一種電阻檢測電路的制作方法
【專利摘要】一種電阻檢測電路,包括:帶隙基準(zhǔn)源,上升延遲單元,電壓轉(zhuǎn)電流電路,電流鏡單元,電流比較器,電流應(yīng)用電路,電壓轉(zhuǎn)電流電路包括一內(nèi)部電阻,且可連接一外部電阻,電流比較器通過將電流鏡的電流與基準(zhǔn)電流比較,將比較結(jié)果輸出至電壓轉(zhuǎn)電流電路,判斷電壓轉(zhuǎn)電流電路是否連接有外部電阻,并控制電壓轉(zhuǎn)電流電路內(nèi)部的開關(guān),在有外部電阻的情況下,選擇外部電阻作為阻值,在無外部電阻的情況下,選擇內(nèi)部電阻作為阻值,從而電流應(yīng)用電路可根據(jù)所得到的電流完成對應(yīng)的功能。
【專利說明】—種電阻檢測電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉電路測量領(lǐng)域,特別涉及一種電阻檢測電路。
【背景技術(shù)】
[0002]電阻作為無源器件,在芯片內(nèi)部和芯片外部都有廣闊的應(yīng)用。芯片內(nèi)部的電阻可以給系統(tǒng)設(shè)置帶來方便,其已經(jīng)有固定設(shè)置好的阻值,使用戶省去一個外部電阻R,方便用戶使用。但是由于內(nèi)部電阻的固定性,也會給一些具體的應(yīng)用帶來不方便,用戶不能按照他們的應(yīng)用設(shè)置或調(diào)節(jié)電阻值,所以在很多場合需要有可外部設(shè)置電阻值的功能。比如在電源系統(tǒng)設(shè)置限流值的時候,既需要有內(nèi)部固定值,也需要有外部可設(shè)置值。還有很多,比如設(shè)置輸出電壓,設(shè)置輸出電流等等,僅僅有內(nèi)部固定值是不夠的,還都需要有外部可調(diào)節(jié)、可設(shè)置阻值的功能。而目前現(xiàn)有的芯片皆無此功能。
[0003]本實用新型的目的是為了設(shè)計一種簡單、穩(wěn)定的電阻檢測電路設(shè)計,用以檢測外部是否有外部電阻,從而改變芯片的阻值來適應(yīng)以上的要求,實現(xiàn)所需的應(yīng)用。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型針對現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足,提供了一種電阻檢測電路,可應(yīng)用于各種電源管理芯片,用以檢測外部是否接有電阻,從而控制切換阻值,實現(xiàn)外部可調(diào)節(jié)、可設(shè)置阻值的功能。
[0005]本實用新型通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0006]一種電阻檢測電路,包括:
[0007]帶隙基準(zhǔn)源,用以產(chǎn)生基準(zhǔn)電壓、基準(zhǔn)電流以及基準(zhǔn)到位信號;
[0008]上升延遲單元,連接帶隙基準(zhǔn)源,接收基準(zhǔn)到位信號,并產(chǎn)生對應(yīng)的延遲信號;
[0009]電壓轉(zhuǎn)電流電路,連接帶隙基準(zhǔn)源,接收基準(zhǔn)電壓,將基準(zhǔn)電壓轉(zhuǎn)化為一第一電流,電壓轉(zhuǎn)電流電路包括一內(nèi)部電阻,電壓轉(zhuǎn)電流電路可連接一外部電阻;
[0010]電流鏡單元,連接電壓轉(zhuǎn)電流電路,接收電壓轉(zhuǎn)電流電路輸出的電流,并輸出對應(yīng)的一第二電流以及一第三電流;
[0011]電流比較器,連接帶隙基準(zhǔn)源、上升延遲單元、電流鏡單元以及電壓轉(zhuǎn)電流電路,接收基準(zhǔn)到位信號、基準(zhǔn)電流、延遲信號以及第二電流,通過將第二電流與基準(zhǔn)電流比較,將比較結(jié)果輸出至電壓轉(zhuǎn)電流電路,判斷電壓轉(zhuǎn)電流電路是否連接有外部電阻,以控制第一電流;
[0012]電流應(yīng)用電路,連接電流鏡單元以及上升延遲單元,在電流比較器比較完成后,接收第三電流,完成對應(yīng)的功能;
[0013]其中,電壓轉(zhuǎn)電流電路在連接有外部電阻的情況下,第一電流的值為基準(zhǔn)電壓除以外部電阻所得到的電流值,電壓轉(zhuǎn)電流電路在未連接有外部電阻的情況下,第一電流的值為基準(zhǔn)電壓除以內(nèi)部電阻所得到的電流值。
[0014]較佳的,電壓轉(zhuǎn)電流電路包括:[0015]放大器,放大器的正向輸入端連接帶隙基準(zhǔn)源,接收基準(zhǔn)電壓;
[0016]NMOS管,NMOS管的柵極連接放大器的輸出端,NMOS管的源極連接放大器的負(fù)向輸入端;
[0017]第一開關(guān),一端連接在NMOS管的源極以及放大器的負(fù)向輸入端之間,另一端連接內(nèi)部電阻;
[0018]第二開關(guān),一端連接在NMOS管的源極以及放大器的負(fù)向輸入端之間,另一端可連接外部電阻。
[0019]較佳的,第一開關(guān)在初始狀態(tài)下為斷開狀態(tài),第二開關(guān)在初始狀態(tài)下為閉合狀態(tài)。
[0020]較佳的,電流鏡單元包括:
[0021]若干PMOS管,包括第一 PMOS管、第二 PMOS管、第三PMOS管,NMOS管的漏極連接第一 PMOS管的漏極,以及第一 PMOS管、第二 PMOS管、第三PMOS管的柵極,第一 PMOS管、第二 PMOS管、第三PMOS管的源極連接一電源,第二 PMOS管的漏極連接電流源,第三PMOS管的漏極連接電流應(yīng)用電路。
[0022]較佳的,電流比較器包括:
[0023]第一反相器,第一反相器的輸入端連接第二 PMOS管的漏極;
[0024]觸發(fā)器,觸發(fā)器的輸入端連接第一反相器的輸出端,觸發(fā)器的觸發(fā)端連接上升延遲單元,接收延遲信號,觸發(fā)器的復(fù)位端連接帶隙基準(zhǔn)源,接收基準(zhǔn)到位信號,觸發(fā)器的輸出端連接第一開關(guān),以控制第一開關(guān)的開合狀態(tài);
[0025]第二反相器,連接觸發(fā)器的輸出端,第二反相器的輸出端連接第二開關(guān),以控制第二開關(guān)的開合狀態(tài);
[0026]電流源,一端連接第一反相器的輸入端以及第二 PMOS管的漏極,另一端接地。
[0027]較佳的,電流源的電流值與基準(zhǔn)電壓除以外部電阻的最大值進行比較,若電流源的電流值大于基準(zhǔn)電壓除以外部電阻的最大值,則第一開關(guān)閉合,第二開關(guān)斷開,若電流源的電流值小于基準(zhǔn)電壓除以外部電阻的最大值,則第二開關(guān)閉合,第一開關(guān)斷開。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0028]圖1所示的是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0029]圖2所示的是本實用新型一實施例的電路結(jié)構(gòu)圖;
[0030]圖3所示的是本實用新型在連接外部電阻的狀態(tài)下的各個信號的比較圖;
[0031]圖4所示的是本實用新型在不接外部電阻的狀態(tài)下的各個信號的比較圖。
【具體實施方式】
[0032]以下將結(jié)合本實用新型的附圖,對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整的描述和討論,顯然,這里所描述的僅僅是本實用新型的一部分實例,并不是全部的實例,基于本實用新型中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本實用新型的保護范圍。
[0033]為了便于對本實用新型實施例的理解,下面將結(jié)合附圖以具體實施例為例作進一步的解釋說明,且各個實施例不構(gòu)成對本實用新型實施例的限定。
[0034]請參考圖1,電阻檢測電路,包括:帶隙基準(zhǔn)源1,上升延遲單元2,電壓轉(zhuǎn)電流電路6,電流鏡單元3,電流比較器5,電流應(yīng)用電路4。
[0035]請參考圖2,在本實施例中,帶隙基準(zhǔn)源I輸出基準(zhǔn)電壓Vref和基準(zhǔn)到位信號Vref_oko基準(zhǔn)到位信號Vref_ok輸入上升延遲單元2,上升延遲單元2輸出Vref_ok_dy信號;
[0036]放大器61的正向輸入端是Vref,放大器61的輸出接到NMOS管NI的柵極,NI的源極接到放大器61的負(fù)向輸入端,同時也接到開關(guān)Kl和開關(guān)K2。開關(guān)Kl的另一端接到內(nèi)部電阻R1,內(nèi)部電阻Rl的另一端接地。開關(guān)K2的另一端是芯片的輸出腳,可接芯片外部電阻R2 ;
[0037]NI的漏極接到PMOS管Pl的漏極VB,同時也接到PMOS管P1,P2和P3的柵極。Pl的源極接電源VDD,P2和P3的源極也都接到電源VDD ;
[0038]P2的漏極接到電流源51 (Ibias),即01處,Ibias的另一端接地,P3的漏極接到電流應(yīng)用電路4 ;
[0039]01接到第一反向器52的輸入端,02是第一反向器52的輸出端,02接入邊沿觸發(fā)器53的輸入端D,邊沿觸發(fā)器53的觸發(fā)端C接信號Vref_ok_dy,即上升延遲單元2的輸出信號,邊沿觸發(fā)器53的復(fù)位端R接Vref_ok信號,即帶隙基準(zhǔn)源I的到位信號;
[0040]邊沿觸發(fā)器53的輸出信號到開關(guān)Kl,同時也是第二反向器54的輸入信號,第二反向器54的輸出信號接到開關(guān)K2。
[0041]以下結(jié)合圖2、圖3對本實用新型的工作原理進行說明:
[0042]帶隙基準(zhǔn)源I產(chǎn)生Vref電壓作為放大器61的正向輸入電壓,同時帶隙基準(zhǔn)源I還輸出基準(zhǔn)到位信號Vref_ok信號,當(dāng)Vref電壓為低的時候,Vref_ok也為低,當(dāng)Vref電壓變高(1.2V)的時候,Vref_ok信號也變高。
[0043]Vref_ok信號輸入到上升延遲單元2,并輸出Vref_ok_dy信號,當(dāng)Vref_ok變高的時候,Vref_ok_dy信號經(jīng)過上升延遲單元2延遲一段時間Tl后,Vref_ok_dy信號也變高,當(dāng)Vref_ok變低的時候,Vref_ok_dy馬上變低,所以上升延遲單元2只對Vref_ok信號的上升沿作延遲,但不對Vref_ok的下降沿作延遲。
[0044]Vref_ok輸入到邊沿觸發(fā)器53的復(fù)位端,所以當(dāng)電源剛上電的時候,帶隙基準(zhǔn)源I輸出還為低,Vref_ok為低,所以邊沿觸發(fā)器53的輸出也為低,所以開關(guān)Kl打開,第二反向器54的輸出接到開關(guān)K2,開關(guān)Kl打開,由于兩者電平相反,所以開關(guān)K2閉合。
[0045]由上述分析,當(dāng)電源剛上電,帶隙基準(zhǔn)源I還未正常工作時,開關(guān)Kl打開,開關(guān)K2閉合(即假設(shè)在初始狀態(tài)下接有外部電阻R2,Vref/R2去和Ibias比較,如果假設(shè)成立,那么用觸發(fā)器就固定在外部電阻R2上。但是如果假設(shè)不成立,外部沒有接外部電阻R2,那么Ibias>Vref/R2,這樣觸發(fā)器就切換到內(nèi)部電阻,具體將在后續(xù)詳細(xì)說明),由于開關(guān)K2是接到芯片外部的,所以要分兩種情況來分析。第一種是接了外部電阻R2,第二種是未接外部電阻R2。
[0046]先分析第一種情況,接外部電阻R2,具體見圖3。因為剛上電的時候,開關(guān)K2閉合,開關(guān)Kl打開,上電后,帶隙基準(zhǔn)源I開始正常工作,輸出電壓Vref,所以此時流過R2,NI和Pl的電流等于Vref/R2。
[0047]若P2等于Pl,那么流過P2的電流也是等于Vref/R2,Ibias是根據(jù)外部電阻R2的范圍來設(shè)置的,設(shè)置Ibias〈Vref/R2_MAX,其中R2_MAX是外部電阻R2的最大范圍值,所以在外部電阻R2的取值范圍內(nèi)(即連接有外部電阻R2的情況下),Ibias電流都小于Vref/R2。
[0048]由于Vref/R2大于電流Ibias,所以輸出信號01為高,經(jīng)過第一反向器52后,02輸出為低。
[0049]02是邊沿觸發(fā)器53的輸入信號,當(dāng)帶隙基準(zhǔn)源I正常工作后,輸出Vref_ok變?yōu)楦?,所以此時已經(jīng)解除邊沿觸發(fā)器53的復(fù)位狀態(tài),但是邊沿觸發(fā)器53的輸出仍保持為低,當(dāng)Vref_ok變高后,信號02變?yōu)榈?,在等待上升延遲單元2延遲Tl后,Vref_ok_dy變?yōu)楦?,此時02為低,所以邊沿觸發(fā)器53輸出鎖定為低,所以保持開關(guān)Kl打開,K2閉合,說明外面有外部電阻R2接在那里,所以就采用外部電阻R2的值作為電阻值。
[0050]再來分析第二種情況,不接外部電阻R2,見圖4。因為剛上電的時候,開關(guān)K2閉合,Kl打開,上電后,帶隙基準(zhǔn)源I開始正常工作,輸出電壓Vref,因為此時開關(guān)K2開關(guān)處無外部電阻R2,即R2無窮大,Vref/R2無窮小,即電流Ibias大于Vref/R2_MAX,所以沒有電流流過NI,Pl,所以也沒有電流流過P2,所以01變?yōu)榈?,?jīng)過第一反向器52后,其輸出02變?yōu)槁劇?br>
[0051]02是邊沿觸發(fā)器53的輸入信號,當(dāng)帶隙基準(zhǔn)源I正常工作后,輸出Vref_ok變?yōu)楦?,所以此時已經(jīng)解除邊沿觸發(fā)器53的復(fù)位狀態(tài),但是邊沿觸發(fā)器53的輸出仍保持為低,當(dāng)Vref_ok變高后,由于信號02變?yōu)楦?,在等待上升延遲單元2延遲Tl后,Vref_ok_dy變?yōu)楦?,此時02為高,所以邊沿觸發(fā)器53輸出鎖定為高,所以變?yōu)殚_關(guān)Kl閉合,開關(guān)K2打開,通過開關(guān)Kl接到了內(nèi)部電阻Rl上面。說明外面沒有外部電阻R2接在那里,所以就采用內(nèi)部電阻Rl的值作為電阻值。
[0052]上述分別描述了有無外部電阻R2的兩種工作情況,由于上電后,Vref_ok_dy變?yōu)楦撸栽赩ref_ok_dy變高過程中,邊沿觸發(fā)器53的輸出被鎖定,不會再發(fā)生變化,在電源下電后重新上電時才會再去探測外部電阻情況。
[0053]當(dāng)探測鎖定后,如果有外部電阻R2,那么流過P3管的電流1ut就是與Vref/R2成比例的電流,若無外部電阻R2,那么流過P3管的電流1ut就是與Vref/Rl成比例的電流,這路電路1ut進入電流轉(zhuǎn)換電路,根據(jù)不同的應(yīng)用電路對1ut進行處理,以完成相關(guān)的任務(wù)。
[0054]以上所述,僅為本實用新型較佳的【具體實施方式】,但本實用新型的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本實用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。因此,本實用新型的保護范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種電阻檢測電路,其特征在于,包括: 帶隙基準(zhǔn)源,用以產(chǎn)生基準(zhǔn)電壓、基準(zhǔn)電流以及基準(zhǔn)到位信號; 上升延遲單元,連接所述帶隙基準(zhǔn)源,接收所述基準(zhǔn)到位信號,并產(chǎn)生對應(yīng)的延遲信號; 電壓轉(zhuǎn)電流電路,連接所述帶隙基準(zhǔn)源,接收所述基準(zhǔn)電壓,將所述基準(zhǔn)電壓轉(zhuǎn)化為一第一電流,所述電壓轉(zhuǎn)電流電路包括一內(nèi)部電阻,所述電壓轉(zhuǎn)電流電路可連接一外部電阻; 電流鏡單元,連接所述電壓轉(zhuǎn)電流電路,接收所述電壓轉(zhuǎn)電流電路輸出的所述電流,并輸出對應(yīng)的一第二電流以及一第三電流; 電流比較器,連接所述帶隙基準(zhǔn)源、所述上升延遲單元、所述電流鏡單元以及所述電壓轉(zhuǎn)電流電路,接收所述基準(zhǔn)到位信號、所述基準(zhǔn)電流、所述延遲信號以及所述第二電流,通過將所述第二電流與所述基準(zhǔn)電流比較,將比較結(jié)果輸出至所述電壓轉(zhuǎn)電流電路,判斷所述電壓轉(zhuǎn)電流電路是否連接有所述外部電阻,以控制所述第一電流; 電流應(yīng)用電路,連接所述電流鏡單元以及所述上升延遲單元,在所述電流比較器比較完成后,接收所述第三電流,完成對應(yīng)的功能; 其中,所述電壓轉(zhuǎn)電流電路在連接有所述外部電阻的情況下,所述第一電流的值為所述基準(zhǔn)電壓除以所述外部電阻所得到的電流值,所述電壓轉(zhuǎn)電流電路在未連接有所述外部電阻的情況下,所述第一電流的值為所述基準(zhǔn)電壓除以所述內(nèi)部電阻所得到的電流值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻檢測電路,其特征在于,所述電壓轉(zhuǎn)電流電路包括:` 放大器,所述放大器的正向輸入端連接所述帶隙基準(zhǔn)源,接收所述基準(zhǔn)電壓; NMOS管,所述NMOS管的柵極連接所述放大器的輸出端,所述NMOS管的源極連接所述放大器的負(fù)向輸入端; 第一開關(guān),一端連接在所述NMOS管的源極以及所述放大器的負(fù)向輸入端之間,另一端連接所述內(nèi)部電阻; 第二開關(guān),一端連接在所述NMOS管的源極以及所述放大器的負(fù)向輸入端之間,另一端可連接所述外部電阻。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電阻檢測電路,其特征在于,所述第一開關(guān)在初始狀態(tài)下為斷開狀態(tài),所述第二開關(guān)在初始狀態(tài)下為閉合狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電阻檢測電路,其特征在于,所述電流鏡單元包括: 若干PMOS管,包括第一 PMOS管、第二 PMOS管、第三PMOS管,所述NMOS管的漏極連接所述第一 PMOS管的漏極,以及所述第一 PMOS管、第二 PMOS管、第三PMOS管的柵極,所述第一 PMOS管、第二 PMOS管、第三PMOS管的源極連接一電源,所述第二 PMOS管的漏極連接一電流源,所述第三PMOS管的漏極連接所述電流應(yīng)用電路。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電阻檢測電路,其特征在于,所述電流比較器包括: 第一反相器,所述第一反相器的輸入端連接所述第二 PMOS管的漏極; 觸發(fā)器,所述觸發(fā)器的輸入端連接所述第一反相器的輸出端,所述觸發(fā)器的觸發(fā)端連接所述上升延遲單元,接收所述延遲信號,所述觸發(fā)器的復(fù)位端連接所述帶隙基準(zhǔn)源,接收所述基準(zhǔn)到位信號,所述觸發(fā)器的輸出端連接所述第一開關(guān),以控制所述第一開關(guān)的開合狀態(tài);第二反相器,連接所述觸發(fā)器的輸出端,所述第二反相器的輸出端連接所述第二開關(guān),以控制所述第二開關(guān)的開合狀態(tài); 電流源,一端連接所述第一反相器的輸入端以及所述第二 PMOS管的漏極,另一端接地。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電阻檢測電路,其特征在于,通過比較所述電流源的電流值與所述基準(zhǔn)電壓除以所述外部電阻的最大值進行比較,若電流源的電流值大于所述基準(zhǔn)電壓除以所述外部電阻的最大值,則所述第一開關(guān)閉合,所述第二開關(guān)斷開,若電流源的電流值小于所述基準(zhǔn)電壓除以所述外部電阻的最大值,則所述第二開關(guān)閉合,所述第一開關(guān)斷開。
【文檔編號】G01R27/14GK203465353SQ201320528726
【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月28日
【發(fā)明者】張子秋 申請人:上海芯芒半導(dǎo)體有限公司