本申請要求2013年12月19日提交的美國非臨時專利申請?zhí)?4/134,663的優(yōu)先權(quán)的權(quán)益，該申請被通過引用整體地結(jié)合到本文中。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明一般地涉及觸摸屏傳感器制造，并且更具體地但并非以限制的方式，涉及在集成到完成的觸摸屏傳感器中之前測試觸摸屏材料的各層。

背景技術(shù)：

與間接地通過諸如鍵盤或鼠標之類的傳統(tǒng)輸入設(shè)備相反，觸敏輸入允許用戶直接地與設(shè)備相交互。由于直觀的用戶體驗或由于缺少附加輸入外圍設(shè)備的需要而提供的較小形狀因數(shù)，越來越多的設(shè)備正在采用觸敏輸入。從工業(yè)到娛樂設(shè)備，觸摸屏已變得無處不在。隨著技術(shù)發(fā)展，采用觸敏輸入的設(shè)備的普遍存在將同樣地增長。

觸摸屏傳感器一般地是透明的且被安裝在顯示設(shè)備（諸如LED顯示器）的前面。一般地，用戶設(shè)法觸摸顯示器上的對象。觸摸傳感器寄存觸摸的位置并與設(shè)備通信以執(zhí)行動作，例如開啟應(yīng)用程序、遵循鏈路或執(zhí)行指定功能。這樣，可以用僅單個手指觸摸來執(zhí)行甚至復(fù)雜的計算任務(wù)。當前觸摸屏傳感器通過使用各種電氣和機械性質(zhì)而工作。兩個主要類型的觸摸屏傳感器是電阻和電容觸摸屏。兩種類型的傳感器的構(gòu)造一般地依賴于用具有指定電氣性質(zhì)的薄或透明材料印刷的透明絕緣片。例如，電阻觸摸屏一般地由用電阻材料印刷的至少兩個薄片構(gòu)成。兩個片被小的且基本上空心的空隙分離，并且在操作期間，為一個層提供電壓。當用戶或物體壓在層中的一個上時，該層機械地變形并連接在可以由處理器確定的位置處。因為此類傳感器必須依賴于機械變形，所以電阻觸摸傳感器易于用壞或易受到來自尖銳物體的損壞。另一方面，電容觸摸屏是大多數(shù)的觸摸屏傳感器，并且不依賴于機械變形。這些傳感器一般地由鍍有薄的、半透明或透明電極的絕緣材料的薄片（可以是被結(jié)合在一起的兩個或更多個片）構(gòu)成。一般地在片的一側(cè)成行地且在另一側(cè)成列地印刷電極以限定其中行和列彼此交叉的接合點。這些一般地稱為凸出電容觸摸屏傳感器。當諸如人類手指之類的導(dǎo)電物體接近或觸摸表面時，靜電場中的畸變在附近接合點處產(chǎn)生系統(tǒng)的電容的改變，這可以被處理器監(jiān)視到以確定觸摸位置。電容觸摸屏傳感器一般地分兩種類型：自電容和互電容。自電容傳感器在操作中通過測量通過每個列和行電極的電流來監(jiān)視每個列和行電極上的電容負載。替換地，互電容傳感器在操作中能夠一般地通過測量每個接合點處的電容來監(jiān)視傳感器上的每個點處的電容?；ル娙輦鞲衅鳟a(chǎn)生比自電容傳感器弱的信號，但是能夠準確地跟蹤多個觸摸輸入。

如上所述，大多數(shù)的觸摸屏傳感器（包括電阻、自電容以及互電容傳感器）采用帶有具有指定電氣或機械性質(zhì)（觸摸屏電路圖案）的印刷半透明或透明特征的層（由薄片構(gòu)成）。這些層常常被成卷地提供給觸摸屏傳感器制造商（其中已經(jīng)印刷觸摸屏電路圖案）。然后可以例如通過將層結(jié)合到一塊玻璃并將該層耦合到處理器來將層集成到完成的觸摸屏傳感器中。因為觸摸屏材料的各層必須是半透明的（以允許來自底層顯示器的圖像到達用戶），所以層構(gòu)造是精密的過程。例如，一般地使用氧化銥錫（ITO）或銀在薄片的絕緣材料（諸如聚對苯二甲酸乙二醇酯（PET）上印刷典型互電容觸摸傳感器中的電極。這些電極如此小，使得其通常不能被肉眼看到。因此，此類層的構(gòu)造特別容易受到制造缺陷的影響。通常，一旦觸摸屏傳感器完成，則對其進行測試。常見方法涉及到操作員以設(shè)定圖案圍繞著完成的觸摸屏傳感器移動其手指。如果存在任何有缺陷層特征，則觸摸輸入可能被忽視，或者可能接收到錯誤的觸摸輸入。這種方法不僅易于操作員誤差且耗費時間，其還要求觸摸傳感器被完成。如果觸摸屏材料層本身是有缺陷的，則組裝傳感器所需的材料和時間將被浪費。

因此，提供用于測試觸摸屏材料層的測試固定裝置是有利的。通過此類特征，可以在觸摸屏傳感器被完成且材料被浪費之前檢測到觸摸屏材料的有缺陷層。另外，可以顯著地減少觸摸屏傳感器測試時間。由于當前可用的很多種類的觸摸屏傳感器，提供能夠通過快速且模塊化的測試固定裝置配置變化來測試多種類型的觸摸屏材料（例如，具有各種觸摸屏電路圖案）的測試固定裝置也是有利的。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

公開了一種用于測試具有被耦合到電容接合點的端子的電容觸摸屏材料層的測試固定裝置，該測試固定裝置包括：相對于彼此可移動的第一和第二測試床，至少一個測試床包括被耦合到至少一個電連接器的阻抗測量電路；至少一個夾持致動器，被配置成使至少一個測試床相對于另一測試床移動以將具有被耦合到電容接合點的端子的電容觸摸屏材料層固定在第一與第二測試床之間，并且以與端子進行電接觸的方式放置所述至少一個電連接器；阻抗測量電路，可操作用于在層被固定在測試床之間時測試該層的至少一個接合點的電阻抗。該阻抗測量電路可包括被編程為確定阻抗的處理器。

所述測試固定裝置還可包括至少一個取向致動器，其被配置成使至少一個測試床相對于層以橫向或旋轉(zhuǎn)自由度中的至少一個移動，并且至少一個測試床可包括隔離物，其被配置成當層被固定在測試床之間時防止與層的接合點接觸，其中該隔離物具有孔，該孔被配置成當層被固定在測試床之間時固定電連接器并基本上抑制該電連接器橫向偏轉(zhuǎn)。該電連接器可以是人造橡膠電連接器。固定裝置還可包括傳感器（例如照相機），其被配置成捕捉指示層相對于測試固定裝置的取向的數(shù)據(jù)，并控制取向致動器以使測試固定裝置與層對準。

測試床中的一個可包括導(dǎo)電材料的隔離物，其被配置成當層被固定在測試床之間時接觸層的接合點。此外，該固定裝置可被配置成包括被配置成允許至少一個測試床的去除和替換的裝置；以及被配置成將至少一個測試床可釋放地固定在測試固定裝置內(nèi)的至少一個閂鎖（latch）。

本公開的其它實施例包括一種用于測試具有被耦合到電容接合點的端子的電容觸摸屏材料層的方法，包括：將層固定在第一和第二測試床之間，至少一個測試床具有阻抗測量電路和電連接器，使得端子與所述至少一個測試床的電連接器進行電接觸；計算層的至少一個接合點的電阻抗；以及將層從測試床釋放。該方法還可包括監(jiān)視層相對于所述至少一個測試床的電連接器的取向，其中監(jiān)視包括對設(shè)置于層上的第一基準（fiducial）的位置進行定位，對設(shè)置在測試固定裝置上的第二基準的位置進行定位以及比較第一和第二基準的位置，并且然后基于第一和第二基準的位置的比較調(diào)整至少一個測試床相對于層的取向。此外，可基于第一和第二基準的位置的比較來控制層的推進。

當層的接合點由多個細長驅(qū)動和感測電極限定時，電阻抗計算步驟可包括：選擇層的第一驅(qū)動電極；向第一驅(qū)動電極施加交流電信號；選擇第一感測電極；測量對應(yīng)于由第一驅(qū)動電極和第一感測電極限定的接合點的響應(yīng)信號；基于該響應(yīng)信號來計算結(jié)合點的電阻抗；重復(fù)選擇驅(qū)動和感測電極的步驟直至每個驅(qū)動和感測電極都已被選擇為止。

本方法還可包括基于層的至少一個接合點的電阻抗來標記層，并且可包括將指示層的所述至少一個接合點的電阻抗的數(shù)據(jù)存儲在存儲器中。

本公開的另一實施例是用于測試電容觸摸屏材料層的測試床，包括：測量電路和連接器，該測量電路被配置成經(jīng)由連接器與電容觸摸屏材料層進行電接觸，該層具有被耦合到電容接合點的端子；以及隔離物，被配置成設(shè)置在測試床與層之間，使得當測量電路與層進行電接觸時測試床不接觸層的電容接合點。隔離物可被配置成使得連接器通過隔離物，連接器被隔離物固定，并被基本上抑制在受壓縮時橫向偏轉(zhuǎn)。

術(shù)語“耦合”被定義為連接，但不一定直接地且不一定機械地連接；被“耦合”的兩個項目可以是相互單一的。術(shù)語“一”和“一個”被定義為一個或多個，除非本公開另外明確地要求。術(shù)語“基本上”被定義為在很大程度上，但不一定完全是所指定的內(nèi)容（并且包括所指定的內(nèi)容；例如，基本上90度包括90度且基本上平行包括平行），如本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員所理解的那樣。在任何公開實施例中，可用在指定的內(nèi)容的“【百分比】內(nèi)”來代替術(shù)語“基本上”、“近似”和“大約”，其中，該百分比包括0.1、1、5、10以及20%。

此外，以某種方式配置的設(shè)備或系統(tǒng)被至少以該方式配置，但是其還可以以除具體地描述的那些之外的其它方式配置。

術(shù)語“包括”（和包括的任何形式，諸如“包括（comprises）”和“包括著（comprising）”）、“具有”（和具有的任何形式，諸如“具有（has）”和“有著（having）”）、“包含”（和包含的任何形式，諸如“包含（includes）”和“包含著（including）”）以及“含有”（和含有的任何形式，諸如“含有（contains）”和“含有著（containing）”）是開放式聯(lián)系動詞。結(jié)果，“包括”、“具有”、“包含”或“含有”一個或多個元件的裝置擁有那些一個或多個元件，但不限于僅擁有那些元件。同樣地，“包括”、“具有”、“包含”或“含有”一個或多個步驟的方法擁有那些一個或多個步驟，但不限于僅擁有那些一個或多個步驟。

可將一個實施例的一個或多個特征應(yīng)用于其它實施例，即使并未描述或圖示，除非被本公開或?qū)嵤├男再|(zhì)明確地禁止。上文描述與實施例相關(guān)聯(lián)的一些細節(jié)并且下面描述其它的細節(jié)。

附圖說明

以下附圖以示例而非限制的方式進行圖示。為了簡潔明了起見，給定結(jié)構(gòu)的每個特征并未其中該結(jié)構(gòu)出現(xiàn)的每個圖中始終被標記。相同的參考標號不一定指示相同結(jié)構(gòu)。相反地，可使用相同的參考標號來指示類似特征或具有類似功能的特征，如不相同參考標號可以的那樣。附圖按比例描繪（除非另作說明），從而意味著所描繪元件的尺寸至少對于圖中所描繪的實施例而言相對于彼此是準確的。

圖1是本測試固定裝置的一個實施例的概念框圖。

圖2A是用于印刷在層的一側(cè)上的觸摸屏材料的單面互電容層的觸摸屏電路圖案。

圖2B是用于印刷在層的兩側(cè)上的觸摸屏材料的雙面互電容層的觸摸屏電路圖案。

圖3是被配置成測試圖2A和2B的觸摸屏材料的互電容層的本測試固定裝置的實施例的（多個）阻抗測量電路的示例。

圖4是用于觸摸屏材料的電阻層的觸摸屏電路圖案。

圖5是被配置成測試圖4的觸摸屏材料的電阻層的本測試固定裝置的一個實施例的阻抗測量電路的示例。

圖6是用于觸摸屏材料的自電容層的觸摸屏電路圖案。

圖7是被配置成測試圖6的觸摸屏材料的自電容層的本測試固定裝置的一個實施例的阻抗測量電路。

圖8是供本測試固定裝置使用的測試床的一個實施例的分解圖。

圖9A是被配置成允許測試床變化以測試觸摸屏材料的各種層的本測試固定裝置的一個實施例。

圖9B是圖9A的實施例的底部透視圖。

圖10A是包括流體驅(qū)動夾持致動器的本測試固定裝置的一個實施例。

圖10B是包括螺旋式夾持致動器的本測試固定裝置的一個實施例。

圖11A是包括取向致動器的本測試固定裝置的一個實施例。

圖11B是圖11A的實施例的取向致動器的示例。

圖12A和12B是在本測試固定裝置的一個實施例內(nèi)使觸摸屏材料層對準的一個方法。

圖13－15是用以測試觸摸屏材料層的本方法的若干實施例的流程圖。

具體實施方式

圖1是本測試固定裝置的實施例100的概念框圖。在所示的實施例中，測試固定裝置100被配置成用具有被耦合到電容接合點的端子的觸摸屏電路圖案102來測試觸摸屏材料的互電容層101。在所示的實施例中，測試固定裝置100包括第一和第二測試床103、104，其可例如在箭頭106所指示的方向上相對于彼此移動。在所示的實施例中，至少一個測試床103、104包括被耦合到至少一個電連接器108的阻抗測量電路107（下面更詳細地描述）。測試固定裝置100還包括至少一個夾持致動器109，其被配置成使至少一個測試床103、104相對于另一個移動以使觸摸屏材料層101固定。在所示的實施例中，觸摸屏材料層101包括具有被耦合到電容接合點的端子的觸摸屏電路圖案102，并且測試床103、104被配置成將層固定，使得至少一個電連接器108與端子進行電接觸。阻抗測量電路107因此可操作用于測試固定在第一和第二測試床之間的觸摸屏材料層的至少一個電容接合點的電阻抗（下面更詳細地描述）。在所示的實施例中，測試固定裝置100還包括被編程為計算電阻抗的處理器111。在一些實施例中，處理器111可位于阻抗測量電路107內(nèi)，或者處理器111可在阻抗測量電路外面并設(shè)置在測試固定裝置100上或內(nèi)，例如設(shè)置在測試床103和/或測試床104上或內(nèi)。在又其它實施例中，處理器111不是連同本測試固定裝置一起供應(yīng)或安裝在本測試固定裝置上的組件，而是單獨組件。除非由其使用的上下文另外指示，術(shù)語“處理器”或“所述處理器”意指一個或多個處理器，并且可包括被配置成一起工作以執(zhí)行功能的多個處理器。在所示的實施例中，測試固定裝置100還包括存儲器112，其可被配置成從處理器111和/或阻抗測量電路107接收數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)指示觸摸屏材料層的至少一個電容接合點的阻抗（例如，以檢測層的電容接合點是否被短路或斷路）。存儲器112還可被配置成存儲其它信息，諸如關(guān)于觸摸屏材料層（多個）任何序號和/或測試信息以及關(guān)于測試固定裝置的信息（例如，測試運行的數(shù)目、誤差等）。通過此類特征，存儲在存儲器112中的數(shù)據(jù)另外可被用于故障診斷（例如，通過讀取存儲在存儲器112中的（多個）任何錯誤代碼）。在所示的實施例中，測試固定裝置100還可包括用戶接口113，其可包括例如被耦合到處理器111和/或阻抗測量電路107的計算機和/或觸摸屏監(jiān)視器。用戶接口113可被配置成允許測試固定裝置100的用戶控制（例如，開始和停止測試固定裝置、觸摸屏材料層101的手動測試等）以及向用戶顯示信息（例如，關(guān)于觸摸屏材料層的測試信息，包括但不限于測試日期、層和/或電路圖案序號、通過、未通過等以及關(guān)于測試固定裝置本身的操作，諸如硬件故障、軟件故障等）。用戶接口113的此類配置可通過計算機上的圖形用戶界面（GUI）（例如，由軟件提供）實現(xiàn)，該計算機可連接到和/或控制測試床和/或測試固定裝置（例如，控制（多個）任何取向致動器116（下面介紹）、（多個）夾持致動器109、（多個）處理器111、（多個）阻抗測量電路107等）。在一些實施例中，處理器111可執(zhí)行許多或全部的控制功能并將信息中繼到用戶接口113（例如，與使用單獨的計算機相反）。

在圖1中還示出了輸出輥114和攝?。╱ptake）輥115。測試固定裝置100（如本測試固定裝置的許多實施例的一樣）被配置成從輸出輥114接受觸摸屏材料層101。通過此類特征，測試固定裝置100能夠接收觸摸屏材料層的展開部分、測試層101的觸摸屏電路圖案102并將該層傳遞至攝取輥115，其然后可以將觸摸屏材料重新卷起以便容易儲存、運輸和/或供觸摸屏傳感器的稍后制造使用。在這些實施例中的一些中，處理器111還可被配置成與輥114、115通信以控制觸摸屏材料層101通過測試固定裝置100的推進速率。

應(yīng)注意的是雖然在圖1中示出了輥114、115，但還可使用其它類型的材料搬運裝置。例如，可以片的形式供應(yīng)觸摸屏材料101，其中在每個片上印刷一個或多個觸摸屏電路圖案102，并且在那種情況下，輸出輥114將被片饋送裝置替換，并且攝取輥115將被片堆疊裝置替換。并且，作為將已測試觸摸屏材料101儲存在攝取輥115上的替代，可將已測試材料101供應(yīng)給另一觸摸屏組裝裝置，例如切割機或?qū)訅簷C。

在所示的實施例中，測試固定裝置100還可包括至少一個取向致動器116（下面更詳細地描述的結(jié)構(gòu)和操作），其被配置成使至少一個測試床103、104相對于層101以橫向或旋轉(zhuǎn)自由度中的至少一個移動，例如，以在測試床103和104被夾持致動器109夾持在一起以用于測試之前確保測試固定裝置100與觸摸屏材料層101之間的適當對準。

圖2A是單面互電容電路圖案102a，其可設(shè)置在材料片上以形成觸摸屏材料的單面互電容層101。一般地，觸摸屏材料的此類電容層由以下組成：透明且絕緣的材料片，例如，具有分別地連接到相應(yīng)印刷端子203和204的分別地印刷驅(qū)動和感測電極201和202的行和列的PET。電容接合點206由其中行和列電極相互交叉的位置限定。在操作期間，重復(fù)地向每個驅(qū)動電極201施加交流（AC）信號。由于電容耦合而在感測電極202內(nèi)生成響應(yīng)信號，其可以例如從感測端子204測量，以確定給定接合點處的電容。當物體接近或碰觸互電容觸摸屏傳感器時，在物體附近的靜電場畸變，其可以被測量為附近接合點（例如，206）處的電容變化以確定觸摸位置。圖2B是雙面互電容電路圖案102b，其可設(shè)置在（多個）材料片上以形成觸摸屏材料101的雙面互電容層。觸摸屏電路圖案102b基本上類似于102a，其中主要的例外情況是一組電極（例如，驅(qū)動電極201a或感測電極202a）和相應(yīng)端子（例如，驅(qū)動端子203a或感測端子204a）被設(shè)置在層的與另一組電極和端子相對的一側(cè)上。由于觸摸屏材料的此類互電容層的雙面性質(zhì)，此類層一般地由以下構(gòu)成：兩個片，例如，一個片包含驅(qū)動電極201a和驅(qū)動端子203a，另一片包含感測電極202a和感測端子204a，其中，片被結(jié)合在一起而形成觸摸屏材料的雙面互電容層（例如，包括雙面互電容觸摸屏電路圖案102b）。如果觸摸屏材料的此類互電容層是有缺陷的，例如，如果電極和/或接合點被短路、斷路和/或印刷過薄，則完成的傳感器可遭受錯誤和/或被忽視的觸摸輸入。

圖3是被配置成測試包括觸摸屏電路圖案102的觸摸屏材料101的單面互電容層的本測試固定裝置的一個實施例的（多個）阻抗測量電路。如下面更詳細地描述的，本測試固定裝置的實施例被配置成測量多種類型的觸摸屏材料層101，其包括多種觸摸屏電路圖案102。因此，測試床103、104的構(gòu)造、阻抗測量電路107的構(gòu)造和數(shù)目和/或電連接器108的構(gòu)造和數(shù)目可改變以適應(yīng)各種觸摸屏材料層的各種觸摸屏電路圖案，例如通過下面更詳細地描述的測試固定裝置的模塊化測試床103和/或104的去除和替換。例如，在所示的實施例中，阻抗測量電路107a可被配置成測試觸摸屏材料的互電容層101的互電容觸摸屏電路圖案102a內(nèi)的至少一個電容接合點（例如接合點206）的電阻抗。在本實施例中，阻抗測量電路107a包括分別地與電連接器108a、108b電通信的電路300a、300b。然而，在被配置成測試觸摸屏材料的同一單面互電容層的其它實施例中，電連接器108a、108b可以是單個電連接器。在所示的實施例中，電路300a被配置成將第一復(fù)用器301a置于與連接器108a的電通信，并且因此例如當測試床103相對于測試床103移動以固定層101時選擇性地驅(qū)動端子203和相應(yīng)驅(qū)動電極201。復(fù)用器301a可被配置成例如通過與控制單元302電通信來選擇層101的單獨驅(qū)動端子203和相應(yīng)驅(qū)動電極201，使得交流（AC）信號發(fā)生器303向可單獨尋址驅(qū)動端子203和因此向驅(qū)動電極201供應(yīng)交流信號。通過電容耦合，可以在層101的感測電極202內(nèi)生成響應(yīng)信號。在所示的實施例中，例如當測試床103相對于測試床104移動以將層固定時，電路300b被配置成將第二復(fù)用器301b置于與電連接器108b和因此與觸摸屏材料的單面互電容層的感測端子204和相應(yīng)感測電極202的電通信。復(fù)用器301b可被配置成例如通過與控制單元302電通信來選擇層101的單獨感測端子204和相應(yīng)感測電極202?？墒褂糜诮邮誂C信號的每個驅(qū)動電極201的來自每個感測電極202的響應(yīng)信號通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）304并轉(zhuǎn)化成數(shù)字形式，其中，其可被在阻抗測量電路107a內(nèi)示出的處理器111接收。在其它實施例中，如上文針對測試固定裝置100所述，處理器111可位于阻抗測量電路外面，并且在又其它實施例中，處理器111可以是控制單元302的整體部分，例如位于控制單元302內(nèi)。在所示的實施例中，處理器111被編程為與控制單元302通信以選擇可單獨尋址驅(qū)動和感測電極201、202，并測量觸摸屏材料101的單面互電容層的電容接合點206中的至少一個的電阻抗。在所示的實施例中，處理器111進一步被配置成基于電容接合點中的至少一個的測量電阻抗而激活指示器306。指示器306可包括例如顯示器、燈和/或揚聲器等。例如，如果電容接合點206中的至少一個的阻抗指示故障（例如，在規(guī)格之外的電容、短路、斷路等），則處理器111可激活指示器306。在其它類似實施例中的阻抗測量電路107可僅包括電路300b和/或300a，并且其它組件（例如，第一復(fù)用器301a、第二復(fù)用器301b、AC信號發(fā)生器303、ADC 304、控制單元302、處理器111和/或指示器306）可位于阻抗測量電路外面或測試固定裝置外面。被配置成測試觸摸屏材料的單面互電容層的測試固定裝置（例如，包括單面互電容觸摸屏電路圖案102b）可以是基本上類似的，其中主要的例外情況是此類實施例包括兩個測試床（例如，103和104，其中，每個測試床包括連接器108和阻抗測量電路107，使得測試固定裝置可與設(shè)置在層101的相對側(cè)上的驅(qū)動端子203a和感測端子204a兩者通信。此類阻抗測量電路內(nèi)的組件可與上述阻抗測量電路107a基本上相同。

圖4是可設(shè)置在材料片上以包括觸摸屏材料101的電阻層的電阻觸摸屏電路圖案102。一般地，觸摸屏材料的此類電阻層由例如鍍有ITO的兩個基本上透明且電阻性片構(gòu)成，所述兩個基本上透明且電阻性片被結(jié)合在一起，使得兩個片被例如在包括絕緣材料的多個微粒處被結(jié)合在一起的小的且基本上空心的空隙分離。在那種情況下，基本上空心的空隙位于觸摸輸入表面401的邊界內(nèi)。電阻觸摸屏電路圖案102c是包括例如使用銀色油墨印刷的印刷匯流排的四線設(shè)計：兩個下片匯流排402和兩個上片匯流排403。下片匯流排402通過例如使用ITO印刷的跡線407與下片端子404電通信，并且上片匯流排403與上片端子406電通信。當使此類電阻觸摸屏材料操作時，通過下片端子440向片中的一個（例如，下片）施加單向電壓梯度。當觸摸屏材料的電阻層被接觸時，片之間的基本上空心的空隙封閉，并且片相互接觸。此接觸可以被測量為用以確定第一坐標的沿著一個片的匯流排（例如，下片匯流排402）的電壓以及用以確定第二坐標的沿著另一片的匯流排（例如，上片匯流排403）的電壓。第一和第二坐標可用來確定觸摸屏材料層上的觸摸輸入的位置。如果層是有缺陷的，例如制造成使得上和下片在觸摸屏傳感器制造之前被電短路，則可以檢測到錯誤的觸摸輸入。

現(xiàn)在參考圖5，由于觸摸屏材料的此類電阻層的雙片雙面結(jié)構(gòu)，被設(shè)計成測試包括電阻觸摸屏電路圖案102c的觸摸屏材料的電阻層的本測試固定裝置的實施例包括第一和第二測試床103、104，其中，每個測試床分別地具有電連接器108c、108d以及阻抗測量電路107b1、107b2。阻抗測量電路107b1可被配置成與下片端子404或上片端子406通信，并且阻抗測量電路107b2然后可被配置成與不與阻抗測量電路107b1通信的端子（下片端子404或上片端子406）通信。通過示例的方式，下面是阻抗測量電路107b1和107b2的詳細描述，其中，阻抗測量電路107b1被配置成與上片端子406通信。在所示的實施例中，阻抗測量電路107b1包括電路300c，其被配置成將電壓源501置于與連接器108c以及因此與觸摸屏電路圖案102c的上片端子406電通信。在所示的實施例中，電壓源501可被配置成例如通過與控制單元302a的電通信向上片施加電壓通過上片端子406、通過跡線407并直到上片匯流排403。在所示的實施例中，阻抗測量電路107b1還可包括伏特計502a，其被配置成測量跨上片匯流排403的電壓。另外，在所示的實施例中，阻抗測量電路107b1還可包括與控制單元302a和伏特計502a進行電通信的處理器111a，其中，處理器111a被配置成測量跨上片匯流排403的電阻抗。阻抗測量電路107b2可在結(jié)構(gòu)和操作方面基本上類似于阻抗測量電路107b1，其中主要的例外情況是阻抗測量電路107b2被配置成與下片端子404和因此與下片匯流排402進行電通信，并不包括電壓源。在被配置成測試觸摸屏材料的電阻層的本測試固定裝置的其它實施例中，阻抗測量電路可僅包括電路，例如分別包括電路300c和300d，以及其它組件（例如，電壓源501、伏特計502a和502b、控制單元302a和302b和/或處理器111a和111b）可位于阻抗測量電路外面，例如設(shè)置在測試床103、104上和/或在測試固定裝置外面。在此類其它實施例中，控制單元302a和302b可包括一個控制單元，處理器111a和111b可包括一個處理器，并且（多個）處理器111a和111b可形成（多個）控制單元302a和302b的整體部分。

圖6是可以在材料片101上設(shè)置成包括觸摸屏材料的自電容層的自電容觸摸屏電路圖案102d。可以通過將兩個單獨片結(jié)合在一起來構(gòu)造自電容觸摸材料，其中一個片包括印刷端子、跡線以及多行的細長電極，并且另一片包括印刷端子、跡線以及多列的細長電極以形成與在圖2B中所描繪的層類似的觸摸屏材料的雙面自電容層。然而，如所示，自電容觸摸屏材料還可通過印刷端子601、跡線603以及電極焊盤602到使用例如ITO的片上以形成觸摸屏材料的單面自電容層101而由單片絕緣材料（例如，PET）構(gòu)成。在操作期間，向每個電極焊盤602施加穩(wěn)態(tài)AC信號（通過其相應(yīng)端子601）。當使物體接近或碰觸觸摸屏材料時，附近電極焊盤上的電容負載改變。這些變化可被處理器檢測為施加于那些電極焊盤的電流的變化，因此指示觸摸的位置。觸摸屏材料的雙面和單面自電容層的操作原理是基本上類似的，其中主要的例外情況是監(jiān)視通過設(shè)置在層的相對側(cè)的行和列電極（雙模式方法）而不是如針對圖6描述的焊盤電極（單模式方法）的電流來確定用于觸摸材料的雙面自電容層的觸摸位置。如果觸摸屏材料層是有缺陷的（例如，電極被短路至地線、斷路等），則可能檢測到錯誤的觸摸輸入和/或有效的觸摸輸入可能被忽視。

現(xiàn)在參考圖7，被設(shè)計成測試包括電路圖案102d的觸摸屏材料的單面自電容層的本測試固定裝置的實施例包括第一和第二測試床103、104，其中，至少一個測試床包括電連接器108e和阻抗測量電路107c。測量電路107c被配置成當測試床相對于彼此移動以將包括電路圖案102d的觸摸屏材料101的單面自電容層固定時通過電路300e與端子601通信。在所示的實施例中，阻抗測量電路107c還包括復(fù)用器301c，其被配置成例如通過與控制單元302的電通信選擇單獨的電極焊盤602，使得AC信號發(fā)生器303可以通過每個電極焊盤發(fā)送AC信號。在所示的實施例中，安培計701然后可測量通過每個電極焊盤的電流。另外，在所示的實施例中，測量電路107c還包括與控制單元302和安培計701進行電通信的處理器111，其中，處理器111被配置成測量電極焊盤中的至少一個的阻抗。在被配置成測試包括電路圖案102b的觸摸屏材料的單面自電容層的其它實施例中，阻抗測量電路可僅包括電路，例如300e，并且其它組件（例如，復(fù)用器301c、安培計701、AC信號發(fā)生器303、控制單元302和/或處理器111）可位于阻抗測量電路外面，例如設(shè)置在測試床103和/或104上或在測試固定裝置外面。另外，在其它實施例中，處理器111可形成控制單元302的整體部分。被配置成測試觸摸材料的雙面自電容層（上文簡要地描述）的本測試固定裝置的實施例可基本上類似于參考圖7所述的實施例，其中主要的例外情況是此類實施例包括兩個測試床103、104，其中每個測試床具有電連接器（例如，108e）和阻抗測量電路（例如，107c），使得測試固定裝置可以與觸摸材料的雙面自電容層101的兩側(cè)進行電通信。

圖8是適合于用作測試床103或104的本測試固定裝置的測試床801。測試床801包括設(shè)置在接觸印刷電路板（PCB）802上的阻抗測量電路（例如，107a、107b1、107b2或107c）和被配置成與包括觸摸屏電路圖案102a、102b、102c或102d的觸摸屏材料層101進行電接觸的電連接器108f（例如，108a、108b、108c、108d或108e）。在所示的實施例中，測試床801還包括設(shè)置在測試床801與層101之間的隔離物803，使得當層101在測試期間被固定在測試床之間時，測試床不接觸觸摸輸入表面（例如，電路圖案102a和102b的接合點206和206a、電路圖案102c的觸摸輸入表面401或電路圖案102d的電極焊盤602。當使得測試床（例如，測試床801）與觸摸屏材料層101接觸時，雖然并非在本測試固定裝置的所有實施例中都要求，但可能期望防止與層101的觸摸屏電路圖案102的接觸。這可以防止阻抗測量電路測量由兩個測試床之間的壓縮而可能在一些觸摸屏電路圖案（例如，102c）中引起的觸摸輸入，并且可防止對觸摸屏電路圖案102的任何損壞。然而，在其它實施例中，特別地，被配置成測試具有（多個）測試床的自電容觸摸屏電路圖案（例如，102d）隔離物（例如，803）的觸摸屏材料的自電容層的測試固定裝置可包括被配置成接觸層101的（多個）觸摸屏電路圖案102的導(dǎo)電材料的平坦片。通過此類特征，可將在測試期間在觸摸屏電路圖案內(nèi)生成的信號（例如，自電容信號）放大，從而促進觸摸屏材料的此類自電容層的功能測試。在所示的實施例中，測試床801的隔離物803可進一步被配置成使得電連接器108f例如經(jīng)由孔804通過隔離物，由此，連接器108f被隔離物固定，并且基本上被抑制在受到孔804的側(cè)壁的壓縮時橫向偏轉(zhuǎn)。通過此類特征，當使包括隔離物（例如，801）的測試床與觸摸屏材料層接觸時，測試床的電連接器能夠與觸摸屏材料層上的任何觸摸屏電路圖案通信。另外，在所示的實施例中，電連接器108f可包括由在接觸方向上垂直地取向的導(dǎo)電和不導(dǎo)電層的薄交替人造橡膠層構(gòu)成的人造橡膠連接器，諸如例如可從Fujipoly獲得的5002系列Zebra高性能銀連接器或可從Z-Axis Connector公司獲得的Z-Silver連接器。此類電連接器能夠在不需要連接器與觸摸屏電路圖案的任何端子之間的精確接觸位置的情況下做出阻抗測量電路（107、107a、107b1、107b2或107c）與觸摸屏材料層101上的觸摸屏電路圖案（102、102a、102b、102c或102d）之間的期望連接，例如，即使電連接器略微移位，薄導(dǎo)電層也將正確地將電路圖案的任何端子與測試床的阻抗測量電路的任何電路相連。然而，例如通過在使測試床與觸摸屏材料層接觸時抑制電連接器108f的任何橫向偏轉(zhuǎn)來將此類人造橡膠電連接器固定以確保電連接器在測試條件期間保持基本上固定可能是有利的。在所示的實施例中，隔離物803和接點PCB 802（包含阻抗測量電路）是單獨組件，并且可通過插腳在對準孔806中的嵌入而相對于彼此對準。對準孔806與插腳之間的螺釘和/或摩擦配合可確保隔離物804和接點PCB 802在測試期間不相對于彼此移動。然而，在其它實施例中，可以以允許在本公開中描述的功能的任何方式（例如，通過緊固件、互鎖特征等）將接點PCB 802耦合到隔離物803，使得接點印刷電路板802和隔離物803在測試期間相對于彼此保持對準。另外，在其它實施例中，隔離物803可形成測試床的整體部分。例如，接點PCB 802和隔離物803可由單塊材料構(gòu)成。

本測試固定裝置的實施例不限于上述觸摸屏電路圖案和/或觸摸屏材料層?，F(xiàn)在參考圖9A和9B，在給定可以測試的多種觸摸屏材料層（包括但不限于，觸摸屏電路圖案102a、102b、102c、102d以及以后可開發(fā)的那些）的情況下，本測試固定裝置900的一些實施例被設(shè)計成本質(zhì)上是模塊化的。在所示的實施例中，測試床103a和104a通過軌道901而可滑動地可釋放地耦合到測試固定裝置900，使得測試床103a和/或104a可被快速地從測試固定裝置900去除和嵌入到測試固定裝置900中。在其它實施例中，測試床103a、104a可通過允許在本公開中描述的功能的任何手段（包括但不限于，互鎖特征、滑塊等）被可釋放地耦合到測試固定裝置。另外，可通過潤滑油、軸襯、滾珠軸承等來促進可釋放操作。通過此類特征，可將本測試固定裝置的這些實施例配置成通過如上所述地將適當?shù)臏y試床與（多個）相應(yīng)電連接器和/或（多個）阻抗測量電路儀器嵌入來測試任何觸摸屏電路圖案（例如，102）。在所示的實施例中，并且參考圖9B，測試固定裝置900還包括閂鎖機構(gòu)902，其被配置成將被嵌入到測試固定裝置中的測試床牢固地且可釋放地閂鎖，并確保測試床在測試固定裝置內(nèi)的適當對準。在所示的實施例中，閂鎖機構(gòu)902包括彈簧加載快速釋放插腳，其被配置成將（多個）測試床可釋放地固定到測試固定裝置中。例如，當（多個）測試床被嵌入到測試固定裝置中時，快速釋放插腳可以向前移動到棘爪906（例如，凹陷區(qū)域、孔等）中以保持（多個）測試床相對于測試固定裝置在適合于測試觸摸屏材料層101的（多個）位置中。針對另一示例，當（多個）測試床要被改變或以其他方式從測試固定裝置被去除時，可將快速釋放插腳釋放（例如，通過逆著快速釋放插腳的彈簧張力拉緊以使插腳從其各自的棘爪906縮回）以允許將（多個）測試床從測試固定裝置去除。在其它實施例中，（多個）測試床可被可以設(shè)置在（多個）測試床和/或測試固定裝置上的不同和/或附加閂鎖機構(gòu)（諸如緊固件（例如，翼形螺釘904）、互鎖特征、閂鎖等）可釋放地固定和/或進一步固定。另外，如所示，可移動測試床（例如，103a和/或104a）可包括把手903以進一步促進去除測試床和嵌入測試床到測試固定裝置中。通過此類特征，用戶可以例如通過釋放（多個）任何閂鎖機構(gòu)902、用力拉把手903并使測試床通過軌道901從測試固定裝置滑動將測試床從測試固定裝置去除，通過軌道901將不同的測試床插入到測試固定裝置中，將測試床可釋放地固定到測試固定裝置（例如，通過閂鎖機構(gòu)902），并進一步例如用翼形螺釘904將測試床固定到測試固定裝置。在一些實施例中，軌道901、閂鎖機構(gòu)902、把手904、翼形螺釘904等是測試固定裝置的組件，并且可分別地在測試床的安裝和去除期間例如通過將包括接點PCB和任何隔離物的測試床緊固到設(shè)置于測試固定裝置上的滑出托盤來將（多個）測試床安裝或拆卸至此類組件。

如上文一般地參考圖1所述，本測試固定裝置的一些實施例包括至少一個夾持致動器109，其被配置成使至少一個測試床103、104相對于另一測試床移動以將觸摸屏材料層101（例如，包括電路圖案102a的互電容層觸摸屏材料）固定在第一和第二測試床103、104之間，并將測試床103、104的至少一個電連接器108置于與層的（多個）任何端子的電接觸。圖10A和10B提供適當夾持致動器的非限制性示例。圖10A是具有流體驅(qū)動夾持致動器109a的本測試固定裝置的實施例1000。在所示的實施例中，流體驅(qū)動夾持致動器109a通過由流體線路1001供應(yīng)的流體壓力使測試床103b相對于測試床104b移動，并且可以是液壓的，以液體作為工作流體，或者是氣動的，以空氣作為工作流體。在所示的實施例中，流體驅(qū)動的夾持致動器109a被進一步配置成與處理器（例如，111）通信以便控制測試床移動，以便避免在測試期間使觸摸屏材料層101過壓，同時確保（多個）測試床的（多個）電連接器與觸摸屏材料層的（多個）任何端子之間的適當接觸。圖10B描繪了包括螺旋式夾持致動器109b的本測試固定裝置的另一實施例1007。在所示的實施例中，螺旋式夾持致動器109b使測試床103c在箭頭1002所指示的方向上通過螺釘1003的旋轉(zhuǎn)相對于測試床103c移動。可通過把手1004的旋轉(zhuǎn)或通過被耦合到螺釘1003（例如通過常規(guī)齒輪、蝸輪等耦合）的馬達（未示出）的致動來手動地實現(xiàn)旋轉(zhuǎn)。在所示的實施例中，測試固定裝置1007還包括限深器1006，其被配置成設(shè)定在測試床103c和104c之間可實現(xiàn)的最小距離。限深器1006可防止螺釘1003轉(zhuǎn)動超過某個可調(diào)整點。在其它實施例中，可用設(shè)置在測試床和/或測試固定裝置上的被配置成捕捉指示測試固定裝置內(nèi)的測試床位置的數(shù)據(jù)的位置傳感器而通過夾持致動器109、109a、109b的處理器（例如，111）控制來實現(xiàn)此類深度控制。在又其它實施例中，致動器109可包括允許在本公開中描述的功能的（多個）任何致動器，例如彈簧致動器、電致動器、磁性致動器等，其能夠使至少一個測試床相對于另一個移動以將觸摸屏材料層固定在測試床之間。

圖11A是本測試固定裝置的實施例1100，本測試固定裝置包括被配置成使測試床中的至少一個（例如測試床104d）相對于觸摸屏材料層101在橫向（基本上垂直軸1102和/或1103）或旋轉(zhuǎn)（繞著旋轉(zhuǎn)軸1104）自由度中的至少一個上移動的至少一個取向致動器116。圖11B描繪了適當取向致動器116a的示例。在所示的實施例中，取向致動器116a包括可單獨地和/或一起起作用以獲得期望位移（例如，在沿著軸1102、1103的方向上和/或圍繞旋轉(zhuǎn)軸1104的旋轉(zhuǎn)）的多個線性致動器（116a1、116a2和116a3）。例如，可通過線性致動器116a1和116a2的同時且相等的位移來實現(xiàn)沿著軸1102的純平移位移，可通過單獨的線性致動器116a3的位移來實現(xiàn)沿著軸1103的純平移，并且可通過線性制動器116a1和116a2的同時且相等但相反的位移來實現(xiàn)繞著旋轉(zhuǎn)軸1104的純旋轉(zhuǎn)位移?？蓡为毜鼗蛞匀魏谓M合的方式通過上述線性致動器位移來實現(xiàn)任何其它期望位移。在所示的實施例中，測試固定裝置1100例如用螺釘和/或其它緊固件被安裝到取向致動器116a的底板1105，使得當?shù)装?105移動時，測試固定裝置1100的（多個）測試床以相應(yīng)方式移動。在所示的實施例中，測試固定裝置1100還包括至少一個傳感器1106，其被配置成捕捉指示觸摸屏材料層101相對于測試固定裝置1100的取向的數(shù)據(jù)。在所示的實施例中，取向數(shù)據(jù)包括由捕捉設(shè)置在觸摸屏材料層101上的至少一個基準和設(shè)置在測試固定裝置上的至少一個基準（例如，印刷標記、壓痕等）的位置的（多個）傳感器1106（例如，一個或多個照相機）拍攝的圖像。在所示的實施例中，傳感器1106可與處理器（例如，111）通信以便控制取向致動器116a并確保觸摸屏材料層被定向成使得當使測試床與層接觸時，該層處于一位置中，使得使設(shè)置在層上的（多個）任何觸摸屏電路圖案上的（多個）任何端子與測試床的（多個）電連接器接觸。還應(yīng)注意的是用于測試固定裝置的基準可以是虛擬基準，其中成像設(shè)備（例如，照相機）具有相對于測試固定裝置的基本上固定的位置。然后，處理器111將把從層101成像的基準的位置與該基準的期望虛擬位置相比較以便控制取向致動器116。

圖12A和12B提供此類特征的操作的示例。1201是由至少一個傳感器1106捕捉的數(shù)據(jù)的直觀表示，數(shù)據(jù)指示相對于測試固定裝置上的電連接器108和隔離物803的包括觸摸屏電路圖案（例如，如所示的自電容觸摸屏電路圖案102d）的觸摸屏材料層101的取向?？赏ㄟ^測試固定裝置的校準將至少一個傳感器1106相對于測試固定裝置的位置（如例如，數(shù)據(jù)1201和數(shù)據(jù)1202相對于電連接器108和隔離物803的取向所示的）存儲在存儲器112中，或者可通過設(shè)置在（多個）測試床和/或測試固定裝置上的（多個）基準的定位來確定取向。觸摸屏材料層101還包括設(shè)置在層上的至少一個基準1203?？梢栽跍y試之前將（多個）基準1203相對于（多個）任何端子601或其它觸摸屏電路圖案特征（例如，電極焊盤602）的位置存儲在存儲器112中。例如，此類信息可以是從層測量，由層的制造商提供和/或從制造環(huán)境中的電路圖案打印機傳遞至測試固定裝置的。處理器111可接收數(shù)據(jù)1201，并例如通過基準1203與觸摸屏電路圖案102d的特征的相對位置和測試固定裝置與數(shù)據(jù)1201的相對位置來確定使測試床與被測試觸摸屏電路圖案對準所需的位移。

下面是通過示例而不是限制的方式提供的適當基準定位算法的描述。在本測試固定裝置和/或方法的一些實施例中，數(shù)據(jù)1201可包括例如由照相機獲得的圖像。一些基于視覺的基準定位算法通過對圖像內(nèi)的高對比度區(qū)域進行定位而工作。在將此類基于視覺的算法用于對基準進行定位的實施例中，處理器111可迭代地掃描數(shù)據(jù)1201中的像素以對具有與周圍像素的對比度基本上不同（例如，基本上更亮或基本上更暗）的對比度的所選像素進行定位。在這些實施例中，處理器111可首先和/或另外將圖像轉(zhuǎn)換成灰度和/或黑白以加強圖像內(nèi)的變化對比度的區(qū)域。處理器111然后可確定圖像內(nèi)的所選像素的位置，并例如通過將由所選像素定義的形狀與預(yù)期基準的形狀（其可在測試之前被存儲在存儲器中）相比較來確定所選像素是否定義指示基準的數(shù)據(jù)。在這些實施例中，測試固定裝置還可包括光源，其被配置成照亮觸摸屏材料層以增加層上的（多個）任何基準的亮度。測試固定裝置和/或（多個）測試床還可涂有、鍍有光吸收材料或由光吸收材料構(gòu)造而成以進一步促進基準定位。然而，本測試固定裝置可包括允許在本公開中描述的功能的任何基準定位硬件、軟件、方法和/或算法，只要其具有確定觸摸屏材料層相對于測試床和/或測試固定裝置的位置的能力即可。另外，可以將本測試固定裝置配置成用任何數(shù)目、放置、尺寸、形狀的基準（例如十字形、三角形、正方形、多邊形、圓形等）來測試觸摸屏材料層101。

在圖12A和12B中所描繪的示例中，所需位移在沿著軸1102和1103的負方向以及繞著旋轉(zhuǎn)軸1104的正旋轉(zhuǎn)。處理器111然后可將這些所需位移傳送至取向致動器116，其可以實現(xiàn)位移。1202是指示修正位移之后的層的取向的由至少一個傳感器1106捕捉的數(shù)據(jù)的直觀表示。如所示，電連接器108和隔離物803與端子601和電極焊盤602適當?shù)貙室杂糜跍y試。如果在初始調(diào)整之后對準不適當，則處理器111可以重復(fù)上述步驟直至獲得適當?shù)膶屎?或例如向用戶接口113報告錯誤代碼為止。在其它實施例中，觸摸屏電路圖案的（多個）任何端子可被印刷（例如，從反射材料和/或用可識別形狀），使得處理器111可以直接地識別（多個）端子（例如，在由所述至少一個傳感器捕捉的數(shù)據(jù)內(nèi)），因此排除對基準1203的需要。

圖13－15是用以測試觸摸屏材料層的本方法的若干實施例1300的流程圖。步驟1301描述了在本方法的一些實施例中存在的步驟。在更詳細地在圖14中示出的步驟1301中，可例如用（多個）傳感器1106來監(jiān)視觸摸屏材料層相對于（多個）測試床的（多個）電連接器的取向。在一個實施例中，在步驟1302處，通過用致動器109使測試床103和/或104相對于彼此移動而將觸摸屏材料層101固定在測試床103、104之間，使得層101內(nèi)的觸摸屏電路圖案（例如，102a、102b、102c或102d）的端子與測試床的（多個）電連接器（例如，108a、108b、108c、108d、108e或108f）接觸。在步驟1303處，可通過如上所述的處理器111和測量電路107a、107b1、107b2或107c的使用來計算觸摸屏電路圖案的特征的電阻抗。在本方法的一些實施例中，在步驟1303（在圖15中更詳細地示出）處確定觸摸屏電路圖案特征的電阻抗之后，然后可對應(yīng)于測量阻抗對觸摸屏材料層101進行標記1304。在一些實施例中，此標記包括以物理方式標記層（例如，用激光蝕刻或用打印機印刷）。在其它實施例中，標記可以是虛擬的（例如，存儲在存儲器112中、通過指示器（例如，306）傳送或在用戶接口（例如，113）上顯示的指示觸摸屏電路圖案特征的測量阻抗的數(shù)據(jù)），并且可被傳送到制造環(huán)境中的其它組件。例如，可將數(shù)據(jù)傳遞至切割機，其被配置成丟棄具有有缺陷觸摸屏電路圖案的觸摸屏材料層的區(qū)段。然而，在其它實施例中，可以以允許在本公開中描述的功能的任何方式來實現(xiàn)標記。在步驟1305處，然后將觸摸屏材料層從測試固定裝置釋放（例如，通過使測試床103和/或104相對于彼此移動并激活向測試固定裝置供應(yīng)層的（多個）任何輥）。

圖14是示出了用以使觸摸屏材料層在本測試固定裝置的一個實施例內(nèi)對準例如以監(jiān)視觸摸屏材料層101相對于（多個）電連接器、（多個）測試床和/或測試固定裝置的取向的本方法的一個實施例的步驟1301的更詳細流程圖。在所示的實施例中，監(jiān)視可包括：對層上的（多個）任何基準以及測試固定裝置上的（多個）任何基準進行定位（1301a）；例如用與傳感器1106通信的處理器111比較基準的位置（1301b）；以及通過層的推進（例如如果設(shè)置在（多個）輥上）和/或取向致動器116的控制使（多個）測試床相對于層對準（1301c）。

圖15是示出了用以測試觸摸屏材料層的電路圖案特征的阻抗的本方法的一個實施例的步驟1301的更詳細流程圖。方法1303表示用以測試具有帶有被耦合到電容接合點的端子的觸摸屏電路圖案102的觸摸屏材料層101的本方法的非限制性示例?？蛇x擇第一驅(qū)動電極（1303a）（例如用與控制單元302通信的復(fù)用器301a）。接下來，可向第一驅(qū)動電極施加AC信號（1303b）（例如，通過AC信號發(fā)生器303）。在1303c處，可選擇第一感測電極（例如，用與控制單元302通信的復(fù)用器301b）。然后，可測量通過電容耦合生成的對于每個感測電極的響應(yīng)信號，其對應(yīng)于由感測和驅(qū)動電極限定的接合點（1303d）（例如，用與處理器111和/或控制單元302通信的ADC 304）。用該響應(yīng)信號，可計算接合點的阻抗（1303e）（例如，由處理器111）。然后通過用復(fù)用器301b來選擇可單獨尋址感測電極而針對每個感測電極1303f重復(fù)步驟1303c至1303e。最后，可針對每個驅(qū)動電極重復(fù)步驟1303a至1303f（1303g），因此確定觸摸屏材料的互電容層的互電容觸摸屏電路圖案（例如，102a或102b）中的每個電容接合點的阻抗。

以上說明書和示例提供了結(jié)構(gòu)的完整描述和說明性實施例的使用。雖然上文以一定程度的特殊性或參考一個或多個單獨實施例描述了某些實施例，但在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對公開實施例進行許多改變。同樣地，方法和系統(tǒng)的各種說明性實施例并不意圖局限于公開的特定形式。相反地，其包括落在權(quán)利要求的范圍內(nèi)的所有修改和替換，并且除所示的實施例之外的實施例可包括所描繪實施例的一些或所有特征。例如，可將元件省略或組合為單式結(jié)構(gòu)和/或可代替連接。此外，在適當?shù)那闆r下，可將上述任何示例的各方面與被描述為形成具有相同或不同性質(zhì)和/或功能并解決相同或不同問題的其它示例的任何其它示例的各方面組合。類似地，將理解的是上文所述的益處和優(yōu)點可涉及一個實施例，或者可涉及若干實施例。

權(quán)利要求并不意圖包括且不應(yīng)被解釋為包括部件加或步驟加功能限制，除非在給定權(quán)利要求中分別地使用（多個）短語“用于...的部件”或“用于...的步驟”明確地敘述此類限制。