技術(shù)編號：12511836
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明整體上涉及用于執(zhí)行多級均衡的電路，該電路可用在例如自動測試設(shè)備的裝置接口板中。背景技術(shù)自動測試設(shè)備(ATE)是指用于對裝置進行測試的通常由計算機驅(qū)動的自動化系統(tǒng)，所述裝置諸如半導(dǎo)體、電子電路和印刷電路板組件。ATE所測試的裝置通常被稱為受測裝置(DUT)。ATE通常包括計算機系統(tǒng)和測試儀器或者具有相應(yīng)功能的單個裝置。ATE能夠向DUT提供測試信號，接收來自DUT的響應(yīng)信號，并轉(zhuǎn)發(fā)這些響應(yīng)信號以供處理從而確定DUT是否符合測試資質(zhì)。來自ATE的測試信號中存在的抖動可影響ATE所執(zhí)行的測試的質(zhì)...
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