技術(shù)特征：
1.基于條形光源的強(qiáng)鏡面反射工件細(xì)窄坡口檢測(cè)裝置，其特征在于：包括控制單元(1)，傳感器外殼(2)，以及安裝在傳感器外殼內(nèi)的條形光源陣列(3)、激光陣列(4)、成像元件(5)和濾光元件(6)；所述控制單元(1)與所述條形光源陣列(3)、激光陣列(4)和成像元件(5)通過(guò)導(dǎo)線相連；所述傳感器外殼(2)與焊槍(8)固結(jié)；所述條形光源陣列(3)包含至少兩個(gè)條形光源，各條形光源發(fā)出的光線互成角度投射在工件(7)表面上；所述條形光源包括發(fā)光二極管陣列和條形光源外殼；所述發(fā)光二極管陣列安裝在所述條形光源外殼的矩形區(qū)域內(nèi)，矩形區(qū)域的長(zhǎng)邊與坡口(72)切線方向平行；所述激光陣列(4)包括至少N個(gè)激光器，N是大于或等于3的正整數(shù)；所述激光陣列(4)發(fā)出的激光光斑投射在工件(7)表面上；工件(7)表面的反射光經(jīng)所述濾光元件(6)后，攝入所述成像元件(5)成像。2.如權(quán)利要求1所述的基于條形光源的強(qiáng)鏡面反射工件細(xì)窄坡口檢測(cè)裝置，其特征在于：所述成像元件為電荷耦合器件、互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體成像器件、位置敏感器件或電荷注入器件；條形光源陣列的發(fā)光波長(zhǎng)和激光陣列的發(fā)光波長(zhǎng)與濾光元件的中心波長(zhǎng)一致；濾光元件的中心波長(zhǎng)在成像元件的敏感波長(zhǎng)范圍內(nèi)。3.采用如權(quán)利要求1所述裝置的基于條形光源的強(qiáng)鏡面反射工件細(xì)窄坡口檢測(cè)方法，其特征在于該方法包括以下步驟：1)建立成像元件坐標(biāo)系{C}，所述成像元件坐標(biāo)系{C}的原點(diǎn)為成像元件的光心，豎軸方向與所述成像元件光軸方向相同；在成像元件采集的圖像上建立像素坐標(biāo)系{P}；設(shè)所述激光陣列包含N個(gè)激光器，N是大于或等于3的正整數(shù)；2)對(duì)所述成像元件進(jìn)行標(biāo)定，獲得像素坐標(biāo)系{P}中任意一點(diǎn)(u,v)T與成像元件坐標(biāo)系{C}中點(diǎn)(x,y,z)T之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系：以及在成像元件坐標(biāo)系{C}中，第i個(gè)激光器發(fā)出的激光傳播路徑方程：Xi＝Xi,0+tiSi其中，f1，f2是像素坐標(biāo)系{P}與成像元件坐標(biāo)系{C}之間的轉(zhuǎn)換函數(shù)；i是大于或等于1，且小于或等于N的正整數(shù)；Xi和Xi,0是第i個(gè)激光器發(fā)出的激光傳播路徑上的點(diǎn)；Si是第i個(gè)激光器發(fā)出的激光傳播路徑的單位方向向量；ti是點(diǎn)Xi和Xi,0之間的有向距離；3)所述控制單元發(fā)出觸發(fā)信號(hào)，使所述激光陣列和所述條形光源陣列以一定頻率交替點(diǎn)亮，并使所述成像元件同步拍攝不同光源點(diǎn)亮?xí)r的圖像；當(dāng)所述激光陣列點(diǎn)亮?xí)r，所述控制單元對(duì)所述成像元件采集的圖像進(jìn)行處理，獲得第i個(gè)激光光斑在像素坐標(biāo)系{P}中的坐標(biāo)(ui,vi)T；根據(jù)第i個(gè)激光光斑在像素坐標(biāo)系{P}中的坐標(biāo)(ui,vi)T，計(jì)算第i個(gè)激光光斑在成像元件坐標(biāo)系{C}中的坐標(biāo)Ai：Ai＝[Xi,0+ti,1(ui,vi)·Si+ti,2(ui,vi)·Vi(ui,vi)]/2其中，Vi(ui,vi)＝[f1(ui,vi),f2(ui,vi),1]T假設(shè)激光光斑投射的工件表面近似為平面，記此平面為W；設(shè)平面W的方程為XTα＝1，其中α是平面W的法向量，X為平面W上的任意一點(diǎn)；根據(jù)點(diǎn)Ai均在平面W上，即：使用線性最小二乘法獲得平面W的法向量α；當(dāng)所述條形光源陣列點(diǎn)亮?xí)r，所述控制單元對(duì)成像元件采集的圖像進(jìn)行處理，獲得坡口中心點(diǎn)在像素坐標(biāo)系{P}中的坐標(biāo)(uw,vw)T；根據(jù)坡口中心點(diǎn)位于平面W上，獲得坡口中心點(diǎn)在成像元件坐標(biāo)系{C}中的坐標(biāo)B：B＝Vw(uw,vw)/[αTVw(uw,vw)]其中，Vw(uw,vw)＝[f1(uw,vw),f2(uw,vw),1]T。