圖像檢測設(shè)備及吸風(fēng)展平裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供的圖像檢測設(shè)備，包括工作臺(03)、負(fù)壓泵(05)，設(shè)置在工作臺(03)上方的圖像獲取裝置(01)以及為圖像獲取裝置(01)補(bǔ)光的光源(02)；工作臺(03)包括用于放置被測產(chǎn)品(06)的圖像獲取區(qū)(032)以及圍繞圖像獲取區(qū)(032)的空置區(qū)(031)，圖像獲取區(qū)(032)由玻璃制成，圖像獲取區(qū)(032)與圖像獲取裝置(01)及光源(02)相對應(yīng)設(shè)置，且圖像獲取區(qū)(032)設(shè)有向著空置區(qū)(031)延伸的凹陷(0321)，空置區(qū)(031)設(shè)置有與凹陷(0321)連通的負(fù)壓孔，負(fù)壓孔與負(fù)壓泵(05)相連通。本發(fā)明還提供一種吸風(fēng)展平裝置。上述方案能夠解決【背景技術(shù)】中圖像檢測設(shè)備存在的玻璃工作臺打孔較難，且在背光情況下打孔會影響被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量的問題。
【專利說明】圖像檢測設(shè)備及吸風(fēng)展平裝直

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機(jī)器視覺設(shè)備【技術(shù)領(lǐng)域】，更為具體地說，涉及一種圖像檢測設(shè)備及吸風(fēng)展平裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]在機(jī)器視覺領(lǐng)域中，圖像檢測設(shè)備是一種比較普遍的設(shè)備。圖像檢測設(shè)備的原理是通過獲取被測產(chǎn)品的圖像，然后對圖像進(jìn)行分析來檢測被測產(chǎn)品的缺陷。圖像檢測設(shè)備通常包括光源、工作臺和相機(jī)，被測產(chǎn)品放置在工作臺上，在特定光源照明條件下，相機(jī)采集被測產(chǎn)品的圖像。
[0003]然而，在被測產(chǎn)品為柔性材料制成的薄膜類產(chǎn)品(例如印刷薄膜電路)時(shí)，薄膜類產(chǎn)品的柔性使得其各個(gè)部位很難處于同一平面內(nèi)，進(jìn)而使得薄膜類產(chǎn)品各個(gè)部位不在同一對焦平面上，最終影響圖像檢測設(shè)備所獲取的被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量。為了解決此問題，傳統(tǒng)的方法為:采用透明玻璃對被測產(chǎn)品實(shí)施壓平，進(jìn)而將被測產(chǎn)品的各個(gè)部位展平在同一個(gè)平面內(nèi)，最終使得各個(gè)部分位于同一對焦平面上以達(dá)到提高圖像質(zhì)量的目的。但是，壓平的方式存在以下缺陷:第一，透明玻璃壓在被測產(chǎn)品上之后透明玻璃會在被測產(chǎn)品圖像中成像，即產(chǎn)生鬼影，進(jìn)而嚴(yán)重影響被測產(chǎn)品的圖像質(zhì)量。第二，對于一些被測產(chǎn)品(例如印刷薄膜電路)而言，透明玻璃的壓平會對其質(zhì)量產(chǎn)生影響。第三，由于被透明玻璃壓著，對于一些被測產(chǎn)品(例如印刷薄膜電路)而言，無法對缺陷位置進(jìn)行標(biāo)記，不利于后續(xù)缺陷的修補(bǔ)和確認(rèn)。
[0004]為了克服傳統(tǒng)方法的弊端，目前通常采用負(fù)壓吸平的方式實(shí)施柔性被測產(chǎn)品實(shí)施展平。即在工作臺上打孔，然后通過負(fù)壓吸附的方式實(shí)施負(fù)壓展平。由于有些被測產(chǎn)品采用背光補(bǔ)光的方式，所以為了實(shí)現(xiàn)背光源補(bǔ)光，通常工作臺為透明的玻璃工作臺。然而，由于玻璃硬度較大，比較脆，所以在透明的玻璃工作臺上打孔實(shí)現(xiàn)負(fù)壓展平變得較為困難。而且，在透明的玻璃工作臺上打孔會影響被測產(chǎn)品的成像質(zhì)量。同時(shí)，在透明的玻璃工作臺上打孔時(shí)孔端易產(chǎn)生缺角、崩邊等缺陷。這些缺角、崩邊等缺陷易對背光源發(fā)出的光產(chǎn)生折射、反射等，最終會導(dǎo)致被測產(chǎn)品的成像質(zhì)量更差。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]一方面，本發(fā)明提供一種圖像檢測設(shè)備，以解決【背景技術(shù)】所述的圖像檢測設(shè)備存在的玻璃臺打孔較難，且在背光情況下打孔會影響被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量的問題。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
[0007]圖像檢測設(shè)備，包括工作臺、負(fù)壓泵，設(shè)置在所述工作臺上方的圖像獲取裝置以及為所述圖像獲取裝置補(bǔ)光的光源；所述工作臺包括用于放置被測產(chǎn)品的圖像獲取區(qū)以及圍繞所述圖像獲取區(qū)的空置區(qū)，所述圖像獲取區(qū)由玻璃制成，所述圖像獲取區(qū)與所述圖像獲取裝置以及光源相對應(yīng)設(shè)置，且所述圖像獲取區(qū)設(shè)置有向著所述空置區(qū)延伸的凹陷，所述空置區(qū)設(shè)置有與所述凹陷連通的負(fù)壓孔，所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵相連通。
[0008]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述光源設(shè)置在所述圖像獲取區(qū)的上方。
[0009]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述光源為背光源，且設(shè)置在所述圖像獲取區(qū)的正下方。
[0010]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述凹陷為多條，且呈井字形均勻分布在所述圖像獲取區(qū)。
[0011]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述負(fù)壓泵為多個(gè)，且分別一一對應(yīng)地與多條所述凹陷的接口通過連通管道一一對接；所述圖像檢測設(shè)備還包括:
[0012]用于分別檢測相對應(yīng)所述凹陷內(nèi)負(fù)壓值的多個(gè)壓力傳感器；
[0013]與多個(gè)所述壓力傳感器以及多個(gè)所述負(fù)壓泵相連，用于控制所述負(fù)壓泵以維持任意兩個(gè)所述凹陷內(nèi)的負(fù)壓值之差在設(shè)定范圍內(nèi)的控制器。
[0014]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述凹陷為橫截面輪廓是弧形的條形槽。
[0015]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述凹陷的橫截面弧形輪廓對應(yīng)的圓心角小于180°，且大于45°。
[0016]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述凹陷的深度為0.3-0.5mm。
[0017]優(yōu)選的，上述圖像檢測設(shè)備中，所述空置區(qū)設(shè)置有與所述凹陷連通的滑槽，所述滑槽的頂部開口，所述圖像檢測設(shè)備還包括與所述滑槽的頂部開口滑動配合的封堵條，所述封堵條與所述滑槽的頂部開口配合，且與所述滑槽的底部之間形成與所述凹陷連通的負(fù)壓通道。
[0018]另一方面，吸風(fēng)展平裝置，包括負(fù)壓泵和工作臺；所述工作臺包括用于被測產(chǎn)品鋪展的第一區(qū)域和圍繞所述第一區(qū)域的第二區(qū)域，所述第一區(qū)域由玻璃制成，所述第一區(qū)域設(shè)置有向著所述第二區(qū)域延伸的凹陷，所述第二區(qū)域設(shè)置有與所述凹陷連通的負(fù)壓孔，所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵連通。
[0019]本發(fā)明提供的圖像檢測設(shè)備工作過程如下:將被測產(chǎn)品放置在圖像獲取區(qū)，打開圖像獲取裝置和光源以及負(fù)壓泵，在負(fù)壓泵的作用下使得圖像獲取區(qū)內(nèi)的凹陷呈負(fù)壓吸附狀態(tài)，進(jìn)而能夠?qū)⑽挥诎枷萆系谋粶y產(chǎn)品吸附展平在工作臺臺面所在的平面上。
[0020]通過上述工作過程可以看出，本發(fā)明提供的圖像檢測設(shè)備在目前的負(fù)壓吸平設(shè)備基礎(chǔ)之上進(jìn)行改進(jìn)，將發(fā)揮負(fù)壓吸附作用的孔，改變?yōu)樨?fù)壓吸附的凹陷，凹陷的設(shè)置能夠避免在玻璃材質(zhì)的圖像獲取區(qū)上打孔，進(jìn)而能夠解決目前在透明玻璃臺上打孔實(shí)現(xiàn)負(fù)壓吸平較為困難的問題。同時(shí)也能夠解決在玻璃工作臺上打孔會影響背光情況下被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量的問題。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0022]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一圖像檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一圖像檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的工作臺的工作臺面示意圖；
[0025]圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一工作臺的工作臺面示意圖，圖4中虛線框內(nèi)的區(qū)域?yàn)閳D像獲取區(qū)032，虛線框之外的區(qū)域?yàn)榭罩脜^(qū)031 ；
[0026]圖5是圖4所示的工作臺上，滑槽與封堵條的配合結(jié)構(gòu)示意圖；圖5中，虛線的左側(cè)為空置區(qū)031，虛線的右側(cè)為圖像獲取區(qū)032。
[0027]上圖1-5 中:
[0028]圖像獲取裝置01、光源02、工作臺03、電磁閥04、負(fù)壓泵05、被測產(chǎn)品06、封堵條07、空置區(qū)031、圖像獲取區(qū)032、凹陷0321、滑槽0311、負(fù)壓通道0312。

【具體實(shí)施方式】
[0029]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種圖像檢測設(shè)備，解決了【背景技術(shù)】所述的圖像檢測設(shè)備負(fù)壓展平情況下存在的玻璃工作臺打孔較難，且在背光情況下打孔會影響被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量的問題。
[0030]為了使本【技術(shù)領(lǐng)域】的人員更好地理解本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，并使本發(fā)明實(shí)施例的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0031]請參考附圖1，圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的一圖像檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)。圖1所示的圖像檢測設(shè)備包括工作臺03、負(fù)壓泵05、圖像獲取裝置01及光源02。其中，圖像獲取裝置01設(shè)置在工作臺03的上方，用于獲取被測產(chǎn)品06的圖像。光源02也設(shè)置在工作臺03的上方，用于對圖像獲取裝置01的圖像拍攝補(bǔ)光。工作臺03是整個(gè)圖像檢測設(shè)備用于盛放被測產(chǎn)品06的部件，其表面為平面。工作臺03通常處于水平面內(nèi)，以便于被測產(chǎn)品06的盛放。本發(fā)明實(shí)施例中，工作臺03包括圖像獲取區(qū)032以及圍繞圖像獲取區(qū)032周圍的空置區(qū)031，被測產(chǎn)品06放置在圖像獲取區(qū)032內(nèi)。工作臺03中，至少圖像獲取區(qū)032由玻璃制成。優(yōu)選的，整個(gè)工作臺03由玻璃制成。
[0032]本發(fā)明實(shí)施例中，圖像獲取區(qū)032與圖像獲取裝置01和光源02相對應(yīng)布置，以使得圖像獲取裝置01至少能夠獲取圖像獲取區(qū)032內(nèi)的物體圖像。圖像獲取區(qū)032設(shè)置有向著空置區(qū)031方向延伸的凹陷0321。本發(fā)明實(shí)施例中，凹陷0321為長條狀結(jié)構(gòu)，空置區(qū)031內(nèi)設(shè)置有與凹陷0321連通的負(fù)壓孔(圖中未示出)，負(fù)壓孔與負(fù)壓泵05相連通，在負(fù)壓泵05的作用下負(fù)壓孔處于負(fù)壓吸附狀態(tài)，相對應(yīng)的，圖形獲取區(qū)032內(nèi)的凹陷0321內(nèi)也處于負(fù)壓吸附狀態(tài)。被測產(chǎn)品06放置在圖像獲取區(qū)032內(nèi)之后覆蓋凹陷0321，在凹陷0321內(nèi)的負(fù)壓環(huán)境下被吸附，進(jìn)而使得整個(gè)被測產(chǎn)品展平在工作臺03上，最終能夠?qū)崿F(xiàn)負(fù)壓吸平。需要說明的是，被測產(chǎn)品06為柔性物(例如印刷薄膜電路)，能夠在負(fù)壓吸附作用下變形，這是本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備進(jìn)行吸風(fēng)展平的前提。通常，負(fù)壓泵05與負(fù)壓孔之間的連通管道上設(shè)置有閥(例如電磁閥04)，用于控制連通管道氣路的通斷或氣路開度。優(yōu)選的，上述電磁閥04由控制設(shè)備控制，以實(shí)現(xiàn)自動化控制。
[0033]本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備工作過程如下:將被測產(chǎn)品06放置在圖像獲取區(qū)032，打開圖像獲取裝置01和光源02以及負(fù)壓泵05，在負(fù)壓泵05的作用下使得圖像獲取區(qū)032內(nèi)的凹陷0321呈負(fù)壓吸附狀態(tài)，進(jìn)而能夠?qū)⑽挥诎枷?321上的被測產(chǎn)品06吸附展平在工作臺03臺面上。
[0034]通過上述工作過程可以看出，本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備在目前負(fù)壓吸平設(shè)備的基礎(chǔ)之上進(jìn)行改進(jìn)，將發(fā)揮負(fù)壓吸附作用的孔，改變?yōu)樨?fù)壓吸附的凹陷0321，凹陷0321的設(shè)置能夠避免在玻璃材質(zhì)的圖像獲取區(qū)031上打孔，進(jìn)而能夠解決目前在透明玻璃臺上打孔實(shí)現(xiàn)負(fù)壓吸平較為困難的問題。
[0035]圖像獲取區(qū)032由玻璃材料制作。為此，光源02可以為背光源，背光源可以設(shè)置在工作臺03的正下方，即實(shí)現(xiàn)背光補(bǔ)光，如圖2所示。采用背光補(bǔ)光的情況下，本發(fā)明實(shí)施例采用凹陷0321實(shí)現(xiàn)負(fù)壓吸附，避免在圖像獲取區(qū)032上打孔，進(jìn)而能夠避免背光補(bǔ)光情況下，打孔對被測產(chǎn)品06對成像質(zhì)量的影響，另外也能夠避免打孔出現(xiàn)的缺角、崩邊等缺陷易成像質(zhì)量造成的影響。本發(fā)明實(shí)施例巧妙地應(yīng)用凹陷0321和空置區(qū)031的負(fù)壓孔對被測產(chǎn)品06吸附展平，進(jìn)而能夠避免打孔出現(xiàn)的缺角、崩邊等缺陷對被測產(chǎn)品06成像質(zhì)量的影響。
[0036]本發(fā)明實(shí)施例不對工作臺03上的凹陷0321數(shù)量作限制。通常，凹陷0321的數(shù)量為多條，以提高吸附展平的能力。優(yōu)選的，本發(fā)明實(shí)施例中圖像獲取區(qū)032與空置區(qū)031可拆卸布置，圖像檢測設(shè)備具有多個(gè)凹陷0321布置方式不同的圖像獲取區(qū)032，操作者可以根據(jù)不同類型的被測產(chǎn)品06選擇合適的圖像獲取區(qū)032。該優(yōu)選方案能夠提高圖像檢測設(shè)備的適應(yīng)性，能夠適應(yīng)更多種類的被測產(chǎn)品06的檢測。
[0037]通常，工作臺03為一體式結(jié)構(gòu)，圖像獲取區(qū)032和空置區(qū)031可以是人為地對工作臺03的臺面實(shí)施劃分的結(jié)果。圖像獲取區(qū)032內(nèi)的凹陷0321通常為多條，可以以各種方式設(shè)置，例如多條并排的曲線并排延伸分布。優(yōu)選的，凹陷0321為多條，且呈井字形均勻布置在圖像獲取區(qū)032，如圖3所示。多條凹陷0321呈井字形均勻布置不但能夠均勻吸附，而且井字形結(jié)構(gòu)的凹槽0321便于制造。
[0038]圖3中凹陷0321的端部未封口，可以為封閉端，也可以為開通端。封閉端避免在被測產(chǎn)品06覆蓋后與外界連通。開通端時(shí)可以通過連通管道與負(fù)壓泵05連通，也可以通過封堵部件封堵，以避免不連通負(fù)壓泵05時(shí)漏風(fēng)。
[0039]在實(shí)際的檢測過程中，負(fù)壓泵05可以為一個(gè)，此種情況下，多條凹陷0321共用一個(gè)負(fù)壓泵05。但是負(fù)壓泵05為一個(gè)的情況下，由于凹陷0321延伸方向的負(fù)壓損失及連通管路的負(fù)壓損失，會導(dǎo)致距負(fù)壓泵05距離小的凹陷0321負(fù)壓較大，距負(fù)壓泵05距離大的凹陷0321負(fù)壓較小，進(jìn)而導(dǎo)致被測產(chǎn)品06各個(gè)部分的吸附力大小不同，進(jìn)而會影響被測產(chǎn)品06的展平效果。為了解決此問題，本發(fā)明實(shí)施例中，負(fù)壓泵05為多個(gè)，且分別一一對應(yīng)地與多條凹陷0321的接口通過連通管道一一對接。此方案能夠緩解負(fù)壓損失，提高展平效果。在此方案的基礎(chǔ)上，更為優(yōu)選的，本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備還包括多個(gè)壓力傳感器和控制器，多個(gè)壓力傳感器分別檢測相對應(yīng)的凹陷0321內(nèi)的負(fù)壓值，控制器與多個(gè)負(fù)壓泵和多個(gè)壓力傳感器相連，用于控制負(fù)壓泵以維持任意兩個(gè)凹陷0321內(nèi)的負(fù)壓值在設(shè)定范圍內(nèi)。需要說明的是，此處的設(shè)定范圍指的是吸風(fēng)展平后在圖像檢測設(shè)備能夠接受的誤差范圍內(nèi)的負(fù)壓值差距。
[0040]本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備中，凹陷0321可以為橫截面輪廓是弧形的條形槽，方形槽等。本發(fā)明創(chuàng)造的發(fā)明人在實(shí)施本技術(shù)方案的過程中發(fā)現(xiàn)，方形槽由于具有死角，進(jìn)而會導(dǎo)致負(fù)壓壓力不穩(wěn)定，進(jìn)而影響展平效果。為此，本發(fā)明實(shí)施例中的凹陷0321優(yōu)選為橫截面輪廓是弧形的條形槽。另外，在吸附展平的過程中，凹陷0321的寬度(凹陷0321的頂部開口寬度與深度(即凹陷0321的深度)的關(guān)系以及凹陷0321的深度是影響吸風(fēng)展平的重要因素。為此，發(fā)明人通過合理地設(shè)計(jì)，發(fā)現(xiàn)凹陷0321的橫截面弧形輪廓對應(yīng)的圓心角小于180°，且大于45°時(shí)，被測產(chǎn)品06被展平的效果較好。另外，凹陷0321過深會使得負(fù)壓較大，進(jìn)而導(dǎo)致被測產(chǎn)品06相對應(yīng)部分塌陷，凹陷0321過淺會導(dǎo)致被測產(chǎn)品06吸附變形后貼附到凹陷0321的底部，進(jìn)而影響負(fù)壓氣流的流通。為此，凹陷0321的深度優(yōu)選為 0.3mm-0.5mm。
[0041]本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備中，當(dāng)被測產(chǎn)品06的尺寸大于圖像獲取區(qū)032的尺寸時(shí)，很難對被測產(chǎn)品06所有部位實(shí)施吸風(fēng)展平，這最終影響被測產(chǎn)品06的檢測效果。為了解決此問題，請參考附圖4和5，本發(fā)明實(shí)施例中，工作臺03的空置區(qū)031設(shè)置有與凹陷0321連通的滑槽0311 (如圖4所示)，滑槽0311的頂部具有開口，開口與工作臺03的臺面位于同一平面內(nèi)。此種情況下，本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備還包括封堵條07，封堵條07用于與滑槽0311的頂部開口滑動配合，進(jìn)而能夠沿著滑槽0311的延伸方向滑動，進(jìn)而改變滑槽0311被封堵的長度。封堵條07與滑槽0311的底部之間形成與凹陷0321連通的負(fù)壓通道0312。通過上述工作臺03的工作過程可以得出，通過封堵條07的滑動能夠改變滑槽0311未封蓋部分的長度，進(jìn)而使得滑槽0311頂部開口處于未封蓋部分成為凹陷0321的一部分，相應(yīng)的，空置區(qū)031上與滑槽0311頂部開口未封蓋部分對應(yīng)的部分則轉(zhuǎn)換為圖像獲取區(qū)032的一部分?？梢?，封堵條07的滑動能夠使圖像獲取區(qū)032與空置區(qū)031相鄰的部分之間相互轉(zhuǎn)換，進(jìn)而使得圖像獲取區(qū)032能夠在一定的范圍內(nèi)適應(yīng)不同面積的被測產(chǎn)品06，進(jìn)而能夠提高工作臺03的適應(yīng)性，相應(yīng)的工作臺03功能更加強(qiáng)大。
[0042]請結(jié)合參考附圖1-5，基于本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像檢測設(shè)備，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種吸風(fēng)展平裝置，用于對柔性的被測產(chǎn)品06實(shí)施展平，已達(dá)到使被測產(chǎn)品06各個(gè)部分在同一平面內(nèi)的目的。所述的吸風(fēng)展平裝置包括負(fù)壓泵05、工作臺03和連通管道，工作臺03包括用于被測產(chǎn)品06鋪展的第一區(qū)域(相當(dāng)于上述圖像檢測裝置工作臺03的圖像獲取區(qū)032)和圍繞所述第一區(qū)域的第二區(qū)域(相當(dāng)于上述圖像檢測裝置工作臺03的空置區(qū)031)，所述第一區(qū)域設(shè)置有向著所述第二區(qū)域延伸的凹陷，所述第二區(qū)域設(shè)置有與所述凹陷連通的負(fù)壓孔，所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵05通過連通管道連通。
[0043]需要說明的是，本發(fā)明實(shí)施例提供的吸風(fēng)展平裝置是本發(fā)明實(shí)施例上文中所述的圖像檢測設(shè)備除了圖像獲取裝置01和光源02的剩余部分，可以看做圖像檢測設(shè)備的一部分，也可以獨(dú)自作為一個(gè)裝置，單純地用于對被測產(chǎn)品06實(shí)施吸風(fēng)展平。當(dāng)吸風(fēng)展平裝置是圖像檢測設(shè)備的一部分時(shí)，第一區(qū)域?yàn)椴ＡР馁|(zhì)制成。當(dāng)吸風(fēng)展平裝置作為單獨(dú)吸風(fēng)展平的設(shè)備時(shí)，第一區(qū)域的制作材料不限。除了上述區(qū)別之外，本發(fā)明實(shí)施例提供的吸風(fēng)展平裝置所包括的部件及部件與部件之間的配合關(guān)系均與上文中圖像檢測設(shè)備中相應(yīng)部分的描述類似，具體請參考上文中相應(yīng)部分的描述即可，此不贅述。
[0044]本說明書中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其它實(shí)施例的不同之處。
[0045]以上所述的本發(fā)明實(shí)施方式，并不構(gòu)成對本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.圖像檢測設(shè)備，包括工作臺(03)、負(fù)壓泵(05)，設(shè)置在所述工作臺(03)上方的圖像獲取裝置(01)以及為所述圖像獲取裝置(01)補(bǔ)光的光源(02);其特征在于，所述工作臺(03)包括用于放置被測產(chǎn)品(06)的圖像獲取區(qū)(032)以及圍繞所述圖像獲取區(qū)(032)的空置區(qū)(031)，所述圖像獲取區(qū)(032)由玻璃制成，所述圖像獲取區(qū)(032)與所述圖像獲取裝置(01)以及光源(02)相對應(yīng)設(shè)置，且所述圖像獲取區(qū)(032)設(shè)置有向著所述空置區(qū)(031)延伸的凹陷(0321)，所述空置區(qū)(031)設(shè)置有與所述凹陷(0321)連通的負(fù)壓孔，所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵(05)相連通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述光源(02)設(shè)置在所述圖像獲取區(qū)(032)的上方。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述光源(02)為背光源，且設(shè)置在所述圖像獲取區(qū)(032)的正下方。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述凹陷(0321)為多條，且呈井字形均勻分布在所述圖像獲取區(qū)(032)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述負(fù)壓泵(05)為多個(gè)，且分別一一對應(yīng)地與多條所述凹陷(0321)的接口通過連通管道一一對接；所述圖像檢測設(shè)備還包括: 用于分別檢測相對應(yīng)所述凹陷(0321)內(nèi)負(fù)壓值的多個(gè)壓力傳感器； 與多個(gè)所述壓力傳感器以及多個(gè)所述負(fù)壓泵(05)相連，用于控制所述負(fù)壓泵(05)以維持任意兩個(gè)所述凹陷(0321)內(nèi)的負(fù)壓值之差在設(shè)定范圍內(nèi)的控制器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述凹陷(0321)為橫截面輪廓是弧形的條形槽。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述凹陷(0321)的橫截面弧形輪廓對應(yīng)的圓心角小于180° ,且大于45°。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述凹陷(0321)的深度為0.3mm-0.5mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像檢測設(shè)備，其特征在于，所述空置區(qū)(031)設(shè)置有與所述凹陷(0321)連通的滑槽(0311)，所述滑槽(0311)的頂部開口，所述圖像檢測設(shè)備還包括與所述滑槽(0311)的頂部開口滑動配合的封堵條(07)，所述封堵條(07)與所述滑槽(0311)的頂部開口配合，且與所述滑槽(0311)的底部之間形成與所述凹陷(0321)連通的負(fù)壓通道(0312)。
10.吸風(fēng)展平裝置，包括負(fù)壓泵(05)和工作臺(03);其特征在于，所述工作臺(03)包括用于被測產(chǎn)品(06)鋪展的第一區(qū)域和圍繞所述第一區(qū)域的第二區(qū)域，所述第一區(qū)域由玻璃制成，所述第一區(qū)域設(shè)置有向著所述第二區(qū)域延伸的凹陷(0321)，所述第二區(qū)域設(shè)置有與所述凹陷連通的負(fù)壓孔，所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵(05)連通。
【文檔編號】G01N21/95GK104297156SQ201410514590
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月29日
【發(fā)明者】華旭東, 姚毅, 趙嚴(yán), 鄒美芳 申請人:北京凌云光技術(shù)有限責(zé)任公司