一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法。目前電子元器件生產(chǎn)過(guò)程中的成品缺陷檢測(cè)主要由人工完成，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，不僅工作量大，而且易受檢測(cè)人員主觀因素的影響，容易造成誤檢和漏檢，檢測(cè)效率低，勞動(dòng)強(qiáng)度大。如果在檢測(cè)中操作不慎，還會(huì)對(duì)電子元器件造成二次損傷。本發(fā)明方法利用非接觸式數(shù)字圖像檢測(cè)技術(shù)來(lái)提高電子元器件缺陷檢測(cè)的效率，提出了一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法。本發(fā)明方法通過(guò)構(gòu)造合格及各類缺陷樣本庫(kù)字典基，自適應(yīng)的對(duì)電子元器件的表面缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，并對(duì)缺陷類別進(jìn)行自動(dòng)判別，可以很好的克服人工目測(cè)檢測(cè)方法的不足。
【專利說(shuō)明】一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于圖像處理領(lǐng)域，具體涉及一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前電子元器件生產(chǎn)過(guò)程中的成品缺陷檢測(cè)主要由人工完成，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，不僅工作量大，而且易受檢測(cè)人員主觀因素的影響，容易造成誤檢和漏檢，檢測(cè)效率低，勞動(dòng)強(qiáng)度大。如果在檢測(cè)中操作不慎，還會(huì)對(duì)電子元器件造成二次損傷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是為了克服人工目測(cè)方法的不足，利用非接觸式數(shù)字圖像檢測(cè)技術(shù)來(lái)提高電子元器件缺陷檢測(cè)的效率。提出了一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法。具體步驟:
[0004]步驟(1)采集合格及存在缺陷的電子元器件圖像，構(gòu)造電子元器件圖像樣本庫(kù)；
[0005]對(duì)需要進(jìn)行表面缺陷檢測(cè)的電子元器件；選取200個(gè)合格的該元器件樣品，同時(shí)選取表面存在氣泡，破損，劃痕和引腳油漆下掛的該元器件樣品各100個(gè)；
[0006](a)將樣本器件、照明系統(tǒng)、CXD相機(jī)全部置于封閉的暗箱中，采集上述合格及存在缺陷的電子元器件的表面圖像；
[0007](b)對(duì)采集得到的圖像f按如下方式提取梯度圖像▽ f作為各樣本器件的特征圖像:
[0008]
【權(quán)利要求】
1.一種基于樣本庫(kù)字典基的電子元器件表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于該方法的具體步驟是: 步驟(1)采集合格及存在缺陷的電子元器件圖像，構(gòu)造電子元器件圖像樣本庫(kù)； 對(duì)需要進(jìn)行表面缺陷檢測(cè)的電子元器件，選取200個(gè)合格的該元器件樣品，同時(shí)選取表面存在氣泡，破損，劃痕和引腳油漆下掛的該兀器件樣品各100個(gè)； (a)將樣本器件、照明系統(tǒng)、CCD相機(jī)全部置于封閉的暗箱中，采集上述合格及存在缺陷的電子元器件的表面圖像；(b)對(duì)采集得到的圖像f按如下方式提取梯度圖像▽f作為各樣本器件的特征圖像:
【文檔編號(hào)】G01N21/88GK103954627SQ201410160167
【公開(kāi)日】2014年7月30日 申請(qǐng)日期:2014年4月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月21日
【發(fā)明者】楊宇翔, 高明煜, 何志偉, 吳占雄, 黃繼業(yè), 曾毓 申請(qǐng)人:杭州電子科技大學(xué)