1.一種用于檢測(cè)待測(cè)頁(yè)巖樣品的壓電系數(shù)的方法，其特征在于，包括：
從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取第一子樣品；
檢測(cè)所述第一子樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向，并將所述第一子樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向確定為所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向；
根據(jù)所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向，從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取第二子樣品；
檢測(cè)所述第二子樣品的壓電系數(shù)，并將所述第二子樣品的壓電系數(shù)作為所述待測(cè)頁(yè)巖樣品的壓電系數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法檢測(cè)所述第一子樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向，從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取第二子樣品，包括：
從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取呈立方體的第二子樣品，并使所述第二子樣品的任一表面與所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向平行。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向，從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取第二子樣品，包括：
從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取呈圓柱體的第二子樣品，并使所述第二子樣品的徑向方向與所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向平行。
5.一種用于檢測(cè)待測(cè)頁(yè)巖樣品的壓電系數(shù)的系統(tǒng)，其特征在于，包括：
第一獲取模塊，設(shè)置為從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取第一子樣品；
第一檢測(cè)模塊，設(shè)置為檢測(cè)所述第一子樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向，并將所述第一子樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向確定為所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向；
第二獲取模塊，設(shè)置為根據(jù)所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向，從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取第二子樣品；
第二檢測(cè)模塊，設(shè)置為檢測(cè)所述第二子樣品的壓電系數(shù)，并將所述第二子樣品的壓電系數(shù)作為所述待測(cè)頁(yè)巖樣品的壓電系數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一檢測(cè)模塊具體設(shè)置 為：基于巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法檢測(cè)所述第一子樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第二獲取模塊具體設(shè)置為：
從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取呈立方體的第二子樣品，并使所述第二子樣品的任一表面與所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向平行。
8.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第二獲取模塊具體設(shè)置為：
從所述待測(cè)頁(yè)巖樣品上獲取呈圓柱體的第二子樣品，并使所述第二子樣品的徑向方向與所述待測(cè)頁(yè)巖樣品中石英晶體的長(zhǎng)軸展布方向平行。