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一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)及其平臺(tái)的制作方法

文檔序號(hào):6057973閱讀:228來(lái)源:國(guó)知局
一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)及其平臺(tái)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)及其平臺(tái)。該光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)包括:載物平臺(tái),用于承載待測(cè)芯片;光學(xué)頭,用于對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入;第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu),用于與載物平臺(tái)連接且沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái);第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu),用于與光學(xué)頭連接且沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭。本實(shí)用新型能夠?qū)崿F(xiàn)了光學(xué)頭和載物平臺(tái)兩者協(xié)調(diào)配合移動(dòng),減少物理位置盲區(qū),并且提高了光學(xué)錯(cuò)誤注入的效率。
【專利說(shuō)明】一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)及其平臺(tái)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及信息安全領(lǐng)域,特別涉及一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)及其平臺(tái)。

【背景技術(shù)】
[0002]隨著信息安全技術(shù)的發(fā)展,各種安全產(chǎn)品越來(lái)越普及,其包括金融IC卡、社???、用于網(wǎng)上銀行的USBKey、加密U盤(pán)等,這些安全產(chǎn)品都是利用安全芯片來(lái)實(shí)現(xiàn)其安全功能。隨著安全芯片在金融等領(lǐng)域應(yīng)用的推廣,安全芯片的安全性變得越來(lái)越重要,需要通過(guò)安全特性分析設(shè)備對(duì)安全芯片的安全特性進(jìn)行測(cè)評(píng)。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)通過(guò)非侵入式攻擊、半侵入式攻擊或侵入式攻擊對(duì)安全芯片進(jìn)行攻擊,其中半侵入式攻擊處于非侵入式攻擊和侵入式攻擊之間,目前半侵入式攻擊中最為有效的攻擊手段是光學(xué)錯(cuò)誤注入?,F(xiàn)有的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)的包括:激光注入設(shè)備和工作站,激光注入設(shè)備包括激光光頭和載物平臺(tái)。其中,安全芯片固定在載物平臺(tái)上,工作臺(tái)控制載物平臺(tái)步進(jìn)移動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)激光注入。由于只有載物平臺(tái)運(yùn)動(dòng),且載物平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)軌跡為直線,因此存在物理位置盲區(qū)較大的問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型提供一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)及其平臺(tái),以解決物理位置盲區(qū)較大的問(wèn)題。
[0005]本實(shí)用新型提供的一種光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),其包括:載物平臺(tái),用于承載待測(cè)芯片;光學(xué)頭,用于對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入;第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu),用于與載物平臺(tái)連接且沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái);第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu),用于與光學(xué)頭連接且沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭。
[0006]其中,曲線軌跡包括圓形軌跡。
[0007]本實(shí)用新型還提供一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng),其包括以上所述的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)。
[0008]其中,光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)進(jìn)一步包括工作站和運(yùn)動(dòng)軌跡控制器,工作站與動(dòng)軌跡控制器連接,運(yùn)動(dòng)軌跡控制器與第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)連接,運(yùn)動(dòng)軌跡控制器根據(jù)工作站輸出的軌跡數(shù)據(jù)控制第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)中的一者或二者進(jìn)行運(yùn)動(dòng)。
[0009]其中,光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)進(jìn)一步包括信息采集器,信息采集器在光學(xué)頭對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入時(shí)對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行信息采集,并將采集到的信息傳輸至工作站。
[0010]其中,工作站通過(guò)USB或串口通信分別與運(yùn)動(dòng)軌跡控制器和信息采集器連接。
[0011]通過(guò)上述方案,本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型通過(guò)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于與載物平臺(tái)連接且沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái),第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于與光學(xué)頭連接且沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭,以實(shí)現(xiàn)了光學(xué)頭和載物平臺(tái)兩者協(xié)調(diào)配合移動(dòng),減少物理位置盲區(qū),并且提高了光學(xué)錯(cuò)誤注入的效率。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0013]圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0014]請(qǐng)參見(jiàn)圖1所示,圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例所揭示的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)I包括載物平臺(tái)11、光學(xué)頭12、第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13、第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14及底座支架15,底座支架15上用于承載載物平臺(tái)11、光學(xué)頭12、第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13以及第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14。
[0015]在本實(shí)施例中,載物平臺(tái)11用于承載待測(cè)芯片16,其中待測(cè)芯片16嵌套放置于載物平臺(tái)11上。在其他實(shí)施例中,載物平臺(tái)11也可采用夾子固定等方式來(lái)固定待測(cè)芯片16。載物平臺(tái)11與第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13連接,第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13用于沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái)11,即第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13控制載物平臺(tái)11沿直線軌跡傳動(dòng)。
[0016]其中,光學(xué)頭12用于對(duì)待測(cè)芯片16進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入,光學(xué)頭12優(yōu)選為激光光頭。光學(xué)頭12設(shè)置在載物平臺(tái)11的上方,并且光學(xué)頭12與第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14連接,第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14用于沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭12,即第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14控制光學(xué)頭12沿曲線軌跡傳動(dòng)。其中,曲線軌跡包括直線軌跡、圓形軌跡或不規(guī)則曲線軌跡。
[0017]在第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14獲取光學(xué)頭12對(duì)待測(cè)芯片16進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入的第一位置坐標(biāo)時(shí),第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)14根據(jù)第一位置坐標(biāo)沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭12,以對(duì)待測(cè)芯片16進(jìn)行精確的光學(xué)錯(cuò)誤注入。相對(duì)于現(xiàn)有的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),本實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)I能夠避免在直線運(yùn)行時(shí)多余的附加位置掃描。
[0018]進(jìn)一步,第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13獲取載物平臺(tái)11在光學(xué)頭12對(duì)待測(cè)芯片16進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入時(shí)的第二位置坐標(biāo),第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)13根據(jù)第二位置坐標(biāo)沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái)11,以使光學(xué)頭12與載物平臺(tái)11相對(duì)運(yùn)動(dòng)。相對(duì)于現(xiàn)有的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),本實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)I能夠提高光學(xué)錯(cuò)誤注入的效率,且實(shí)現(xiàn)光學(xué)頭12與載物平臺(tái)11配合移動(dòng),減少物理位置盲區(qū)。
[0019]請(qǐng)參見(jiàn)圖2所示,圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例所揭示的光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)2包括:載物平臺(tái)21、光學(xué)頭22、第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23、第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24、底座支架25、工作站26、運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27以及信息采集器28,底座支架25用于承載載物平臺(tái)21、光學(xué)頭22、第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23、第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24、工作站26、運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27以及信息采集器28。
[0020]其中,載物平臺(tái)21用于承載待測(cè)芯片29,本實(shí)施例中待測(cè)芯片29嵌套放置于載物平臺(tái)21上。在其他實(shí)施例中,載物平臺(tái)21也可采用夾子固定等方式來(lái)固定待測(cè)芯片29。載物平臺(tái)21與第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23連接,第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23用于沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái)21,即第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23控制載物平臺(tái)21沿直線軌跡傳動(dòng)。
[0021]其中,光學(xué)頭22用于對(duì)待測(cè)芯片29進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入,光學(xué)頭22優(yōu)選為激光光頭。光學(xué)頭22設(shè)置在載物平臺(tái)21的上方,并且光學(xué)頭22與第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24連接,第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24用于沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭22,即第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24控制光學(xué)頭22沿曲線軌跡傳動(dòng)。其中,曲線軌跡包括直線軌跡、圓形軌跡或不規(guī)則曲線軌跡。
[0022]其中,工作站26分別與運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27和信息采集器28連接,運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27與第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23和第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24連接。優(yōu)選地,工作站26通過(guò)USB或串口通信方式分別與運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27和信息采集器28連接。工作站26輸出第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23和第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24的軌跡數(shù)據(jù),并將軌跡數(shù)據(jù)發(fā)送至運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27,運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27根據(jù)工作站26輸出的軌跡數(shù)據(jù)控制第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23和第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24中的一者或二者進(jìn)行運(yùn)動(dòng)。信息采集器28連接載物平臺(tái)21,且在光學(xué)頭22對(duì)載物平臺(tái)21上的待測(cè)芯片29進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入時(shí)對(duì)待測(cè)芯片29進(jìn)行信息采集,并將采集到的信息傳輸至工作站26,工作站26用于對(duì)采集到的信息進(jìn)行分析。
[0023]在運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27根據(jù)工作站26輸出的軌跡數(shù)據(jù)控制第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24進(jìn)行運(yùn)動(dòng),第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23停止運(yùn)動(dòng)時(shí),第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24從運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27獲取光學(xué)頭22對(duì)待測(cè)芯片29進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入的第一位置坐標(biāo),并根據(jù)第一位置坐標(biāo)沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭22,以對(duì)待測(cè)芯片29進(jìn)行精確的光學(xué)錯(cuò)誤注入。相對(duì)于現(xiàn)有的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),本實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)2能夠避免在直線運(yùn)行時(shí)多余的附加位置掃描。
[0024]在運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27根據(jù)工作站26輸出的軌跡數(shù)據(jù)控制第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23和第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24同時(shí)進(jìn)行運(yùn)動(dòng)時(shí),第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)24從運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27獲取光學(xué)頭22對(duì)待測(cè)芯片29進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入的第一位置坐標(biāo),并根據(jù)第一位置坐標(biāo)沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭22 ;第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)23從運(yùn)動(dòng)軌跡控制器27獲取載物平臺(tái)21在光學(xué)頭22對(duì)待測(cè)芯片29進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入時(shí)的第二位置坐標(biāo),并根據(jù)第二位置坐標(biāo)沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái)21,以使光學(xué)頭22與載物平臺(tái)21相對(duì)運(yùn)動(dòng)。相對(duì)于現(xiàn)有的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),本實(shí)施例的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)2能夠提高光學(xué)錯(cuò)誤注入的效率,且實(shí)現(xiàn)光學(xué)頭22與載物平臺(tái)21配合移動(dòng),減少物理位置盲區(qū)。
[0025]綜上所述,本實(shí)用新型通過(guò)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于與載物平臺(tái)連接且沿直線軌跡傳動(dòng)載物平臺(tái),第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于與光學(xué)頭連接且沿曲線軌跡傳動(dòng)光學(xué)頭,以實(shí)現(xiàn)了光學(xué)頭和載物平臺(tái)兩者協(xié)調(diào)配合移動(dòng),減少物理位置盲區(qū),并且提高了光學(xué)錯(cuò)誤注入的效率。
[0026]以上僅為本實(shí)用新型的實(shí)施方式,并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍,凡是利用本實(shí)用新型說(shuō)明書(shū)及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】,均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),其特征在于,所述光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)包括: 載物平臺(tái),用于承載待測(cè)芯片; 光學(xué)頭,用于對(duì)所述待測(cè)芯片進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入; 第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu),用于與所述載物平臺(tái)連接且沿直線軌跡傳動(dòng)所述載物平臺(tái); 第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu),用于與所述光學(xué)頭連接且沿曲線軌跡傳動(dòng)所述光學(xué)頭。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái),其特征在于,所述曲線軌跡包括圓形軌跡。
3.一種光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)包括如權(quán)利要求1-2任意一項(xiàng)所述的光學(xué)錯(cuò)誤注入平臺(tái)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)進(jìn)一步包括工作站和運(yùn)動(dòng)軌跡控制器,所述工作站與所述動(dòng)軌跡控制器連接,所述運(yùn)動(dòng)軌跡控制器與所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)連接,所述運(yùn)動(dòng)軌跡控制器根據(jù)所述工作站輸出的軌跡數(shù)據(jù)控制所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)中的一者或二者進(jìn)行運(yùn)動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng)進(jìn)一步包括信息采集器,所述信息采集器在所述光學(xué)頭對(duì)所述待測(cè)芯片進(jìn)行光學(xué)錯(cuò)誤注入時(shí)對(duì)所述待測(cè)芯片進(jìn)行信息采集,并將采集到的信息傳輸至所述工作站。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)錯(cuò)誤注入系統(tǒng),其特征在于,所述工作站通過(guò)USB或串口通信分別與所述運(yùn)動(dòng)軌跡控制器和所述信息采集器連接。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK203930001SQ201420288224
【公開(kāi)日】2014年11月5日 申請(qǐng)日期:2014年5月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月30日
【發(fā)明者】楊坤, 譚銳能, 潛晟, 陳詩(shī)平, 王宇建 申請(qǐng)人:國(guó)民技術(shù)股份有限公司
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