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一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統的制作方法

文檔序號:6075653閱讀:422來源:國知局
一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統的制作方法
【專利摘要】一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,其特征在于;運送工件的傳送帶上設有上料機,PC機與上料機連接,上、下CCD圖像傳感器也分別與PC機連接,上、下CCD圖像傳感器分別在傳送帶垂直方向上下對稱位置安裝,上CCD圖像傳感器到工件的頂面位置與下CCD圖像傳感器到工件的底面位置距離相等。傳送帶為透光傳送帶。本實用新型提供的這種新型粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,通過采用一種簡化的結構及圖像處理方法實現了對粉末冶金元件可以實現對元件上、下面圖像的同步采集。它檢測元件表面缺陷簡單、快速、高效,從而降低生產成本,提高工作效率,具有很好的普及推廣價值。本實用新型不僅可以用在粉末冶金元件的檢測,也可以用于其他元件表面的缺陷檢測。
【專利說明】一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種工件表面缺陷檢測系統。

【背景技術】
[0002]粉末冶金元件主要由粉末成型加工、光刻技術、MEMS等工藝制成。生產工藝的復雜、多樣性,使工件表面出現裂紋、缺邊、掉角、砂眼、電鍍色差等微觀缺陷。傳統的粉末冶金元件缺陷檢測尚停留在單純的人工檢測的階段,很多企業(yè)利用國內低廉的勞動力資源進行缺陷檢測,費時費力,檢測效率低,誤檢率高,工人勞動強度大,測量精度及速度與生產需求完全不匹配。目前,市場上的各種在線缺陷檢測裝置為了實現工件的雙面檢測需要有翻轉機構,設備復雜。
實用新型內容
[0003]為解決上述現有技術中存在的問題,本實用新型采用的技術方案如下:一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,其特征在于;運送工件的傳送帶上設有上料機,PC機與上料機連接,上、下CXD圖像傳感器也分別與PC機連接,上、下CXD圖像傳感器分別在傳送帶垂直方向上下對稱位置安裝,上CCD圖像傳感器到工件的頂面位置與下CCD圖像傳感器到工件的底面位置距離相等。傳送帶為透光傳送帶。
[0004]由于采用了上述技術方案,本實用新型提供的這種新型粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,通過采用一種簡化的結構及圖像處理方法實現了對粉末冶金元件可以實現對元件上、下面圖像的同步采集。它檢測元件表面缺陷簡單、快速、高效,從而降低生產成本,提高工作效率,具有很好的普及推廣價值。本實用新型不僅可以用在粉末冶金元件的檢測,也可以用于其他元件表面的缺陷檢測。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0005]圖1為本實用新型一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統示意圖
[0006]圖2為本實用新型一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統檢測流程方框圖
[0007]圖中:1、傳送帶,2、上料機,3、PC機,4、CCD圖像傳感器i,5、CCD圖像傳感器ii,6、工件。

【具體實施方式】
[0008]下面結合附圖對本實用新型作進一步描述。
[0009]這種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,包括上料機2、傳送帶1、上CXD圖像傳感器4與下C⑶圖像傳感器5、裝有圖像處理模塊的PC機3。圖中M是傳送帶I運動方向。上、下CCD圖像傳感器分別與PC機3相連,分別在傳送帶(I)垂直方向上下對稱位置安裝,上CXD圖像傳感器4到工件6的頂面位置dl與下CXD圖像傳感器5到工件6的底面位置距離d2相等,實現同步采集元件6上下表面的圖像的目的。
[0010]這種粉末冶金元件表面缺陷檢測過程如下:粉末冶金元件6通過上料機2放置在透光傳送帶I上,上下兩個CCD圖像傳感器4與5同步采集粉末冶金元件6頂面、底面的圖像,并通過AD轉換得到圖像數字信號將數字信號發(fā)送給PC機3。在缺陷檢測過程中,由PC機3中安裝的MATLAB圖像處理工具箱對采集的圖像進行圖像融合、圖像預處理、缺陷檢測及結果輸出。
[0011]數字圖像處理步驟:
[0012]第一步:用Matlab圖像處理工具箱中小波函數對采集的圖像進行圖像融合處理。
[0013]第二步:圖像缺陷檢測,將融合后的圖像進行預處理、缺陷檢測,并輸出檢測結果。
[0014]以上所述,僅為本實用新型較佳的【具體實施方式】,但本實用新型的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本【技術領域】的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內,根據本實用新型的技術方案及其發(fā)明構思加以等同替換或改變,都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,其特征在于;運送工件(6)的傳送帶(6)上設有上料機(2),PC機(3)與所述上料機⑵連接,上CCD圖像傳感器(4)與下CCD圖像傳感器(5)也分別與PC機(3)連接,所述的上CCD圖像傳感器⑷與下CCD圖像傳感器(5)分別在傳送帶(I)垂直方向上下對稱位置安裝,所述上CCD圖像傳感器(4)到所述工件(6)的頂面位置與所述下CCD圖像傳感器(5)到所述工件¢)的底面位置距離相等。
2.根據權利要求1所述的一種粉末冶金元件表面缺陷檢測系統,其特征在于所述的傳送帶(2)為透光傳送帶。
【文檔編號】G01N21/88GK204228620SQ201420663483
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年11月7日 優(yōu)先權日:2014年11月7日
【發(fā)明者】田小靜, 李東明 申請人:大連交通大學
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