轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀的制作方法
【專利摘要】轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀，包括：光源裝置，第一光譜分離裝置，第二光譜分離裝置，光束折光裝置，光束波長校正裝置，光束吸收校驗裝置，信號檢測裝置，其中，通過光源裝置產(chǎn)生符合檢測分析要求的光束，光束分別進入到第一光譜分離裝置和第二光譜分離裝置，通過上述兩個光譜分離裝置能夠得到特定光譜波長的兩束光，這兩束光在光束折光裝置中匯集，通過光束折光裝置中的旋轉(zhuǎn)六面棱鏡，第一光譜分離裝置和第二光譜分離裝置產(chǎn)生的特定光束進行間歇式吸收和屏蔽，通過光束波長校正裝置對上述光束的光譜波長予以校正，減小誤差。
【專利說明】轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光譜校正分析領(lǐng)域，尤其涉及轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀。

【背景技術(shù)】
[0002]光譜校正分析主要用于分析分子能級之間躍遷形成的發(fā)射光譜和吸收光譜，包括純轉(zhuǎn)動光譜、振動轉(zhuǎn)動光譜帶和電子光譜帶。分子的純轉(zhuǎn)動光譜由分子轉(zhuǎn)動能級之間的躍遷產(chǎn)生，分布在遠紅外波段，通常主要觀測吸收光譜；振動-轉(zhuǎn)動光譜帶由不同振動能級上的各轉(zhuǎn)動能級之間躍遷產(chǎn)生，是一些密集的譜線，分布在近紅外波段，通常也主要觀測吸收光譜；電子光譜帶由不同電子態(tài)上不同振動和不同轉(zhuǎn)動能級之間的躍遷產(chǎn)生，可分成許多帶，分布在可見或紫外波段，可觀測發(fā)射光譜。但是由于非極性分子由于不存在電偶極矩，沒有轉(zhuǎn)動光譜和振動-轉(zhuǎn)動光譜帶，只有極性分子才有這類光譜帶，因此，現(xiàn)有的分析裝置對于非極性分子的光譜分析還存在局限性，因此，需要提出合理的技術(shù)方案對上述問題予以解決。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服現(xiàn)有裝置的不足之處，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
[0004]轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀，包括:光源裝置(I)，第一光譜分離裝置(2)，第二光譜分離裝置(3)，光束折光裝置(4)，光束波長校正裝置(5)，光束吸收校驗裝置(7)，信號檢測裝置(8)，其中，通過光源裝置(I)產(chǎn)生符合檢測分析要求的光束，光束分別進入到第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)，通過上述兩個光譜分離裝置能夠得到特定光譜波長的兩束光，這兩束光在光束折光裝置(4)中匯集，通過光束折光裝置(4)中的旋轉(zhuǎn)六面棱鏡，第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)產(chǎn)生的特定光束進行間歇式吸收和屏蔽，通過光束波長校正裝置(5)對上述光束的光譜波長予以校正，減小誤差；通過光束吸收校驗裝置(7)對吸收后的衰減光束進行校正，衰減光束通過信號檢測裝置(8)進行光電信號的轉(zhuǎn)換；
[0005]所述的光源裝置(I)采用氫鎳燈和石英低壓汞燈串聯(lián)組合，所述的第一光譜分離裝置(2)含有凹面反射鏡與棱鏡，兩者交替排列組合，所述的第二光譜分離裝置(3)含有透鏡與光柵，透鏡在前，光柵在后，所述的光束折光裝置(4)含有旋轉(zhuǎn)六面棱鏡，所述的光束波長校正裝置(5)含有鑰玻璃透鏡和銪玻璃透鏡，兩者交替串聯(lián)排列，所述的光束吸收校驗裝置(7)含有吸收池，所述的信號檢測裝置(8)中含有光電轉(zhuǎn)化器。
[0006]光源裝置(I)主要用于產(chǎn)生符合檢測要求的光束，第一光譜分離裝置(2)主要用于對光束波長的篩選與分離，得到目標波長為L1的特定光束，第二光譜分離裝置(3)主要用于對光束波長的篩選與分離，得到目標波長為L2的特定光束；
[0007]光束折光裝置(4)主要用于對第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)產(chǎn)生的特定光束進行間歇式吸收和屏蔽，光束波長校正裝置(5)主要用于光源裝置(I)產(chǎn)生的光束進行波長校正，消除誤差，進樣裝置(6)主要用于檢測分析樣品的進樣，光束吸收校驗裝置(7)主要通過標準液校正光束通過進樣裝置(6)后的衰減程度，信號檢測裝置(8)主要用于光束衰減后光電信號的轉(zhuǎn)換與分析，對光譜變化具有較好的靈敏度，線性關(guān)系好，噪聲水平低，信號分析記錄裝置(9)主要用于光電信號的保持與記錄。
[0008]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是:
[0009](I)對光譜變化具有較好的靈敏度，線性關(guān)系好，噪聲水平低；
[0010](2)能夠?qū)μ囟ü馐M行間歇式吸收和屏蔽，提供分析檢測精度；
[0011](3)對純轉(zhuǎn)動光譜、振動轉(zhuǎn)動光譜和電子光譜都具有較好的檢測效果和適應范圍。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀的示意圖
[0013]如圖1所示，本發(fā)明所述的轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀，主要包括:
[0014]I—光源裝置，2—第一光譜分離裝置，3—第二光譜分離裝置，
[0015]4—光束折光裝置，5—光束波長校正裝置，6—進樣裝置，
[0016]7—光束吸收校驗裝置，8—信號檢測裝置，9一信號分析記錄裝置；
[0017]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步詳細的描述。

【具體實施方式】
[0018]通過光源裝置(I)產(chǎn)生符合檢測分析要求的光束，光束分別進入到第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)，通過上述兩個光譜分離裝置能夠得到特定光譜波長的兩束光，這兩束光在光束折光裝置(4)中匯集，通過光束折光裝置(4)中的旋轉(zhuǎn)六面棱鏡，第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)產(chǎn)生的特定光束進行間歇式吸收和屏蔽，通過光束波長校正裝置(5)對上述光束的光譜波長予以校正，減小誤差，通過進樣裝置(6)實現(xiàn)分析樣品的進樣，通過光束吸收校驗裝置(7)對吸收后的衰減光束進行校正，衰減光束通過信號檢測裝置(8)進行光電信號的轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)化后的光電信號進入到信號分析記錄裝置(9)予以保存和記錄。
【權(quán)利要求】
1.轉(zhuǎn)動光譜校正分析儀，包括:光源裝置(I)，第一光譜分離裝置(2)，第二光譜分離裝置(3)，光束折光裝置(4)，光束波長校正裝置(5)，光束吸收校驗裝置(7)，信號檢測裝置(8)，其中，通過光源裝置(I)產(chǎn)生符合檢測分析要求的光束，光束分別進入到第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)，通過上述兩個光譜分離裝置能夠得到特定光譜波長的兩束光，這兩束光在光束折光裝置(4)中匯集，通過光束折光裝置(4)中的旋轉(zhuǎn)六面棱鏡，第一光譜分離裝置(2)和第二光譜分離裝置(3)產(chǎn)生的特定光束進行間歇式吸收和屏蔽，通過光束波長校正裝置(5)對上述光束的光譜波長予以校正，減小誤差；通過光束吸收校驗裝置(7)對吸收后的衰減光束進行校正，衰減光束通過信號檢測裝置(8)進行光電信號的轉(zhuǎn)換； 其特征在于，所述的光源裝置(I)采用氫鎳燈和石英低壓汞燈串聯(lián)組合，所述的第一光譜分離裝置(2)含有凹面反射鏡與棱鏡，兩者交替排列組合，所述的第二光譜分離裝置(3)含有透鏡與光柵，透鏡在前，光柵在后，所述的光束折光裝置(4)含有旋轉(zhuǎn)六面棱鏡，所述的光束波長校正裝置(5)含有鑰玻璃透鏡和銪玻璃透鏡，兩者交替串聯(lián)排列，所述的光束吸收校驗裝置(7)含有吸收池，所述的信號檢測裝置(8)中含有光電轉(zhuǎn)化器。
【文檔編號】G01N21/31GK204086130SQ201420278737
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年5月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月28日
【發(fā)明者】儲冬紅, 彭飛, 郭睦庚, 其他發(fā)明人請求不公開姓名 申請人:衢州普林千葉電子科技有限公司