一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種測試定位夾具，具體的說是一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，屬于集成電路測試分選機(jī)【技術(shù)領(lǐng)域】。其包括測試底座，上測試調(diào)整塊上通過螺栓連接擺臂支座，擺臂支座前后兩側(cè)對(duì)稱位置處分別通過擺臂軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接一個(gè)擺臂，兩個(gè)擺臂下端之間連接擺臂拉簧。擺臂上端設(shè)有電路板定位夾緊塊，電路板定位夾緊塊通過鎖緊螺釘鎖緊位置。本實(shí)用新型使用方便，測量精度高；具有自動(dòng)定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動(dòng)集成電路下壓過程中，對(duì)集成電路進(jìn)行自動(dòng)位置校正及夾緊，提高了產(chǎn)品的質(zhì)量。
【專利說明】一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測試定位夾具，具體的說是一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，屬于集成電路測試分選機(jī)【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0002]轉(zhuǎn)盤式測試分選機(jī)的測試定位夾具是一個(gè)非常重要的裝置。在轉(zhuǎn)盤式測試分選機(jī)的工作過程中，真空吸筆吸取集成電路移動(dòng)到測試工位上，吸筆下壓，把集成電路的引腳壓在測試簧片上，進(jìn)行測試。測試時(shí)，引腳與測試簧片的接觸性能好壞直接影響到測試結(jié)果。以往，在集成電路體積較大時(shí)，引腳間的間距很大，對(duì)引腳與測試簧片接觸的位置精度要求不是很高，一般不帶自動(dòng)定位功能的測試夾具就能滿足測試要求。隨著終端消費(fèi)電子的便攜化及節(jié)省電力等的要求，集成電路的封裝形式向著超小型的方向發(fā)展，超小型的集成電路數(shù)量迅猛增長，目前已經(jīng)占到了集成電路市場總量的70%以上，其主要特征表現(xiàn)為:芯片體積小，引腳多且密集，集成功能強(qiáng)大。因此對(duì)測試夾具的要求就很高，要求引腳與測試簧片間有很高的位置精度要求，否則就會(huì)造成測試接觸不到位，測試良率低下，甚至造成引腳間短路，燒毀電路。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的在于克服上述不足之處，從而提供一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，具有自動(dòng)定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動(dòng)集成電路下壓過程中，對(duì)集成電路進(jìn)行自動(dòng)位置校正及夾緊，提高了產(chǎn)品的質(zhì)量。
[0004]按照本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案，一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具包括測試底座，測試底座上固定測試調(diào)整座，測試調(diào)整座上通過螺栓連接下測試調(diào)整塊，下測試調(diào)整塊上通過測試調(diào)整螺絲卡緊連接上測試調(diào)整塊，其特征是:上測試調(diào)整塊上通過螺栓連接擺臂支座，擺臂支座前后兩側(cè)對(duì)稱位置處分別通過擺臂軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接一個(gè)擺臂，兩個(gè)擺臂下端之間連接擺臂拉簧。擺臂上端設(shè)有電路板定位夾緊塊，電路板定位夾緊塊通過鎖緊螺釘鎖緊位置。上測試調(diào)整塊上通過螺栓連接兩個(gè)金手指固定組件，兩個(gè)金手指固定組件沿著擺臂支座左右兩側(cè)對(duì)稱分布。擺臂支座內(nèi)中心位置設(shè)有移動(dòng)軸直線軸承，移動(dòng)軸直線軸承內(nèi)滑動(dòng)安裝移動(dòng)軸，移動(dòng)軸下端為球頭，球頭兩側(cè)緊貼擺臂的內(nèi)端面。移動(dòng)軸上端通過螺紋連接電路板墊塊基座，電路板墊塊基座上端連接電路板墊塊，電路板墊塊上端設(shè)有將電路板壓緊在電路板墊塊上的真空吸筆。所述擺臂支座和電路板墊塊基座之間設(shè)有壓縮彈簧。
[0005]進(jìn)一步的，擺臂軸和擺臂之間設(shè)有擺臂軸軸承，擺臂軸軸承外側(cè)設(shè)有防止擺臂軸軸承脫落的E型扣環(huán)。
[0006]進(jìn)一步的，金手指固定組件包括金手指固定塊，金手指固定塊上通過螺栓連接金手指固定片。
[0007]進(jìn)一步的，直線軸承上端設(shè)有防止移動(dòng)軸脫落的C型扣環(huán)。[0008]進(jìn)一步的，擺臂支座和電路板墊塊基座之間設(shè)有導(dǎo)向裝置，導(dǎo)向裝置包括兩個(gè)安裝在電路板墊塊基座內(nèi)的導(dǎo)向軸直線軸承，每個(gè)導(dǎo)向軸直線軸承內(nèi)滑動(dòng)安裝一個(gè)導(dǎo)向軸，導(dǎo)向軸下端連接擺臂支座。
[0009]本實(shí)用新型與已有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0010]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、緊湊、合理，使用方便，測量精度高；具有自動(dòng)定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動(dòng)集成電路下壓過程中，對(duì)集成電路進(jìn)行自動(dòng)位置校正及夾緊，提高了產(chǎn)品的質(zhì)量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為本實(shí)用新型主視圖。
[0012]圖2為本實(shí)用新型爆炸圖。
[0013]圖3為本實(shí)用新型側(cè)視圖。
[0014]附圖標(biāo)記說明:1-測試底座、2-測試調(diào)整座、3-下測試調(diào)整塊、4-上測試調(diào)整塊、5-擺臂支座、6-擺臂、7-擺臂拉簧、8-測試調(diào)整螺絲、9-金手指固定片、10-金手指固定塊、11-擺臂軸、12-擺臂軸軸承、13-E型扣環(huán)、14-電路板定位夾緊塊、15-真空吸筆、16-電路板墊塊、17-導(dǎo)向軸、18-導(dǎo)向軸直線軸承、19-電路板墊塊基座、20-移動(dòng)軸、21-C型扣環(huán)、22-壓縮彈簧、23-移動(dòng)軸直線軸承。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面本實(shí)用新型將結(jié)合附圖中的實(shí)施例作進(jìn)一步描述:
[0016]如圖f 3所示，本實(shí)用新型主要包括測試底座I,測試底座I上固定測試調(diào)整座2，測試調(diào)整座2上通過螺栓連接下測試調(diào)整塊3，下測試調(diào)整塊3上通過測試調(diào)整螺絲8卡緊連接上測試調(diào)整塊4。
[0017]上測試調(diào)整塊4上通過螺栓連接擺臂支座5，擺臂支座5前后兩側(cè)對(duì)稱位置處分別通過擺臂軸11轉(zhuǎn)動(dòng)連接一個(gè)擺臂6，兩個(gè)擺臂6下端之間連接擺臂拉簧7。擺臂軸11和擺臂6之間設(shè)有擺臂軸軸承12，擺臂軸軸承12外側(cè)設(shè)有防止擺臂軸軸承12脫落的E型扣環(huán)13。擺臂6上端設(shè)有電路板定位夾緊塊14，電路板定位夾緊塊14通過鎖緊螺釘鎖緊位置。
[0018]上測試調(diào)整塊4上通過螺栓連接兩個(gè)金手指固定組件，兩個(gè)金手指固定組件沿著擺臂支座5左右兩側(cè)對(duì)稱分布。所述金手指固定組件包括金手指固定塊10，金手指固定塊10上通過螺栓連接金手指固定片9，手指固定塊10和金手指固定片9之間夾緊測試金手指。
[0019]擺臂支座5內(nèi)中心位置設(shè)有移動(dòng)軸直線軸承23，直線軸承23上端設(shè)有防止移動(dòng)軸20脫落的C型扣環(huán)21。移動(dòng)軸直線軸承23內(nèi)滑動(dòng)安裝移動(dòng)軸20，移動(dòng)軸20下端為球頭，球頭兩側(cè)緊貼擺臂6的內(nèi)端面。移動(dòng)軸20上端通過螺紋連接電路板墊塊基座19，電路板墊塊基座19上端連接電路板墊塊16，電路板墊塊16上端設(shè)有將電路板壓緊在電路板墊塊16上的真空吸筆15。所述擺臂支座5和電路板墊塊基座19之間設(shè)有壓縮彈簧22。
[0020]所述擺臂支座5和電路板墊塊基座19之間設(shè)有導(dǎo)向裝置，導(dǎo)向裝置包括兩個(gè)安裝在電路板墊塊基座19內(nèi)的導(dǎo)向軸直線軸承18，每個(gè)導(dǎo)向軸直線軸承18內(nèi)滑動(dòng)安裝一個(gè)導(dǎo)向軸17，導(dǎo)向軸17下端連接擺臂支座5。[0021]本實(shí)用新型的工作原理是:工作時(shí)，真空吸筆吸住集成電路下壓，直至把電路壓在電路板墊塊上，然后繼續(xù)下壓，使得電路板墊塊基座克服壓縮彈簧的回彈力，連同移動(dòng)軸一起沿導(dǎo)向軸導(dǎo)向方向運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向軸限制電路板墊塊基座不能回轉(zhuǎn)。移動(dòng)軸下端的球頭推動(dòng)兩個(gè)接觸的擺臂，帶動(dòng)兩個(gè)擺臂繞擺臂軸轉(zhuǎn)動(dòng)，使得兩個(gè)擺臂上端的電路板定位夾緊塊做相對(duì)運(yùn)動(dòng)的夾緊動(dòng)作。由于是對(duì)稱運(yùn)動(dòng)，使得電路引腳相對(duì)于金手指的簧片即使有偏移，也會(huì)由于電路定位塊做的相向?qū)ΨQ動(dòng)作，而校正到位置對(duì)齊。電路板定位夾緊塊首先是活動(dòng)的，在真空吸筆吸住集成電路，連帶電路板墊塊、電路板墊塊基座一起下壓，直至集成電路引腳與測試金手指在同一平面上，然后手動(dòng)調(diào)整集成電路中心與測試金手指中心對(duì)齊，這樣集成電路引腳與測試金手指簧片也對(duì)齊，一一對(duì)應(yīng)接觸。然后真空吸筆再繼續(xù)下壓，保證集成電路引腳與測試金手指簧片有良好的接觸應(yīng)力，最后調(diào)整電路板定位夾緊塊的位置，使得電路板定位夾緊塊輕微觸碰到(或不觸碰到)電路板的兩側(cè)邊緣，通過鎖緊螺絲鎖緊電路板定位夾緊塊，從而實(shí)現(xiàn)了夾緊定位工作。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、緊湊、合理，使用方便，測量精度高；具有自動(dòng)定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動(dòng)集成電路下壓過程中，對(duì)集成電路進(jìn)行自動(dòng)位置校正及夾緊，提高了產(chǎn)品的質(zhì)量。
【權(quán)利要求】
1.一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，包括測試底座(1)，測試底座(1)上固定測試調(diào)整座(2)，測試調(diào)整座(2)上通過螺栓連接下測試調(diào)整塊(3)，下測試調(diào)整塊(3)上通過測試調(diào)整螺絲(8)卡緊連接上測試調(diào)整塊(4)，其特征是:上測試調(diào)整塊(4)上通過螺栓連接擺臂支座(5)，擺臂支座(5)前后兩側(cè)對(duì)稱位置處分別通過擺臂軸(11)轉(zhuǎn)動(dòng)連接一個(gè)擺臂(6)，兩個(gè)擺臂(6)下端之間連接擺臂拉簧(7);擺臂(6)上端設(shè)有電路板定位夾緊塊(14)，電路板定位夾緊塊(14)通過鎖緊螺釘鎖緊位置；上測試調(diào)整塊(4)上通過螺栓連接兩個(gè)金手指固定組件，兩個(gè)金手指固定組件沿著擺臂支座(5)左右兩側(cè)對(duì)稱分布；擺臂支座(5)內(nèi)中心位置設(shè)有移動(dòng)軸直線軸承(23)，移動(dòng)軸直線軸承(23)內(nèi)滑動(dòng)安裝移動(dòng)軸(20)，移動(dòng)軸(20)下端為球頭，球頭兩側(cè)緊貼擺臂(6)的內(nèi)端面；移動(dòng)軸(20)上端通過螺紋連接電路板墊炔基座(19)，電路板墊炔基座(19)上端連接電路板墊塊(16)，電路板墊塊(16)上端設(shè)有將電路板壓緊在電路板墊塊(16)上的真空吸筆(15);所述擺臂支座(5)和電路板墊炔基座(19)之間設(shè)有壓縮彈簧(22)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，其特征是:所述擺臂軸(11)和擺臂(6)之間設(shè)有擺臂軸軸承(12)，擺臂軸軸承(12)外側(cè)設(shè)有防止擺臂軸軸承(12)脫落的E型扣環(huán)(13)。
3.如權(quán)利要 求1所述的一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，其特征是:所述金手指固定組件包括金手指固定塊(10)，金手指固定塊(10)上通過螺栓連接金手指固定片(9)。
4.如權(quán)利要求1所述的一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，其特征是:所述直線軸承(23)上端設(shè)有防止移動(dòng)軸(20)脫落的C型扣環(huán)(21)。
5.如權(quán)利要求1所述的一種用于轉(zhuǎn)盤式集成電路測試分選機(jī)的測試定位夾具，其特征是:所述擺臂支座(5)和電路板墊炔基座(19)之間設(shè)有導(dǎo)向裝置，導(dǎo)向裝置包括兩個(gè)安裝在電路板墊炔基座(19)內(nèi)的導(dǎo)向軸直線軸承(18)，每個(gè)導(dǎo)向軸直線軸承(18)內(nèi)滑動(dòng)安裝一個(gè)導(dǎo)向軸(17)，導(dǎo)向軸(17)下端連接擺臂支座(5)。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK203759059SQ201320876593
【公開日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2013年12月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月27日
【發(fā)明者】蘆俊, 陳侖 申請(qǐng)人:無錫華普微電子有限公司