一種基于計算機分層掃描成像cl系統(tǒng)的檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于計算機分層掃描成像CL系統(tǒng)的檢測方法。被檢物體的中心離轉(zhuǎn)軸的距離是與旋轉(zhuǎn)角相關的正弦狀的函數(shù)。完成一次掃描時，被檢物體的中心的運動軌跡為一條閉合的曲線，在一次掃描中平板探測器在所述轉(zhuǎn)臂上來回移動，旋轉(zhuǎn)角的范圍不局限于360度。
【專利說明】—種基于計算機分層掃描成像CL系統(tǒng)的檢測方法
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及X射線成像檢測【技術(shù)領域】，尤其涉及一種基于計算機分層掃描成像CL系統(tǒng)的檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]X射線計算機分層掃描成像(CL-Computed Laminography)技術(shù)對于多層印刷電路板、片狀化石、飛機機翼、太陽能電池板等板狀構(gòu)件的內(nèi)部檢測優(yōu)于傳統(tǒng)的計算機斷層掃描成像(CT-Computed Tomography)技術(shù)。典型的CL系統(tǒng)主要包括三部分:x射線源、探測器及載物臺。
[0003]CL系統(tǒng)進行掃描時X射線沿與板狀樣品平面法線成一定角度的方向穿過，避免了傳統(tǒng)CT掃描中射線沿板狀被檢物體長軸方向無法穿透的情況。但是CL掃描本質(zhì)上是一種非同軸掃描的有限角度投影技術(shù)，獲得的投影數(shù)據(jù)不滿足精確重建理論。
[0004]現(xiàn)有的CL系統(tǒng)掃描裝置，如
【發(fā)明者】劉寶東, 魏存峰, 魏龍, 王雅霄, 邵雨濛, 孟凡輝, 王哲, 李卓昕, 闕介民, 申善威, 周俊光 申請人:中國科學院高能物理研究所