技術(shù)編號(hào)：6184095
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種基于光敏管的光檢測(cè)電路，包括一個(gè)光敏管、三個(gè)電阻、一個(gè)NMOS管、一個(gè)比較器和一個(gè)振蕩器。本發(fā)明根據(jù)光敏管的特性，即在被受到遮蔽時(shí)，產(chǎn)生的電壓與比較器的標(biāo)準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較，所產(chǎn)生的輸出電壓信號(hào)可被后續(xù)的MCU識(shí)別。發(fā)明所述的光檢測(cè)電路中，所有器件都可由標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝制造，因而可完全于半導(dǎo)體集成電路中實(shí)現(xiàn)，具有面積小的特點(diǎn)。由此還帶來(lái)了功耗低的特點(diǎn)。專利說(shuō)明基于光敏管的檢測(cè)電路[0001]本發(fā)明涉及一種基于光敏管的光檢測(cè)電路。[0002]背景...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。