本發(fā)明涉及同軸連接器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于探測(cè)被檢查對(duì)象并能裝卸自如的同軸連接器。

背景技術(shù)：

在智能手機(jī)、平板電腦和無線路由器等電子設(shè)備中，作為射頻模塊中經(jīng)常使用的測(cè)試座(例如2006年6月21日公告的公告號(hào)為1260859的中國專利)，通常需要配合一種探測(cè)用的同軸連接器來進(jìn)行射頻傳輸質(zhì)量的檢測(cè)。為保證良好的檢測(cè)質(zhì)量效果，探測(cè)用的同軸連接器與測(cè)試座一樣也需要很好地進(jìn)行50歐姆阻抗匹配設(shè)計(jì)。

現(xiàn)有的探測(cè)用的同軸連接器如圖1所示，具備控測(cè)信號(hào)的探測(cè)針01和與之絕緣配置的外套筒02以及彈性件03，在安裝到測(cè)試夾具(圖中示出示)后對(duì)被檢測(cè)對(duì)象的測(cè)試座進(jìn)行探測(cè)檢查時(shí)，所述探測(cè)用的同軸連接器通過壓縮所述彈性件03使所述外套筒02彈性可活動(dòng)地下壓抵接在被檢測(cè)對(duì)象的測(cè)試座上進(jìn)行信號(hào)回路的檢測(cè)，從而借助彈性件03的緩沖作用有效抵消沖擊損傷力，避免誤測(cè)或損傷檢測(cè)對(duì)象的測(cè)試座。如圖1所示，根據(jù)同軸傳輸理論，由于其結(jié)構(gòu)限制，探測(cè)針01的外徑和外套筒02的內(nèi)徑在軸向上無法保持一致，必然存在兩個(gè)阻抗大于標(biāo)準(zhǔn)的50歐姆的區(qū)間A、B和一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的50歐姆阻抗的區(qū)間C，因此，所述探測(cè)用的同軸連接器的阻抗失配，高頻指標(biāo)較差。另外，進(jìn)一步如圖1所示，所述彈性件03在外套筒02內(nèi)的可活動(dòng)行程d的最大值為1.75mm，當(dāng)安裝高度的精度不高時(shí)，即：如果所述探測(cè)用的同軸連接器安裝到測(cè)試夾具上的安裝高度高于1.75mm時(shí)，所述彈性件03的壓縮行程不會(huì)完全壓縮到底，仍存在一部分A、B區(qū)間，此時(shí)阻抗仍處于失配狀態(tài)，高頻指標(biāo)(VSWR)變差，容易造成探測(cè)時(shí)的不準(zhǔn)確性；如果所述探測(cè)用的同軸連接器安裝到測(cè)試夾具上的安裝高度低于1.75mm時(shí)，由于所述彈性件03的壓縮行程已超出其最大活動(dòng)范 圍，此時(shí)彈性件03的彈性緩沖抵消作用失效，被檢測(cè)對(duì)象的測(cè)試座在檢測(cè)時(shí)受到所述探測(cè)用的同軸連接器很大的沖擊抵接力，導(dǎo)致所述測(cè)試座或探測(cè)用的同軸連接器被壓壞損傷。

綜上所述，鑒于現(xiàn)有的探測(cè)用的同軸連接器存在的以上缺陷和不足，有必要提出一種新的技術(shù)方案以解決上述問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種允許較大的安裝高度誤差的情形下仍具有良好高頻性能的探測(cè)用的同軸連接器。

為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種探測(cè)用的同軸連接器，其設(shè)有主套筒，該主套筒的下端套設(shè)有套接件，該套接件的上端面與所述主套筒上端設(shè)有的限位臺(tái)階止擋定位，所述套接件的上端外側(cè)套設(shè)有外套筒，且所述外套筒的套孔的底部向內(nèi)成形有抵靠緣，該抵靠緣與所述套接件的上端設(shè)有的止擋臺(tái)階止擋定位，所述外套筒上端組接固定在所述主套筒的上端，并通過其卡合臺(tái)階與所述主套筒的限位臺(tái)階定位，在所述主套筒的外側(cè)于所述套接件的止擋臺(tái)階與所述主套筒的限位臺(tái)階之間套設(shè)有沿主套筒軸向活動(dòng)的套接件彈性件，所述主套筒的套孔內(nèi)同軸地穿設(shè)有探針件，且該探針件與主套筒之間由絕緣間隔件絕緣地隔開，所述探針件穿過所述套接件的導(dǎo)引孔。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述探針件具備探針套，所述探針套的軸套內(nèi)套設(shè)有探針頭，所述軸套內(nèi)設(shè)有止擋部，所述探針頭的上端具有止位孔，所述探針套的軸套內(nèi)于所述探針套的止擋部和所述探針頭的止位孔底部之間套設(shè)有探針彈性件。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述套接件包括套接外殼和套接主體，所述套接外殼的下端組接固定于所述套接主體的外側(cè)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述套接主體具備推送件，該推送件的內(nèi)孔套設(shè)地固定有絕緣塞柱，該絕緣塞柱被所述套接件的導(dǎo)引孔貫穿。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述推送件的內(nèi)孔底部設(shè)置有錐形開口。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述推送件的的上端設(shè)有彈性卡凸，該彈性卡凸與所述主套筒的套孔內(nèi)壁的滑動(dòng)接觸的接觸面為弧形。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述絕緣塞柱的上端設(shè)有塞套孔，所述探針件的探針頭設(shè)有階梯段，所述探針頭可以軸向地移動(dòng)，并由所述階梯段止擋于所述塞套孔的底部。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述套接件的上端面與所述主套筒的限位臺(tái)階的軸向距離不小于2毫米，所述探針頭的階梯段的下端面與所述絕緣塞柱的塞套孔底部的軸向距離不大于1毫米。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主套筒的套孔內(nèi)設(shè)有抵擋階梯面，所述絕緣間隔件設(shè)于所述主套筒的套孔內(nèi)并抵靠在所述抵擋階梯面與所述探針套的下端面之間，所述絕緣間隔件的下端面與所述探針件的階梯段之間的區(qū)域?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)阻抗區(qū)，所述絕緣塞柱的下端面與所述套接外殼的上端面之間的區(qū)域?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)阻抗區(qū)，所述塞套孔的底部與所述探針頭的階梯段之間的區(qū)域?yàn)樽杩蛊髤^(qū)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還具備組裝座，所述主套筒和所述探針件相互絕緣地組接于所述組裝座上。

【附圖說明】

圖1為現(xiàn)有技術(shù)的探測(cè)用的同軸連接器的剖視圖；

圖2為本發(fā)明一實(shí)施例的立體示意圖；

圖3為圖2所示的探測(cè)用的同軸連接器的立體分解圖；

圖4為圖2所示的探測(cè)用的同軸連接器的剖視圖；

圖5為圖2所示的探測(cè)用的同軸連接器的檢測(cè)實(shí)施狀態(tài)的狀態(tài)圖；

圖6為圖2所示的探測(cè)用的同軸連接器檢測(cè)時(shí)的極限狀態(tài)圖；

附圖標(biāo)號(hào)說明：

10：主套筒 20：外套筒 30：套接件

311：套接件的上端面 102：主套筒的限位臺(tái)階

201：外套筒的套孔 2011：抵靠緣

312：所述套接件的止擋臺(tái)階 2012：外套筒的卡合臺(tái)階

60：套接件彈性件 101：主套筒的套孔 50：探針件

40：絕緣間隔件 301：導(dǎo)引孔 501：探針套

5011：軸套 502：探針頭 5012：止擋部

5021：探針頭的止位孔 70：探針彈性件 31：套接外殼

32：套接主體 321：推送件 3211：推送件的內(nèi)孔

322：絕緣塞柱 3212：錐形開口 3213：彈性卡凸，

3221：塞套孔 5022：階梯段 103：抵擋階梯面

323：止位臺(tái)階 80：組裝座 81：組裝座外殼

82：組裝座絕緣件 801：安裝孔 200：測(cè)試座

【具體實(shí)施方式】

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式做詳細(xì)的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明。但是本發(fā)明能夠以很多不同于在此描述的其它方式來實(shí)施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似改進(jìn)，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實(shí)施的限制。

需要說明的是，當(dāng)元件被稱為“固定于”另一個(gè)元件，它可以直接在另一個(gè)元件上或者也可以存在居中的元件。當(dāng)一個(gè)元件被認(rèn)為是“連接”另一個(gè)元件，它可以是直接連接到另一個(gè)元件或者可能同時(shí)存在居中元件。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。

請(qǐng)參照?qǐng)D2至圖6所示，為本發(fā)明的一個(gè)較佳的實(shí)施例：一種檢測(cè)用的同軸連接器100，其安裝在測(cè)試夾具上(圖中未示出)，用于與被檢測(cè)對(duì)象(圖中未示出，通常是射頻功能模塊電路)的測(cè)試座200配合連接對(duì)被檢測(cè)對(duì)象的射頻性能進(jìn)行檢測(cè)。如圖2、圖3所示，并參照?qǐng)D4至圖6所示，所述的檢測(cè)用的同軸連接器100主要由主套筒10、外套筒20、套接件30、絕緣間隔件40、探針件50以及組裝座80組成，所述的套接件30包括套接外殼31和套接主體32， 所述的探針件50包括探針套501和探針頭502，其中：

該組裝座80，包括組裝座外殼81和組裝座絕緣件82，其上端為SMA外螺紋標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)接插口，于組裝座外殼81的下端兩側(cè)設(shè)置有安裝孔801，用于將所述檢測(cè)用的同軸連接器100固定地安裝到測(cè)試夾具(圖中未示出)上的鎖緊孔，又于組裝座外殼81中心軸向套設(shè)所述組裝座絕緣件82，該組裝座絕緣件82的中心穿孔套設(shè)并固定地組接所述探針套501；

該主套筒10，其上端組接固定于所述組裝座80的下方，該主套筒10的中心設(shè)置有套孔101，該套孔101包括相互貫通的直徑較大的上端部分和直接較小的下端部分，所述主套筒的套孔101內(nèi)于其上端部分底部設(shè)有一抵擋階梯面103，又所述的絕緣間隔件40具備中心孔，于所述主套筒的套孔101內(nèi)的上端部分內(nèi)抵靠在所述抵擋階梯面103與所述探針套501的下端面之間，從而使所述主套筒10與所述探針件50絕緣地隔開，另外，所述主套筒10的上端設(shè)置有限位臺(tái)階102；

該探針件50，同軸地穿設(shè)于所述主套筒的套孔101內(nèi)，且穿過所述套接件的導(dǎo)引孔301，其探針頭502的上端套設(shè)于所述探針套501的軸套5011內(nèi)，又所述軸套5011內(nèi)設(shè)有止擋部5012，所述探針頭的上端設(shè)有止位孔5021，且所述探針套的軸套5011內(nèi)于所述探針套的止擋部5012和所述探針頭的止位孔5021底部之間套設(shè)有探針彈性件70，所述探針頭502的上端由所述絕緣間隔件40的上端面止擋限位；

該套接件30，套設(shè)于所述主套筒10的下端，其中，所述套接外殼31套設(shè)于所述主套筒10下端的外側(cè)，所述套接主體32套設(shè)于所述主套筒10下端的套孔101內(nèi)，又所述套接外殼31的下端組接固定于所述套接主體32的外側(cè)，在本實(shí)施例中，所述套接件30的上端設(shè)有的止擋臺(tái)階312設(shè)定于所述套接外殼31上；

在本實(shí)施例中，所述套接主體32由絕緣塞柱322及套設(shè)地固定于所述絕緣塞柱322外側(cè)的推送件321組成，所述絕緣塞柱322被所述套接件30的導(dǎo)引孔301貫穿，所述推送件321的上端設(shè)有彈性卡凸3213，值得說明的是，為了獲得更好的彈性效果，該彈性卡凸3213可以有用以電性接觸的多個(gè)彈片，所述彈 性卡凸3213于所述主套筒的套孔101內(nèi)滑動(dòng)并與其內(nèi)壁接觸，且其接觸面為弧形(或球形)，又所述的絕緣塞柱322的上端設(shè)有塞套孔3221，所述探針件50的探針頭502設(shè)有階梯段5022，所述探針頭502可以軸向地移動(dòng)，并由所述階梯段5022止擋于所述塞套孔3221的底部，另，所述推送件321的內(nèi)孔3211的底部設(shè)置有錐形開口3212，該錐形開口3212與所述導(dǎo)引孔301貫通；

該外套筒20，套設(shè)于所述套接件30的上端外側(cè)，在本實(shí)施例中，所述外套筒20套設(shè)于所述套接外殼31的上端外側(cè)，又所述外套筒20的上端組接固定于所述主套筒10的上端且通過所述的外套筒20通過其卡合臺(tái)階2012與所述主套筒10的限位臺(tái)階102定位；進(jìn)一步地，所述外套筒的套孔201的底部向內(nèi)成形有抵靠緣2011，在本實(shí)施例中，所述套接外殼31的上端套設(shè)于所述外套筒的套孔201內(nèi)并于向上方向上由所述該抵靠緣2011與所述的止擋臺(tái)階312止擋定位，又于向下方向上由所述套接件30的上端面311與所述主套筒10的上端設(shè)有的限位臺(tái)階102止擋定位，另外，如圖4至圖6所示，在所述主套筒10的外側(cè)于所述套接件的止擋臺(tái)階312與所述主套筒的限位臺(tái)階102之間套設(shè)沿主套筒10軸向活動(dòng)的套接件彈性件60。

值得注意的是，為保證套接件30沿軸向活動(dòng)時(shí)具有較大的浮動(dòng)伸縮行程，以便在保證檢測(cè)質(zhì)量的情況下允許探測(cè)用的同軸連接器100具有較大的安裝高度誤差，在本實(shí)施例中，所述的主套筒的限位臺(tái)階102與套接件之套接外殼的上端面311的距離為2毫米(大于傳統(tǒng)技術(shù)的1.75毫米)，使所述套接件彈性件60受到所述套接件30的最大壓縮行程為2毫米，從而加大探測(cè)用的同軸連接器100的軸向自由度，同時(shí)，所述探針頭502的階梯段5022與所述絕緣塞柱的塞套孔3221的底部的距離為1毫米，使得探針頭的階梯段5022階向著所述絕緣塞柱322移動(dòng)并止擋于所述塞套孔3221的底部的距離不大于1毫米，如此可保證此阻抗偏大部分對(duì)整體高頻性能的影響盡可能地小，從而至少保證所述的探測(cè)用的同軸連接器100在套接件30的伸縮行程范圍1.5～2.0毫米內(nèi)具有卓越的整體的高頻性能。

根據(jù)以上，當(dāng)組裝實(shí)施時(shí)，請(qǐng)參閱圖3，并結(jié)合圖2所示，將絕緣間隔件40先行套入主套筒10的套孔101的上端部分中，藉由重力作用絕緣間隔件40 會(huì)落入主套筒的套孔10的上端部分底部，此時(shí)，絕緣間隔件40的下端面便會(huì)與抵擋階梯面103擋止定位，后將探針頭502的下端穿過絕緣間隔件40的中心孔，使探針頭502落入主套筒10的套孔101的下端部分，此時(shí)，探針頭502的上端被絕緣間隔件40的上端面止擋限位，再將探針彈性件70裝于探針頭的上端設(shè)有止位孔5021中，又將組裝座絕緣件82從下方套入并固接于組裝座外殼81內(nèi)，繼將探針套501從下方套入并固接于組裝座絕緣件82的中心穿孔內(nèi)，再將組裝座80與探針套501的組合件從上方套裝于主套筒10的上方，此時(shí)探針頭502的上端及探針彈性件70套入探針套501的軸套5011內(nèi)，探針彈性件70受到軸套內(nèi)的止擋部5012止擋并受到止擋部5012的初始力壓縮，繼將主套筒10的上端與組裝座80的下端通過鉚壓等方式固接在一起，又將絕緣塞柱322從上方套入推送件的內(nèi)孔3211并固定在預(yù)定位置，以便組成套接主體32，此時(shí)，塞套孔3221位于推送件321的上方，再將套接外殼31的下端組接固定于推送件321的下端外側(cè)，從而組裝成一體的套接件30，繼將套接件彈性件60套入主套筒10的下端外側(cè)，再將套接件30從下方套入主套筒10的下端，此時(shí)，套接件彈性件60于套接件的止擋臺(tái)階312與主套筒的限位臺(tái)階102之間沿主套筒10軸向活動(dòng)，同時(shí)，套接主體32套設(shè)于套孔101的下端部分內(nèi)，套接外殼31套設(shè)在主套筒10的下端的外側(cè)，套接主體32通過其推送件321的彈性卡凸3213可以自由地沿著套孔101的下端部分的內(nèi)壁滑動(dòng)并與其一直保持彈性接觸，藉由主套筒的下端面與推送件321的止位臺(tái)階323擋止限位，此外，探針頭502穿設(shè)于套接件的導(dǎo)引孔301內(nèi)，探針頭的階梯段5022對(duì)應(yīng)地位于絕緣塞柱的塞套孔3221正上方，探針頭502可以于導(dǎo)引孔301內(nèi)軸向地移動(dòng)，并藉由階梯段5022與塞套孔3221的底部止擋定位，再將外套筒20從套接件30的下方向上套入到主套筒10的外側(cè)，并由卡合臺(tái)階2012與主套筒的限位臺(tái)階102定位后，通過鉚壓等技術(shù)手段將外套筒20的上端與主套筒10的上端固接在一起，此時(shí)，套接件30的上端面311與主套筒的限位臺(tái)階102止擋定位，外套筒20的抵靠緣2011與套接外殼31的止擋臺(tái)階312止擋定位。

以下詳細(xì)描述探測(cè)實(shí)施動(dòng)作：如上所述的探測(cè)用的同軸連接器100(以下稱為“探測(cè)器”)，在本實(shí)施例中，所述套接件的上端面311與所述主套筒的限位 臺(tái)階102的軸向距離為2毫米，所述探針頭的階梯段5022的下端面與所述絕緣塞柱的塞套孔3221底部的軸向距離為1毫米，參照?qǐng)D4所示，值得說明的是，根據(jù)同軸傳輸原理，由于所述套接件彈性件60置于所述主套筒10的外側(cè)，可以將所述主套筒的抵擋階梯面103與所述探針件的階梯段5022之間的區(qū)域X設(shè)計(jì)為標(biāo)準(zhǔn)阻抗區(qū)(即特征阻抗為50歐姆)，所述絕緣塞柱322的下端面與所述套接外殼321的上端面之間的區(qū)域Z設(shè)計(jì)為標(biāo)準(zhǔn)阻抗區(qū)(即特征阻抗為50歐姆)，所述塞套孔3221的底部與所述探針件的階梯段5022之間的區(qū)域Y由于結(jié)構(gòu)限制，根據(jù)同軸傳輸理論，必須為阻抗偏大區(qū)(特征阻抗大于50歐姆)，因此，所述探測(cè)器100的整體性能指標(biāo)因?yàn)閅區(qū)域的特征阻抗不匹配導(dǎo)致性能無法達(dá)到最佳，但由于所述探針頭的階梯段5022的下端面與所述絕緣塞柱的塞套孔3221底部的軸向距離為1毫米，整個(gè)信號(hào)傳輸?shù)妮S向方向上只有軸向長(zhǎng)度較短Y區(qū)域，其造成的影響較小，探測(cè)器100的整體性能指標(biāo)可以接受。當(dāng)欲進(jìn)行對(duì)被測(cè)對(duì)象(如射頻模塊電路)的測(cè)試座200實(shí)施檢測(cè)時(shí)，如圖4所示，將所述被測(cè)對(duì)象的測(cè)試座200輸送到所述探測(cè)用的同軸連接器100的下方，繼而由所述探測(cè)器100安裝到的測(cè)試治具(圖中未示出)提供升降動(dòng)力源驅(qū)動(dòng)探測(cè)器100向下移動(dòng)，當(dāng)該探測(cè)器100到達(dá)所述測(cè)試座200時(shí)，所述推送件321的錐形開口3212先抵觸到所述被測(cè)對(duì)象的測(cè)試座200的上部，使本發(fā)明的探測(cè)器100導(dǎo)正到與所述測(cè)試座200間的正確的相對(duì)位置，然后，利用所述套接件彈性件60的彈性作用自動(dòng)導(dǎo)正測(cè)試治具的施力源驅(qū)動(dòng)到探測(cè)器100的作用力，使所述的探測(cè)器100及其套接件30平穩(wěn)地向下位移動(dòng)作，由于所述套接件的止擋臺(tái)階312的止擋作用，使所述套接件30的所述套接件彈性件60進(jìn)一步地受到壓縮，同時(shí)，經(jīng)由組裝座80及探針套501的帶動(dòng)，所述套接件的止擋部5012向下抵壓所述探針彈性件70，使所述探針彈性件70受到壓縮，推動(dòng)所述探針頭501同步地相對(duì)向下位移并穿過導(dǎo)引孔301平直地插設(shè)于所述測(cè)試座200內(nèi)以便進(jìn)行信號(hào)相關(guān)質(zhì)量的檢測(cè)等動(dòng)作；隨著探測(cè)器100進(jìn)一步地向下位移，使所述套接件彈性件60受到進(jìn)一步壓縮，當(dāng)所述套接件彈性件60受到所述套接件30推動(dòng)的壓縮行程為1毫米時(shí)，即所述并當(dāng)所述套接件的上端面311與所述主套筒的限位臺(tái)階102的軸向距離為1毫米時(shí)，即進(jìn)入如圖5所示的檢測(cè)實(shí)施狀態(tài)，由 圖5可知，X區(qū)域的軸向距離變化到1毫米，此時(shí)，所述探針頭的階梯段5022止擋于所述塞套孔3221底部并容置于所述塞套孔3221中，即非阻抗匹配的阻抗偏大區(qū)域Y軸向距離變化為零，也即阻抗偏大區(qū)消失，此時(shí)，探測(cè)器100的整體的阻抗完全達(dá)到匹配狀態(tài)，探測(cè)器100的高頻性能表現(xiàn)為最佳，在此安裝高度的情形下檢測(cè)效果最佳，誤測(cè)率最低；根據(jù)檢測(cè)的應(yīng)用場(chǎng)合不同，本發(fā)明的探測(cè)器100可以進(jìn)一步地向下位移，當(dāng)所述套接件彈性件60受到所述套接件30推動(dòng)的壓縮行程為2毫米時(shí)，參見圖6所示，此時(shí)，所述套接件的上端面311被主套筒的限位臺(tái)階102擋止，達(dá)到檢測(cè)時(shí)的極限狀態(tài)，值得注意的是，在此期間，所述非阻抗匹配的阻抗偏大區(qū)域Y軸向距離始終為零，即此段下壓行程中，探測(cè)器100的高頻性能都為最佳狀態(tài)，同時(shí)，所述套接件30沿軸向活動(dòng)時(shí)浮動(dòng)伸縮行程可以達(dá)到較大的2毫米，從而實(shí)現(xiàn)探測(cè)器100可以達(dá)到更大的安裝高度誤差的目的。另外，在上述的檢測(cè)過程中，利用探針彈性件70的彈性緩沖作用，避免被檢測(cè)對(duì)象的測(cè)試座200位置不當(dāng)或垂直度不佳時(shí)對(duì)探針件50及測(cè)試座200的損壞，值得說明的是，在實(shí)施檢測(cè)的整個(gè)過程中，所述探針頭502的下端自始至終都未凸伸出所述錐形開口3212之外，一直處于結(jié)構(gòu)強(qiáng)壯的套接外殼301的保護(hù)內(nèi)，從而徹底地有效消除探針件50及測(cè)試座200在探測(cè)過程的可能的損壞風(fēng)險(xiǎn)。當(dāng)本發(fā)明的探測(cè)器100對(duì)檢測(cè)對(duì)象完成檢測(cè)后，測(cè)試夾具的升降動(dòng)力源將帶動(dòng)組裝座80往上復(fù)位，與組裝座80固定組接的探針套501、主套筒10、外套筒20同步地一起往上復(fù)位，同時(shí)，套接件30隨著套接件彈性件60的回復(fù)動(dòng)作復(fù)位，直到所述套接外殼301復(fù)位到外套筒20的抵靠緣2011與套接外殼31的止擋臺(tái)階312止擋抵靠時(shí)結(jié)束，又所述探針頭502也會(huì)隨探針彈性件70的回復(fù)動(dòng)作復(fù)位，直到探針頭502的上端被絕緣間隔件40的上端面止擋抵靠時(shí)結(jié)束，此時(shí)，所述的套接件彈性件60和探針彈性件70都回復(fù)到原狀，以待下一次探測(cè)作業(yè)。

綜上所述，本發(fā)明公開的探測(cè)用的同軸連接器能達(dá)到發(fā)明目的，既實(shí)現(xiàn)了允許較大的安裝高度誤差，同時(shí)又具備良好高頻性能，本發(fā)明的探測(cè)用的同軸連接器具有高可靠性，低誤測(cè)率。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的一種或幾種實(shí)施方式，其描述較為具體 和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。