一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，包括成像裝置和與其連接的圖像控制器，在成像裝置一側(cè)固定設(shè)置光源發(fā)生裝置，在成像裝置入光口豎直下方設(shè)置有三棱鏡，光源發(fā)生裝置射出的光線先經(jīng)被檢測板表面漫反射，再經(jīng)三棱鏡折射后進(jìn)入成像裝置，成像裝置將成出的像傳送給圖像控制器，圖像控制器將收到的像處理后得到高清的高反光板材表面檢測圖像。該檢測系統(tǒng)采用折射光路實現(xiàn)了同軸光路檢測的效果，折射成像采用漫反射光束，避免了鏡面反射光直接進(jìn)入成像裝置引起的高光反射現(xiàn)象，采用激光作為照明光源，避免了三棱鏡折射成像引起的色散現(xiàn)象，保障了成像的清晰程度，獲得高清的高反光板材表面檢測圖像。
【專利說明】一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及高反光板材表面檢測領(lǐng)域，具體為一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]高反光板材，如鋁板、不銹鋼板的表面視覺檢測，如缺陷、劃痕、縫隙等檢測在自動化領(lǐng)域中有大量的應(yīng)用，其主要的特點是表面反射系數(shù)高，在同軸光路的情況下高光反射對檢測產(chǎn)生了大量的干擾作用，影響了該類工件的視覺檢測的成像質(zhì)量，有必要研究一種能夠?qū)崿F(xiàn)同軸檢測效果并能夠避免高光反射影響的檢測系統(tǒng)。
實用新型內(nèi)容
[0003]針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本實用新型提供一種可以避開表面高光反射實現(xiàn)同軸光路檢測的基于折射成像的檢測系統(tǒng)。
[0004]本實用新型解決上述技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案:一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，包括成像裝置和與其連接的圖像控制器，在所述成像裝置一側(cè)固定設(shè)置光源發(fā)生裝置，在所述成像裝置入光口豎直下方設(shè)置有三棱鏡，所述光源發(fā)生裝置射出的光線先經(jīng)被檢測板表面漫反射，再經(jīng)三棱鏡折射后進(jìn)入所述成像裝置，成像裝置將成出的像傳送給所述圖像控制器，圖像控制器將收到的像處理后得到高清的高反光板材表面檢測圖像。
[0005]作為優(yōu)選，所述成像裝置為CXD相機或CMOS相機。
[0006]作為優(yōu)選，所述三棱鏡頂部面和成像裝置的光軸垂直。
[0007]作為優(yōu)選，所述三棱鏡的頂角為30度?35度。
[0008]作為優(yōu)選，所述三棱鏡的折射率為1.5。
[0009]作為優(yōu)選，所述光源為激光。
[0010]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點:采用折射光路實現(xiàn)了同軸光路檢測的效果；折射成像采用漫反射光束，避免了鏡面反射光直接進(jìn)入成像裝置引起的高光反射現(xiàn)象；采用激光作為照明光源，避免了三棱鏡折射成像引起的色散現(xiàn)象，保障了成像的清晰程度；三棱鏡頂部面和成像裝置的光軸垂直，且頂角為30度?35度，折射率為1.5，這樣可以使得檢測效果更好；該系統(tǒng)采用三棱鏡折射成像實現(xiàn)同軸光路的檢測效果，并避開表面的高光反射對檢測產(chǎn)生的干擾作用，獲得高清的高反光板材表面檢測圖像。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0012]為了使本實用新型實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示及實施例，進(jìn)一步闡述本實用新型。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0013]參考圖1，本實用新型實施例提供一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，包括成像裝置I和與其連接的圖像控制器4，所述成像裝置為CCD相機或CMOS相機，在所述成像裝置I 一側(cè)固定設(shè)置光源發(fā)生裝置2，所述光源為激光，在所述成像裝置I入光口豎直下方設(shè)置有三棱鏡3，三棱鏡3頂部面和成像裝置I的光軸垂直，三棱鏡3的頂角為30度?35度，三棱鏡3的折射率為1.5，所述光源發(fā)生裝置2射出的一束激光01照射到被檢測板5的表面檢測點51，發(fā)生漫反射激光02，激光02再經(jīng)三棱鏡3折射后形成折射激光03，激光03再射入所述成像裝置I成像，其成像為一個虛像，位置為被檢測板5的表面檢測點52，相對原表面檢測點51產(chǎn)生了 δ的偏移量，成像裝置I將成出的像傳送給所述圖像控制器4，圖像控制器4將收到的像處理后得到高清的高反光板材表面檢測圖像，采用折射光路所產(chǎn)生的效果和相機正對檢測點51的效果相同，實現(xiàn)了同軸光路的檢測效果，同時因檢測點52成像所用光束為檢測點51的漫反射光束進(jìn)行成像的結(jié)果，避免了鏡面反射光直接進(jìn)入成像裝置引起高光反射現(xiàn)象。
[0014]在本實用新型中，先將需要做缺陷、劃痕、縫隙等表面視覺檢測的鋁板、不銹鋼板等高反光板材放置在該檢測系統(tǒng)下，打開固定設(shè)置CCD相機或CMOS相機一側(cè)的光源發(fā)生裝置，光源發(fā)生裝置射出一束激光，照射到高反光板材表面相應(yīng)的檢測點上，并產(chǎn)生漫反射，漫反射激光再經(jīng)三棱鏡折射后再射入CCD相機或CMOS相機成像，其成像為一個虛像，位置為被檢測板的表面檢測點相對原表面檢測點產(chǎn)生了一定的偏移量，CCD相機或CMOS相機將成出的像傳送給所述圖像控制器，圖像控制器將收到的像處理后得到高清的高反光板材表面檢測圖像。該檢測系統(tǒng)采用折射光路實現(xiàn)了同軸光路檢測的效果，折射成像采用漫反射光束，避免了鏡面反射光直接進(jìn)入成像裝置引起的高光反射現(xiàn)象，采用激光作為照明光源，避免了三棱鏡折射成像引起的色散現(xiàn)象，保障了成像的清晰程度，該系統(tǒng)采用三棱鏡折射成像實現(xiàn)同軸光路的檢測效果，并避開表面的高光反射對檢測產(chǎn)生的干擾作用，獲得高清的高反光板材表面檢測圖像。
[0015]以上顯示和描述了本實用新型的基本原理和主要特征及本實用新型的優(yōu)點，本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本實用新型不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本實用新型的原理，在不脫離本實用新型精神和范圍的前提下，本實用新型還會有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本實用新型范圍內(nèi)，本實用新型要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
【權(quán)利要求】
1.一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，其特征在于:包括成像裝置和與其連接的圖像控制器，在所述成像裝置一側(cè)固定設(shè)置光源發(fā)生裝置，在所述成像裝置入光口豎直下方設(shè)置有三棱鏡，所述光源發(fā)生裝置射出的光線先經(jīng)被檢測板表面漫反射，再經(jīng)三棱鏡折射后進(jìn)入所述成像裝置，成像裝置將成出的像傳送給所述圖像控制器，圖像控制器將收到的像處理后得到高清的高反光板材表面檢測圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述成像裝置為CXD相機或CMOS相機。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述三棱鏡頂部面和成像裝置的光軸垂直。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述三棱鏡的頂角為30度?35度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述三棱鏡的折射率為1.5。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于折射成像的高反光表面同軸光路檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述光源為激光。
【文檔編號】G01N21/88GK203643359SQ201420024410
【公開日】2014年6月11日 申請日期:2014年1月15日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月15日
【發(fā)明者】趙治軍, 袁雷, 曹曉娜, 劉長鶴, 劉鴻鵬 申請人:唐山英萊科技有限公司