基板的翹曲度的測量裝置及測量方法、觸摸屏及制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基板的翹曲度的測量裝置及測量方法、觸摸屏及制作方法，測量裝置包括至少一個激光器和與激光器一一對應(yīng)且固定連接的電荷耦合元件；在平行于基板的待測量表面的一個平面內(nèi)移動測量裝置，使激光器發(fā)射的激光入射到待測量表面上的多個測量點(diǎn)，在各測量點(diǎn)處發(fā)生反射后被電荷耦合元件接收；根據(jù)激光入射到電荷耦合元件的光入射面上的位置偏移預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離、激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角以及激光器與對應(yīng)的電荷耦合元件的位置關(guān)系，可以快速準(zhǔn)確地得到各測量點(diǎn)的翹曲度；在觸摸屏的制作過程中，采用測量裝置測量觸控面板和顯示面板的翹曲度，對兩面板的翹曲度進(jìn)行嚴(yán)格管控，僅將翹曲度較小的兩面板貼合，可以提高觸摸屏的良率。
【專利說明】基板的翹曲度的測量裝置及測量方法、觸摸屏及制作方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種基板的翹曲度的測量裝置及測量方法、 觸摸屏及制作方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 觸摸屏按照組成結(jié)構(gòu)可以分為：外掛式觸摸屏（Add on Mode Touch Panel)，覆蓋 表面式觸摸屏（On Cell Touch Panel),以及內(nèi)嵌式觸摸屏（In Cell Touch Panel)。其中， 外掛式觸摸屏是由觸控面板與顯示面板貼合而成的。
[0003] 目前，外掛式觸摸屏的制作過程具體包括如下步驟：首先，分別制作觸控面板與顯 示面板；然后，分別揭去觸控面板與顯示面板表面的離心膜；接著，對揭除離心膜后的觸控 面板與顯示面板分別進(jìn)行清洗工藝；之后，在觸控面板揭去離心膜的一面整面涂覆水膠，在 顯示面板揭去離心膜的一面的非顯示區(qū)域涂覆邊框膠；最后，將觸控面板涂覆有水膠的一 面與顯示面板涂覆有邊框膠的一面貼合，制得外掛式觸摸屏。
[0004] 在上述外掛式觸摸屏的制作過程中，將觸控面板與顯示面板進(jìn)行貼合工藝前，并 未對觸控面板與顯示面板進(jìn)行翹曲度的測量。在對翹曲度較大的觸控面板與翹曲度較大的 顯示面板進(jìn)行貼合工藝時(shí)，容易產(chǎn)生氣泡，并且，翹曲度較大的觸控面板與翹曲度較大的顯 示面板在貼合工藝后容易脫落，嚴(yán)重影響外掛式觸摸屏的良率。
[0005] 因此，如何提高外掛式觸摸屏的良率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的技術(shù)問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基板的翹曲度的測量裝置及測量方法、觸摸 屏及制作方法，用以提高外掛式觸摸屏的良率。
[0007] 因此，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基板的翹曲度的測量裝置，包括：至少一個激光器 和與所述激光器 對應(yīng)且固定連接的電荷稱合兀件；
[0008] 所述激光器，用于以預(yù)設(shè)入射角向所述基板的待測量表面發(fā)射激光；
[0009] 所述電荷耦合元件，用于接收由對應(yīng)的激光器發(fā)射且在所述基板的待測量表面發(fā) 生反射的激光。
[0010] 本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種基板的翹曲度的測量方法，利用本發(fā)明實(shí)施例提供的 上述測量裝置測量基板的翹曲度，包括：
[0011] 在平行于所述基板的待測量表面的一個平面內(nèi)，移動所述測量裝置，使所述激光 器發(fā)射的激光入射到所述基板的待測量表面上的多個測量點(diǎn)，在各所述測量點(diǎn)處發(fā)生反射 后被所述激光器對應(yīng)的電荷耦合元件接收；
[0012] 根據(jù)入射到所述電荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上 的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離，所述激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角，以及所述激光器與對應(yīng)的電 荷耦合元件的位置關(guān)系，計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度。
[0013] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述測量方法中，所述移動所 述測量裝置，具體包括：
[0014] 沿所述基板上相互平行的至少三條直線移動所述測量裝置。
[0015] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述測量方法中，所述根據(jù)入 射到所述電荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的 距離，所述激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角，以及所述激光器與對應(yīng)的電荷耦合元件的位 置關(guān)系，計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度，具體包括：
[0016] 在所述激光器發(fā)射的激光的傳播方向與對應(yīng)的電荷耦合元件的光入射面相互平 行時(shí)，通過下述公式計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度：
[0017] H = L cos Θ ；
[0018] 其中，H表不各測量點(diǎn)的翅曲度；L表不入射到電荷f禹合兀件的光入射面上的激光 的位置偏移光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離；Θ表示激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角。
[0019] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述測量方法中，所述根據(jù)入 射到所述電荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的 距離，所述激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角，以及所述激光器與對應(yīng)的電荷耦合元件的位 置關(guān)系，計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度，具體包括：
[0020] 在所述激光器發(fā)射的激光的傳播方向與對應(yīng)的電荷耦合元件的光入射面之間的 夾角大于零時(shí)，通過下述公式計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度：

【權(quán)利要求】
1. 一種基板的翹曲度的測量裝置，其特征在于，包括：至少一個激光器和與所述激光 器 對應(yīng)且固定連接的電荷稱合兀件； 所述激光器，用于以預(yù)設(shè)入射角向所述基板的待測量表面發(fā)射激光； 所述電荷耦合元件，用于接收由對應(yīng)的激光器發(fā)射且在所述基板的待測量表面發(fā)生反 射的激光。
2. -種基板的翹曲度的測量方法，利用如權(quán)利要求1所述的測量裝置測量基板的翹曲 度，其特征在于，包括 ： 在平行于所述基板的待測量表面的一個平面內(nèi)，移動所述測量裝置，使所述激光器發(fā) 射的激光入射到所述基板的待測量表面上的多個測量點(diǎn)，在各所述測量點(diǎn)處發(fā)生反射后被 所述激光器對應(yīng)的電荷耦合元件接收； 根據(jù)入射到所述電荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的預(yù) 設(shè)參考點(diǎn)的距離，所述激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角，以及所述激光器與對應(yīng)的電荷耦 合元件的位置關(guān)系，計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度。
3. 如權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述移動所述測量裝置，具體包括： 沿所述基板上相互平行的至少三條直線移動所述測量裝置。
4. 如權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述根據(jù)入射到所述電荷耦合元件的 光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離，所述激光器發(fā)射的激 光的預(yù)設(shè)入射角，以及所述激光器與對應(yīng)的電荷耦合元件的位置關(guān)系，計(jì)算所述基板的待 測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度，具體包括： 在所述激光器發(fā)射的激光的傳播方向與對應(yīng)的電荷耦合元件的光入射面相互平行時(shí)， 通過下述公式計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度： H = Lcos 0 ； 其中，H表示各測量點(diǎn)的翹曲度；L表示入射到電荷耦合元件的光入射面上的激光的位 置偏移光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離；9表示激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角。
5. 如權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述根據(jù)入射到所述電荷耦合元件的 光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離，所述激光器發(fā)射的激 光的預(yù)設(shè)入射角，以及所述激光器與對應(yīng)的電荷耦合元件的位置關(guān)系，計(jì)算所述基板的待 測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度，具體包括： 在所述激光器發(fā)射的激光的傳播方向與對應(yīng)的電荷耦合元件的光入射面之間的夾角 大于零時(shí)，通過下述公式計(jì)算所述基板的待測量表面上的各所述測量點(diǎn)的翹曲度：
其中，H表示各測量點(diǎn)的翹曲度；L表示入射到電荷耦合元件的光入射面上的激光的位 置偏移光入射面上的預(yù)設(shè)參考點(diǎn)的距離；9表示激光器發(fā)射的激光的預(yù)設(shè)入射角，a表示 激光器發(fā)射的激光的傳播方向與電荷耦合元件的光入射面之間的夾角。
6. -種觸摸屏的制作方法，其特征在于，包括： 分別制作觸控面板與顯示面板； 分別揭去所述觸控面板與所述顯示面板的表面的離心膜； 對揭除所述離心膜后的所述觸控面板與所述顯示面板分別進(jìn)行清洗工藝； 采用如權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的測量方法分別對清洗后的觸控面板與顯示面板進(jìn) 行翹曲度的測量； 在確定所述觸控面板的翹曲度小于第一預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，所述顯示面板的翹曲度小于第二 預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，且所述觸控面板與所述顯示面板的匹配翹曲度小于第三預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，在所 述觸控面板的一面整面涂覆水膠，在所述顯示面板的非顯示區(qū)域涂覆邊框膠； 對涂覆有水膠的觸控面板與涂覆有邊框膠的顯示面板進(jìn)行貼合工藝，制得觸摸屏。
7. 如權(quán)利要求6所述的制作方法，其特征在于，在確定所述觸控面板的翹曲度小于第 一預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，所述顯示面板的翹曲度小于第二預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，且所述觸控面板與所述顯示 面板的匹配翹曲度小于第三預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，在所述觸控面板的一面整面涂覆水膠，在所述 顯示面板的非顯示區(qū)域涂覆邊框膠，具體包括： 判斷是否所述觸控面板的翹曲度小于第一預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，且所述顯示面板的翹曲度小于 第二預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值；若是，則判斷所述觸控面板的翹曲方向與所述顯示面板的翹曲方向是否 相反；若是，則判斷所述觸控面板與所述顯示面板的匹配翹曲度是否小于第三預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值； 若是，則在所述觸控面板的一面整面涂覆水膠，在所述顯示面板的非顯示區(qū)域涂覆邊框膠。
8. 如權(quán)利要求7所述的制作方法，其特征在于，在對清洗后的觸控面板和顯示面板進(jìn) 行翹曲度的測量之后，在對涂覆有水膠的觸控面板與涂覆有邊框膠的顯示面板進(jìn)行貼合工 藝之前，還包括： 在確定所述觸控面板的翹曲度大于或等于第一預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，和/或所述顯示面板的翹 曲度大于或等于第二預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，或所述觸控面板與所述顯示面板的匹配翹曲度大于或等 于第三預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，判斷上述情況是否連續(xù)發(fā)生； 若是，則控制所述測量裝置停止運(yùn)行，并檢查所述測量裝置是否存在故障，在確定所述 測量裝置存在故障時(shí)，對所述測量裝置進(jìn)行維修； 若否，則人工測量所述觸控面板與所述顯示面板的翹曲度，在確定所述觸控面板的翹 曲度小于第一預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，所述顯示面板的翹曲度小于第二預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，且所述觸控面板 與所述顯示面板的匹配翹曲度小于第三預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，在所述觸控面板的一面整面涂覆水 膠，在所述顯示面板的非顯示區(qū)域涂覆邊框膠。
9. 如權(quán)利要求8所述的制作方法，其特征在于，所述人工測量所述觸控面板與所述顯 示面板的翹曲度，具體包括： 采用厚薄規(guī)對所述觸控面板與所述顯示面板的翹曲度進(jìn)行測量。
10. -種觸摸屏，其特征在于，所述觸摸屏采用如權(quán)利要求6-9任一項(xiàng)所述的制作方法 制得。
【文檔編號】G01B11/16GK104315991SQ201410610294
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年10月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月31日
【發(fā)明者】劉大鵬, 程威, 王剛, 高坤飛 申請人:合肥鑫晟光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司