用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具，該驗(yàn)具為一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)的箱體，包括上蓋、下蓋和四個(gè)側(cè)面，所述四個(gè)側(cè)面的上方開(kāi)口處封裝有上蓋，對(duì)應(yīng)該上蓋的下方開(kāi)口處封裝有下蓋，所述上蓋制有沉頭孔，該沉頭孔下端同軸連接一套管，所述下蓋通過(guò)合頁(yè)與側(cè)面連接，所述左、右兩側(cè)面的下端內(nèi)分別嵌裝有磁鐵，對(duì)應(yīng)該磁鐵的下蓋內(nèi)同樣嵌裝有磁鐵。將零件對(duì)準(zhǔn)沉頭孔并通過(guò)套管落在驗(yàn)具內(nèi)部，如果零件的外緣發(fā)生形變，則不能順利通過(guò)套管，即為不合格品。該驗(yàn)具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便快捷，有效提高檢驗(yàn)的工作效率，并大大降低了漏檢率。
【專利說(shuō)明】用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于驗(yàn)具制造領(lǐng)域，具體地說(shuō)，是一種用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具。
【背景技術(shù)】
[0002]在元器件制造行業(yè)中，通常需要將兩個(gè)圓柱體芯體和套管同軸連接在一起，為了防止芯體脫落，在芯體與套管連接的套管外緣上壓制有壓痕。在進(jìn)行上述操作過(guò)程中，如果用力過(guò)大會(huì)導(dǎo)致套管的外緣發(fā)生形變，從而不能將其安裝在另外的產(chǎn)品上。
[0003]傳統(tǒng)檢驗(yàn)套管外緣是否發(fā)生變形的方法是:通過(guò)卡尺測(cè)量套管的直徑。但是這種方法的工作效率相當(dāng)?shù)停衣z率高。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便的用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具。
[0005]本實(shí)用新型的方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0006]一種用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具，該驗(yàn)具為一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)的箱體，包括上蓋、下蓋和四個(gè)側(cè)面，所述四個(gè)側(cè)面的上方開(kāi)口處封裝有上蓋，對(duì)應(yīng)該上蓋的下方開(kāi)口處封裝有下蓋，所述上蓋制有沉頭孔，該沉頭孔下端同軸連接一套管。
[0007]而且，所述下蓋通過(guò)合頁(yè)與側(cè)面連接，所述左、右兩側(cè)面的下端內(nèi)分別嵌裝有磁鐵，對(duì)應(yīng)該磁鐵的下蓋內(nèi)同樣嵌裝有磁鐵。
[0008]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是:
[0009]將零件對(duì)準(zhǔn)沉頭孔并通過(guò)套管落在驗(yàn)具內(nèi)部，如果零件的外緣發(fā)生形變，則不能順利通過(guò)套管，即為不合格品。該驗(yàn)具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便快捷，有效提高檢驗(yàn)的工作效率，并大大降低了漏檢率。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1是本實(shí)用新型的主視圖；
[0011]圖2是圖1的A-A向剖視圖(下蓋打開(kāi)狀態(tài))。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖并通過(guò)具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳述。
[0013]一種用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具，如圖1、圖2所示，該驗(yàn)具為一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)的箱體，包括上蓋1、下蓋6和四個(gè)側(cè)面4，所述四個(gè)側(cè)面的上方開(kāi)口處封裝有上蓋，對(duì)應(yīng)該上蓋的下方開(kāi)口處封裝有下蓋。
[0014]所述上蓋制有兩個(gè)沉頭孔2，每個(gè)沉頭孔下端同軸連接一套管3，該套管的內(nèi)圓與要檢測(cè)零件(圖中未示出)的外緣直徑相應(yīng)。[0015]為了便于取出零件，所述下蓋通過(guò)合頁(yè)7與側(cè)面連接，所述左右兩側(cè)面的下端內(nèi)分別嵌裝有磁鐵5，對(duì)應(yīng)該磁鐵的下蓋內(nèi)同樣嵌裝有磁鐵8，從而實(shí)現(xiàn)可打開(kāi)或關(guān)閉下蓋的目的。
[0016]將零件對(duì)準(zhǔn)沉頭孔并通過(guò)套管落在驗(yàn)具內(nèi)部，如果零件的外緣發(fā)生形變，則不能順利通過(guò)套管，即為不合格品。該驗(yàn)具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便快捷，有效提高檢驗(yàn)的工作效率，并大大降低了漏檢率。
[0017]需要強(qiáng)調(diào)的是，本實(shí)用新型所述的實(shí)施例是說(shuō)明性的，而不是限定性的，因此本實(shí)用新型包括并不限于【具體實(shí)施方式】中所述的實(shí)施例，凡是由本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)方案得出的其他實(shí)施方式，同樣屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具，其特征在于:該驗(yàn)具為一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)的箱體，包括上蓋、下蓋和四個(gè)側(cè)面，所述四個(gè)側(cè)面的上方開(kāi)口處封裝有上蓋，對(duì)應(yīng)該上蓋的下方開(kāi)口處封裝有下蓋，所述上蓋制有沉頭孔，該沉頭孔下端同軸連接一套管。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢驗(yàn)圓柱體外緣變形的驗(yàn)具，其特征在于:所述下蓋通過(guò)合頁(yè)與側(cè)面連接，所述左、右兩側(cè)面的下端內(nèi)分別嵌裝有磁鐵，對(duì)應(yīng)該磁鐵的下蓋內(nèi)同樣嵌裝有磁鐵。
【文檔編號(hào)】G01B5/30GK203518929SQ201320555346
【公開(kāi)日】2014年4月2日 申請(qǐng)日期:2013年9月9日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月9日
【發(fā)明者】劉嘉明, 張帥 申請(qǐng)人:天津信諾特電子有限公司