本發(fā)明涉及一種LED光源壽命檢測方法，特別是一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法。

背景技術(shù)：
LED由于具有體積小、耗電量低、堅固耐用、使用壽命長、安全低電壓、低熱量、環(huán)保等優(yōu)點，正在沖擊著傳統(tǒng)照明市場，各個國家也都實施了大量的優(yōu)惠政策進行大力的推廣。然而LED燈具的實際使用壽命，一直是業(yè)界所關(guān)注的重中之重，也是LED在實際推廣中的決定性所在；由于LED燈具種類繁多，加之壽命測試時間周期較長(測試時間至少為6000小時)，如果要對每個型號的LED燈具進行壽命的測試，其成本是相當高的。為此北美照明工程協(xié)會(IESNA)研究并發(fā)表了IESLM-80和IESTM-21兩份標準，LM-80指出了一種LED光源光通維持率的驗證方法(6000-10000小時)，而TM-21則是基于LM-80的測試數(shù)據(jù)對LED的更長期的壽命進行推算(3萬小時乃至更長時間)。決定LED光衰的決定因素是LED芯片的結(jié)溫，LM-80測試所用的三個Ts(外殼溫度，LED封裝光源接觸點上的溫度)溫度點(55℃、85℃、第三個由制造商選擇)，基本上可以涵蓋LED的實際使用情況，只要LED在實際燈具中的實測Ts值，便可推算燈具的使用的光通維持率。但由于LED被點亮后，溫度會急劇升高，從而造成表面和周圍空氣出現(xiàn)巨大溫差，在燈具測試過程中LED環(huán)境設(shè)定溫度需控制在(Ts-5)℃內(nèi)，而LED的殼溫變化控制在(Ts-2)℃，如何既能控制LED周圍空氣溫度，又能控制Ts成為該測試中的技術(shù)難點?，F(xiàn)有的測試溫度控制多采用如專利公告號CN102590763B和CN203299341U所述的方法，即在試驗箱內(nèi)安裝制冷器或散熱風扇，將LED點亮所產(chǎn)生的熱量隨空氣排出試驗箱，再完全由溫度控制系統(tǒng)提供熱能使試驗箱內(nèi)部溫度控制在測試所需范圍內(nèi)。由于老化測試時間長(通常在6000小時左右)，如果采取主動式散熱結(jié)構(gòu)，如制冷器或風扇散熱，一旦散熱結(jié)構(gòu)在測試過程中停止運轉(zhuǎn)，試驗箱內(nèi)溫度將由于LED點亮所產(chǎn)生的熱量無法排出，導致Ts急劇升高，燒壞LED光源使測試失?。挥钟捎谥鲃邮缴峤Y(jié)構(gòu)需不停轉(zhuǎn)散熱，而LED點亮所產(chǎn)生的熱量又未能被有效利用，傳統(tǒng)試驗箱每立方米的設(shè)備額度功率需15kw，整個測試過程成本與耗能巨大。

技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測過程更為穩(wěn)定，且環(huán)保節(jié)能的LED光源高溫長期光通維持率檢測裝置和方法。本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種LED光源高溫長期光通維持率檢測裝置，其結(jié)構(gòu)包括試驗箱、供電控制器、LED溫度測試儀、壽命測試儀和溫度控制系統(tǒng)；所述試驗箱內(nèi)設(shè)有測試位，測試位上安裝有散熱板，所述LED溫度測試儀與測試位連接，所述壽命測試儀通過供電控制器與試驗箱連接，所述溫度控制系統(tǒng)由設(shè)置在試驗箱內(nèi)的環(huán)境溫度檢測裝置和加熱裝置組成；檢測過程中，所述試驗箱呈密閉狀態(tài)。通過在檢測過程中設(shè)置密閉試驗箱，通過散熱板將LED光源測試時所產(chǎn)生的能量輻射至試驗箱內(nèi)從而控制Ts溫度，將主動式散熱結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變?yōu)楸粍邮缴峤Y(jié)構(gòu)，利用溫度控制系統(tǒng)實時控制試驗箱內(nèi)部溫度，排除了因現(xiàn)有主動散熱結(jié)構(gòu)停轉(zhuǎn)而造成測試失敗的可能性，提高了檢測裝置的可靠性；并且LED點亮所產(chǎn)生的熱量能夠被保留在試驗箱內(nèi)，溫度控制系統(tǒng)在利用LED光源正常工作的熱能基礎(chǔ)上進行加熱工作，除去了散熱系統(tǒng)的運作成本，本裝置運行所需功率僅需現(xiàn)有設(shè)備的1/10～1/3，有效減少測試成本與耗能。作為優(yōu)選，所述散熱板上設(shè)有均溫板。基于均溫板的高導熱系數(shù)能夠?qū)ED光源的熱量由點迅速擴散成面，可以有效控制Ts溫度，再由散熱板將熱量快速傳遞到空氣中，使環(huán)境溫度檢測裝置能夠及時反應(yīng)試驗箱內(nèi)部溫度，加熱裝置及時調(diào)整從而保證環(huán)境設(shè)定溫度與Ts控制在變化范圍內(nèi)，提高檢測可靠性。作為優(yōu)選，所述散熱板上設(shè)有對流孔或散熱片中的一種或兩種。對流孔或散熱片的設(shè)置能使LED光源的熱量更快速傳遞到空氣中，使環(huán)境溫度檢測裝置能夠及時反應(yīng)試驗箱內(nèi)部溫度，加熱裝置及時調(diào)整從而保證環(huán)境設(shè)定溫度與Ts控制在變化范圍內(nèi)，進一步提高檢測可靠性。作為優(yōu)選，所述測試位均勻分布在試驗箱內(nèi)。測試位的均勻分布能使LED光源輻射至試驗箱內(nèi)的熱量更為均勻，既可以使Ts更容易控制，由使試驗箱內(nèi)的溫度更為均勻加熱更易控制。作為優(yōu)選，所述加熱裝置均勻分布在試驗箱內(nèi)。在測試位均勻分布的前提下均勻分布加熱裝置使試驗箱內(nèi)的溫度加熱更易控制。作為優(yōu)選，所述壽命測試儀內(nèi)設(shè)有計時芯片。計時芯片的設(shè)置使壽命測試儀具有斷電保存功能，可以準確記錄LED光源的通斷時間，不會因為意外斷電導致測試準確性，提高了檢測可靠性。作為優(yōu)選，所述試驗箱采用絕熱材料制成，導熱系數(shù)小于或等于0.15W/(m·k)。當試驗箱導熱系數(shù)小于或等于0.15W/(m·k)時，試驗箱可保證整個測試過程中試驗箱處于恒溫狀態(tài)中，減少外圍環(huán)境為試驗箱內(nèi)測試溫度造成影響，也可減少加熱裝置所產(chǎn)生的能量消耗。作為優(yōu)選，所述試驗箱由固定部與抽拉部組成，所述抽拉部設(shè)置在固定部內(nèi)并通過導軌滑動連接。固定部與抽拉部的設(shè)置使試驗箱能夠適應(yīng)不同數(shù)量及大小的LED光源，當測試數(shù)量較少且LED光源較小時，通過靠近固定部與抽拉部以縮小檢測空間以減少檢測時的能量耗損；當測試數(shù)量較多或LED光源較大時，通過拉出抽拉部以擴大檢測空間以適應(yīng)不同種類的測試要求。作為優(yōu)選，所述固定部與抽拉部間設(shè)置有定位件。定位件的設(shè)置使測試過程中固定部與抽拉部的位置保持相對固定，使加熱過程更易控制，進而提高檢測可靠性。一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，包括以下步驟：S1)待測件安裝：將待測LED光源置入試驗箱內(nèi)安裝有散熱板的測試位，安裝后密閉試驗箱，開始測試；S2)環(huán)境溫度調(diào)整：當待測LED光源正常工作后，通過溫度控制系統(tǒng)中的環(huán)境溫度檢測裝置檢測試驗箱內(nèi)部溫度，當內(nèi)部溫度達到穩(wěn)定后，溫度控制系統(tǒng)中的加熱裝置開始工作，逐步加熱檢測試驗箱內(nèi)部溫度至環(huán)境設(shè)定溫度；S3)待測件老化：環(huán)境溫度調(diào)整后，在設(shè)定老化時間內(nèi)維持該環(huán)境設(shè)定溫度；S4)光通維持率測試：當設(shè)定老化時間到達后，從試驗箱中取出待測LED光源，進行光通維持率測試。檢測過程中，所述試驗箱呈密閉狀態(tài)。通過在檢測過程中設(shè)置密閉試驗箱，通過散熱板將LED光源測試時所產(chǎn)生的能量輻射至試驗箱內(nèi)從而控制Ts溫度，將主動式散熱結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變?yōu)楸粍邮缴峤Y(jié)構(gòu)，利用溫度控制系統(tǒng)實時控制試驗箱內(nèi)部溫度，排除了因現(xiàn)有主動散熱結(jié)構(gòu)停轉(zhuǎn)而造成測試失敗的可能性，提高了檢測過程的可靠性；并且LED點亮所產(chǎn)生的熱量能夠被保留在試驗箱內(nèi)，溫度控制系統(tǒng)在利用LED光源正常工作的熱能基礎(chǔ)上進行加熱工作，除去了散熱系統(tǒng)的運作成本，運行所需功率僅需現(xiàn)有方法的1/10～1/3，有效減少測試成本與耗能。作為優(yōu)選，所述步驟S1中，待測LED光源通過均溫板與散熱板連接。基于均溫板的高導熱系數(shù)能夠?qū)ED光源的熱量由點迅速擴散成面，可以有效控制Ts溫度，再由散熱板將熱量快速傳遞到空氣中，使環(huán)境溫度檢測裝置能夠及時反應(yīng)試驗箱內(nèi)部溫度，加熱裝置及時調(diào)整從而保證環(huán)境設(shè)定溫度與Ts控制在變化范圍內(nèi)，提高檢測可靠性。作為優(yōu)選，所述步驟S3中，通過LED溫度測試儀檢測待測LED光源外殼溫度，當待測LED光源外殼溫度低于外殼設(shè)定溫度時，標記該待測LED光源為異常，通過異常率控制待測件老化過程。LED溫度測試儀的設(shè)置，增加了測試過程中對待測LED光源的點亮監(jiān)測功能，能及時反應(yīng)LED光源的工作狀態(tài)，可以通過異常率控制測試進行；并可以排除步驟S4中非正常工作LED光源對測試的影響，提高光通維持率測試的準確性。作為優(yōu)選，當異常率大于等于30％時，退出檢測。當異常率大于等于30％時，測試環(huán)境不符測試要求的可能性增大，應(yīng)及時停止檢測進行環(huán)境測試檢查。作為優(yōu)選，所述步驟S2中逐步加熱檢測試驗箱內(nèi)部溫度至環(huán)境設(shè)定溫度，首先進行正向加熱，等額增加加熱裝置功率，直至試驗箱內(nèi)部溫度等于或超過環(huán)境設(shè)定溫度，若試驗箱內(nèi)部溫度等于環(huán)境設(shè)定溫度，停止增加功率；若試驗箱內(nèi)部溫度超過環(huán)境設(shè)定溫度，取最后功率作為上限端點，取初始功率與最后功率間任一功率作為下限端點，通過二分法調(diào)整功率，直到試驗箱內(nèi)部溫度等于環(huán)境設(shè)定溫度。首次輸入低功率后正向加熱，可防止因功率過高導致試驗箱溫度陡增燒壞待測件；因加熱裝置功率與試驗箱內(nèi)溫度呈類線形增加關(guān)系，等額增加加熱裝置功率使溫度調(diào)整過程更易控制；通過二分法調(diào)整既可精準確定加熱裝置輸入功率，又可快速進行試驗箱內(nèi)溫度調(diào)整。作為優(yōu)選，所述步驟S3中維持該環(huán)境設(shè)定溫度，當試驗箱內(nèi)部溫度低于環(huán)境設(shè)定溫度時，等額增加加熱裝置功率，直至試驗箱內(nèi)部溫度等于或超過環(huán)境設(shè)定溫度，若試驗箱內(nèi)部溫度等于環(huán)境設(shè)定溫度，停止增加功率；若試驗箱內(nèi)部溫度超過環(huán)境設(shè)定溫度，取最后功率作為上限端點，取初始功率與最后功率間任一功率作為下限端點，通過二分法調(diào)整功率，直到試驗箱內(nèi)部溫度等于環(huán)境設(shè)定溫度；當試驗箱內(nèi)部溫度高于環(huán)境設(shè)定溫度時，取最后功率作為上限端點，取初始功率與最后功率間任一功率作為下限端點，通過二分法調(diào)整功率，直到試驗箱內(nèi)部溫度等于環(huán)境設(shè)定溫度。通過二分法調(diào)整既可精準確定加熱裝置輸入功率，又可快速進行試驗箱內(nèi)溫度調(diào)整，使試驗箱內(nèi)溫度維持在變動范圍內(nèi)。作為優(yōu)選，二分法調(diào)整過程中，取最后功率的前一次功率作為下限端點。取最后功率的前一次功率作為下限端點可使調(diào)整過程更快速，并使試驗箱內(nèi)溫度浮動更小。作為優(yōu)選，所述待測LED光源在測試過程中，正常工作外殼溫度分別設(shè)定為55℃、85℃及105℃。105℃的選取滿足LED光源實際工作狀態(tài)，在保證LED光源正常工作的情況下加快老化測試進程。作為優(yōu)選，所述步驟S2中，加熱裝置的初始功率為1kw，等額增加功率為0.5kw。初始功率為1kw時，試驗箱內(nèi)溫度較為接近55℃，而85℃及105℃分布在3.5kw與5kw附近，等額增加功率為0.5kw可以使試驗箱內(nèi)溫度調(diào)整更為準確快速。本發(fā)明同現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點及效果：1、將主動式散熱結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變?yōu)楸粍邮缴峤Y(jié)構(gòu)，利用溫度控制系統(tǒng)實時控制試驗箱內(nèi)部溫度，排除了因現(xiàn)有主動散熱結(jié)構(gòu)停轉(zhuǎn)而造成測試失敗的可能性，提高了檢測裝置的可靠性；2、溫度控制系統(tǒng)在利用LED光源正常工作的熱能基礎(chǔ)上進行加熱工作，除去了散熱系統(tǒng)的運作成本，本裝置運行所需功率僅需現(xiàn)有設(shè)備方法的1/10～1/3，有效減少測試成本與耗能；3、優(yōu)化了溫度調(diào)整方法，使試驗箱內(nèi)部溫度更易控制，可快速進行試驗箱內(nèi)溫度調(diào)整，使試驗箱內(nèi)溫度維持在變動范圍內(nèi)，通過控制LED周圍空氣溫度控制Ts；4、對檢測過程進行實時監(jiān)測，可即時監(jiān)測待測LED光源發(fā)光狀態(tài)及電源通斷狀態(tài)，提高了光通維持率測試的準確性。附圖說明為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明的橫截面剖視圖。圖2為本發(fā)明未拉伸的縱截面剖視圖。圖3為本發(fā)明拉伸后的縱截面剖視圖。圖4為本發(fā)明測試位的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本發(fā)明散熱板的結(jié)構(gòu)示意圖。標號說明：待測LED光源0試驗箱1散熱板11對流孔111散熱片112均溫板12固定部13抽拉部14把手141導軌15凸塊151限位孔152控制鍵153供電控制器2LED溫度測試儀3壽命測試儀4溫度控制系統(tǒng)5加熱裝置51具體實施方式下面結(jié)合實施例對本發(fā)明做進一步的詳細說明，以下實施例是對本發(fā)明的解釋而本發(fā)明并不局限于以下實施例。實施例1：如圖1所示，本實施例由試驗箱1、供電控制器2、LED溫度測試儀3、壽命測試儀4和溫度控制系統(tǒng)5組成，試驗箱1由固定部13和抽拉部14組成，固定部13和抽拉部14內(nèi)均勻設(shè)有測試位，測試位上設(shè)置有散熱板11，固定部13和抽拉部14間通過導軌15滑動連接，導軌15上設(shè)置有凸塊151和限位孔152，凸塊151可隨抽拉部14一同在導軌15上滑動，并可卡緊在限位孔152內(nèi)從而對固定部13和抽拉部14進行定位，抽拉部14遠離固定部13的端面上設(shè)置有把手141，把手141上設(shè)置有控制鍵153，控制鍵153可控制凸塊151的凸起高度從而釋放凸塊151在限位孔152內(nèi)的卡緊。參考圖2與圖3，當抽拉部14從固定部13內(nèi)拉出后，測試用體積可擴展到拉伸前的2倍，測試位也增加了1倍，從而可以適應(yīng)不同種類的測試要求。參見圖1，供電控制器2控制試驗箱1的供電通斷并連接壽命測試儀4，壽命測試儀4內(nèi)具有計時芯片用以記錄試驗箱1內(nèi)的電源通斷時間；LED溫度測試儀3與測試位連接，LED溫度測試儀3用以檢測Ts溫度；溫度控制系統(tǒng)5由均勻設(shè)置在試驗箱1內(nèi)的環(huán)境溫度檢測裝置(圖中未標注)和加熱裝置51組成。檢測過程中，所述試驗箱1呈密閉狀態(tài)，因試驗箱1在測試過程處于恒溫狀態(tài)中，為減少熱量流失及外圍環(huán)境溫度的影響，試驗箱1由耐高溫、高絕熱巖棉不銹鋼彩鋼板制成，內(nèi)部表面涂有無光澤黑色漆，導熱系數(shù)為0.15W/(m·k)。如圖4和5所示，散熱板11上設(shè)置有均溫板12，待測LED光源0通過均溫板12連接在散熱板11上，均溫板12與散熱板11間由錫膏通過回流焊的方式焊接連接，均溫板12的導熱系數(shù)為5000w/(m·k)，從而保證待測LED光源0工作時產(chǎn)生的熱量可以迅速傳導到散熱板11上，而大功率LED光源測試所用散熱板11材料多為高導熱的擠型鋁材或銅，且面積要求在13000cm2，保證散熱板11上的熱量能快速傳遞到空氣中，散熱板11上還設(shè)置有對流孔111和散熱片112幫助散熱，從而保證由待測LED光源0、散熱板11和均溫板12所組成的系統(tǒng)置于試驗箱1，能達到待測LED光源0外殼溫度變化范圍盡量控制在(設(shè)定Ts-2)℃、試驗箱1內(nèi)部溫度控制在(設(shè)定Ts-5)℃內(nèi)。本實施例測試過程：S1)待測件安裝：將待測LED光源0置入試驗箱1內(nèi)安裝有散熱板11和均溫板12的測試位，安裝后密閉試驗箱1，開始測試，將主動式散熱結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變?yōu)樯岚?1和均溫板12被動式散熱結(jié)構(gòu)，排除了因現(xiàn)有主動散熱結(jié)構(gòu)停轉(zhuǎn)而造成測試失敗的可能性；S2)環(huán)境溫度調(diào)整：當待測LED光源0正常工作后，通過溫度控制系統(tǒng)5中的環(huán)境溫度檢測裝置檢測試驗箱1內(nèi)部溫度，當內(nèi)部溫度達到穩(wěn)定后，溫度控制系統(tǒng)5中的加熱裝置51開始工作，如測試所需Ts溫度為105℃，則環(huán)境設(shè)定溫度調(diào)整為100℃，加熱裝置51初始輸入功率為1kw，然后等額增加功率0.5kw，直至試驗箱1內(nèi)部溫度等于或超過100℃，若試驗箱1內(nèi)部溫度等于100℃，停止增加功率；若試驗箱1內(nèi)部溫度超過100℃，取最后功率作為上限端點一般為5kw，取最后功率的前一次功率作為下限端點即4.5kw，通過二分法尋找環(huán)境設(shè)定溫度所需功率，直到試驗箱1內(nèi)部溫度等于100℃；S3)待測件老化：環(huán)境溫度調(diào)整后，在6000小時內(nèi)維持試驗箱1內(nèi)部溫度等于100℃，當試驗箱1內(nèi)部溫度低于100℃時，通過步驟S2環(huán)境溫度調(diào)整相同方式調(diào)整試驗箱1內(nèi)部溫度；當試驗箱1內(nèi)部溫度高于100℃時，取最后功率作為上限端點一般為5kw，取最后功率的前一次功率作為下限端點即4.5kw，通過二分法尋找環(huán)境設(shè)定溫度所需功率，直到試驗箱1內(nèi)部溫度等于100℃，因整個老化過程測試時間長，而試驗箱1內(nèi)部溫度調(diào)整時間短，進而對整個老化測試和最終光通維持率測試影響可以忽略；同時在老化過程中，通過LED溫度測試儀3監(jiān)測待測LED光源0外殼溫度Ts，當所測得Ts低于(試驗箱1內(nèi)部溫度+3)℃時，標記該待測LED光源0為異常，當異常率大于等于30％時，退出檢測；S4)光通維持率測試：當6000小時到達后，從試驗箱中取出待測LED光源，排除標記為異常的待測LED光源0后，進行光通維持率測試。此外，需要說明的是，本說明書中所描述的具體實施例，其零、部件的形狀、所取名稱等可以不同。凡依本發(fā)明專利構(gòu)思所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效或簡單變化，均包括于本發(fā)明專利的保護范圍內(nèi)。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，只要不偏離本發(fā)明的結(jié)構(gòu)或者超越本權(quán)利要求書所定義的范圍，均應(yīng)屬于本發(fā)明的保護范圍。