本發(fā)明涉及集成電路技術領域，尤其涉及一種掃描鏈、掃描鏈構建方法及裝置。

背景技術：

通常，集成電路在流片前主要通過硅前驗證(Pre-silicon Verification)來保證芯片的正確性。隨著芯片的設計規(guī)模越來越大，復雜度越來越高，硅前驗證的時間受到制約，使得芯片的硅前驗證的工作難以充分進行，導致流片后的芯片存在故障。因此，需要在流片后對芯片進行硅后調試(Post-silicon Debug)，以發(fā)現(xiàn)并定位遺留在芯片中的錯誤，進一步保證芯片的正確性。

芯片的掃描鏈面積約占整個芯片的15％～30％，是最易產(chǎn)生故障的區(qū)域之一。據(jù)統(tǒng)計，掃描鏈故障數(shù)約占芯片總故障數(shù)的50％，掃描鏈自身的故障是影響芯片良率的主要因素。因此，當掃描鏈故障發(fā)生時，如何快速準確的定位掃描鏈故障，找到發(fā)生故障的原因，是提高芯片良率和縮短芯片產(chǎn)品周期的關鍵。

現(xiàn)有技術中可能出現(xiàn)的掃描鏈結構如圖1和圖2所示，如圖1所示，屬于同一個掃描單元o的扇入掃描單元a、b、c、d位于同一條掃描鏈上；如圖2所示，屬于同一個掃描單元o的扇出掃描單元a、b、c、d位于同一條掃描鏈上。對于上述掃描鏈結構來說，當掃描鏈發(fā)生故障時，很難準確的定位掃描鏈中出現(xiàn)故障的掃描單元。

在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術中至少存在如下技術問題：

現(xiàn)有技術所構建的掃描鏈結構中，扇入到同一個掃描單元的多個掃描單元可能分配到同一條掃描鏈上，同一個掃描單元所扇出的多個掃描單元可能分配 到同一條掃描鏈上，導致掃描鏈的故障診斷精度不高。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供的掃描鏈、掃描鏈構建方法及裝置，能夠提升掃描鏈的故障診斷精度。

第一方面，本發(fā)明提供一種掃描鏈構建方法，包括：

提取電路中的所有掃描單元，組成掃描單元集合；

獲取所述掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度；

創(chuàng)建掃描鏈集合，所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均為空掃描鏈；

由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所述掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。

第二方面，本發(fā)明提供一種掃描鏈構建裝置，包括：

掃描單元提取模塊，用于提取電路中的所有掃描單元，組成掃描單元集合；

相關度獲取模塊，用于獲取所述掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度；

空掃描鏈創(chuàng)建模塊，用于創(chuàng)建掃描鏈集合，所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均為空掃描鏈；

掃描鏈構建模塊，用于由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所述掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。

第三方面，本發(fā)明提供一種掃描鏈，所述掃描鏈中任意兩個掃描單元的相 關度小于相關度閾值。

本發(fā)明實施例提供的掃描鏈、掃描鏈構建方法及裝置，獲取由電路中所有掃描單元組成的掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度，由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所創(chuàng)建的空掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明能夠將相關度大的掃描單元分配到不同的掃描鏈上，盡可能避免將扇入到同一個掃描單元的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，以及避免將同一個掃描單元所扇出的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，從而可以提升掃描鏈的故障診斷精度。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1和圖2為現(xiàn)有技術中的掃描鏈結構示意圖；

圖3為本發(fā)明一實施例提供的掃描鏈構建方法的流程圖；

圖4為本發(fā)明另一實施例提供的掃描鏈構建方法中步驟S22的詳細流程圖；

圖5為本發(fā)明另一實施例提供的掃描鏈構建方法中步驟S24的詳細流程圖；

圖6為本發(fā)明另一實施例提供的掃描鏈構建方法中基于扇入電路邏輯構建的掃描鏈的結構示意圖；

圖7為本發(fā)明另一實施例提供的掃描鏈構建方法中基于扇出電路邏輯構建的掃描鏈的結構示意圖；

圖8和圖9為本發(fā)明另一實施例提供的掃描鏈構建方法中基于掃描單元的物理位置構建的掃描鏈的結構示意圖；

圖10為本發(fā)明一實施例提供的掃描鏈構建裝置的結構示意圖；

圖11為本發(fā)明另一實施例提供的掃描鏈構建裝置中的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

本發(fā)明實施例提供一種掃描鏈構建方法，如圖3所示，所述掃描鏈構建方法包括：

S11、提取電路中的所有掃描單元，組成掃描單元集合。

其中，所述掃描單元可以為帶有掃描功能的觸發(fā)器或鎖存器，但不僅限于此。

S12、獲取所述掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度。

其中，所述任意兩個掃描單元的相關度可以根據(jù)任意兩個掃描單元的扇入相關度、扇出相關度、物理位置相關度計算得到。

其中，兩個掃描單元的相關度是一個量化的數(shù)值，用于反映兩個掃描單元在邏輯結構以及物理位置上的整體關系緊密程度。扇入相關度反映扇入到同一個掃描單元的兩個掃描單元在邏輯結構上的關系緊密程度；扇出相關度反映從同一個掃描單元扇出的兩個掃描單元在邏輯結構上的關系緊密程度；物理位置相關度反映兩個掃描單元在物理位置上的關系緊密程度。

S13、創(chuàng)建掃描鏈集合，所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均為空掃描鏈。

其中，所述空掃描鏈即該掃描鏈中包含0個掃描單元。

S14、由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所述掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。

其中，所述相關度閾值和掃描鏈最大鏈長為預先設定；所述相關度閾值的初始值可以為人為設置的經(jīng)驗值，也可以為掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度之和的平均值；所述掃描鏈最大鏈長可以為掃描單元集合中掃描單元的個數(shù)除以電路中芯片測試管腳的個數(shù)。

本發(fā)明實施例提供的掃描鏈構建方法，獲取由電路中所有掃描單元組成的掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度，由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所創(chuàng)建的空掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明能夠將相關度大的掃描單元分配到不同的掃描鏈上，盡可能避免將扇入到同一個掃描單元的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，以及避免將同一個掃描單元所扇出的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，從而可以提升掃描鏈的故障診斷精度。

本發(fā)明實施例還提供一種掃描鏈構建方法，本發(fā)明實施例掃描鏈構建方法的具體流程如下：

S21、提取電路中的所有掃描單元，組成掃描單元集合G。

其中，掃描單元集合G中掃描單元的個數(shù)為L，L為大于等于2的整數(shù)。

S22、獲取所述掃描單元集合G中任意兩個掃描單元的相關度。

具體地，如圖4所示，所述步驟S22可以包括以下步驟：

S221、根據(jù)掃描單元集合G中任意兩個掃描單元a和b的邏輯關系，獲取掃描單元a和b的扇入相關度。

若掃描單元a和b屬于同一個掃描單元o的扇入，則掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>與扇入到同一個掃描單元o的掃描單元的個數(shù)M呈正相關函數(shù)，也就是說，扇入到同一個掃描單元o的掃描單元越多，M值越大，則R_扇入<a,b>的值越大；反之，扇入到同一個掃描單元o的掃描單元越少，M值越小，則R_扇入<a,b>的值越?。?/p>

其中，正相關是指兩個變量變動方向相同，一個變量由大到小或由小到大變化時，另一個變量也由大到小或由小到大變化。例如，因變量Y與自變量X互為正相關函數(shù)，則因變量Y隨著自變量X的變化而發(fā)生相同方向的變化。

可選地，R_扇入<a,b>的值可以等于M。

若掃描單元a和b不屬于同一個掃描單元o的扇入，則掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>為0。

S222、根據(jù)掃描單元集合G中任意兩個掃描單元a和b的邏輯關系，獲取掃描單元a和b的扇出相關度。

若掃描單元a和b屬于同一個掃描單元o的扇出，則掃描單元a和b的扇出相關度R_扇出<a,b>與同一個掃描單元o所扇出的掃描單元的個數(shù)M呈負相關函數(shù)，也就是說，同一個掃描單元o所扇出的掃描單元越多，M值越大，則R_扇出<a,b>的值越小；反之，同一個掃描單元o所扇出的掃描單元越少，M值越小，則R_扇出<a,b>的值越大；

其中，負相關是指兩個變量變動方向相反，一個變量由大到小或由小到大 變化時，另一個變量則由小到大或由大到小變化。例如，因變量Y與自變量X互為負相關函數(shù)，則因變量Y隨著自變量X的變化而發(fā)生相反方向的變化。

可選地，R_扇出<a,b>的值可以等于M_max/M，其中，M_max表示電路中同一個掃描單元o所扇出的掃描單元個數(shù)的最大值。

若掃描單元a和b不屬于同一個掃描單元o的扇出，則掃描單元a和b的扇出相關度R_扇出<a,b>為0。

S223、根據(jù)掃描單元集合G中任意兩個掃描單元a和b的物理位置，獲取掃描單元a和b的物理位置相關度。

其中，如果某區(qū)域對物理位置的約束要求越嚴苛，則物理位置相關度的值越大；如果某區(qū)域對物理位置的約束要求越寬松，則物理位置相關度的值越小。

其中，根據(jù)掃描單元的物理位置，所述電路可以劃分為k個區(qū)域，為每個區(qū)域分配相應的物理位置相關度值，k為大于等于1的整數(shù)。

可選地，每個區(qū)域分配的物理位置相關度W_{domain_i}可以等于i，i為整數(shù)且取值范圍為1≤i≤k。其中，domain_i代表第i個區(qū)域。

其中，i值越大，表示區(qū)域domain_i對物理位置的約束要求越嚴苛；i值越小，表示區(qū)域domain_i對物理位置的約束要求越寬松。

若掃描單元a和b都位于第i個區(qū)域，則掃描單元a和b的物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}等于它們所在區(qū)域的物理位置相關度W_{domain_i}；

若掃描單元a和b分別位于不同的區(qū)域，則掃描單元a和b的物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}等于1。

S224、根據(jù)上述獲取到的掃描單元a和b的扇入相關度、扇出相關度和物理位置相關度，計算掃描單元a和b的相關度。

具體地，掃描單元a和b的相關度R<a,b>計算公式如下：

S23、創(chuàng)建掃描鏈集合，所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均為空掃描鏈。

具體地，創(chuàng)建N條空的掃描鏈，形成掃描鏈集合F，并設定相關度閾值和掃描鏈最大鏈長，其中，N為大于等于1的整數(shù)。

其中，所述空的掃描鏈即掃描鏈中包含0個掃描單元；相關度閾值的初始值可以為掃描單元集合G中所有掃描單元a和b的相關度R<a,b>之和的平均值；掃描鏈最大鏈長可以為掃描單元集合G中掃描單元的個數(shù)L除以電路中芯片測試管腳的個數(shù)。

S24、由所述掃描單元集合G中依次提取一掃描單元放入所述掃描鏈集合F中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合G中刪除，直至所述掃描鏈集合F中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。

具體地，如圖5所示，所述步驟S24可以包括以下步驟：

S241、提取掃描單元集合G中的第一個掃描單元，放入掃描鏈集合F中的其中一條空的掃描鏈f。

S242、依次選取掃描單元集合G中的一個掃描單元g，若掃描單元g與已經(jīng)在掃描鏈中的任意一個掃描單元的相關度均小于相關度閾值，則將掃描單元g放入該掃描鏈f中，并將掃描單元G中的掃描單元g刪除；否則，繼續(xù)選取掃描單元集合G中的下一個掃描單元。

S243、判斷該掃描鏈f是否達到掃描鏈最大鏈長，若達到掃描鏈最大鏈長，則執(zhí)行步驟S244；若未達到掃描鏈最大鏈長，則執(zhí)行步驟S245。

S244、判斷掃描鏈集合F中是否還有空的掃描鏈，若還有空的掃描鏈，則返回執(zhí)行步驟S241；若沒有空的掃描鏈，則執(zhí)行步驟S247。

S245、判斷所述掃描單元集合G中的掃描單元是否都已選取過，若沒有，則返回執(zhí)行步驟S242；若都已選取過，則執(zhí)行步驟S246。

S246、增加相關度閾值，返回執(zhí)行步驟S242。

S247、根據(jù)最終得到的掃描鏈集合對電路進行掃描鏈的構建。

其中，根據(jù)所述最終的掃描鏈集合，可以獲知每條掃描鏈所分配的掃描單元的個數(shù)、分配了哪些掃描單元以及所分配的掃描單元的順序。

具體地，可以根據(jù)最終得到的掃描鏈集合生成掃描路徑文件，將生成的掃描路徑文件導入EDA工具，通過EDA工具對電路進行掃描鏈的構建。掃描鏈構建完成之后，采用時序分析工具對電路進行時序評估。如果時序分析的結果不理想，例如芯片中高速模塊的數(shù)據(jù)路徑的延時過大，則可以調整掃描單元集合G中任意兩個掃描單元a和b的物理位置相關度，并重新計算掃描單元集合G中任意兩個掃描單元a和b的相關度，然后按照上述過程重新構建掃描鏈結構，直到得到一個較佳的時序分析結果。

按照上述實施例所提供的掃描鏈構建方法，最終得到的基于扇入電路邏輯構建的掃描鏈的結構如圖6所示；基于扇出電路邏輯構建的掃描鏈的結構如圖7所示；基于掃描單元的物理位置構建的掃描鏈的結構如圖8或圖9所示，其中，圖9所示的基于掃描單元的物理位置構建的掃描鏈的結構為優(yōu)選的掃描鏈結構。

由圖6、圖7、圖8、圖9可以看出，采用本發(fā)明實施例提供的掃描鏈的構建方法，能夠盡可能避免將扇入到同一個掃描單元的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，以及避免將同一個掃描單元所扇出的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，以及盡可能地將物理位置上關系緊密的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，從而可以提升掃描鏈的故障診斷精度。

本發(fā)明實施例提供一種掃描鏈構建裝置，如圖10所示，所述掃描鏈構建裝 置包括：

掃描單元提取模塊11，用于提取電路中的所有掃描單元，組成掃描單元集合。

其中，所述掃描單元可以為帶有掃描功能的觸發(fā)器或鎖存器，但不僅限于此。

相關度獲取模塊12，用于獲取所述掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度。

其中，所述任意兩個掃描單元的相關度可以根據(jù)任意兩個掃描單元的扇入相關度、扇出相關度、物理位置相關度計算得到。

空掃描鏈創(chuàng)建模塊13，用于創(chuàng)建掃描鏈集合，所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均為空掃描鏈。

其中，所述空掃描鏈即該掃描鏈中包含0個掃描單元。

掃描鏈構建模塊14，用于由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所述掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。

其中，所述相關度閾值和掃描鏈最大鏈長為預先設定；所述相關度閾值的初始值可以為人為設置的經(jīng)驗值，也可以為掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度之和的平均值；所述掃描鏈最大鏈長可以為掃描單元集合中掃描單元的個數(shù)除以電路中芯片測試管腳的個數(shù)。

本發(fā)明實施例提供的掃描鏈構建裝置，獲取由電路中所有掃描單元組成的掃描單元集合中任意兩個掃描單元的相關度，由所述掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所創(chuàng)建的空掃描鏈集合中的一掃描鏈，并將所提取的掃描單元 從所述掃描單元集合中刪除，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長，其中，同一條掃描鏈中的任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明能夠將相關度大的掃描單元分配到不同的掃描鏈上，盡可能避免將扇入到同一個掃描單元的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，以及避免將同一個掃描單元所扇出的掃描單元分配到同一條掃描鏈上，從而可以提升掃描鏈的故障診斷精度。

進一步地，如圖11所示，所述相關度獲取模塊12可以包括：

扇入相關度獲取子模塊121，用于根據(jù)所述掃描單元集合中任意兩個掃描單元a和b的邏輯關系，獲取掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>；

扇出相關度獲取子模塊122，用于根據(jù)所述掃描單元集合中任意兩個掃描單元a和b的邏輯關系，獲取掃描單元a和b的扇出相關度R_扇出<a,b>；

物理位置相關度獲取子模塊123，用于根據(jù)掃描單元a和b的物理位置，獲取掃描單元a和b的物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}，其中，根據(jù)掃描單元的物理位置，所述電路劃分為k個區(qū)域，每個區(qū)域具有相應的物理位置相關度，domain_i為第i個區(qū)域，其中，i為整數(shù)且取值范圍為1≤i≤k，k為大于等于2的正整數(shù)；

相關度計算子模塊124，用于根據(jù)掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>、扇出相關度R_扇出<a,b>和物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}，計算掃描單元a和b的相關度R<a,b>，其中，

可選地，若掃描單元a和b屬于同一個掃描單元o的扇入，則所述扇入相關度獲取子模塊121獲取的掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>與扇入到同一個掃描單元o的掃描單元的個數(shù)M呈正相關函數(shù)，也就是說，扇入到同一個掃描單元o的掃描單元越多，M值越大，則R_扇入<a,b>的值越大；反之，扇入到 同一個掃描單元o的掃描單元越少，M值越小，則R_扇入<a,b>的值越??；

若掃描單元a和b不屬于同一個掃描單元o的扇入，則所述扇入相關度獲取子模塊獲取的掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>為0。

可選地，若掃描單元a和b屬于同一個掃描單元o的扇出，則所述扇出相關度獲取子模塊122獲取的掃描單元a和b的扇出相關度R_扇出<a,b>與同一個掃描單元o所扇出的掃描單元的個數(shù)M呈負相關函數(shù)，也就是說，同一個掃描單元o所扇出的掃描單元越多，M值越大，則R_扇出<a,b>的值越小；反之，同一個掃描單元o所扇出的掃描單元越少，M值越小，則R_扇出<a,b>的值越大；

若掃描單元a和b不屬于同一個掃描單元o的扇出，則所述扇出相關度獲取子模塊獲取的掃描單元a和b的扇出相關度R_扇出<a,b>為0為0。

可選地，若掃描單元a和b都位于第i個區(qū)域，則所述物理位置相關度獲取子模塊123獲取的掃描單元a和b的物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}等于它們所在區(qū)域的物理位置相關度W_{domain_i}；其中，每個區(qū)域分配的物理位置相關度W_{domain_i}可以等于i，i＝1,2,…,k。其中，i值越大，表示區(qū)域domain_i對物理位置的約束要求越嚴苛；i值越小，表示區(qū)域domain_i對物理位置的約束要求越寬松。；

若掃描單元a和b分別位于不同的區(qū)域，則所述物理位置相關度獲取子模塊獲取的掃描單元a和b的物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}等于1。

進一步地，所述掃描鏈構建模塊14，還用于當所述掃描鏈集合中的一掃描鏈未達到掃描鏈最大鏈長時，增加所述相關度閾值，并由當前掃描單元集合中依次提取一掃描單元放入所述掃描鏈，直至所述掃描鏈集合中的各掃描鏈均達到掃描鏈最大鏈長。

本發(fā)明實施例還提供一種掃描鏈，所述掃描鏈中任意兩個掃描單元的相關度小于相關度閾值。

可選的，任意兩個掃描單元a和b的相關度R<a,b>按照如下公式計算得到：

其中，R_扇入<a,b>為掃描單元a和b的扇入相關度，R_扇出<a,b>為掃描單元a和b的扇出相關度，W_{domain_i<a,b>}為掃描單元a和b的物理位置相關度。

所述掃描單元a和b的扇入相關度R_扇入<a,b>、扇出相關度R_扇出<a,b>以及物理位置相關度W_{domain_i<a,b>}的定義可以參照上述掃描鏈構建方法實施例中所述。

可選的，所述相關度閾值為電路中所有掃描單元中任意兩個掃描單元的相關度之和的平均值。

進一步地，所述掃描鏈中的所有掃描單元不屬于同一個掃描單元的扇入掃描單元，和/或所述掃描鏈中的所有掃描單元不屬于同一個掃描單元的扇出掃描單元，和/或所述掃描鏈中所有掃描單元位于電路的同一個區(qū)域。

其中，根據(jù)掃描單元的物理位置，所述電路可以劃分為k個區(qū)域。

本領域普通技術人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分流程，是可以通過計算機程序來指令相關的硬件來完成，所述的程序可存儲于一計算機可讀取存儲介質中，該程序在執(zhí)行時，可包括如上述各方法的實施例的流程。其中，所述的存儲介質可為磁碟、光盤、只讀存儲記憶體(Read-Only Memory，ROM)或隨機存儲記憶體(Random Access Memory，RAM)等。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施方式，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。因此，本發(fā)明的保護范圍應該以權利要求的保護范圍為準。