帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及的是帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置，包括電路檢測裝置和檢定信號模擬裝置，電路檢測裝置有檢測控制接口與其電控開關的控制端相接，電路檢測裝置的電控開關的公共端、常開端與信號檢測裝置、檢測電路管座對應或交叉相接，檢定信號模擬裝置有檢定控制接口與其電控開關的控制端相接，檢定信號模擬裝置的電控開關的公共端、常開端與信號源、檢定信號接口對應或交叉相接，當檢測控制接口與檢定控制接口相接，檢定信號接口與檢測電路管座相接時，通過調整信號源到指標臨界值并進行測量，則能實現對電路檢測裝置的硬、軟件的檢定。
【專利說明】帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及電路信號檢測計量裝置，具體的說是帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置。

【背景技術】
[0002]要對集成電路進行檢測，往往要進行專門的自動、半自動檢測裝置的設計，檢測裝置必須經過確認才能投入使用，傳統(tǒng)的確認方式是進行硬件、軟件設計文件和文實一致性的審查，這是一件十分繁瑣的工作，如果有這樣四塊虛擬電路，其參數值處于指標范圍上、下界合格與否的四個臨界點上，即如果這四塊電路的參數加上或減去誤差允許值后就會由合格變?yōu)椴缓细?，或由不合格變?yōu)楹细?，任何測量裝置測了這四塊電路，其判斷結果就代表了該測量裝置的合格與否，如何才能模擬這四塊電路，目前沒有較好的方案。


【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明針對電路自動、半自動檢測裝置鑒定復雜困難的現狀實現模擬參數處于四個臨界值的電路的目的提供了一種帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置。
[0004]本發(fā)明的技術方案是:帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置，包括有由信號檢測裝置、檢測電控開關、檢測電路管座組成的電路檢測裝置，信號源，檢定信號接口，其特征在于:具有信號源、檢定信號接口、檢定控制接口、檢定電控開關組成的檢定信號模擬裝置與還包括有檢測控制接口的電路檢測裝置為兩個獨立的部分，檢測控制接口與檢定控制接口、檢定信號接口與檢測電路管座可配合相接。
[0005]檢測電控開關的公共端、常開端分別與信號檢測裝置、檢測電路管座上的一路對應或交叉相接，檢測電控開關的控制端與檢測控制接口的一路相接。
[0006]檢定電控開關的公共端、常開端分別與信號源、檢定信號接口的一路對應或交叉相接，檢定電控開關的控制端與檢定控制接口的一路相接。
[0007]信號源、檢測電控開關、檢定電控開關、信號檢測裝置有一個或一個以上。
[0008]本發(fā)明所提供的帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置的工作原理如下所述:帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置包括檢定信號模擬裝置、電路檢測裝置兩個獨立的部分，檢定信號模擬裝置包括信號源、檢定電控開關、檢定信號接口、檢定控制接口 ；電路檢測裝置包括信號檢測裝置、檢測電控開關、檢測電路管座、檢測控制接口 ；將電路檢測裝置的檢測電控開關的公共端、常開端與信號檢測裝置、檢測電路管座的一位對應或交叉相接，檢測電控開關的控制端與檢測控制接口的一位相接；將檢定信號模擬裝置的檢定電控開關的公共端、常開端分別與信號源、檢定信號接口的一位對應或交叉相接，檢定控制接口的一位與檢定電控開關的控制端相接。
[0009]信號源、檢測電控開關、檢定電控開關、信號檢測裝置有一個或一個以上。
[0010]當檢測控制接口與檢定控制接口相接，檢定信號接口與檢測電路管座相接，用電路檢測裝置進行測量時，所測的信號為信號源給的信號，這樣調整信號源參數為電路指標的上、下限的合格與不合格的四個臨界值，測試結果則反映了電路檢測裝置的正確與否。
[0011]本發(fā)明的優(yōu)點是:
1.本發(fā)明能用于對電路檢測裝置的鑒定、計量和正常生產過程中的校驗。
[0012]2.本發(fā)明不僅可用于帶有準確測量數據輸出功能的測量裝置的計量、檢定功能，還可用于只能給出合格與不合格兩種結果的測量裝置的計量、校驗，有著更為廣泛的應用。
[0013]3.不僅能檢查硬件連接、參數漂移，也可對軟件的正確性進行檢查，檢查全面，如軟件流程的正確性，軟件設置的合格判定基準的正確性等都能檢查。
[0014]4.通用性強，適用于有不同程序的電路檢測裝置。
[0015]5.簡單方便、準確可靠，測量裝置的鑒定、評審，如果通過對軟、硬件的檢查方法，要花大量的時間精力也不一定能準確判斷測量裝置的合格與否，本裝置只要設置一下信號源，測試一下即可，簡單方便，準確、快速、可靠，能滿足生產用檢測裝置的每日檢定。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1為本發(fā)明的原理框圖；
圖2為本發(fā)明的實施例一的電路圖；
圖3為本發(fā)明的實施例二的電路圖；
圖4為本發(fā)明的實施例三的電路圖；
圖5為圖2、圖3、圖4配合使用時的連接圖；
圖 2、3、4 中:G1、G2 為 Agilent-33220A 信號源或為 R&L/3590-2 型可變電阻，SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6 為 LF3F-1I 型繼電器，Q1、Q2 為 Agilent34461 型萬用表，D1、D2、D3、D4、D5、D6為IN4002型二極管，DBl、DB2為LJZ系列半導體測試插座，DB3、DB4為D-USB公母插座連接器，C為89C51型單片機，PU P2、P3、P4、P5、P6為2SA1710型PNP型三極管，Ml、M2為MAX313型模擬開關。

【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】和工作原理做進一步說明:
圖1為本發(fā)明的原理框圖；帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置包括檢定信號模擬裝置、電路檢測裝置兩個獨立的部分，檢定信號模擬裝置包括信號源、檢定電控開關、檢定信號接口、檢定控制接口 ；電路檢測裝置包括信號檢測裝置、檢測電控開關、檢測電路管座、檢測控制接口 ；將電路檢測裝置的檢測電控開關的公共端、常開端與信號檢測裝置、檢測電路管座的一位對應或交叉相接，檢測電控開關的控制端與檢測控制接口的一位相接；將檢定信號模擬裝置的檢定電控開關的公共端、常開端與信號源、檢定信號接口的一位對應或交叉相接，檢定控制接口的一位與檢定電控開關的控制端相接。
[0018]信號源、檢測電控開關、檢定電控開關、信號檢測裝置有一個或一個以上。
[0019]電路信號檢測裝置的控制信號來于CPU，與檢測電控開關的控制端、檢測控制接口的相應位共接。
[0020]當檢測控制接口與檢定控制接口相接，檢定信號接口與檢測電路管座相接，用電路檢測裝置進行測量時，所測的信號為信號源給的信號，這樣調整信號源參數為電路指標的上、下限的合格與不合格的四個臨界值，測試結果則反映了電路檢測裝置的正確與否。
[0021]參見圖2
G1、G2為信號源，DB3為檢定控制接口，DBl為檢定信號接口，Ql、Q2為信號檢測裝置，DB2為檢測電路管座，DB4為檢測控制接口。
[0022]繼電器SW1、二極管D1、三極管Pl組成檢定電控開關⑴，同理SW2、D2、P2組成檢定電控開關(2)，SW3、D3、P3組成檢定電控開關(3)，繼電器SWl的公共端、常開端與G1、檢定信號接口 DBl的I腳對應或交叉相接，同理SW2的公共端、常開端與Gl、DBl的3腳對應或交叉相接，SW3的公共端、常開端與G2、DB1的9腳對應或交叉相接；檢定控制接口 DB3的I腳與Pl的基極相接，Pl的集電極接地，Pl的發(fā)射極與Dl的正極、Sffl線圈的一端相接，Sffl線圈另一端與Dl的負極及電源正極相接，同理:DB3的6腳與P2的基極相接，DB3的2腳與P3的基極相接，P2、P3的集電極接地，P2、P3的發(fā)射極分別與D2、D3的正極相接，P2、P3的發(fā)射極也分別與SW2、SW3線圈的一端相接，Sff2, SW3線圈的另一端與電源正極相接，也分別與D2、D3的負極相接。
[0023]61、62、檢定電控開關、081、083組成檢定信號模擬裝置。
[0024]Sff4, D4、P4組成檢測電控開關(I)，Sff5, D5、P5組成檢測電控開關⑵，SW6、D6、P6組成檢定電控開關(3)。
[0025]SW4的公共端、常開端與DB2的I腳、Ql對應或交叉相接，SW5的公共端、常開端與DB2的3腳、Ql對應或交叉相接，SW6的公共端、常開端與DB2的9腳、Q2對應或交叉相接。
[0026]檢測控制接口 DB4的I腳與P4的基極以及單片機C的Pl.0 口相接，P4的集電極接地，P4的發(fā)射極與D4的正極、SW4線圈的一端相接，SW4線圈的另一端與D4的負極、電源正極相接，同理DB4的6腳與P5的基極以及C的Pl.1 口相接，P5的集電極接地，P5的發(fā)射極與D5的正極、SW5線圈的一端相接，SW5線圈另一端與D5的負極、電源正極相接；DB4的2腳與P6的基極以及C的Pl.7 口相接，P6的集電極接地，P6的發(fā)射極與D6的正極、SW6線圈的一端相接，SW6線圈的另一端與D6的負極、電源正極相接。
[0027]Ql、Q2、DB2、檢測電控開關、DB4組成電路檢測裝置。
[0028]電路檢測裝置和檢定信號模擬裝置為兩個獨立的部分可配合使用，配合使用時如圖5所示，DB4與DB3的對應位相接，DBl與DB2的對應位相接，調整信號源G1、G2的輸出到電路指標上、下界的合格與不合格的四個臨界值，即當臨界值增加或減去允許誤差后，參數的合格與否就會發(fā)生變化，通過測試這四個臨界值，則能判斷出電路檢測裝置的合格與否。
[0029]參見圖3、圖4
G1、G2為信號源，DB3為檢定控制接口，DBl為檢定信號接口，Ql、Q2為信號檢測裝置，DB2為檢測電路管座，DB4為檢測控制接口。
[0030]Ml為有四個模擬開關的電路，每個模擬開關是一個檢定電控開關，Ml的IN1、IN2、IN3端分別與DB3的I腳、6腳、2腳相接，圖3中Ml的COMU COM2腳與Gl相連，COM3腳與G2相連，Ml的NCU NC2、NC3腳與DBl的I腳、3腳、10腳相連，圖4中Ml的NC1、NC2腳與信號源Gl相連，NC3與G2相連，Ml的COMU COM2, COM3腳與DBl的I腳、3腳、10腳相連。[0031 ] Gl、G2、檢定電控開關、DBl、DB3組成檢定信號模擬裝置。
[0032]M2為有四個模擬開關的電路，每個模擬開關是一個檢測電控開關，M2的IN1、IN2、IN3腳與檢測控制接口 DB4的I腳、6腳、2腳相連，也分別與單片機C的Pl.0、Pl.K Pl.7口相連，圖3中M2的NC1、NC2腳與Ql相連，NC3腳與Q2相連，M2的COMl、COM2、COM3腳分別與DB2的I腳、3腳、10腳相接，圖4中M2的COMU COM2與Ql相連，COM3與Q2相連，M2的NC1、NC2、NC3腳分別與DB2的I腳、3腳、10腳相接。
[0033]Ql、Q2、DB2、檢測電控開關、DB4組成電路檢測裝置。
[0034]電路檢測裝置和檢定信號模擬裝置為兩個獨立的部分，配合使用時連接關系如圖5所示，DB4與DB3的對應位相接，DBl與DB2的對應位相接。
[0035]調整Gl、G2的輸出到電路指標的上、下界合格與不合格的四個臨界值，即當臨界值增加或減去允許誤差后，參數的合格與否就會發(fā)生變化，通過測試這四個臨界值，則能判斷出電路檢測裝置的合格與否。
[0036]參見圖5為圖2、圖3、圖4中檢定信號模擬裝置、電路檢測裝置配合使用時的連接圖:DB1和DB2的對應位相接，DB3和DB4的對應位相接。
【權利要求】
1.帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置，包括有由信號檢測裝置、檢測電控開關、檢測電路管座組成的電路檢測裝置，信號源，檢定信號接口，其特征在于:具有信號源、檢定信號接口、檢定控制接口、檢定電控開關組成的檢定信號模擬裝置與還包括有檢測控制接口的電路檢測裝置為兩個獨立的部分，檢測控制接口與檢定控制接口、檢定信號接口與檢測電路管座可配合相接。
2.根據權利要求1所述帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置，其特征在于:檢測電控開關的控制端與檢測控制接口的一路相接。
3.根據權利要求1所述帶控制接口的電路檢測及檢定信號模擬裝置，其特征在于:檢定電控開關的公共端、常開端分別與信號源、檢定信號接口的一路對應或交叉相接，檢定電控開關的控制端與檢定控制接口的一路相接。
【文檔編號】G01R35/00GK104237830SQ201410525988
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年10月8日 優(yōu)先權日:2014年10月8日
【發(fā)明者】洪明, 林日其, 闞亞鐘, 洪宇青, 洪啟媛 申請人:洪明