基于光敏管的檢測電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于光敏管的光檢測電路，包括一個光敏管、三個電阻、一個NMOS管、一個比較器和一個振蕩器。本發(fā)明根據(jù)光敏管的特性，即在被受到遮蔽時，產(chǎn)生的電壓與比較器的標(biāo)準(zhǔn)電壓進行比較，所產(chǎn)生的輸出電壓信號可被后續(xù)的MCU識別。發(fā)明所述的光檢測電路中，所有器件都可由標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝制造，因而可完全于半導(dǎo)體集成電路中實現(xiàn)，具有面積小的特點。由此還帶來了功耗低的特點。
【專利說明】基于光敏管的檢測電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種基于光敏管的光檢測電路。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]傳統(tǒng)的光檢測器采用光電二極管將光信號變?yōu)殡娏餍盘枺又褂煤罄m(xù)電路對該電流信號進行處理，例如使用放大器放大電流信號，以進行檢測和測量。
[0004]這種檢測電路的實現(xiàn)要使用到正負(fù)電源，對于電路的搭建也是非常不方便的。
[0005]而且，檢測電路外聯(lián)的都是分立元件，元件的準(zhǔn)確值存在很大的浮動，對于每個產(chǎn)品都需要調(diào)試，不適宜大規(guī)模量產(chǎn)。
[0006]

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種方便易于調(diào)節(jié)的基于光敏管的光檢測電路。為此，本發(fā)明還要提供所述光檢測電路檢測光信號的方法。
[0008]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明給出以下技術(shù)方案:
一種基于光敏管的光檢測電路，其特征在于，包括一個光敏管、三個電阻、一個NMOS管、一個比較器和一個振蕩器；
光敏管的正端接工作電壓，負(fù)端接第一節(jié)點；
第一電阻的一端接第一節(jié)點，另一端接NMOS管漏極；
第二電阻的一端接工作電壓，另一端接第二節(jié)點；
第三電阻的一端接第二節(jié)點，另一端接地；
NMOS管的漏極接第一電阻一端，柵極接振蕩器的輸出端，源極與襯底相接，均接地；比較器正相端接第二節(jié)點，負(fù)相端接第一節(jié)點，輸出端接整個光檢測電路的輸出端，VDD端接工作電壓，GND端接地；
振蕩器輸出端接NMOS管的柵極，VDD端接工作電壓，GND端接地。
[0009]工作電壓為VDD V。
[0010]第一電阻的阻值為Rl Ω。
[0011]第二電阻的阻值為R2 Ω，第三電阻的阻值為R3 Ω，其中R3/R2=N/1 (N為正實數(shù))。
[0012]所述的振蕩器產(chǎn)生頻率為F Hz的方波，其值大于5k，低電平為0，高電平大于NMOS管的導(dǎo)通電壓，產(chǎn)生的方波占空比為Z%,小于5%。
[0013]本發(fā)明基于光敏管的光檢測電路的工作檢測方法為:
第二節(jié)點處的電壓Vref為
【權(quán)利要求】
1.一種基于光敏管的光檢測電路，其特征在于，包括一個光敏管、三個電阻、一個NMOS管、一個比較器和一個振蕩器； 光敏管的正端接工作電壓，負(fù)端接第一節(jié)點； 第一電阻的一端接第一節(jié)點，另一端接NMOS管漏極； 第二電阻的一端接工作電壓，另一端接第二節(jié)點； 第三電阻的一端接第二節(jié)點，另一端接地； NMOS管的漏極接第一電阻一端，柵極接振蕩器的輸出端，源極與襯底相接，均接地；比較器正相端接第二節(jié)點，負(fù)相端接第一節(jié)點，輸出端接整個光檢測電路的輸出端，VDD端接工作電壓，GND端接地； 振蕩器輸出端接NMOS管的柵極，VDD端接工作電壓，GND端接地； 設(shè)第一電阻的阻值為Rl Ω，第二電阻的阻值為R2 Ω，第三電阻的阻值為R3 Ω，其中R3/R2=N/1，N為正實數(shù)； 所述的振蕩器產(chǎn)生頻率為F Hz的方波，其值大于5k，低電平為0，高電平大于NMOS管的導(dǎo)通電壓，產(chǎn)生的方波占空比為Z%，Z小于5。
【文檔編號】G01J1/44GK103616073SQ201310582863
【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年11月20日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月20日
【發(fā)明者】韓志剛, 計培杰 申請人:同濟大學(xué)