(chǎn)生的抖動(dòng)的一小部分。此外，在輸出處不提供校正，可得到改善的信號時(shí)域性能。就此而言，多級均衡鏈中每個(gè)接續(xù)部件的輸出會(huì)增加不完善的驅(qū)動(dòng)器和傳輸線路所導(dǎo)致的時(shí)域失真。通過用頻域?yàn)V波器17、18、19、20逐一補(bǔ)償時(shí)域失真，可減小總體信號失真。

在一些具體實(shí)施中，在多級均衡器的最后一級的輸出處存在電路，例如濾波器(在上述例子中，最后一級為第五級，然而在多級均衡器中可存在任何適當(dāng)數(shù)量的級)。因此，在一些具體實(shí)施中，在將該信號沿一路徑輸出至DUT之前，減少了最終輸出級產(chǎn)生的抖動(dòng)。

在一些具體實(shí)施中，多級均衡電路中的一個(gè)或多個(gè)濾波器可為高通補(bǔ)償濾波器；然而，可采用其他類型的濾波器和/或電路。圖4示出了此類濾波器31的例子，該濾波器連接到其相應(yīng)的前一個(gè)驅(qū)動(dòng)器以及連接到下一級的后續(xù)驅(qū)動(dòng)器。在一些具體實(shí)施中，在多級均衡電路的不同級之間可存在不止一個(gè)濾波器。在一些具體實(shí)施中，多級均衡電路的一些中間級可不包括濾波器。例如，在圖1中，在示例性具體實(shí)施中，可將濾波器18從驅(qū)動(dòng)器12和13之間的級2中移除。

如上所述，接口10可為連接在DUT與ATE之間的DIB的一部分。參見圖5，示例性ATE系統(tǒng)50包括DIB 53，該DIB包括參照圖1至圖4描述的類型的多級均衡電路。ATE系統(tǒng)50用于測試DUT 58，諸如半導(dǎo)體裝置，并且包括測試器(或“測試儀器”)52。

測試器52可包括多個(gè)通道，信號可通過所述通道發(fā)送。為了控制測試器52，系統(tǒng)50包括通過硬線連接56與測試器52連接的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)54。在示例性操作中，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)54向測試器52發(fā)送命令以發(fā)起執(zhí)行測試DUT 58的例程和函數(shù)。此類執(zhí)行測試?yán)炭砂l(fā)起生成測試信號并將測試信號傳輸至DUT 58，并且收集來自DUT的響應(yīng)。各種類型的DUT都可以通過系統(tǒng)50來測試。例如，DUT可為半導(dǎo)體裝置，諸如集成電路(IC)芯片(例如，存儲器芯片、微處理器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器等)，或其他裝置。

為了提供測試信號并收集來自DUT的響應(yīng)，測試器52連接至DIB53，該DIB具有本文所述類型的多級均衡接口電路(例如，接口10)。在該例子中，接口10連接在測試器52與DUT 58的內(nèi)部電路之間。例如，DUT可插入到包含接口10的DIB 53的插座中，從而實(shí)現(xiàn)DUT與測試器之間的電連接。例如，導(dǎo)體60(例如，一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)電通路)連接至該接口并且用于將測試信號(例如，切換或DC測試信號等)經(jīng)由接口10傳送至DUT 58的內(nèi)部電路。ATE還可響應(yīng)于測試器52提供的測試信號經(jīng)由接口10感測信號。例如，可感測電壓信號或電流信號。也可對DUT 58中包括的其他引腳執(zhí)行此類單端口測試。例如，測試器52可向其他引腳提供測試信號并收集通過導(dǎo)體(所述導(dǎo)體傳送所提供的信號)反射回的相關(guān)信號。通過收集反射的信號，引腳的輸入阻抗可與其他單端口測試量一同表征。在其他測試場景中，可通過導(dǎo)體60經(jīng)由接口10將數(shù)字信號發(fā)送至引腳62以將數(shù)字值存儲在DUT 58上。一旦被存儲，便可訪問DUT 58以檢索存儲的數(shù)字值并經(jīng)由接口10通過導(dǎo)體60將該存儲的數(shù)字值最終發(fā)送至測試器52。然后可辨別檢索的數(shù)字值以確定DUT 58上是否存儲了正確的值。

除執(zhí)行單端口測量之外，測試器52還可執(zhí)行雙端口或多端口測試。例如，可通過導(dǎo)體60經(jīng)由接口10將測試信號注入到引腳62中并且可經(jīng)由接口10從DUT 58的一個(gè)或多個(gè)其他引腳收集響應(yīng)信號。該響應(yīng)信號可被提供至測試器52以確定諸如以下的量：增益響應(yīng)、相響應(yīng)以及其他吞吐量測量量。

同樣參見圖6，為了發(fā)送并收集來自DUT(或多個(gè)DUT)的多個(gè)連接器引腳的測試信號，測試器52包括可與許多引腳通信的接口卡64。例如，接口卡64可將測試信號傳輸至例如32個(gè)、64個(gè)或528個(gè)引腳并收集相應(yīng)的響應(yīng)。到引腳的每個(gè)通信鏈路對應(yīng)于一個(gè)通道，諸如圖2所示的通道，并且通過將測試信號提供至大量的通道，測試時(shí)間就得以減少，因?yàn)槎鄠€(gè)測試可同時(shí)執(zhí)行。除在接口卡上具有許多通道之外，通過在測試器52中包括多個(gè)接口卡，通道的總數(shù)增加，從而進(jìn)一步減少測試時(shí)間。在該例子中，示出了兩個(gè)附加接口卡66和68以展示多個(gè)接口卡可填充測試器52。

每個(gè)接口卡均包括用于執(zhí)行特定測試功能的一個(gè)或多個(gè)專門的集成電路(IC)芯片(例如，專用集成電路(ASIC))。例如，接口卡64包括用于執(zhí)行引腳電子裝置(PE)測試的IC芯片70。具體地講，IC芯片70具有PE級74，該P(yáng)E級包括用于執(zhí)行PE測試的電路。此外，接口卡66和68各自包括IC芯片76和78，所述IC芯片包括PE電路。通常，PE測試涉及經(jīng)由接口10將切換測試信號或數(shù)字波形發(fā)送至DUT(例如，DUT 58)并收集響應(yīng)以進(jìn)一步表征DUT的性能。例如，IC芯片70可(向DUT)傳輸切換測試信號，該切換測試信號表示存儲在DUT上的二進(jìn)制值的向量。一旦這些二進(jìn)制值已被存儲，測試器52便可訪問DUT以確定是否存儲了正確的二進(jìn)制值。由于數(shù)字信號通常包括電壓突變，因此，較之于其他電路(例如，附圖中未示出的參數(shù)式測量單位(PMU)電路)，IC芯片70上PE級74中的電路以相對較高的速度運(yùn)行。PE測試還可涉及將抖動(dòng)添加至測試信號并觀察在存在抖動(dòng)的情況下的DUT工作。

在該示例性具體實(shí)施中，信號經(jīng)由DIB 53(以及示例性接口10或本文所述類型的另一接口)從接口卡64傳送至DUT 58。信號經(jīng)由連接IC芯片70和接口板連接器82的一條或多條傳導(dǎo)跡線80傳送，該接口板連接器允許信號傳送到接口板64上以及傳送離開該接口板。接口板連接器82還連接至一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體84，所述一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體連接至接口連接器86，允許信號傳送至測試器52并且從該測試器傳出。在該例子中，一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體60連接至接口連接器86以實(shí)現(xiàn)測試器52與DUT 58的引腳之間的雙向信號傳送。接口10可用于將一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體從測試器52連接至DUT。如上所述，DUT(例如，DUT 58)可安裝到包含接口10的DIB 53上，以提供對每個(gè)DUT引腳的訪問。在此類布置中，一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體60可連接至DIB以將測試信號放置在DUT的一個(gè)或多個(gè)適當(dāng)引腳(例如，引腳62)上。

在一些具體實(shí)施中，一條或多條傳導(dǎo)跡線80以及一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體84分別連接IC芯片70和接口板64以傳送和收集信號。IC芯片70(連同IC芯片76和78)可具有多個(gè)引腳(例如，八個(gè)、十六個(gè)等)，所述多個(gè)引腳分別與多個(gè)傳導(dǎo)跡線以及相應(yīng)的導(dǎo)體連接以(例如，經(jīng)由DIB)提供和收集來自DUT的信號。此外，在一些具體實(shí)施中，測試器52可連接至兩個(gè)或更多個(gè)DIB以將接口卡64、66和68提供的通道連接至一個(gè)或多個(gè)受測裝置。

為了發(fā)起并控制接口卡64、66和68執(zhí)行的測試，測試器52，即PE控制電路90提供測試參數(shù)(例如，測試信號電壓電平、測試信號電流電平、數(shù)字值等)以用于產(chǎn)生測試信號并分析DUT響應(yīng)。PE控制電路可使用一個(gè)或多個(gè)處理裝置來實(shí)施。處理裝置的例子包括但不限于微處理器、微控制器、可編程邏輯(例如，現(xiàn)場可編程門陣列)、和/或它們的一種或多種組合。測試器52還包括計(jì)算機(jī)接口92，該計(jì)算機(jī)接口允許計(jì)算機(jī)系統(tǒng)54控制測試器52執(zhí)行的操作并且還允許數(shù)據(jù)(例如，測試參數(shù)、DUT響應(yīng)等)在測試器52與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)54之間傳送。

雖然本說明書描述了與“測試”和“測試系統(tǒng)”相關(guān)的示例性具體實(shí)施，但本文所述的裝置和方法可用在任何適當(dāng)?shù)南到y(tǒng)中，并且不限于測試系統(tǒng)，也不限于本文所述的示例性測試系統(tǒng)。

如本文所述執(zhí)行的測試可使用硬件或者硬件與軟件的組合來實(shí)施。例如，如同本文所述的測試系統(tǒng)的測試系統(tǒng)可包括定位在各個(gè)點(diǎn)處的各控制器和/或處理裝置。中央計(jì)算機(jī)可協(xié)調(diào)各控制器或處理裝置之間的操作。中央計(jì)算機(jī)、控制器和處理裝置可執(zhí)行各種軟件例程以實(shí)施對測試和校準(zhǔn)的控制和協(xié)調(diào)。

可至少部分地使用一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品來控制測試，所述一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品例如為有形地嵌入至一個(gè)或多個(gè)信息載體中的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序，所述一個(gè)或多個(gè)信息載體諸如一個(gè)或多個(gè)非暫態(tài)機(jī)器可讀存儲介質(zhì)，所述一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序供一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)處理設(shè)備執(zhí)行或者用于控制所述一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)處理設(shè)備的操作，所述一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)處理設(shè)備例如為可編程處理器、計(jì)算機(jī)、多臺計(jì)算機(jī)、和/或可編程邏輯部件。

計(jì)算機(jī)程序可以任何形式的編程語言編寫，包括編譯語言或解譯語言，并且計(jì)算機(jī)程序可以任何形式部署，包括作為獨(dú)立程序或者作為模塊、組件、子例程、或適合用在計(jì)算環(huán)境中的其他單元。計(jì)算機(jī)程序可被部署為在一臺計(jì)算機(jī)上或在位于一個(gè)站點(diǎn)處或者跨多個(gè)站點(diǎn)分布并通過網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)的多臺計(jì)算機(jī)上執(zhí)行。

與實(shí)施全部或部分的測試和校準(zhǔn)相關(guān)的動(dòng)作可由一個(gè)或多個(gè)可編程處理器執(zhí)行，所述一個(gè)或多個(gè)可編程處理器執(zhí)行一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序以執(zhí)行本文所述的功能。全部或部分的測試和校準(zhǔn)可使用專用邏輯電路，例如FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)和/或ASIC(專用集成電路)，來實(shí)施。

適用于執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序的處理器包括例如通用和專用微處理器、以及任意種類的數(shù)字計(jì)算機(jī)的任意一個(gè)或多個(gè)處理器。一般來講，處理器將從只讀存儲區(qū)或隨機(jī)存取存儲區(qū)或這兩者接收指令和數(shù)據(jù)。計(jì)算機(jī)(包括服務(wù)器)的元件包括用于執(zhí)行指令的一個(gè)或多個(gè)處理器以及用于存儲指令和數(shù)據(jù)的一個(gè)或多個(gè)存儲區(qū)裝置。一般來講，計(jì)算機(jī)還將包括一個(gè)或多個(gè)機(jī)器可讀存儲介質(zhì)，或者可操作地耦接以接收來自一個(gè)或多個(gè)機(jī)器可讀存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)并且/或者以將數(shù)據(jù)傳輸至一個(gè)或多個(gè)機(jī)器可讀存儲介質(zhì)，所述一個(gè)或多個(gè)機(jī)器可讀存儲介質(zhì)諸如用于存儲數(shù)據(jù)的海量PCB，例如磁盤、磁光盤或光盤。適用于實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)程序指令和數(shù)據(jù)的機(jī)器可讀存儲介質(zhì)包括一切形式的非易失性存儲區(qū)，包括例如半導(dǎo)體存儲區(qū)裝置，例如EPROM、EEPROM以及閃存存儲區(qū)裝置；磁盤，例如內(nèi)部硬盤或可移除盤；磁光盤；以及CD-ROM和DVD-ROM盤。

本文所用的任何“電連接”可暗示直接的物理連接或者包括中介部件但允許電信號(包括無線信號)在所連接的部件之間流動(dòng)的連接。除非另外指明，否則無論是否使用“電”這個(gè)字來修飾“連接”，涉及本文所提及的電氣電路的任何“連接”都是電連接并且不一定是直接的物理連接。

本文所述的不同具體實(shí)施的元件可組合以形成上文未具體闡述的其他實(shí)施方案?？稍诓粚Y(jié)構(gòu)的工作造成不利影響的情況下，將元件排除在本文所述的結(jié)構(gòu)之外。此外，可將各種單獨(dú)的元件組合成一個(gè)或多個(gè)獨(dú)立元件以執(zhí)行本文所述的功能。