遠紅外光譜掃描儀的制作方法
【專利摘要】遠紅外光譜掃描儀，包括：光源裝置，光分離裝置，一次反射裝置，四次反射裝置，其特征在于，光源裝置的外罩為鉿鈩合金制成，光源裝置中含有十色玻璃濾光盤，該濾光盤表面覆蓋有厚度為20微米的偏溴酸五鈮復合濾光膜，光源裝置中含有近紫外濾光器和遠紅外濾光器，其中，近紫外濾光器含有六硝酸銠鋨納米復合濾光膜；光源裝置含有高能發(fā)光電極，電極材料為氧化镅锫合金，光分離裝置中含有八面棱鏡和雙斜晶體光柵，兩者交替串聯(lián)排列，一次反射裝置含有拋物面鏡，雙曲面鏡，橢球面鏡；其中，三者的排列方式為，拋物面鏡位于光束主軸傳播方向的兩端，雙曲面鏡位于中間部分的前端，橢球面鏡位于中間部分的后端。
【專利說明】遠紅外光譜掃描儀

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及波段光譜領域，尤其涉及遠紅外光譜掃描儀。

【背景技術】
[0002]波段光譜能夠提供分子結構的重要信息，根據光譜掃描結果能夠有效確定分子的鍵長和分子鍵的強度，便于分析分子內部結構。分子的內部運動狀態(tài)發(fā)生變化所產生的吸收或發(fā)射光譜，包括整個分子的轉動，分子中原子在平衡位置的振動以及分子內電子的運動，因此，分子光譜一般有三種類型:轉動光譜、振動光譜和電子光譜。分子中的電子在不同能級上的躍遷產生電子光譜。電子躍遷常伴隨能量較小的振轉躍遷，與同一電子能態(tài)的不同振動能級躍遷對應的是振動光譜，這部分光譜處在紅外區(qū)。振動伴隨著轉動能級的躍遷，這部分光譜也有較多較密的譜線，純粹由分子轉動能級間的躍遷產生的光譜一般位于波長較長的遠紅外區(qū)和微波區(qū)，但是，現(xiàn)階段對于全波段的光譜分析技術還有待提高，因此，有必要提出一種新的遠紅外光譜掃描儀。


【發(fā)明內容】

[0003]為了克服現(xiàn)有裝置的不足之處，本發(fā)明采用的技術方案如下:
[0004]遠紅外光譜掃描儀，包括:光源裝置(1)，光分離裝置(2)，一次反射裝置(3)，四次反射裝置(9)，其特征在于，光源裝置(1)的外罩為鉿妒合金制成，光源裝置(1)中含有十色玻璃濾光盤，該濾光盤表面覆蓋有厚度為20微米的偏溴酸五鈮復合濾光膜，光源裝置(1)中含有近紫外濾光器和遠紅外濾光器，其中，近紫外濾光器含有六硝酸銠鋨納米復合濾光膜；光源裝置(1)含有高能發(fā)光電極，電極材料為氧化镅锫合金，光分離裝置(2)中含有八面棱鏡和雙斜晶體光柵，兩者交替串聯(lián)排列，一次反射裝置(3)含有拋物面鏡，雙曲面鏡，橢球面鏡；其中，三者的排列方式為，拋物面鏡位于光束主軸傳播方向的兩端，雙曲面鏡位于中間部分的前端，橢球面鏡位于中間部分的后端，四次反射裝置(9)含有錐面反射鏡和柱面反射鏡，兩種反射鏡都鍍有七鉻酸釓釔納米復合反射膜。
[0005]光源裝置(1)主要用于提供符合分析要求的光線強度和類別，光分離裝置(2)主要用于將光源裝置發(fā)出的光分離成所需要的單色光，光分離裝置(2)由入射狹縫、準直鏡、色散元件、物鏡和出射狹縫構成。其中色散元件是關鍵部件，作用是將復合光分解成單色光。入射狹縫用于限制雜散光進入單色器，準直鏡將入射光束變?yōu)槠叫泄馐筮M入色散元件。物鏡將出自色散元件的平行光聚焦于出口狹縫。出射狹縫用于限制通帶寬度。
[0006]標準裝置(4)主要用于消除光源強度變化引起的分析誤差，反射裝置主要用于使平行光軸會聚于拋物面的焦點，以簡化結構和改進光線成像質量，調光控制裝置(6)主要用于調節(jié)反射裝置的方向和角度，保證光線匯集方向的精確程度，進樣裝置(8)主要用于分析樣品的加入，信號放大裝置(10)主要用于維持光電流的穩(wěn)定傳輸，信號校正裝置(11)主要用于消除檢測器靈敏度變化引起的誤差，信號分析裝置(12)和信號記錄裝置(13)主要用于檢測信號的顯示與記錄。
[0007]本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比具有的有益效果是:
[0008](1)簡化了分析儀器的結構，具有較高的光線成像質量；
[0009](2)光電流傳輸狀態(tài)更加穩(wěn)定，有效限制了雜散光對分析結果的干擾；
[0010](3)消除了檢測器靈敏度變化引起的誤差；
[0011](4)光線匯集方向精確度得到有效提聞。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是遠紅外光譜掃描儀的示意圖
[0013]如圖1所示，本發(fā)明所述的遠紅外光譜掃描儀，主要包括:
[0014]1-光源裝置，2-光分離裝置，3- 一次反射裝置，4一標準裝置，
[0015]5- 二次反射裝置，6—調光控制裝置，7—三次反射裝置，
[0016]8—進樣裝置，9一四次反射裝置，10-信號放大裝置，
[0017]11—信號校正裝置，12—信號分析裝置，13—信號記錄裝置；
[0018]下面結合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步詳細的描述。

【具體實施方式】
[0019]通過光源裝置(1)產生合適的光線，結合光分離裝置(2)對光線進行分離，得到的光束通過一次反射裝置(3)分為兩束光，其中一束光進入到標準裝置(4)用于消除光源強度變化引起的分析誤差，然后通過二次反射裝置(5)改變光束方向，另一束光進入到三次反射裝置(7)改變傳播方向后進入到進樣裝置(8)，然后兩束光線在四次反射裝置(9)中匯集聚集，形成具有光線強度梯度的光電信號，上述反射裝置通過調光控制裝置￠)實現(xiàn)調控。光電信號通過信號放大裝置(10)放大后，輸入到信號校正裝置(11)用于消除檢測器靈敏度變化引起的誤差，最后通過信號分析裝置(12)和信號記錄裝置(13)，實現(xiàn)全波段光譜掃描分析結果的記錄。
【權利要求】
1.遠紅外光譜掃描儀，包括:光源裝置(I)，光分離裝置(2)，一次反射裝置(3)，四次反射裝置(9)，其特征在于，光源裝置(I)的外罩為鉿妒合金制成，光源裝置(I)中含有十色玻璃濾光盤，該濾光盤表面覆蓋有厚度為20微米的偏溴酸五鈮復合濾光膜，光源裝置(I)中含有近紫外濾光器和遠紅外濾光器，其中，近紫外濾光器含有六硝酸銠鋨納米復合濾光膜；光源裝置(I)含有高能發(fā)光電極，電極材料為氧化镅锫合金，光分離裝置(2)中含有八面棱鏡和雙斜晶體光柵，兩者交替串聯(lián)排列，一次反射裝置(3)含有拋物面鏡，雙曲面鏡，橢球面鏡；其中，三者的排列方式為，拋物面鏡位于光束主軸傳播方向的兩端，雙曲面鏡位于中間部分的前端，橢球面鏡位于中間部分的后端，四次反射裝置(9)含有錐面反射鏡和柱面反射鏡，兩種反射鏡都鍍有七鉻酸釓釔納米復合反射膜。
【文檔編號】G01N21/01GK204064886SQ201420276947
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年5月28日 優(yōu)先權日:2014年5月28日
【發(fā)明者】儲冬紅, 彭飛, 郭睦庚, 其他發(fā)明人請求不公開姓名 申請人:衢州普林千葉電子科技有限公司