1.一種獲取斷裂的垂直斷距的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：
獲取地質(zhì)層面構(gòu)造數(shù)據(jù)，所述地質(zhì)層面構(gòu)造數(shù)據(jù)包含多個(gè)取樣點(diǎn)的位置信息以及取樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的海拔高程數(shù)據(jù)值；
獲取斷裂上的斷距計(jì)算點(diǎn)的位置；
基于所述斷距計(jì)算點(diǎn)的位置以及所述取樣點(diǎn)的位置信息分別確定所述斷裂兩側(cè)與所述斷距計(jì)算點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)；
提取所述地質(zhì)層面構(gòu)造數(shù)據(jù)中所述取樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述海拔高程數(shù)據(jù)值；
根據(jù)所述海拔高程數(shù)據(jù)值計(jì)算獲取相應(yīng)的垂直斷距。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在確定所述取樣點(diǎn)的過程中：
沿垂直所述斷距計(jì)算點(diǎn)對(duì)應(yīng)的斷裂走向的方向?qū)⑺鰯嗑嘤?jì)算點(diǎn)分別向斷裂兩側(cè)平移特定距離以獲取第一基準(zhǔn)點(diǎn)以及第二基準(zhǔn)點(diǎn)；
基于特定對(duì)應(yīng)規(guī)則分別獲取與所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)以及所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)從而分別確定所述斷裂兩側(cè)與所述斷距計(jì)算點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述取樣點(diǎn)與所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)之間的位置關(guān)系確定與所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，根據(jù)同一所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所有所述取樣點(diǎn)的所述地層的海拔高程數(shù)據(jù)值計(jì)算獲取所述基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的斷裂單側(cè)的地層的海拔高程數(shù)據(jù)值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，以所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)與所述取樣點(diǎn)之間的距離為權(quán)重，對(duì)同一所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所有所述取樣點(diǎn)的所述地層的海拔高程數(shù)據(jù)值進(jìn)行加權(quán)平均以獲取所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的斷裂單側(cè)的地層的海拔高程數(shù)據(jù)值。
6.根據(jù)權(quán)利要求3-5中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，以距離所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)最近的一個(gè)或多個(gè)所述取樣點(diǎn)作為與所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求3-5中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，按照所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)與所述取樣點(diǎn)間的距離由小到大依次選取特定個(gè)數(shù)的所述 取樣點(diǎn)，將選取出的所述取樣點(diǎn)作為與所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，按照所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)與所述取樣點(diǎn)間的距離由小到大依次選取3個(gè)所述取樣點(diǎn)，將選取出的所述取樣點(diǎn)作為與所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)或所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求2-8中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，基于所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)/第二基準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo)在所述地質(zhì)層面構(gòu)造數(shù)據(jù)中進(jìn)行搜索以獲取對(duì)應(yīng)的所述取樣點(diǎn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，基于所述斷距計(jì)算點(diǎn)的坐標(biāo)對(duì)所述地質(zhì)層面構(gòu)造數(shù)據(jù)進(jìn)行范圍限定以縮小搜索范圍。