本發(fā)明公開了一種基于顯微硬度壓痕距離變化的表層內(nèi)應(yīng)力測量方法,涉及機(jī)械工程中應(yīng)力測量方法技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
如今已有的內(nèi)應(yīng)力測量技術(shù)主要分為破壞性方法,非破壞性方法以及微破壞性方法。各種測量法各有自身的優(yōu)缺點(diǎn),其所能測量的深度范圍不一,在不同的場合需要根據(jù)具體的需要選擇正確的測量方法。根據(jù)內(nèi)應(yīng)力自身的性質(zhì),可以將其劃分為微觀內(nèi)應(yīng)力和宏觀內(nèi)應(yīng)力。微觀內(nèi)應(yīng)力主要是在材料的晶粒內(nèi)部存在的內(nèi)應(yīng)力,其測量主要依賴于無損測量法,即非破壞性方法,且在垂直于零件表面的方向上的應(yīng)力能夠一定程度地得到確定。微觀內(nèi)應(yīng)力的測量過程是一個(gè)比較復(fù)雜的過程,其需要昂貴的儀器和受到專業(yè)訓(xùn)練的技術(shù)人員才能完成操作。
目前X射線衍射法是使用較多的一種測量微觀內(nèi)應(yīng)力的方法,在汽車和航空領(lǐng)域其已經(jīng)有半個(gè)世紀(jì)的使用歷史,該方法在基于材料的線彈性基礎(chǔ)上,測量由內(nèi)應(yīng)力引起的晶粒內(nèi)部所發(fā)生的畸變。X射線衍射法是一種純粹的非破壞性方法,但是其使用存在一定的局限性,該方法要求被測材料必須有較規(guī)則的晶粒,且該方法的測量結(jié)果會受到被測工件表面粗糙度和晶粒尺寸的影響,這在沙模鑄件的測量中是不得不考慮的一個(gè)問題。
由于X射線對于工業(yè)常用金屬的穿透力很淺,通常只有數(shù)微米,因此若要測量在零件深度方向上的內(nèi)應(yīng)力,必須對零件進(jìn)行剝層去除材料,這就使得X射線法的非破壞性的優(yōu)點(diǎn)被打破。
另一種基于材料晶粒位錯(cuò)位移內(nèi)應(yīng)力測量技術(shù)為中子衍射法,該方法所需要的設(shè)備非常昂貴,只有極少的實(shí)驗(yàn)室和研究機(jī)構(gòu)擁有,而且由于該方法得到的是被測區(qū)域的內(nèi)應(yīng)力的平均值,因此其分別率不是很高,對于微觀內(nèi)應(yīng)力的測量該方法會顯得較為困難。
其他的無損檢測方法包括磁性法和超聲波法,磁性法是一種比較簡答的方法,其根據(jù)零件在受力狀態(tài)下其磁性會發(fā)生一定的變化的特征進(jìn)行測量,該方法可以用來測量雙軸應(yīng)力。另一種磁性法利用巴克豪森效應(yīng),通過測量與磁性成比例的電動勢的變化從而確定內(nèi)應(yīng)力值。磁性法的局限性為其只能測量磁性材料,而磁性對于微結(jié)構(gòu)的變化很敏感,因此在每次測量之前都必須對其磁性進(jìn)行校準(zhǔn)。
超聲波法主要利用材料在受力狀態(tài)下超聲波在其內(nèi)部的傳播速率會發(fā)生變化的這一特點(diǎn)確定內(nèi)應(yīng)力值,該方法的缺點(diǎn)為其測量結(jié)果相對于被測材料的微結(jié)構(gòu)具有一定的不規(guī)則性。
宏觀內(nèi)應(yīng)力的分布遠(yuǎn)大于材料的晶粒尺寸,在設(shè)計(jì)和破壞分析中宏觀內(nèi)應(yīng)力往往是主要的考慮對象。當(dāng)前測量宏觀內(nèi)應(yīng)力的最為直接有效且方便、便宜的方法為鉆孔法,通過鉆孔 去除材料使得內(nèi)應(yīng)力得到部分釋放,通過測量此過程中孔周邊的應(yīng)變的變化從而算得材料內(nèi)部的值。鉆孔法本身所存在的缺點(diǎn)為其自身具有一系列的不確定性,例如應(yīng)變值的測量,鉆孔的同心性,鉆孔直徑的大小以及鉆孔的深度等,鉆孔會對零件造成一定程度的破壞,且零件的表面必須要進(jìn)行一定程度的處理使得應(yīng)變片能夠較為順利地貼于其上,這會對表面應(yīng)力產(chǎn)生一定的影響,盡管是微量的影響鉆孔法最基本的假設(shè)為材料是各向同性的且具有線彈性,同時(shí)其假設(shè)在深度方向上內(nèi)應(yīng)力并沒有明顯的變化,因此若所鉆孔的深度大于孔的直徑,其在很多實(shí)際情況下并不是很有意義,因此鉆孔法往往被描述為半損檢測法。
若需要測量更深部分的內(nèi)應(yīng)力,在20實(shí)際70年代出現(xiàn)的另一種形式的鉆孔法,稱為深孔法,該方法需要首先在被測工件上鉆一個(gè)參考孔,并測量其在深度方向上的直徑的變化,然后在參考孔的周邊再進(jìn)行鉆孔,對參考孔和周邊孔進(jìn)行重新測量,根據(jù)空之間距離的變化計(jì)算得應(yīng)變的變化,該方法可以測得深度為10厘米的內(nèi)應(yīng)力的分布情況,然而該方法得到的結(jié)果與有限元分析的結(jié)果相比,其基本沒有什么相關(guān)性,因此該方法得到的結(jié)果的準(zhǔn)確性還有待商榷。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種基于顯微硬度壓痕距離變化的表層內(nèi)應(yīng)力測量方法,其所需的測量設(shè)備低廉,對操作人員沒有嚴(yán)格的要求,且其精度能滿足絕大部分工業(yè)上的要求。
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案:
一種基于顯微硬度壓痕距離變化的表層內(nèi)應(yīng)力測量方法,包括如下步驟:
步驟(1)、在被加工零件表面打下成對的微硬度壓痕;
步驟(2)、測量微硬度壓痕之間的初始距離;
步驟(3)、對零件進(jìn)行去除內(nèi)應(yīng)力處理;
步驟(4)、測量微硬度壓痕之間在指定方向上距離的變化;
步驟(5)、根據(jù)材料的彈性模量、泊松比以及所測得的顯微硬度壓痕之間距離的變化對內(nèi)應(yīng)力值進(jìn)行計(jì)算。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方案,所述步驟(5)的計(jì)算方法如下:
X和Y方向的表層內(nèi)應(yīng)力σ1、σ2的計(jì)算公式分別為:
σ1=-E(Δd1/d1+μΔd2/d2)/(1-μ2);
σ2=-E(Δd2/d2+μΔd1/d1)/(1-μ2);
其中,E和μ分別為材料的彈性模量和泊松比,d1和d2分別為壓痕在X和Y方向的初始距離,Δd1和Δd2分別為壓痕在X和Y方向的距離的變化。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方案,所述步驟(1)中成對的微硬度壓痕之間的距離大于或者等于50mm。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方案,所述步驟(2)中,當(dāng)需要測量進(jìn)給方向和切削方向的內(nèi)應(yīng)力時(shí),設(shè)置兩個(gè)微硬度壓痕的連線與進(jìn)給方向成45°角。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方案,所述步驟(3)中去除內(nèi)應(yīng)力的方法為退火處理,在真空爐中進(jìn)行加熱退火,保持指定的時(shí)間之后隨爐冷卻,退火的溫度和時(shí)間要根據(jù)不同的材料進(jìn)行選擇。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方案,所述步驟(2)、步驟(4)中,微硬度壓痕的距離通過移測顯微鏡測得。所述步驟(1)中,使用微硬度壓痕儀給被加工零件打下微硬度壓痕。
本發(fā)明采用以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下技術(shù)效果:本發(fā)明所公開的測量方法操作簡單,所需的設(shè)備價(jià)格低廉,且精度可靠。
附圖說明
圖1為用微硬度壓痕儀在加工后的零件表面留下為硬度壓痕示意圖,并用移測顯微鏡測得其初始距離d0。
圖2為給零件去應(yīng)力處理后測得其之間的距離dt相比之前的d0變小,可以判斷初始內(nèi)應(yīng)力為拉應(yīng)力狀態(tài)。
圖3為給零件去應(yīng)力處理后測得其之間的距離dc相比之前的d0變大,可以判斷初始內(nèi)應(yīng)力為壓應(yīng)力狀態(tài)。
圖4為同時(shí)測得在進(jìn)給方向和切削方向的距離的變化,進(jìn)而可以同時(shí)求得兩個(gè)方向的內(nèi)應(yīng)力。
具體實(shí)施方式
下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施方式,所述實(shí)施方式的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施方式是示例性的,僅用于解釋本發(fā)明,而不能解釋為對本發(fā)明的限制。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)說明:
根據(jù)顯微硬度壓痕隨著內(nèi)應(yīng)力的變化而發(fā)生的變化,首先可以確定該內(nèi)應(yīng)力是壓應(yīng)力還是拉應(yīng)力。根據(jù)觀察,可以發(fā)現(xiàn)當(dāng)零件的彈性內(nèi)應(yīng)力部分得到釋放時(shí)顯微硬度壓痕的形狀會 發(fā)生一定的變化,其會對本方法的測量精度產(chǎn)生一定的影響。當(dāng)內(nèi)應(yīng)力達(dá)到其彈性極限的百分之四十以上時(shí)材料的硬度會發(fā)生較大的變化,進(jìn)而引起微硬度壓痕產(chǎn)生較大的變形,而當(dāng)其值低于彈性極限的百分之四十時(shí)其對硬度的影響不是很大,因此為了克服該方法上的缺點(diǎn),本發(fā)明通過測量內(nèi)應(yīng)力釋放前后微硬度壓痕之間距離的變化實(shí)現(xiàn)對內(nèi)應(yīng)力的測量,其主要包括如下步驟:
(1)用微硬度壓痕儀在被測表面打下硬度壓痕。在零件機(jī)械加工(如切削加工)完畢后,在零件的被加工表面打下成對的微硬度壓痕,成對的微硬度壓痕之間的距離要適當(dāng),通常成對的微硬度壓痕之間的距離不少于50mm,以保證其變化能夠較為準(zhǔn)確地被測得。
用微硬度壓痕儀在加工后的零件表面留下硬度壓痕,并用移測顯微鏡測得其初始距離d0,如圖1所示;給零件去應(yīng)力處理后測得其之間的距離dt相比之前的d0變小,可以判斷初始內(nèi)應(yīng)力為拉應(yīng)力狀態(tài),如圖2所示;給零件去應(yīng)力處理后測得其之間的距離dc相比之前的d0變大,可以判斷初始內(nèi)應(yīng)力為壓應(yīng)力狀態(tài),如圖3所示。
(2)測量壓痕之間的初始距離。為了能測得零件表面多方向的內(nèi)應(yīng)力,顯微硬度壓痕的布置要比較科學(xué),最好與被測方向成45°角,若要測量進(jìn)給方向和切削方向的內(nèi)應(yīng)力,只需設(shè)置兩個(gè)微硬度壓痕的連續(xù)與進(jìn)給方向成45°角即可,如圖4所示,可以同時(shí)測得在進(jìn)給方向和切削方向的距離的變化,進(jìn)而可以同時(shí)求得兩個(gè)方向的內(nèi)應(yīng)力。
(3)對零件進(jìn)行去除內(nèi)應(yīng)力處理。通常采取的去內(nèi)應(yīng)力方法為退火,退火的溫度和退火的時(shí)間要根據(jù)不同的材料進(jìn)行選擇,為避免材料表面被氧化后對實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響,這里可以采取在真空爐中進(jìn)行加熱退火,先將爐內(nèi)空氣抽空,再根據(jù)指定的速率將零件加熱到指定的溫度,并保持指定的時(shí)間,然后隨爐冷卻,完成退火去內(nèi)應(yīng)力的操作。
(4)測量微硬度壓痕之間距離的變化,其需要根據(jù)指定的方向測量該方向上的距離的變化。
(5)根據(jù)材料的彈性模量E,泊松比μ以及所測得的為硬度壓痕之間距離的變化對內(nèi)應(yīng)力值進(jìn)行計(jì)算。圖4中的距離d1的變化Δd1可以認(rèn)為有兩個(gè)方面的因素共同作用而引起,第一,X方向的的表面內(nèi)應(yīng)力σ1的釋放與材料的彈性模量的作用,第二,Y方向的表面內(nèi)應(yīng)力σ2的釋放與材料的泊松比的作用,其關(guān)系式為:
ε1=Δd1/d1=-(σ1-μσ2)/E (1)
同樣的道理可以得到關(guān)系式:
ε2=Δd2/d2=-(σ2-μσ1)/E (2)
最終可以得到計(jì)算X和Y方面的表層內(nèi)應(yīng)力σ1、σ2的公式分別為:
σ1=-E(Δd1/d1+μΔd2/d2)/(1-μ2) (3)
σ2=-E(Δd2/d2+μΔd1/d1)/(1-μ2) (4)
對于一些應(yīng)力的松弛具有時(shí)滯效應(yīng)的材料,固然應(yīng)力的松弛會引起材料的硬度發(fā)生一定的變化,但是材料的彈性模量的變化卻是很小的,以至于可以忽略不計(jì),這是由于材料的彈性模量只取決于原子間的作用力,而不包含任何的塑性變形。
為了能較為準(zhǔn)確測得顯微硬度壓痕之間的距離的變化,經(jīng)過計(jì)算,顯微硬度壓痕之間的距離不能少于50mm,其距離的變化用移測顯微鏡進(jìn)行測量。
上面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施方式作了詳細(xì)說明,但是本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式,在本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所具備的知識范圍內(nèi),還可以在不脫離本發(fā)明宗旨的前提下做出各種變化。以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非對本發(fā)明作任何形式上的限制,雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上,然而并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi),當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實(shí)施例,但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案內(nèi)容,依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì),在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),對以上實(shí)施例所作的任何簡單的修改、等同替換與改進(jìn)等,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。