技術(shù)編號(hào)：6224649
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及。目前電子元器件生產(chǎn)過程中的成品缺陷檢測(cè)主要由人工完成，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，不僅工作量大，而且易受檢測(cè)人員主觀因素的影響，容易造成誤檢和漏檢，檢測(cè)效率低，勞動(dòng)強(qiáng)度大。如果在檢測(cè)中操作不慎，還會(huì)對(duì)電子元器件造成二次損傷。本發(fā)明方法利用非接觸式數(shù)字圖像檢測(cè)技術(shù)來提高電子元器件缺陷檢測(cè)的效率，提出了。本發(fā)明方法通過構(gòu)造合格及各類缺陷樣本庫(kù)字典基，自適應(yīng)的對(duì)電子元器件的表面缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，并對(duì)缺陷類別進(jìn)行自動(dòng)判別，可以很好的克服人工目測(cè)檢測(cè)方法的不足。專利說明[...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。