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電阻測(cè)量裝置制造方法

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電阻測(cè)量裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型涉及電阻測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】,具體而言,涉及電阻測(cè)量裝置。電阻測(cè)量裝置,包括:信號(hào)采集電路及單片機(jī);所述信號(hào)采集電路用于將檢測(cè)得到的電阻的參數(shù)轉(zhuǎn)換為電壓模擬信號(hào),并將所述電壓模擬信號(hào)輸入到所述單片機(jī);所述單片機(jī)測(cè)量所述電壓模擬信號(hào)的電壓值,并根據(jù)所述電壓值確定所述電阻的阻值。本實(shí)用新型實(shí)施例的電阻測(cè)量裝置可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量精度高、易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量,而且單片機(jī)構(gòu)成的應(yīng)用系統(tǒng)有較大的可靠性、系統(tǒng)擴(kuò)展、系統(tǒng)配置靈活,克服了現(xiàn)有技術(shù)中的電阻測(cè)量裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題,因此本實(shí)用新型實(shí)施例的電阻測(cè)量裝置更能滿(mǎn)足用戶(hù)電阻測(cè)量的實(shí)際需求。
【專(zhuān)利說(shuō)明】電阻測(cè)量裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電阻測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】,具體而言,涉及電阻測(cè)量裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]電阻測(cè)量設(shè)計(jì)目前有多種方案可以實(shí)現(xiàn),例如:使用可編程邏輯控制器(PLC)、振蕩電路與單片機(jī)結(jié)合或CPLD與EDA相結(jié)合等等來(lái)實(shí)現(xiàn)。
[0003]相關(guān)技術(shù)中提供了多種實(shí)現(xiàn)方案:
[0004]方案一:利用純模擬電路。
[0005]利用模擬電路,電阻可用比例運(yùn)算器法和積分運(yùn)算器法,電容可用恒流法和比較法,電感可用時(shí)間常數(shù)發(fā)和同步分離法等,雖然避免了編程的麻煩,但電路復(fù)雜,所用器件較多,靈活性差,測(cè)量精度低,現(xiàn)在已較少使用。
[0006]方案二:CPLD、FPGA。
[0007]采取目前廣泛應(yīng)用的VHDL硬件電路描述語(yǔ)言,利用MAXPLUSII集成開(kāi)發(fā)環(huán)境進(jìn)行綜合、仿真,并下載到CPLD或FPGA可編程邏輯器件中,完成系統(tǒng)的控制作用,但相對(duì)而言規(guī)模大,結(jié)構(gòu)復(fù)雜,掌握困難。
[0008]方案三:采用CPLD或FPGA實(shí)現(xiàn)
[0009]此方案則采用廣泛應(yīng)用的VHDL硬件電路描述語(yǔ)言,實(shí)現(xiàn)電阻,電容,電感測(cè)試儀的設(shè)計(jì),利用MAXPLUSII集成開(kāi)發(fā)環(huán)境進(jìn)行綜合、仿真,并下載到CPLD或FPGA可編程邏輯器件中,完成系統(tǒng)的控制作用。但相對(duì)而言設(shè)計(jì)規(guī)模大,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜。
[0010]由此得出,現(xiàn)有技術(shù)中的電阻測(cè)量裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,不能滿(mǎn)足用戶(hù)電阻測(cè)量的實(shí)際需求。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0011]為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型提出了電阻測(cè)量裝置。
[0012]根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面,提供了電阻測(cè)量裝置,包括:信號(hào)采集電路及單片機(jī);所述信號(hào)采集電路用于將檢測(cè)得到的電阻的參數(shù)轉(zhuǎn)換為電壓模擬信號(hào),并將所述電壓模擬信號(hào)輸入到所述單片機(jī);所述單片機(jī)測(cè)量所述電壓模擬信號(hào)的電壓值,并根據(jù)所述電壓值確定所述電阻的阻值。
[0013]優(yōu)選地,所述電阻測(cè)量裝置還包括:液晶顯示器,用于接收所述單片機(jī)發(fā)送的所述電阻的阻值,并進(jìn)行顯示。
[0014]優(yōu)選地,所述的裝置還包括:擋位選擇電路;
[0015]所述擋位選擇電路與所述單片機(jī)連接,用于確定所述電阻的阻值時(shí)選擇測(cè)量擋位。
[0016]優(yōu)選地,所述單片機(jī)為型號(hào)是AT89S51的單片機(jī)。
[0017]優(yōu)選地,所述信號(hào)采集電路中包括型號(hào)為T(mén)LC2543的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片。
[0018]優(yōu)選地,型號(hào)為T(mén)LC2543的所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的CLOCK引腳、DI引腳、DO引腳及CS引腳,分別與所述單片機(jī)的Pl.0引腳、Pl.1引腳、Pl.2引腳及Pl.3引腳一一對(duì)應(yīng)連接。
[0019]優(yōu)選地,所述液晶顯示器為型號(hào)是1602IXD的液晶顯示器。
[0020]本實(shí)用新型實(shí)施例的電阻測(cè)量裝置基于伏安法與單片機(jī)的結(jié)合方式對(duì)電阻進(jìn)行測(cè)量。具體地,利用基于伏安法電阻測(cè)量方法,將電阻參數(shù)轉(zhuǎn)化為電壓模擬信號(hào),此模擬量由信號(hào)采集電路轉(zhuǎn)換為數(shù)字量。這樣由單片機(jī)處理數(shù)字量,可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量精度高、易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量,而且單片機(jī)構(gòu)成的應(yīng)用系統(tǒng)有較大的可靠性、系統(tǒng)擴(kuò)展、系統(tǒng)配置靈活,克服了現(xiàn)有技術(shù)中的電阻測(cè)量裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題,因此本實(shí)用新型實(shí)施例的電阻測(cè)量裝置更能滿(mǎn)足用戶(hù)電阻測(cè)量的實(shí)際需求。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0021]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0022]圖1示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中電阻測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0023]圖2示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中主控模塊的電路圖;
[0024]圖3示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中信號(hào)采集電路的電路圖;
[0025]圖4示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中擋位選擇電路的電路圖;
[0026]圖5示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中液晶顯示器的電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0028]相關(guān)技術(shù)中的電阻測(cè)量方法存在缺陷,本申請(qǐng)的電阻測(cè)量裝置基于伏安法與單片機(jī)的結(jié)合方式對(duì)電阻進(jìn)行測(cè)量。
[0029]具體地,利用基于伏安法電阻測(cè)量方法,將電阻參數(shù)轉(zhuǎn)化為電壓模擬信號(hào),此模擬量可以由高精度AD轉(zhuǎn)換芯片轉(zhuǎn)換為數(shù)字量。這樣由單片機(jī)處理數(shù)字量,可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量精度高、易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量,而且單片機(jī)構(gòu)成的應(yīng)用系統(tǒng)有較大的可靠性、系統(tǒng)擴(kuò)展、系統(tǒng)配置靈活,容易構(gòu)成各種規(guī)模的系統(tǒng)。
[0030]本實(shí)施例中提供了一種電阻測(cè)量裝置,提供了電阻測(cè)量裝置,如圖1所示,包括:信號(hào)采集電路11及單片機(jī)12 ;信號(hào)采集電路11用于將檢測(cè)得到的電阻的參數(shù)轉(zhuǎn)換為電壓模擬信號(hào),并將電壓模擬信號(hào)輸入到單片機(jī)12 ;單片機(jī)12測(cè)量電壓模擬信號(hào)的電壓值,并根據(jù)電壓值確定電阻的阻值。
[0031]為便于用戶(hù)查看電阻值測(cè)量的結(jié)果,在電阻測(cè)量裝置中還包括:液晶顯示器,用于接收單片機(jī)12發(fā)送的電阻的阻值,并進(jìn)行顯示。
[0032]優(yōu)選地,在電阻測(cè)量裝置中還包括:擋位選擇電路;擋位選擇電路與單片機(jī)12連接,用于確定電阻的阻值時(shí)選擇測(cè)量擋位,測(cè)量電阻阻值時(shí),通過(guò)合理選擇測(cè)量的擋位,有利于電阻測(cè)量值更加精確。
[0033]本實(shí)用新型實(shí)施例中所采用的單片機(jī)可以有多種型號(hào)選擇,為便于裝置組成的輕便性,系統(tǒng)的可靠性,數(shù)據(jù)處理的有效性,優(yōu)選地電阻測(cè)量裝置中的單片機(jī)為型號(hào)是AT89S51的單片機(jī)。
[0034]在本實(shí)用新型的電阻測(cè)量裝置中,信號(hào)采集電路的一個(gè)重要作用是將模擬電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),因此在信號(hào)采集電路中包括模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片,考慮模數(shù)轉(zhuǎn)換的精確有效性,優(yōu)選地信號(hào)采集電路中包括型號(hào)為T(mén)LC2543的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片。
[0035]具體地,型號(hào)為T(mén)LC2543的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的CLOCK引腳、DI引腳、DO引腳及CS引腳,分別與單片機(jī)的Pl.0引腳、Pl.1引腳、Pl.2引腳及Pl.3引腳一一對(duì)應(yīng)連接。
[0036]本實(shí)用新型實(shí)施例中,液晶顯示器為型號(hào)是1602IXD的液晶顯示器。
[0037]下面結(jié)合實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明。
[0038]本實(shí)施例提供了一種電阻檢測(cè)裝置,包括:主控模塊、測(cè)量模塊、擋位選擇模塊、液晶顯示,本實(shí)施例中選擇AT89S51單片機(jī)為控制核心,由電源、擋位切換電路、信號(hào)采集及轉(zhuǎn)換電路、顯示電路和按鍵電路等部分組成,下面對(duì)該裝置進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0039]在本實(shí)施例中的主控模塊,如圖2所示,可以選用AT89S51。
[0040]需要說(shuō)明的是,AT89S51是一種低功耗、高性能CM0S8位微控制器,具有8K在系統(tǒng)可編程Flash存儲(chǔ)器。使用Atmel公司高密度非易失性存儲(chǔ)器技術(shù)制造,與工業(yè)80C52產(chǎn)品指令和引腳可以實(shí)現(xiàn)完全兼容。片上Flash允許程序存儲(chǔ)器在系統(tǒng)可編程。在單芯片上,擁有靈巧的8位CPU和在系統(tǒng)可編程Flash,使得AT89S51在眾多嵌入式控制應(yīng)用系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用。
[0041]本裝置采用AT89S51單片機(jī)作為中央處理器,其可以在測(cè)量過(guò)程中將采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后自動(dòng)切換量程,同時(shí)將相關(guān)數(shù)據(jù)送到液晶顯示單元?jiǎng)討B(tài)顯示。
[0042]需要說(shuō)明的是,本實(shí)施例中的主控模塊以AT89S51為例進(jìn)行說(shuō)明,在實(shí)際中,也可以采用嵌入式ARM中的44B0作為主控模塊。
[0043]本實(shí)施例中的測(cè)量模塊,如圖3所示,其信號(hào)采集電路可以選用TLC2543。
[0044]TLC2543是TI公司的12位串行模數(shù)轉(zhuǎn)換器,使用開(kāi)關(guān)電容逐次逼近技術(shù)完成A/D轉(zhuǎn)換過(guò)程。由于是串行輸入結(jié)構(gòu),能夠節(jié)省51系列單片機(jī)I/O資源;且價(jià)格適中,分辨率較高,因此本實(shí)施例采用了該A/D轉(zhuǎn)換芯片。
[0045]需要說(shuō)明的是,TLC2543具有4線制度串行接口,分別為片選(CS),串行時(shí)鐘輸入端(CLOCK),串行數(shù)據(jù)輸入端(DATA IN)和串行數(shù)據(jù)輸出端(DATA OUT)。
[0046]優(yōu)選地,本實(shí)施例中使用的51單片機(jī),沒(méi)有SPI接口,本實(shí)施例可以用軟件功能實(shí)現(xiàn)SPI接口。采用延時(shí)方式進(jìn)行采集,所以省去了 EOC電路的接法。電路中的電阻R3、R4組成分壓電路給芯片提供參考電壓。輸入信號(hào)從INO引腳接入。TLC2543的CL0CK、D1、D0、CS分別與單片機(jī)的Pl.0、Pl.1、Pl.2、Pl.3相連,并用軟件控制實(shí)現(xiàn)。
[0047]本實(shí)施例中的擋位選擇模塊可以采用程序控制法。
[0048]優(yōu)選地,本實(shí)施例中的擋位選擇電路是利用四路測(cè)試電路的通斷實(shí)現(xiàn)的。
[0049]如圖4所示,AD1-AD4接AD采樣模塊,通過(guò)程序?qū)崿F(xiàn)的Q1-Q4由單片機(jī)直接接通不同的電平信號(hào),四路通路中接入100 Ω、Ik Ω、IOOk Ω、IOM Ω的高精密電阻作為基準(zhǔn)電阻,當(dāng)待測(cè)電阻接入時(shí),程序中采用輪詢(xún)法給予電平信號(hào),Q1-Q4分別給“0111”電平,通路I導(dǎo)通,通路2、3、4截止,100Ω基準(zhǔn)電阻接入電路,此時(shí)ADl 口采集的信號(hào)為基準(zhǔn)電阻和待測(cè)電阻的電壓值之和,AD2-4 口采集的信號(hào)為待測(cè)電阻的電壓值,兩信號(hào)之差即為基準(zhǔn)電阻電壓,此時(shí)程序判斷,如果待測(cè)電阻上的電壓值低于ADl 口采集電壓值的一半,則滿(mǎn)足量程,程序利用分壓公式計(jì)算出待測(cè)電阻阻值并顯示,如果待測(cè)電阻上的電壓值不低于ADl 口采集電壓值的一半,即為超量程,自動(dòng)進(jìn)入下一循環(huán),在下一循環(huán)中,Q1-Q4分別給“1011”電平,通路1、3、4截止,通路2導(dǎo)通,IkQ基準(zhǔn)電阻接入電路,按照上述過(guò)程重新進(jìn)行判斷。
[0050]如圖5所示,本實(shí)施例中的液晶顯示器可以采用1602IXD液晶。1602液晶由單片機(jī)的PO 口送數(shù)據(jù),由于單片機(jī)的PO 口是一組8位漏極開(kāi)路型雙向I/O 口,PO 口做輸出口時(shí),內(nèi)部數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)鎖存器送到POO—P07上。由于上管始終截止,而當(dāng)下管也截止時(shí),POO—P07被架空,沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的高電平,所以PO 口作輸出口使用時(shí),可以外接上拉電阻。因此圖4中的JP3為上拉電阻。電路中Y1、Cl和C2是時(shí)鐘電路,另外,由C3和R2組成單片機(jī)的上電復(fù)位電路;S1、Rl和R2組成單片機(jī)的按鍵復(fù)位電路。
[0051]通過(guò)上述裝置檢測(cè)電阻的過(guò)程如下:單片機(jī)接收到數(shù)字信號(hào)后,首先判斷是否有待測(cè)電阻接入,如果判斷出沒(méi)有待測(cè)電阻接入時(shí)單片機(jī)處于等待狀態(tài)。若有待測(cè)電阻接入則用電阻分壓法判斷是否在1/2VCC范圍內(nèi),若在1/2VCC范圍內(nèi)則單片機(jī)將計(jì)算結(jié)果送入液晶進(jìn)行顯示,若不在1/2VCC范圍內(nèi),則切換到下一量程再次判斷直到滿(mǎn)足條件為止。
[0052]具體地,首先,測(cè)量程序,單片機(jī)控制測(cè)量程序不僅擔(dān)負(fù)著量程的識(shí)別與轉(zhuǎn)換,而且還負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)的修正和傳輸;因此主控制器的工作狀態(tài)直接決定著整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)能否正常工作,所以控制測(cè)量程序?qū)φ麄€(gè)測(cè)量來(lái)說(shuō)至關(guān)重要;
[0053]其次,按鍵處理程序,根據(jù)按鍵的狀態(tài)做相應(yīng)的功能設(shè)置; [0054]再次,電阻計(jì)算程序,單片機(jī)根據(jù)A/D轉(zhuǎn)換得到的電壓值計(jì)算出電阻值。
[0055]最后,液晶模塊顯示程序。
[0056]下面通過(guò)實(shí)際的測(cè)量結(jié)果來(lái)說(shuō)明,如表1所示,本測(cè)試所用到的儀器:穩(wěn)壓電源,高精度數(shù)字毫伏表,模擬示波器,數(shù)字示波器,高精度的數(shù)字萬(wàn)用表,指針式萬(wàn)用表,單片機(jī)綜合試驗(yàn)箱等。
[0057]表1測(cè)試結(jié)果(單位/V)
[0058]
【權(quán)利要求】
1.電阻測(cè)量裝置,其特征在于,包括:信號(hào)采集電路、液晶顯示器、擋位選擇電路及單片機(jī); 所述信號(hào)采集電路用于將檢測(cè)得到的電阻的參數(shù)轉(zhuǎn)換為電壓模擬信號(hào),并將所述電壓模擬信號(hào)輸入到所述單片機(jī); 所述單片機(jī)測(cè)量所述電壓模擬信號(hào)的電壓值,并根據(jù)所述電壓值確定所述電阻的阻值; 所述擋位選擇電路與所述單片機(jī)連接,用于確定所述電阻的阻值時(shí)選擇測(cè)量擋位; 所述液晶顯示器,用于接收所述單片機(jī)發(fā)送的所述電阻的阻值,并進(jìn)行顯示; 所述單片機(jī)為型號(hào)是AT89S51的單片機(jī),所述信號(hào)采集電路中包括型號(hào)為T(mén)LC2543的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片;型號(hào)為T(mén)LC2543的所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的CLOCK引腳、DI引腳、DO引腳及CS引腳,分別與所述單片機(jī)的Pl.0引腳、Pl.1引腳、Pl.2引腳及Pl.3引腳一一對(duì)應(yīng)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述液晶顯示器為型號(hào)是1602LCD的液晶顯示器。
【文檔編號(hào)】G01R27/14GK203772962SQ201420049217
【公開(kāi)日】2014年8月13日 申請(qǐng)日期:2014年1月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月24日
【發(fā)明者】程俊紅, 郝敏釵, 梁娜 申請(qǐng)人:程俊紅
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