X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明屬于檢測(cè)設(shè)備【技術(shù)領(lǐng)域】，具體公開(kāi)了一種X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)。該多功能樣品臺(tái)包括底座支架和設(shè)置于底座支架上的樣品槽；所述樣品槽包括依次通過(guò)螺絲連接的定位蒙板、樣品池和蒙板；所述定位蒙板設(shè)置有中軸卡孔，所述中軸卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸匹配；所述中軸卡孔的下方設(shè)置有彈簧卡孔；所述彈簧卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的彈簧大小相一致；所述樣品池的兩側(cè)邊沿設(shè)置有水平泡。本發(fā)明以玻璃粉填充樣品槽，既可對(duì)微量的粉末樣品進(jìn)行測(cè)試，也可對(duì)片狀、大尺寸或不規(guī)則、不能裁剪、無(wú)法研磨成粉末的樣品進(jìn)行測(cè)試，有效解決了當(dāng)前大尺寸樣品無(wú)法測(cè)試或測(cè)試時(shí)必須裁剪樣品才能測(cè)試等問(wèn)題。
【專(zhuān)利說(shuō)明】X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明屬于檢測(cè)設(shè)備【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)。
【【背景技術(shù)】】
[0002]目前，對(duì)于X射線粉末衍射儀，如荷蘭帕納科的X’PertPro、布魯克及理學(xué)等知名品牌的衍射儀，廠家提供的多為用于測(cè)試粉末樣品的玻璃樣品淺槽，無(wú)法用于固體塊狀、片狀樣品的測(cè)試，特別是對(duì)于尺寸較大(待測(cè)試平面大于18X20mm)的樣品或者對(duì)于長(zhǎng)度和寬度都超過(guò)鋁制樣品架的較大尺寸固體塊狀樣品無(wú)法直接上機(jī)測(cè)試時(shí)，往往通過(guò)裁減樣品或通過(guò)改進(jìn)樣品測(cè)試架，這時(shí)候不可能對(duì)部分較大的固體塊狀樣品進(jìn)行無(wú)損測(cè)試，或者用線切割等方法將鋁制樣品測(cè)試架的外框裁切掉一部分，大大限制了衍射儀的應(yīng)用范圍。而當(dāng)樣品較大時(shí)，樣品自重使得測(cè)試過(guò)程中往往導(dǎo)致測(cè)試面偏心而使測(cè)試結(jié)果失真，探求較大固體塊狀樣品的簡(jiǎn)單、實(shí)用的測(cè)定方法是X射線衍射領(lǐng)域一個(gè)迫切需要解決的技術(shù)問(wèn)題。
[0003]專(zhuān)利201220529658.8公開(kāi)了一種X射線衍射儀樣品測(cè)試架，其利用螺旋傳動(dòng)的原理，將載物臺(tái)和螺桿連接在一起，工作時(shí)只需轉(zhuǎn)動(dòng)搖桿，螺桿便可帶動(dòng)載物臺(tái)上下自由移動(dòng)，從而可方便地調(diào)節(jié)試樣的擺放高度。無(wú)論試樣的尺寸過(guò)大還是過(guò)小，都可以很方便地放置在載物臺(tái)上進(jìn)行X射線掃描，而不再需要通過(guò)裁剪樣品架等方法來(lái)對(duì)試樣進(jìn)行固定。該專(zhuān)利雖 然利用水平測(cè)試儀調(diào)整被測(cè)試樣的擺放位置，但是調(diào)節(jié)比較麻煩。專(zhuān)利200720174416.0公開(kāi)了一種便于對(duì)薄片狀固體樣品進(jìn)行測(cè)試的衍射儀樣品臺(tái)，其通過(guò)在傳統(tǒng)樣品臺(tái)上添加支撐件、在操作過(guò)程中既要固定樣品又要固定支撐架，操作較繁瑣，也無(wú)法測(cè)量較厚的塊狀樣品。專(zhuān)利201020144904.9公開(kāi)了一種X衍射儀用固體塊狀樣品架，其通過(guò)安裝在基座中部的彈簧將樣品頂壓到樣品測(cè)試面基準(zhǔn)擋板框上實(shí)現(xiàn)，該樣品臺(tái)比較適合塊狀樣品測(cè)試，但需要具備樣品測(cè)試面基準(zhǔn)擋板，樣品臺(tái)部件較多，制作要求比較高且要對(duì)樣品進(jìn)行裁剪破壞。因此，尋找一種制作簡(jiǎn)單、操作方便、對(duì)樣品無(wú)破壞并適合X射線粉末衍射儀的固體塊狀樣品測(cè)試的樣品臺(tái)，就顯得尤為迫切。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0004]為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)。
[0005]本發(fā)明的目的通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，包括底座支架和設(shè)置于底座支架上的樣品槽；底座支架主要用來(lái)支撐樣品槽，測(cè)試時(shí)以X射線衍射儀的樣品臺(tái)中軸和兩個(gè)底座支架為支撐點(diǎn)固定和調(diào)節(jié)樣品槽的位置。
[0006]所述底座支架由基座、導(dǎo)桿和內(nèi)徑千分尺組成；所述基座和導(dǎo)桿通過(guò)螺紋連接，所述內(nèi)徑千分尺通過(guò)螺絲固定于導(dǎo)桿中。[0007]所述內(nèi)徑千分尺的測(cè)量范圍優(yōu)選為250-275mm，刻度值為0.01mm，精度等級(jí)為I級(jí)；內(nèi)徑千分尺的主要作用在于調(diào)節(jié)樣品槽的平衡位置。
[0008]所述樣品槽包括依次通過(guò)螺絲連接的定位蒙板、樣品池和蒙板；
[0009]所述定位蒙板設(shè)置有中軸卡孔，所述中軸卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸匹配；測(cè)試樣品時(shí)，定位蒙板可以卡在測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸上，便于固定樣品臺(tái)。
[0010]所述中軸卡孔的下方設(shè)置有彈簧卡孔；所述彈簧卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的彈簧大小相一致；彈簧卡孔主要用來(lái)固定測(cè)角儀樣品臺(tái)的彈簧，這樣可以不改變?cè)瓬y(cè)角儀樣品臺(tái)，操作簡(jiǎn)單。
[0011]機(jī)械加工時(shí)以A面為基準(zhǔn)面，裝卡定位，精加工B面，并保證A面與B面的平行度。
[0012]所述樣品池上部的兩側(cè)邊沿設(shè)置有水平泡。
[0013]優(yōu)選的，所述樣品池的底部設(shè)置有半圓形凹槽。
[0014]所述半圓形凹槽優(yōu)選設(shè)置有兩個(gè)。
[0015]所述半圓形凹槽優(yōu)選設(shè)置于樣品池底部外側(cè)；凹槽可作為底座支架的支撐點(diǎn)，以測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸和兩個(gè)底座支架作為樣品臺(tái)的三個(gè)支撐點(diǎn)，有利于減輕X射線衍射儀的樣品臺(tái)中軸的承受壓力。
[0016]零加工完成以后，以定位蒙板的A面為基準(zhǔn)面在平板上調(diào)平水平泡的位置。由于本發(fā)明的樣品臺(tái)的尺寸較大，當(dāng)樣品池填充滿(mǎn)玻璃粉后，為防止測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸發(fā)生變形，在樣品池的底部外側(cè)設(shè)置兩個(gè)半圓形凹槽作為底座支架的支撐點(diǎn)，以測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸和兩個(gè)底座支架作為金屬樣品臺(tái)的三個(gè)支撐點(diǎn)，有利于減輕X射線衍射儀的樣品臺(tái)中軸的承受壓力。
[0017]所述樣品池優(yōu)選為上部開(kāi)口的長(zhǎng)方體槽。
[0018]所述底座支架優(yōu)選為鋁合金底座支架。
[0019]所述樣品槽優(yōu)選為鋁合金樣品槽。
[0020]所述樣品槽的深度可以根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)計(jì)，優(yōu)選為51_。
[0021]所述X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)可應(yīng)用于粉末、片狀、大尺寸、不規(guī)則、不能裁剪(如珠寶首飾等)或無(wú)法研磨成粉末的樣品的測(cè)試。
[0022]所述X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)可應(yīng)用于V Pert Pro等粉末X射線衍射儀中。
[0023]本發(fā)明為大尺寸設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)，以玻璃粉填充樣品槽，不僅可以對(duì)微量的粉末樣品進(jìn)行測(cè)試，還可以對(duì)片狀、大尺寸或不規(guī)則的、不能裁剪的、無(wú)法研磨成粉末的樣品進(jìn)行測(cè)試，有效解決了當(dāng)前大尺寸樣品無(wú)法測(cè)試或測(cè)試時(shí)必須裁剪樣品才能測(cè)試以及改變樣品支架才能進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題；同時(shí)，本發(fā)明以X射線衍射儀測(cè)角儀樣品臺(tái)中軸和兩個(gè)底座支架作為樣品臺(tái)的三個(gè)平衡點(diǎn)、以水平泡作為樣品臺(tái)平衡的調(diào)節(jié)點(diǎn)，有利于樣品臺(tái)的水平調(diào)節(jié)，而且設(shè)計(jì)有X射線衍射儀測(cè)角儀樣品臺(tái)中軸和樣品槽彈簧卡的卡口，不需要對(duì)測(cè)角儀樣品臺(tái)進(jìn)行改造，易于安裝和拆卸；本發(fā)明以玻璃粉末填充樣品槽，測(cè)試樣品時(shí)只需將樣品置于玻璃粉中，用表面平整的玻璃板輕輕按壓至和樣品槽保持一個(gè)水平線上即可，操作方便，樣品易于制備。
[0024]本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)具有如下的優(yōu)點(diǎn)和有益效果；
[0025]本發(fā)明為大尺寸設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)，以玻璃粉填充樣品槽，不僅可以對(duì)微量的粉末樣品進(jìn)行測(cè)試，還可以對(duì)片狀、大尺寸或不規(guī)則、不能裁剪(如珠寶首飾等)、無(wú)法研磨成粉末的樣品進(jìn)行測(cè)試，有效解決了當(dāng)前大尺寸樣品無(wú)法測(cè)試或測(cè)試時(shí)必須裁剪樣品才能測(cè)試以及改變樣品支架才能進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題；同時(shí)，本發(fā)明以X射線衍射儀測(cè)角儀樣品臺(tái)中軸和兩個(gè)底座支架作為樣品臺(tái)的三個(gè)平衡點(diǎn)、以水平泡作為調(diào)節(jié)樣品臺(tái)平衡的節(jié)點(diǎn)，有利于樣品臺(tái)的水平調(diào)節(jié)；而且設(shè)計(jì)有X射線衍射儀測(cè)角儀樣品臺(tái)中軸和樣品槽彈簧卡的卡口，不需要對(duì)測(cè)角儀樣品臺(tái)進(jìn)行改造，易于安裝和拆卸；操作方便，樣品易于制備，尤其適合
VPertPro等粉末X射線衍射儀。
【【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】】
[0026]圖1是實(shí)施例1的基座的結(jié)構(gòu)不意圖；其中:a為基座的俯視結(jié)構(gòu)不意圖；b為基座的切面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖2是實(shí)施例1的導(dǎo)桿的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖3是實(shí)施例1的定位蒙板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖4是實(shí)施例1的樣品池的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖5是實(shí)施例1的蒙板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖6是實(shí)施例1的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)的底座支架的結(jié)構(gòu)示意圖；其中:1-基座、2-導(dǎo)桿、3-內(nèi)徑千分尺； [0032]圖7是實(shí)施例1的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)的樣品槽的結(jié)構(gòu)不意圖；其中；4_定位蒙板、5-樣品池、6-蒙板、7-中軸卡孔、8-彈簧卡孔、9-水平泡、10-半圓形凹槽；
[0033]圖8是實(shí)施例1的鉬金戒指的XRD圖譜及鉬的標(biāo)準(zhǔn)圖譜；其中:(a)為鉬金戒指的XRD圖譜，(b)為鉬的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，實(shí)心為Pt ；
[0034]圖9是實(shí)施例1的不規(guī)則水晶吊墜成分的XRD圖譜及方石英的標(biāo)準(zhǔn)圖譜；其中:
(a)為不規(guī)則水晶吊墜成分的XRD圖譜，(b)為方石英的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，?為SiO2 ；
[0035]圖10是實(shí)施例1的不規(guī)則玉石真?zhèn)蔚腦RD圖譜及石英的標(biāo)準(zhǔn)圖譜；其中:(a)為不規(guī)則玉石真?zhèn)蔚腦RD圖譜，(b)為石英的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，實(shí)心為SiO2 ；
[0036]圖11是實(shí)施例1的不規(guī)則玉石球真?zhèn)蔚腦RD圖譜及方解石、低鎂方解石的標(biāo)準(zhǔn)圖譜；其中:(a)為不規(guī)則玉石球真?zhèn)蔚腦RD圖譜，(b)為方解石的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，(c)為低鎂方解石的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，實(shí)心為CaCO3 ;籲為Mgatl6Caa94(CO3)。
【【具體實(shí)施方式】】
[0037]下面結(jié)合實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不限于此。
[0038]實(shí)施例1
[0039]一種X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，包括底座支架和設(shè)置于底座支架上的樣品槽；底座支架主要用來(lái)支撐樣品槽，測(cè)試時(shí)以X射線衍射儀的樣品臺(tái)中軸和兩個(gè)底座支架為支撐點(diǎn)固定和調(diào)節(jié)樣品槽的位置。
[0040]所述底座支架由基座、導(dǎo)桿和內(nèi)徑千分尺組成；所述基座和導(dǎo)桿通過(guò)螺紋連接，內(nèi)徑千分尺通過(guò)螺絲固定于導(dǎo)桿中。[0041]所述內(nèi)徑千分尺的測(cè)量范圍為250-275mm，刻度值為0.01mm，精度等級(jí)為I級(jí)；內(nèi)徑千分尺的主要作用在于調(diào)節(jié)樣品槽的平衡位置。
[0042]所述樣品槽包括依次通過(guò)螺絲連接的定位蒙板、樣品池和蒙板。
[0043]所述定位蒙板上設(shè)置有中軸卡孔，所述中軸卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸匹配；測(cè)試樣品時(shí)，定位蒙板可以卡在測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸上，便于固定樣品臺(tái)。
[0044]所述中軸卡孔的下方設(shè)置有彈簧卡孔；所述彈簧卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的彈簧大小相一致；彈簧卡孔主要用來(lái)固定測(cè)角儀樣品臺(tái)的彈簧，這樣可以不改變?cè)瓬y(cè)角儀樣品臺(tái)，操作簡(jiǎn)單。
[0045]機(jī)械加工時(shí)以A面為基準(zhǔn)面，裝卡定位，精加工B面，并保證A面與B面的平行度。
[0046]所述樣品池上部的兩側(cè)邊沿設(shè)置有水平泡。
[0047]所述樣品池的底部外側(cè)設(shè)置有兩個(gè)半圓形凹槽；凹槽可作為底座支架的支撐點(diǎn)，以測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸和兩個(gè)底座支架作為樣品臺(tái)的三個(gè)支撐點(diǎn)，有利于減輕X射線衍射儀的樣品臺(tái)中軸的承受壓力。
[0048]零加工完成以后，以定位蒙板的A面為基準(zhǔn)面在平板上調(diào)節(jié)水平泡至平衡的位置。由于本發(fā)明的樣品臺(tái)的尺寸較大，當(dāng)樣品池填充滿(mǎn)玻璃粉后，為防止測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸發(fā)生變形，在樣品池的底部外側(cè)設(shè)置兩個(gè)半圓形凹槽作為底座支架的支撐點(diǎn)，以測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸和兩個(gè)底座支架作為金屬樣品臺(tái)的三個(gè)支撐點(diǎn)，有利于減輕X射線衍射儀的樣品臺(tái)中軸的承受壓力。
[0049]所述樣品池為上部開(kāi)口的長(zhǎng)方體槽。
[0050]所述底座支架為鋁合金底座支架。
[0051]所述樣品槽為鋁合金樣品槽。
[0052]所述樣品槽的深度為51mm。
[0053]所述X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)可應(yīng)用于粉末、片狀、大尺寸、不規(guī)則、不能裁剪(如珠寶首飾等)或無(wú)法研磨成粉末的樣品的測(cè)試中。
[0054]所述X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)可應(yīng)用于V Pert Pro等粉末X射線衍射儀中。
[0055]本發(fā)明為大尺寸設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)，以玻璃粉填充樣品槽，不僅可以對(duì)微量的粉末樣品進(jìn)行測(cè)試，還可以對(duì)片狀、大尺寸或不規(guī)則的、不能裁剪的、無(wú)法研磨成粉末的樣品進(jìn)行測(cè)試，有效解決了當(dāng)前大尺寸樣品無(wú)法測(cè)試或測(cè)試時(shí)必須裁剪樣品才能測(cè)試以及改變樣品支架才能進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題；同時(shí)，本發(fā)明以X射線衍射儀測(cè)角儀樣品臺(tái)中軸和兩個(gè)底座支架作為樣品臺(tái)的三個(gè)平衡點(diǎn)、以水平泡作為樣品臺(tái)平衡的調(diào)節(jié)點(diǎn)，有利于樣品臺(tái)的水平調(diào)節(jié)，而且設(shè)計(jì)有X射線衍射儀測(cè)角儀樣品臺(tái)中軸和樣品槽彈簧卡的卡口，不需要對(duì)測(cè)角儀樣品臺(tái)進(jìn)行改造，易于安裝和拆卸；本發(fā)明以玻璃粉末填充樣品槽，測(cè)試樣品時(shí)只需將樣品置于玻璃粉中，用表面平整的玻璃板輕輕按壓至和樣品槽保持一個(gè)水平線上即可，操作方便，樣品易于制備。
[0056]運(yùn)用上述X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)對(duì)戒指、不規(guī)則水晶吊墜、不規(guī)則玉石真?zhèn)渭安灰?guī)則玉石球真?zhèn)芜M(jìn)行測(cè)試，其結(jié)果如圖8-11所示。從圖8可以看出，當(dāng)采用本樣品臺(tái)對(duì)戒指進(jìn)行測(cè)試時(shí)，與鉬的標(biāo)準(zhǔn)卡品進(jìn)行比對(duì)，本申請(qǐng)的測(cè)試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)卡片完全匹配，這說(shuō)明采用本申請(qǐng)的樣品臺(tái)測(cè)試不規(guī)則樣品時(shí)，可以得到較好的結(jié)果；從圖9中可以看出，不規(guī)則水晶吊墜的成分主要是高溫方石英，其測(cè)試結(jié)果與方石英的標(biāo)準(zhǔn)卡片完全匹配；圖10和圖11是采用本樣品臺(tái)對(duì)不規(guī)則玉石和玉石球的真?zhèn)芜M(jìn)行鑒定的結(jié)果圖譜，從圖10和圖11可以看到，不規(guī)則玉石的成分主要是石英，玉石球的成分是方解石和低鎂方解石，且與石英、方解石和低鎂方解石的標(biāo)準(zhǔn)圖譜完全匹配，而真玉石的主要成分為透閃石，這說(shuō)明不規(guī)則玉石和玉石球不是真的玉石?？梢?jiàn)，利用本樣品臺(tái)可以鑒定不規(guī)則珠寶首飾的真?zhèn)巍纳鲜鰷y(cè)試結(jié)果可以看出，采用本發(fā)明的樣品臺(tái)對(duì)一些不規(guī)則的樣品進(jìn)行測(cè)試時(shí)，不需要對(duì)樣品進(jìn)行裁剪，對(duì)樣品無(wú)破壞；而且采用玻璃粉填充樣品槽，無(wú)干擾峰的存在。
[0057]以上所述本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思所作出的各種其他相應(yīng)的改變與變形，均應(yīng)包含在本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，包括底座支架和設(shè)置于底座支架上的樣品槽； 所述樣品槽包括依次通過(guò)螺絲連接的定位蒙板、樣品池和蒙板； 所述定位蒙板上設(shè)置有中軸卡孔，所述中軸卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的中軸匹配； 所述中軸卡孔的下方設(shè)置有彈簧卡孔；所述彈簧卡孔的大小與測(cè)角儀樣品臺(tái)的彈簧大小相一致； 所述樣品池的兩側(cè)邊沿設(shè)置有水平泡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述樣品池的底部設(shè)置有半圓形凹槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述底座支架由基座、導(dǎo)桿和內(nèi)徑千分尺組成；所述基座和導(dǎo)桿通過(guò)螺紋連接，所述內(nèi)徑千分尺通過(guò)螺絲固定于導(dǎo)桿中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述內(nèi)徑千分尺的測(cè)量范圍為250-275mm，刻度值為0.01mm，精度等級(jí)為I級(jí)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述半圓形凹槽設(shè)置有兩個(gè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述半圓形凹槽設(shè)置于樣品池底部外側(cè)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述底座支架為鋁合金底座支架；所述樣品槽為鋁合金樣品槽。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)，其特征在于，所述樣品槽的深度為51mm。
9.權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)應(yīng)用于粉末、片狀、大尺寸、不規(guī)則、不能裁剪或無(wú)法研磨成粉末的樣品的測(cè)試。
10.權(quán)利要求9所述的X射線衍射儀用測(cè)量塊狀固體樣品的多功能樣品臺(tái)應(yīng)用于VPert Pro粉末X射線衍射儀中。
【文檔編號(hào)】G01N23/20GK103983653SQ201410234255
【公開(kāi)日】2014年8月13日 申請(qǐng)日期:2014年5月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月29日
【發(fā)明者】楊波, 韓麗 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院青海鹽湖研究所