Usb芯片的測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種USB芯片的測試方法，用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試，其包括如下步驟：a.設(shè)計(jì)用于檢測待測USB3.0芯片的檢測模塊，將檢測模塊嵌入U(xiǎn)SB3.0芯片的CPU自身代碼中；b.CPU根據(jù)檢測模塊的內(nèi)容配置其運(yùn)行的參數(shù)信息；c.開啟USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)傳輸；d.檢測模塊收集CPU自身代碼運(yùn)行信息和芯片硬件相關(guān)數(shù)據(jù)信息；e.檢測模塊對(duì)收集到的信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。本發(fā)明的測試方法可以在測試過程中，隨時(shí)對(duì)USB主機(jī)和存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)跟蹤、檢測，分析USB芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)是否傳輸成功，測試人員通過獲取的大量信息能夠準(zhǔn)確對(duì)錯(cuò)誤定位。
【專利說明】USB芯片的測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及USB芯片的測試領(lǐng)域，更具體地涉及一種用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試的USB芯片的測試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]在USB3.0芯片和存儲(chǔ)從機(jī)(存儲(chǔ)介質(zhì))之間進(jìn)行通信時(shí)候，因?yàn)殡p方的協(xié)議不同，需要CPU對(duì)雙方協(xié)議進(jìn)行解析。因?yàn)樵趨f(xié)議解析中CPU需要處理的大量的數(shù)據(jù)內(nèi)容，且CPU本身代碼的運(yùn)行與硬件各模塊數(shù)據(jù)處理息息相關(guān)，當(dāng)出現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)候很難判斷是CPU本身代碼錯(cuò)誤還是芯片硬件錯(cuò)誤造成CPU運(yùn)行錯(cuò)誤。且，以往在測試中往往只能跟蹤C(jī)PU本身代碼運(yùn)行情況并從串口等接口輸出相關(guān)信息以供測試人員使用，而測試人員通過串口獲得的信息量太少往往無法直接判斷和定位錯(cuò)誤，只能通過串口等接口輸出CPU本身代碼運(yùn)行的位置來反復(fù)調(diào)試推測錯(cuò)誤的位置。這樣不僅定位很慢，而且定位結(jié)果準(zhǔn)確性無沒保證
[0003]因此，有必要提供一種改進(jìn)的用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試的USB芯片的測試方法來克服上述缺陷。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種USB芯片的測試方法，用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行數(shù)據(jù)包傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試，本發(fā)明的測試方法可以在測試過程中，隨時(shí)對(duì)USB主機(jī)和存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)跟蹤、檢測，并分析USB芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)是否傳輸成功，測試人員通過獲取的大量信息能夠準(zhǔn)確對(duì)錯(cuò)誤定位。。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種USB芯片的測試方法，用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試，其包括如下步驟:a.設(shè)計(jì)用于檢測待測USB3.0芯片的檢測模塊，且將所述檢測模塊嵌入U(xiǎn)SB3.0芯片的CPU自身代碼中；b.CPU根據(jù)檢測模塊的內(nèi)容配置其運(yùn)行的參數(shù)信息；c.開啟USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)傳輸；d.所述檢測模塊收集CPU自身代碼運(yùn)行信息和芯片硬件相關(guān)數(shù)據(jù)信息；e.所述檢測模塊對(duì)收集到的信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
[0006]較佳地，所述檢測模塊根據(jù)待測USB3.0芯片的CPU自身代碼及芯片硬件特性而設(shè)計(jì)。
[0007]較佳地，所述檢測模塊包括數(shù)據(jù)處理單元、CPU代碼自檢單元及硬件數(shù)據(jù)自檢單
J Li ο
[0008]較佳地，在所述步驟d中，所述數(shù)據(jù)處理單元收集CPU自身代碼的運(yùn)行信息和CPU從硬件相關(guān)位置讀出的硬件數(shù)據(jù)信息，并將收集到的信息傳送至CPU代碼自檢單元和硬件數(shù)據(jù)自檢單元。
[0009]較佳地，在所述步驟e中，所述CPU代碼自檢單元對(duì)輸入的CPU自身代碼的運(yùn)行信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
[0010]較佳地，在所述步驟e中，所述硬件數(shù)據(jù)自檢單元對(duì)輸入的硬件數(shù)據(jù)信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的USB芯片的測試方法由于所述檢測模塊嵌入U(xiǎn)SB3.0芯片的CPU自身代碼中，CPU根據(jù)檢測模塊的內(nèi)容配置其運(yùn)行的參數(shù)信息，且在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間傳輸數(shù)據(jù)時(shí)，所述檢測模塊收集CPU自身代碼運(yùn)行信息和芯片硬件相關(guān)數(shù)據(jù)信息；使得可以在測試過程中，隨時(shí)對(duì)USB芯片和存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)跟蹤、檢測，并分析數(shù)據(jù)是否傳輸成功，對(duì)數(shù)據(jù)傳輸成功的原因進(jìn)行自動(dòng)分析且對(duì)可能發(fā)生的錯(cuò)誤進(jìn)行定位。
[0012]通過以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實(shí)施例。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明USB芯片的測試方法的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0014]現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例，附圖中類似的元件標(biāo)號(hào)代表類似的元件。如上所述，本發(fā)明提供了一種USB芯片的測試方法，用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行數(shù)據(jù)包傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試；本發(fā)明的測試方法可以在測試過程中，隨時(shí)對(duì)USB主機(jī)和存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)跟蹤、檢測，并分析USB芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)是否傳輸成功，測試人員通過獲取的大量信息能夠準(zhǔn)確對(duì)錯(cuò)誤定位。
[0015]請參考圖1，本發(fā)明USB芯片的測試方法用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試，其包括如下步驟:
[0016]步驟SlOl，設(shè)計(jì)用于檢測待測USB3.0芯片的檢測模塊，且將所述檢測模塊嵌入U(xiǎn)SB3.0芯片的CPU自身代碼中；在本步驟中，預(yù)先設(shè)計(jì)好用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試的檢測模塊，并嵌入至CPU自身代碼中，從而在USB3.0芯片啟動(dòng)運(yùn)行后即可自動(dòng)開始對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試，而且由于所述檢測模塊是另外嵌入至CPU中的，故完全不受芯片內(nèi)部源程序的限制與影響，測試過程更快速自如。另，在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，所述檢測模塊根據(jù)待測USB3.0芯片的CPU自身代碼及芯片硬件特性而設(shè)計(jì)，從而使得所述檢測模塊可同時(shí)測試USB3.0芯片的CPU自身代碼運(yùn)行情況及芯片硬件的運(yùn)行情況，以定位可能發(fā)生的錯(cuò)誤的位置。
[0017]步驟S102，CPU根據(jù)檢測模塊的內(nèi)容配置其運(yùn)行的參數(shù)信息；在本步驟中，由于CPU配置的其運(yùn)行的參數(shù)信息中包含有所述檢測模塊的內(nèi)容信息，從而在所述USB3.0芯片啟動(dòng)運(yùn)行后，嵌入至所述CPU內(nèi)的所述檢測模塊也能隨之啟動(dòng)運(yùn)行并實(shí)現(xiàn)對(duì)USB3.0芯片運(yùn)行的監(jiān)控。
[0018]步驟S103，開啟USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)傳輸；在本步驟中，只有當(dāng)所述USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)傳輸開始進(jìn)行后，所述檢測模塊方可對(duì)CPU自身代碼的運(yùn)行情況及芯片硬件的運(yùn)行情況進(jìn)行檢測、監(jiān)控。
[0019]步驟S104，所述檢測模塊收集CPU自身代碼運(yùn)行信息和芯片硬件相關(guān)數(shù)據(jù)信息；在本步驟中，通過所述檢測模塊收集CPU自身代碼運(yùn)行信息和芯片硬件相關(guān)數(shù)據(jù)信息，以便于后續(xù)對(duì)CPU自身代碼的運(yùn)行情況及芯片硬件的運(yùn)行情況進(jìn)行檢測、監(jiān)控。在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，所述檢測模塊包括數(shù)據(jù)處理單元、CPU代碼自檢單元及硬件數(shù)據(jù)自檢單元；其中，所述數(shù)據(jù)處理單元收集CPU自身代碼的運(yùn)行信息和CPU從硬件相關(guān)位置讀出的硬件數(shù)據(jù)信息，并將收集到的信息傳送至CPU代碼自檢單元和硬件數(shù)據(jù)自檢單元。
[0020]步驟S105，所述檢測模塊對(duì)收集到的信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊；在本步驟中，具體地，所述CPU代碼自檢單元對(duì)輸入的CPU自身代碼的運(yùn)行信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊，所述硬件數(shù)據(jù)自檢單元對(duì)輸入的硬件數(shù)據(jù)信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
[0021 ] 由上述可知，本發(fā)明的USB芯片的測試方法，所述檢測模塊的CPU代碼自檢單元與硬件數(shù)據(jù)自檢單元分別將分析處理過后的信息輸出至所述終端模塊，從而測試人員可通過所述終端模塊而直接判斷和定位可能發(fā)生的錯(cuò)誤。
[0022]以上結(jié)合最佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實(shí)施例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進(jìn)行的修改、等效組合。
【權(quán)利要求】
1.一種USB芯片的測試方法，用于在USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行測試，其特征在于，包括如下步驟: a.設(shè)計(jì)用于檢測待測USB3.0芯片的檢測模塊，且將所述檢測模塊嵌入U(xiǎn)SB3.0芯片的CPU自身代碼中； b.CPU根據(jù)檢測模塊的內(nèi)容配置其運(yùn)行的參數(shù)信息； c.開啟USB3.0芯片與存儲(chǔ)介質(zhì)之間的數(shù)據(jù)傳輸； d.所述檢測模塊收集CPU自身代碼運(yùn)行信息和芯片硬件相關(guān)數(shù)據(jù)信息； e.所述檢測模塊對(duì)收集到的信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的USB芯片的測試方法，其特征在于，所述檢測模塊根據(jù)待測USB3.0芯片的CPU自身代碼及芯片硬件特性而設(shè)計(jì)。
3.如權(quán)利要求1所述的USB芯片的測試方法，其特征在于，所述檢測模塊包括數(shù)據(jù)處理單元、CPU代碼自檢單元及硬件數(shù)據(jù)自檢單元。
4.如權(quán)利要求3所述的USB芯片的測試方法，其特征在于，在所述步驟d中，所述數(shù)據(jù)處理單元收集CPU自身代碼的運(yùn)行信息和CPU從硬件相關(guān)位置讀出的硬件數(shù)據(jù)信息，并將收集到的信息傳送至CPU代碼自檢單元和硬件數(shù)據(jù)自檢單元。
5.如權(quán)利要求4所述的USB芯片的測試方法，其特征在于，在所述步驟e中，所述CPU代碼自檢單元對(duì)輸入的CPU自身代碼的運(yùn)行信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
6.如權(quán)利要求4所述的USB芯片的測試方法，其特征在于，在所述步驟e中，所述硬件數(shù)據(jù)自檢單元對(duì)輸入的硬件數(shù)據(jù)信息進(jìn)行分析整理并輸出至終端模塊。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK104267331SQ201410472978
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月16日
【發(fā)明者】曾月瓏 申請人:四川和芯微電子股份有限公司