一種試管運(yùn)送控制方法、裝置和血細(xì)胞分析儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種試管運(yùn)送控制方法、裝置和血細(xì)胞分析儀，用于精準(zhǔn)地將試管運(yùn)送到穿刺采樣位置。本發(fā)明技術(shù)方案包括：將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置；檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位，若檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置。通過(guò)實(shí)施本發(fā)明技術(shù)方案，能夠精準(zhǔn)地將試管運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析儀。
【專利說(shuō)明】[0001] 一種試管運(yùn)送控制方法、裝置和血細(xì)胞分析儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002] 本發(fā)明涉及血細(xì)胞分析【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種試管運(yùn)送控制方法、裝置和血細(xì) 胞分析儀。

【背景技術(shù)】
[0003] 血細(xì)胞分析儀廣泛應(yīng)用于醫(yī)院臨床檢驗(yàn)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)日新月異的發(fā)展，血細(xì) 胞分析技術(shù)從三分類轉(zhuǎn)向五分類，從二維空間轉(zhuǎn)向三維空間。現(xiàn)代血細(xì)胞分析儀的五分類 技術(shù)許多采用了和當(dāng)今非常先進(jìn)的流式細(xì)胞儀相同的技術(shù)，如散射光檢測(cè)技術(shù)、鞘流技術(shù)、 激光技術(shù)等等。
[0004] 血細(xì)胞分析儀需對(duì)放置于試管架的血樣試管進(jìn)行采樣，而為了實(shí)現(xiàn)采樣自動(dòng)化， 其內(nèi)部使用運(yùn)動(dòng)控制裝置將試管架上的試管拖動(dòng)到穿刺針正下方的穿刺采樣位置。目前， 將試管被拖動(dòng)的距離量化為步進(jìn)電機(jī)的運(yùn)動(dòng)步數(shù)，通過(guò)控制步進(jìn)電機(jī)的運(yùn)動(dòng)步數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì) 試管的運(yùn)送。
[0005] 但是，上述技術(shù)方案中，對(duì)運(yùn)動(dòng)控制裝置及相關(guān)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)精度要求非常高，否則 容易因步進(jìn)電機(jī)誤差積累等原因?qū)е略嚬芏ㄎ徊粶?zhǔn)，無(wú)法精準(zhǔn)地將試管運(yùn)送到穿刺采樣位 置，甚至可能出現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析儀。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種試管運(yùn)送控制方法、裝置和血細(xì)胞分析儀，用 于精準(zhǔn)地將試管運(yùn)送到穿刺采樣位置。通過(guò)實(shí)施本發(fā)明技術(shù)方案，能夠精準(zhǔn)地將試管運(yùn)送 到穿刺采樣位置，避免出現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析儀。
[0007] -種試管運(yùn)送控制方法，用于將試管架的第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置， 包括： 將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置； 檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位，若檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位 置。
[0008] 一種試管運(yùn)送控制裝置，包括： 傳送單元，用于將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置； 檢測(cè)單元，用于檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位； 所述傳送單元，還用于若所述檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至 穿刺采樣位置。
[0009] 一種血細(xì)胞分析儀，包括：如上所述的試管運(yùn)送控制裝置。
[0010] 本發(fā)明的有益效果是，在將目標(biāo)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置之前，對(duì)每個(gè)試管位 都進(jìn)行在位檢測(cè)再進(jìn)行下一個(gè)試管位的運(yùn)送，能夠消除運(yùn)送距離過(guò)程中的誤差積累，從而 精準(zhǔn)地將目標(biāo)試管位運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析儀。
[0011]

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】 圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的試管運(yùn)送控制方法流程圖； 圖2為本發(fā)明第二實(shí)施例的試管運(yùn)送控制方法流程圖 圖3為本發(fā)明試管架示意圖； 圖4為本發(fā)明卡槽位置與狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)之間的關(guān)系圖； 圖5為本發(fā)明滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)示意圖； 圖6為本發(fā)明第三實(shí)施例的試管運(yùn)送控制裝置結(jié)構(gòu)圖； 圖7為本發(fā)明第四實(shí)施例的試管運(yùn)送控制裝置結(jié)構(gòu)圖； 圖8為本發(fā)明第五實(shí)施例的血細(xì)胞分析儀結(jié)構(gòu)圖。

【具體實(shí)施方式】
[0012] 下面將結(jié)合本發(fā)明中的說(shuō)明書(shū)附圖，對(duì)發(fā)明中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述， 顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的 實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都 屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0013] 本發(fā)明第一實(shí)施例將對(duì)一種試管運(yùn)送控制方法進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，本實(shí)施例所述的試 管運(yùn)送控制方法具體流程請(qǐng)參見(jiàn)圖1，包括步驟： 101、將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0014] 在本實(shí)施例中，假定實(shí)施目標(biāo)是將試管架的第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位 置。
[0015] 試管架是一種能夠放置多個(gè)試管的支架式容器，其中，試管采用"一"字型排列。在 本實(shí)施例中，按順序?qū)⒃嚬芗苌系脑嚬芪贿M(jìn)行排序，稱為第1號(hào)試管位、第2號(hào)試管位等，試 管位上并非一定放置有試管，這里不再贅述。穿刺采樣位置指穿刺針下移刺入試管時(shí)該試 管或其試管位所在的位置，穿刺采樣位置對(duì)試管到位率有精確要求，否則可能出現(xiàn)撞針事 故。
[0016] 本實(shí)施例關(guān)注任意相鄰兩個(gè)試管位：第N號(hào)試管位和第N+1號(hào)試管的操作，因此具 有廣泛適用性，這里不再贅述。
[0017] 102、檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位。
[0018] 其中，本步驟所指的在位是指位于穿刺采樣位置。在本實(shí)施例中，不對(duì)檢測(cè)手段進(jìn) 行具體限定，而會(huì)在后續(xù)實(shí)施例中給出優(yōu)先實(shí)施例。
[0019] 若檢測(cè)結(jié)果為否，則進(jìn)行錯(cuò)誤處理，例如提示用戶進(jìn)行錯(cuò)誤排查，或?qū)⒃嚬芗芡蟿?dòng) 回起始位置，這里不作具體限定。若檢測(cè)結(jié)果為是，則執(zhí)行下述步驟103。
[0020] 103、將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0021] 至此達(dá)成本實(shí)施例的實(shí)施目標(biāo)，即將試管架的第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位 置。
[0022] 可以想見(jiàn)，在本實(shí)施例步驟101之前，存在一個(gè)將第N-1 (N>2)號(hào)試管位運(yùn)送至穿 刺采樣位置并進(jìn)行在位檢測(cè)的步驟，這里不再贅述。
[0023] 在本實(shí)施例中，在將目標(biāo)試管位(第N+1號(hào)試管位)運(yùn)送至穿刺采樣位置之前，對(duì)每 個(gè)試管位都進(jìn)行在位檢測(cè)再進(jìn)行下一個(gè)試管位的運(yùn)送，能夠消除運(yùn)送距離過(guò)程中的誤差積 累，從而精準(zhǔn)地將目標(biāo)試管位運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析 儀。
[0024] 本發(fā)明第二實(shí)施例將對(duì)第一實(shí)施例所述的一種試管運(yùn)送控制方法進(jìn)行補(bǔ)充說(shuō)明， 本實(shí)施例所述的試管運(yùn)送控制方法具體流程請(qǐng)參見(jiàn)圖2,包括步驟： 201、將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0025] 在本實(shí)施例中，假定實(shí)施目標(biāo)是將試管架的第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位 置。
[0026] 試管架是一種能夠放置多個(gè)試管的支架式容器，其中，試管采用"一"字型排列。在 本實(shí)施例中，按順序?qū)⒃嚬芗苌系脑嚬芪贿M(jìn)行排序，稱為第1號(hào)試管位、第2號(hào)試管位等，試 管位上并非一定放置有試管，這里不再贅述。穿刺采樣位置指穿刺針下移刺入試管時(shí)該試 管或其試管位所在的位置，穿刺采樣位置對(duì)試管到位率有精確要求，否則可能出現(xiàn)撞針事 故。
[0027] 本實(shí)施例關(guān)注任意相鄰兩個(gè)試管位：第N號(hào)試管位和第N+1號(hào)試管的操作，因此具 有廣泛適用性，這里不再贅述。
[0028] 202、檢測(cè)在運(yùn)送第N號(hào)試管位過(guò)程中狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)是否發(fā)生一次狀態(tài)跳變。
[0029] 請(qǐng)參見(jiàn)圖3,所示試管架30具有第1號(hào)試管位~第10號(hào)試管位共10個(gè)試管位301 (圖中僅標(biāo)示其中1個(gè)試管位)。試管架30還具有與試管位301--對(duì)應(yīng)的卡槽302 (圖中 僅標(biāo)示其中1個(gè)卡槽)，卡槽302用于配合一狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)進(jìn)行試管位在位檢測(cè)。
[0030] 其中，狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)安裝于穿刺采樣位置。狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)輸出0和1兩種電平狀 態(tài)，試管架的卡槽在運(yùn)送過(guò)程中將導(dǎo)致?tīng)顟B(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)發(fā)生跳變。
[0031] 請(qǐng)參見(jiàn)圖4,在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，卡槽位置與狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)之間的關(guān)系如 圖4所示。如圖示出，要求檢測(cè)時(shí)初始狀態(tài)為0狀態(tài)，即需要檢測(cè)的狀態(tài)跳變?yōu)閺?到1的 狀態(tài)跳變。當(dāng)卡槽移動(dòng)一位時(shí)，試管位也隨之移動(dòng)一位，狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)跳變一次。由 于卡槽非常狹小，僅一次跳變足夠保證下一個(gè)試管位被精確運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0032] 請(qǐng)參見(jiàn)圖5,在另外一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)為滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)，其滾輪 501與試管架的卡槽502配合并能夠沿卡槽所在的壁滾動(dòng)。滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)為機(jī)械開(kāi)關(guān)，在 狀態(tài)變化過(guò)程中容易產(chǎn)生毛刺導(dǎo)致?tīng)顟B(tài)表示錯(cuò)誤，因此需要對(duì)滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)信號(hào) 進(jìn)行濾波處理。
[0033] 在本步驟中，檢測(cè)在運(yùn)送第N號(hào)試管位過(guò)程中狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)是否發(fā)生一次狀態(tài)跳 變，若檢測(cè)結(jié)果為否，則確定第N號(hào)試管位不在位，后續(xù)進(jìn)行錯(cuò)誤處理，例如提示用戶進(jìn)行 錯(cuò)誤排查，或?qū)⒃嚬芗芡蟿?dòng)回起始位置，這里不作具體限定。若檢測(cè)結(jié)果為是，則確定第N 號(hào)試管位在位，后續(xù)執(zhí)行下述這步驟203。
[0034] 203、將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0035] 204、檢測(cè)第N+1號(hào)試管位是否在位。
[0036] 若檢測(cè)結(jié)果為否，則后續(xù)依照進(jìn)行錯(cuò)誤處理，若檢測(cè)結(jié)果為是，則結(jié)束操作。
[0037] 至此達(dá)成本實(shí)施例的實(shí)施目標(biāo)，即將試管架的第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位 置。
[0038] 可以想見(jiàn)，在本實(shí)施例步驟201之前，存在一個(gè)將第N-1 (N>2)號(hào)試管位運(yùn)送至穿 刺采樣位置并進(jìn)行在位檢測(cè)的步驟，這里不再贅述。
[0039] 在本實(shí)施例中，在將目標(biāo)試管位(第N+1號(hào)試管位)運(yùn)送至穿刺采樣位置之前，對(duì)每 個(gè)試管位都進(jìn)行在位檢測(cè)再進(jìn)行下一個(gè)試管位的運(yùn)送，能夠消除運(yùn)送距離過(guò)程中的誤差積 累，從而精準(zhǔn)地將目標(biāo)試管位運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析 儀，而且成本低廉。
[0040] 本發(fā)明第三實(shí)施例將對(duì)一種試管運(yùn)送控制裝置進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，本實(shí)施例所述的試 管運(yùn)送控制裝置具體結(jié)構(gòu)請(qǐng)參見(jiàn)圖6,包括： 傳送單元601和檢測(cè)單元602。其中，檢測(cè)單元602和傳送單元601通信連接。
[0041] 傳送單元601，用于將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0042] 在本實(shí)施例中，假定試管運(yùn)送控制裝置60的實(shí)施目標(biāo)是將試管架的第N+1號(hào)試管 位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0043] 試管架是一種能夠放置多個(gè)試管的支架式容器，其中，試管采用"一"字型排列。在 本實(shí)施例中，按順序?qū)⒃嚬芗苌系脑嚬芪贿M(jìn)行排序，稱為第1號(hào)試管位、第2號(hào)試管位等，試 管位上并非一定放置有試管，這里不再贅述。穿刺采樣位置指穿刺針下移刺入試管時(shí)該試 管或其試管位所在的位置，穿刺采樣位置對(duì)試管到位率有精確要求，否則可能出現(xiàn)撞針事 故。
[0044] 本實(shí)施例關(guān)注任意相鄰兩個(gè)試管位：第N號(hào)試管位和第N+1號(hào)試管的操作，因此具 有廣泛適用性，這里不再贅述。
[0045] 檢測(cè)單元602,用于檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位。
[0046] 其中，本實(shí)施例所謂的在位是指位于穿刺采樣位置。在本實(shí)施例中，不對(duì)檢測(cè)手段 進(jìn)行具體限定，而會(huì)在后續(xù)實(shí)施例中給出優(yōu)先實(shí)施例。
[0047] 若檢測(cè)結(jié)果為否，則進(jìn)行錯(cuò)誤處理，例如提示用戶進(jìn)行錯(cuò)誤排查，或?qū)⒃嚬芗芡蟿?dòng) 回起始位置，這里不作具體限定。若檢測(cè)結(jié)果為是，則觸發(fā)傳送單元601執(zhí)行操作。
[0048] 傳送單元601，還用于若檢測(cè)單元602的檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送 至穿刺采樣位置。
[0049] 至此試管運(yùn)送控制裝置60達(dá)成本實(shí)施例的實(shí)施目標(biāo)，即將試管架的第N+1號(hào)試管 位運(yùn)送至穿刺采樣位置。
[0050] 可以想見(jiàn)，在傳送單元601將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置之前，存 在一個(gè)傳送單元601將第N-1 (N>2)號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置并由檢測(cè)單元602進(jìn)行 在位檢測(cè)的過(guò)程，這里不再贅述。
[0051] 在本實(shí)施例中，在傳送單元601將目標(biāo)試管位(第N+1號(hào)試管位）運(yùn)送至穿刺采樣 位置之前，檢測(cè)單元602對(duì)每個(gè)試管位都進(jìn)行在位檢測(cè)再進(jìn)行下一個(gè)試管位的運(yùn)送，能夠 消除運(yùn)送距離過(guò)程中的誤差積累，從而精準(zhǔn)地將目標(biāo)試管位運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出 現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析儀。
[0052] 本發(fā)明第四實(shí)施例將第三實(shí)施例所述的一種試管運(yùn)送控制裝置進(jìn)行補(bǔ)充說(shuō)明，本 實(shí)施例所述的試管運(yùn)送控制裝置具體結(jié)構(gòu)請(qǐng)參見(jiàn)圖7,包括： 傳送單元701和檢測(cè)單元702。其中，檢測(cè)單元702和傳送單元701通信連接。檢測(cè)單 元702包括：狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021和檢測(cè)子單元7022。
[0053] 傳送單元701，用于將試管架703的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置704。
[0054] 在本實(shí)施例中，假定試管運(yùn)送控制裝置70的實(shí)施目標(biāo)是將試管架703的第N+1號(hào) 試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置704。
[0055] 試管架703是一種能夠放置多個(gè)試管的支架式容器，其中，試管采用"一"字型排 列。在本實(shí)施例中，按順序?qū)⒃嚬芗?03上的試管位進(jìn)行排序，稱為第1號(hào)試管位、第2號(hào) 試管位等，試管位上并非一定放置有試管，這里不再贅述。穿刺采樣位置704指穿刺針705 下移刺入試管時(shí)該試管或其試管位所在的位置，穿刺采樣位置704對(duì)試管到位率有精確要 求，否則可能出現(xiàn)撞針事故。
[0056] 本實(shí)施例關(guān)注任意相鄰兩個(gè)試管位：第N號(hào)試管位和第N+1號(hào)試管的操作，因此具 有廣泛適用性，這里不再贅述。
[0057] 檢測(cè)單元702,用于檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位。
[0058] 檢測(cè)子單元7022,用于檢測(cè)在運(yùn)送第N號(hào)試管位過(guò)程中狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7022是否發(fā) 生一次狀態(tài)跳變，若是，則確定第N號(hào)試管位在位。
[0059] 請(qǐng)參見(jiàn)圖3,所示試管架30具有第1號(hào)試管位~第10號(hào)試管位共10個(gè)試管位301 (圖中僅標(biāo)示其中1個(gè)試管位)。試管架30還具有與試管位301--對(duì)應(yīng)的卡槽302 (圖中 僅標(biāo)示其中1個(gè)卡槽)，卡槽302用于配合一狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)進(jìn)行試管位在位檢測(cè)。
[0060] 其中，狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021安裝于穿刺采樣位置704。狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021輸出0和 1兩種電平狀態(tài)，試管架703的卡槽在運(yùn)送過(guò)程中將導(dǎo)致?tīng)顟B(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021的狀態(tài)發(fā)生跳 變。
[0061] 請(qǐng)參見(jiàn)圖4,在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，卡槽位置與狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021的狀態(tài)之間的 關(guān)系如圖4所示。如圖示出，要求檢測(cè)時(shí)初始狀態(tài)為0狀態(tài)，即需要檢測(cè)的狀態(tài)跳變?yōu)閺? 到1的狀態(tài)跳變。當(dāng)卡槽移動(dòng)一位時(shí)，試管位也隨之移動(dòng)一位，狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)跳變 一次。由于卡槽非常狹小，僅一次跳變足夠保證下一個(gè)試管位被精確運(yùn)送至穿刺采樣位置 704。
[0062] 請(qǐng)參見(jiàn)圖5,在另外一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021為滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)，其 滾輪501與試管架的卡槽502配合并能夠在卡槽502移動(dòng)的過(guò)程中沿卡槽所在的壁原地滾 動(dòng)。滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)為機(jī)械開(kāi)關(guān)，在狀態(tài)變化過(guò)程中容易產(chǎn)生毛刺導(dǎo)致?tīng)顟B(tài)表示錯(cuò)誤，因此 需要對(duì)滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)信號(hào)進(jìn)行濾波處理。
[0063] 檢測(cè)子單元7022檢測(cè)在運(yùn)送第N號(hào)試管位過(guò)程中狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)7021是否發(fā)生一 次狀態(tài)跳變，若檢測(cè)結(jié)果為否，則確定第N號(hào)試管位不在位，后續(xù)進(jìn)行錯(cuò)誤處理，例如提示 用戶進(jìn)行錯(cuò)誤排查，或?qū)⒃嚬芗芡蟿?dòng)回起始位置，這里不作具體限定。若檢測(cè)結(jié)果為是，則 確定第N號(hào)試管位在位，后續(xù)觸發(fā)傳送單元701執(zhí)行操作。
[0064] 傳送單元701，還用于若檢測(cè)單元702的檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送 至穿刺采樣位置704。
[0065] 檢測(cè)單元702,還用于檢測(cè)第N+1號(hào)試管位是否在位。若檢測(cè)結(jié)果為否，則后續(xù)依 照進(jìn)行錯(cuò)誤處理，若檢測(cè)結(jié)果為是，則結(jié)束操作。
[0066] 至此試管運(yùn)送控制裝置70達(dá)成本實(shí)施例的實(shí)施目標(biāo)，即將試管架703的第N+1號(hào) 試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置704。
[0067] 可以想見(jiàn)，在傳送單元701將試管架703的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置704 之前，存在一個(gè)傳送單元701將第N-1 (N>2)號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置704并由檢測(cè) 單元702進(jìn)行在位檢測(cè)的過(guò)程，這里不再贅述。
[0068] 在本實(shí)施例中，在傳送單元701將目標(biāo)試管位(第N+1號(hào)試管位）運(yùn)送至穿刺采樣 位置之前，檢測(cè)單元702對(duì)每個(gè)試管位都進(jìn)行在位檢測(cè)再進(jìn)行下一個(gè)試管位的運(yùn)送，能夠 消除運(yùn)送距離過(guò)程中的誤差積累，從而精準(zhǔn)地將目標(biāo)試管位運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出 現(xiàn)撞針情況而損壞血細(xì)胞分析儀，而且成本低廉。
[0069] 本發(fā)明第五實(shí)施例將對(duì)一種血細(xì)胞分析儀進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，本實(shí)施例所述的血細(xì)胞 分析儀具體結(jié)構(gòu)請(qǐng)參見(jiàn)圖8,包括： 試管運(yùn)送控制裝置801。
[0070] 血細(xì)胞分析儀80中的試管運(yùn)送控制裝置801能夠?qū)崿F(xiàn)如前述第三實(shí)施例或第四 實(shí)施例所述的試管運(yùn)送控制裝置相同的功能，這里不再贅述。
[0071] 在本實(shí)施例中，在試管運(yùn)送控制裝置801將目標(biāo)試管位(第N+1號(hào)試管位）運(yùn)送至 穿刺采樣位置之前，對(duì)每個(gè)試管位都進(jìn)行在位檢測(cè)再進(jìn)行下一個(gè)試管位的運(yùn)送，能夠消除 運(yùn)送距離過(guò)程中的誤差積累，從而精準(zhǔn)地將目標(biāo)試管位運(yùn)送到穿刺采樣位置，避免出現(xiàn)撞 針情況而損壞血細(xì)胞分析儀，而且成本低廉。
[0072] 以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種試管運(yùn)送控制方法、裝置和血細(xì)胞分析儀進(jìn)行 了詳細(xì)介紹，但以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的結(jié)構(gòu)及其核心思想，不應(yīng)理 解為對(duì)本發(fā)明的限制。本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的 變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種試管運(yùn)送控制方法，用于將試管架的第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置，其 特征在于，包括 ： 將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置； 檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位，若檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位 置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述試管架具有與試管位一一對(duì)應(yīng)的卡 槽，所述卡槽用于配合一狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)進(jìn)行試管位在位檢測(cè)，所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)安裝于穿 刺采樣位置， 所述檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位包括： 檢測(cè)在運(yùn)送第N號(hào)試管位過(guò)程中所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)是否發(fā)生一次狀態(tài)跳變，若是，則 確定第N號(hào)試管位在位。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)為滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至 穿刺采樣位置之后還包括： 檢測(cè)第N+1號(hào)試管位是否在位，若檢測(cè)結(jié)果為是，則結(jié)束操作。
5. -種試管運(yùn)送控制裝置，其特征在于，包括： 傳送單元，用于將試管架的第N號(hào)試管位運(yùn)送至穿刺采樣位置； 檢測(cè)單元，用于檢測(cè)第N號(hào)試管位是否在位； 所述傳送單元，還用于若所述檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果為是，則將第N+1號(hào)試管位運(yùn)送至 穿刺采樣位置。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述檢測(cè)單元包括：狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)， 所述試管架具有與試管位一一對(duì)應(yīng)的卡槽，所述卡槽和所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)用于進(jìn)行試 管位在位檢測(cè)，所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)安裝于穿刺采樣位置， 所述檢測(cè)單元還包括： 檢測(cè)子單元，用于檢測(cè)在運(yùn)送第N號(hào)試管位過(guò)程中所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)是否發(fā)生一次狀 態(tài)跳變，若是，則確定第N號(hào)試管位在位。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述狀態(tài)檢測(cè)開(kāi)關(guān)為滾輪式微動(dòng)開(kāi)關(guān)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5至7任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于， 所述檢測(cè)單元，還用于檢測(cè)第N+1號(hào)試管位是否在位。
9. 一種血細(xì)胞分析儀，其特征在于，包括：如權(quán)利要求5至8任一項(xiàng)所述的試管運(yùn)送控 制裝置。
【文檔編號(hào)】G01N35/04GK104101723SQ201410378978
【公開(kāi)日】2014年10月15日 申請(qǐng)日期:2014年8月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月4日
【發(fā)明者】杜躍信, 馬榮榮 申請(qǐng)人:深圳市開(kāi)立科技有限公司