技術總結
本發(fā)明涉及一種對被定位在MR設備(1)的檢查體積中的目標進行MR成像的方法。本發(fā)明的目標是利用對k空間中心的采樣實現(xiàn)“安靜的”ZTE成像。根據(jù)本發(fā)明，所述目標(10)經(jīng)受RF脈沖(20)和切換的磁場梯度(G)的成像序列，其中，在設定的讀出磁場梯度(G)之前輻照初始RF脈沖(20)。利用在初始RF脈沖(20)之后的延遲之后斜升的讀出磁場梯度(G)來采集初始MR信號。之后，所述磁場梯度(G)保持開啟并且讀出方向逐漸改變。在存在所述讀出磁場梯度(G)的情況下輻射另外的RF脈沖(22)，并且如在常規(guī)ZTE成像中采集另外的MR信號。最后，根據(jù)采集到的MR信號來重建MR圖像。此外，本發(fā)明涉及一種MR設備和用于MR設備的計算機程序。

技術研發(fā)人員：J·斯明克;P·R·哈維
受保護的技術使用者：皇家飛利浦有限公司
文檔號碼：201580006221
技術研發(fā)日：2015.01.21
技術公布日：2016.11.16