一種電容測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種電容測試裝置，包括電容測試儀，其兩端連接測試板，測試板上設(shè)有插撥式夾子，待測電容插置到所述的插撥式夾子內(nèi)定位，所述的測試板內(nèi)設(shè)有時序控制器連接驅(qū)動開關(guān)，驅(qū)動開關(guān)連接繼電器，繼電器連接待測電容，所述的電容測試儀通過相應(yīng)的繼電器與待測電容連接，該裝置將自動切換待測電容導(dǎo)通到電容測試儀，通過電容測試儀即可讀取電容測試參數(shù)，這樣測試方便快捷，可批量測試，效率提升，無需逐一人工固定電解。
【專利說明】一種電容測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種電容測試裝置，具體與一種可批量自動測試電容參數(shù)，提升電容測試效率的電容測試裝置有關(guān)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有電容測試，采用電容測試儀測試電容參數(shù)，但現(xiàn)有的測試方法需要將電容測試儀兩個測試端子人工夾住電容兩端，再讀取測試參數(shù)，這樣每測試一個電容均需要人工固定電容，測試效率低。
實用新型內(nèi)容
[0003]為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題，本實用新型提供了一種可批量自動測試電容參數(shù)，提升電容測試效率的電容測試裝置。
[0004]本實用新型解決上述技術(shù)問題，所采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種電容測試裝置，包括電容測試儀，其兩端連接測試板，測試板上設(shè)有插撥式夾子，待測電容插置到所述的插撥式夾子內(nèi)定位，所述的測試板內(nèi)設(shè)有時序控制器連接驅(qū)動開關(guān)，驅(qū)動開關(guān)連接繼電器，繼電器連接待測電容，所述的電容測試儀通過相應(yīng)的繼電器與待測電容連接。
[0006]進(jìn)一步，所述的驅(qū)動開關(guān)包括與時序控制器連接由其控制的一組譯碼器及與譯碼器連接并由其控制的一組MOS管，一組MOS管，與相應(yīng)的繼電器連接并控制其通斷。
[0007]采用上述技術(shù)方案，本實用新型采用時序控制器控制譯碼器數(shù)據(jù)輸出信號驅(qū)動MOS管開關(guān)，繼而控制繼電器導(dǎo)通，使該繼電器所控制待測電容連接至電容測試儀，即可讀取待測電容的測試參數(shù)。時序控制器輸出譯碼器所需要的數(shù)據(jù)輸入信號，譯碼器數(shù)據(jù)輸出不同端口按照設(shè)定時序處于有效電平，使不同譯碼器數(shù)據(jù)輸出端口所控制MOS管開通，繼而使MOS管所驅(qū)動的繼電器導(dǎo)通，不同繼電器KAn導(dǎo)通不同待測電容Cn，即可達(dá)到快速批量測試的目的。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]此處所說明的附圖用來提供對本實用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本實用新型的一部分，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構(gòu)成對本實用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0009]圖1是本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖；
[0010]圖2是本實用新型測試板示意圖；
[0011]圖3是本實用新型電路連接示意圖。
【具體實施方式】
[0012]為了使本實用新型所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚、明白，以下結(jié)合附圖和實施例，對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0013]如圖1-3所示，一種電容測試裝置，包括電容測試儀1，其兩端連接測試板2，測試板2上設(shè)有插撥式夾子3，待測電容4插置到所述的插撥式夾子3內(nèi)定位，所述的測試板2內(nèi)設(shè)有時序控制器5連接驅(qū)動開關(guān)6，驅(qū)動開關(guān)6連接繼電器7，繼電器7連接待測電容4，所述的電容測試儀I通過相應(yīng)的繼電器7與待測電容4連接。所述的驅(qū)動開關(guān)6包括與時序控制器5連接由其控制的一組譯碼器61及與譯碼器61連接并由其控制的一組MOS管62，一組MOS管62與相應(yīng)的繼電器7連接并控制其通斷。
[0014]工作時，將所需待測電容批量人工固定在插拔式夾子中，電容測試儀測試端子固定在本發(fā)明裝置測試端，啟動該裝置，采用時序控制器控制譯碼器數(shù)據(jù)輸出信號驅(qū)動MOS管開關(guān)，繼而控制繼電器導(dǎo)通，使該繼電器所控制待測電容連接至電容測試儀，即可讀取待測電容的測試參數(shù)。時序控制器輸出譯碼器所需要的數(shù)據(jù)輸入信號，譯碼器數(shù)據(jù)輸出不同端口按照設(shè)定時序處于有效電平，使不同譯碼器數(shù)據(jù)輸出端口所控制MOS管開通，繼而使MOS管所驅(qū)動的繼電器導(dǎo)通，不同繼電器KAn導(dǎo)通不同待測電容Cn，即可達(dá)到快速批量測試的目的。該裝置將自動切換待測電容導(dǎo)通到電容測試儀，通過電容測試儀即可讀取電容測試參數(shù)，這樣測試方便快捷，可批量測試，效率提升，無需逐一人工固定電解。
[0015]上述說明示出并描述了本實用新型的優(yōu)選實施例，如前所述，應(yīng)當(dāng)理解本實用新型并非局限于本文所披露的形式，不應(yīng)看作是對其他實施例的排除，而可用于各種其他組合、修改和環(huán)境，并能夠在本文所述實用新型構(gòu)想范圍內(nèi)，通過上述教導(dǎo)或相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)或知識進(jìn)行改動。而本領(lǐng)域人員所進(jìn)行的改動和變化不脫離本實用新型的精神和范圍，則都應(yīng)在本實用新型所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電容測試裝置，其特征在于:包括電容測試儀(1)，其兩端連接測試板(2)，測試板(2)上設(shè)有插撥式夾子(3)，待測電容(4)插置到所述的插撥式夾子(3)內(nèi)定位，所述的測試板(2)內(nèi)設(shè)有時序控制器(5)連接驅(qū)動開關(guān)(6)，驅(qū)動開關(guān)(6)連接繼電器(7)，繼電器(7 )連接待測電容(4)，所述的電容測試儀(I)通過相應(yīng)的繼電器(7 )與待測電容(4)連接。
2.如權(quán)利要求1或2所述的一種電容測試裝置，其特征在于:所述的驅(qū)動開關(guān)(6)包括與時序控制器(5)連接由其控制的一組譯碼器(61)及與譯碼器(61)連接并由其控制的一組MOS管(62)，一組MOS管(62)與相應(yīng)的繼電器(7)連接并控制其通斷。
【文檔編號】G01R31/01GK203798938SQ201420157759
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年4月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月2日
【發(fā)明者】鄭金龍 申請人:泉州市鯉城區(qū)強(qiáng)力巨彩光電科技有限公司