一種光學(xué)檢測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光學(xué)檢測設(shè)備，包括檢測機(jī)臺，所述檢測機(jī)臺設(shè)置有檢測腔體，還包括除塵裝置，所述除塵裝置設(shè)置在所述檢測腔體的設(shè)備出入口處。該光學(xué)檢測設(shè)備通過在基板進(jìn)出檢測機(jī)臺的設(shè)備出入口的位置增加設(shè)置除塵裝置，能夠在基板通過設(shè)備出入口進(jìn)入檢測機(jī)臺時，通過除塵裝置對基板進(jìn)行整片掃描式除塵，實現(xiàn)對基板表面進(jìn)行更加良好的清潔效果，進(jìn)一步解決光學(xué)檢測設(shè)備在對基板表面進(jìn)行光學(xué)檢測過程中，由于清潔效果不夠良好導(dǎo)致灰塵等細(xì)小微粒殘留在基板表面導(dǎo)致的光學(xué)檢測結(jié)果產(chǎn)生誤判的問題。通過使用上述光學(xué)檢測設(shè)備，能夠在對基板進(jìn)行光學(xué)檢測之前，利用除塵裝置實時地對基板表面進(jìn)行除塵，避免由于殘留微粒導(dǎo)致誤判。
【專利說明】一種光學(xué)檢測設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及基板加工領(lǐng)域，特別涉及一種光學(xué)檢測設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]AOI (Automated Optical Inspection,自動光學(xué)檢測)是基于光學(xué)原理,運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB (Printed Circuit Board,印刷電路板)上各種不同貼裝錯誤及焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。
[0003]傳統(tǒng)AOI設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示，其中11為設(shè)備出入口，12為檢測機(jī)臺，13為機(jī)械手臂，14為底箱，圖1中的箭頭指向基板從設(shè)備出入口 11進(jìn)入到檢測機(jī)臺12時的移動方向。該AOI設(shè)備可實現(xiàn)檢測對PCB板自動檢測。當(dāng)AOI設(shè)備對PCB板進(jìn)行自動檢測時，通過攝像頭自動掃描PCB板，采集PCB板表現(xiàn)圖像，將測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB板上存在的缺陷，并通過顯示器或自動打標(biāo)設(shè)備把缺陷顯示或標(biāo)示出來，以供維修人員修整。
[0004]但是上述傳統(tǒng)的AOI設(shè)備在對機(jī)械手臂攜帶的基板進(jìn)行光學(xué)檢測過程中，由于基板表面可能附著有灰塵等細(xì)小顆粒，因此導(dǎo)致AOI設(shè)備誤判的發(fā)生。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005](一)要解決的技術(shù)問題
[0006]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是如何降低光學(xué)檢測設(shè)備的誤判率。
[0007](二)技術(shù)方案
[0008]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種光學(xué)檢測設(shè)備，包括檢測機(jī)臺，所述檢測機(jī)臺設(shè)置有檢測腔體，還包括除塵裝置，所述除塵裝置設(shè)置在所述檢測腔體的設(shè)備出入口處。
[0009]進(jìn)一步地，所述除塵裝置包括除塵單元、真空管道和負(fù)壓單元，所述除塵單元設(shè)置在所述設(shè)備出入口的上方，所述除塵單元的兩端與所述真空管道相連，且所述真空管道與所述負(fù)壓單元的氣體出入口相連。
[0010]進(jìn)一步地，所述除塵單元包括除塵管和除塵口，所述除塵管沿水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺壁面上，所述除塵口設(shè)置于所述除塵管的外壁且與所述除塵管連通，所述除塵口面對待檢測基板。
[0011 ] 進(jìn)一步地，所述除塵口為多個，且均勻分布于所述除塵管的外壁，各所述除塵口處還設(shè)置有圓盤形或者橫截面為V字形的條形吸塵件。
[0012]進(jìn)一步地，所述除塵管的兩端與所述真空管道之間螺接。
[0013]進(jìn)一步地，所述真空管道包括相互連接的第一管道和第二管道，所述第一管道的第一端與所述除塵管的第一端相連，所述第二管道的第一端與所述除塵管的第二端相連，所述第一管道的第二端和所述第二管道的第二端分別與所述負(fù)壓單元的出入口相連。
[0014]進(jìn)一步地，所述第一管道和第二管道均包括垂直段和水平段，兩所述垂直段沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺壁面內(nèi)，且分別位于所述除塵管的兩側(cè)，兩所述水平段沿水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺壁面內(nèi)，且分別與所述負(fù)壓單元的出入口相相連。
[0015]進(jìn)一步地，所述檢測機(jī)臺還包括兩個支撐板，所述兩個支撐板沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺上且分別位于檢測腔體的設(shè)備出入口兩側(cè)，所述第一管道和第二管道的垂直段分別設(shè)置于所述兩個支撐板內(nèi)部。
[0016]進(jìn)一步地，所述檢測機(jī)臺下部還設(shè)置有底箱，所述負(fù)壓單元以及所述第一管道和第二管道的水平段均設(shè)置于所述底箱中。
[0017]進(jìn)一步地，所述第一管道的第一端與所述除塵管的第一端通過轉(zhuǎn)接管相連和/或所述第二管道的第一端與所述除塵管的第二端通過轉(zhuǎn)接管相連。
[0018]進(jìn)一步地，所述檢測腔體的設(shè)備出入口外側(cè)還設(shè)置有機(jī)械手臂，用于攜帶待檢測基板通過所述設(shè)備出入口進(jìn)入和移出所述檢測腔體。
[0019](三)有益效果
[0020]本發(fā)明實施例提供的一種光學(xué)檢測設(shè)備，包括檢測機(jī)臺，所述檢測機(jī)臺設(shè)置有檢測腔體，另外還包括除塵裝置，所述除塵裝置設(shè)置在所述檢測腔體的設(shè)備出入口處。該光學(xué)檢測設(shè)備通過在基板進(jìn)出于檢測機(jī)臺的設(shè)備出入口的位置增加設(shè)置除塵裝置，能夠在基板通過設(shè)備出入口進(jìn)入檢測機(jī)臺時，通過除塵裝置對基板進(jìn)行整片掃描式除塵，實現(xiàn)對基板表面進(jìn)行更加良好的清潔效果，通過上述自動除塵的光學(xué)檢測設(shè)備可實現(xiàn)對基板進(jìn)行光學(xué)檢測之前實時對基板表面進(jìn)行除塵，避免由于基板表面殘留微粒導(dǎo)致設(shè)備誤判。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]圖1是傳統(tǒng)AOI設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖2是本發(fā)明實施例提供的一種光學(xué)檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖3是本發(fā)明實施例提供的一種光學(xué)檢測設(shè)備的立體透視圖；
[0024]圖4是本發(fā)明實施例提供的除塵單元的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖5是本發(fā)明實施例提供的吸塵件為圓盤形時除塵單元的截面圖；
[0026]圖6是本發(fā)明實施例提供的吸塵件為圓盤形時除塵單元的仰視圖；
[0027]圖7是本發(fā)明實施例提供的吸塵件為圓盤形時除塵單元的主視圖；
[0028]圖8是本發(fā)明實施例提供的吸塵件為橫截面為V字形時除塵單元的截面圖；
[0029]圖9為本發(fā)明實施例提供的吸塵件為橫截面為V字形時除塵單元的仰視圖；
[0030]圖10為本發(fā)明實施例提供的吸塵件為橫截面為V字形時除塵單元的主視圖；
[0031]圖11是本發(fā)明實施例提供的除塵管內(nèi)螺紋的放大圖；
[0032]圖12是本發(fā)明實施例提供的空氣管道外螺紋的放大圖；
[0033]圖13為本發(fā)明實施例提供的真空管道與負(fù)壓單元的連接關(guān)系示意圖；
[0034]圖14為本發(fā)明實施例提供的帶有支撐板的檢測機(jī)臺的部分結(jié)構(gòu)示意圖；
[0035]圖15為本發(fā)明實施例提供的用于了固定連接第一管道和第二管道的水平段和垂直段的可收縮軟管示意圖。
【具體實施方式】
[0036]下面結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明的【具體實施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0037]本發(fā)明實施例提供了一種光學(xué)檢測設(shè)備，結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示，該光學(xué)檢測設(shè)備中包括檢測機(jī)臺12，所述檢測機(jī)臺12設(shè)置有檢測腔體，另外還包括除塵裝置15，并將所述除塵裝置設(shè)置15在檢測腔體的設(shè)備出入口 11處。圖2中在檢測機(jī)臺12靠近設(shè)備出入口 11處的位置還可設(shè)置有機(jī)械手臂13，用于攜帶待檢測基板(以下簡稱基板)通過設(shè)備出入口 11進(jìn)入和移出檢測腔體。通過機(jī)械手臂13可自動完成對基板的放入和去除作業(yè)。
[0038]通過在光學(xué)檢測設(shè)備中檢測腔體的設(shè)備出入口增加設(shè)置除塵裝置，能夠?qū)M(jìn)入檢測腔體的基板的表面進(jìn)行實時清潔，去除基板表面殘留的灰塵等微粒，避免檢測設(shè)備出現(xiàn)誤判。
[0039]優(yōu)選地，如圖3所示，除塵裝置15包括除塵單元151、真空管道152和負(fù)壓單元153，除塵單元151設(shè)置在設(shè)備出入口 11的上方，除塵單元151的兩端與真空管道152相連，且真空管道152與負(fù)壓單元153的氣體出入口相連。
[0040]需要說明的是，圖2中標(biāo)示的除塵裝置15并不是其全部結(jié)構(gòu)，僅示出了除塵裝置中的部分結(jié)構(gòu)，即除塵單元。本實施例還提供了對于上述光檢測設(shè)備的立體透視圖，如圖3所示。圖3中不僅示出了除塵單元151，還示出了真空管道152和負(fù)壓單元153。
[0041]進(jìn)一步地，參照圖4所示，本實施例中的除塵單元151包括除塵管1511和除塵口(圖4中未標(biāo)示)。其中除塵管1511沿水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺12壁面上，除塵口設(shè)置于除塵管1511的外壁上且與除塵管1511連通，除塵口面對待檢測基板。優(yōu)選地，本實施例中除塵單元151中的除塵口為多個，且均勻分布于除塵管1511的外壁，各除塵口處還設(shè)置有圓盤形或者橫截面為V字形的條形吸塵件，在圖4中用標(biāo)號18表示。當(dāng)吸塵件18的形狀為圓盤形時，對除塵單元151的截面圖如圖5所示，對除塵單元151從底面觀看的仰視圖如圖6所示，主視圖如圖7所示，其中圖5-圖7中的標(biāo)號1512表示除塵口。需要說明的是，圖4、圖6和圖7中的除塵口的個數(shù)為13，圓盤形吸塵件個數(shù)也為13，也就是每個吸塵口處均設(shè)置有一個吸塵件，但是本實施例中對于除塵口 /吸塵件的個數(shù)不做具體限定，在實際使用中可以根據(jù)除塵管的長度、除塵口的大小、吸塵件的形狀等影響除塵效率的需求進(jìn)行設(shè)定。
[0042]例如，本實施例中吸塵件18也可以為橫截面為V字形的條形吸塵件。當(dāng)吸塵件18的形狀為條形時，本實施例中以橫截面為V字形的條形吸塵件為例，對除塵單元151的截面示意圖如圖8所示,對除塵單元151從底面觀看的仰視圖如圖9所示,主視圖如圖10所示，此時，吸塵口為開設(shè)在吸塵管壁面上的狹縫，條形吸塵件可以粘接或其他形式密封設(shè)置于吸塵口處，V字形的開口面對基板。其中圖8-圖9中的標(biāo)號1512也表示除塵口。需要說明的是，本實施例中的條形吸塵件是以橫截面為V字形為例進(jìn)行說明的，在本發(fā)明的其他實施例中還可以根據(jù)需要設(shè)計成其它形狀。
[0043]優(yōu)選地，本實施例中的除塵管1511的兩端與真空管道152之間螺接，具體的螺接方式包括:除塵管1511的兩端為內(nèi)螺紋，真空管道152為外螺紋；或者除塵管1511的兩端為外螺紋，真空管道152為內(nèi)螺紋。本實施例中優(yōu)選采用除塵管1511內(nèi)螺紋匹配真空管道152外螺紋的連接方式，除塵管1511內(nèi)螺紋的放大圖如圖11所示，真空管道152外螺紋的放大圖如圖12所示。
[0044]需要說明的是，本實施例中的除塵管1511的長度大于通過設(shè)備出入口 11基板的寬度。除塵管1511的長度大于基板的寬度，可保證基板在機(jī)械手臂的帶動下從設(shè)備出入口11進(jìn)入到檢測機(jī)臺12的過程中，通過除塵裝置對其進(jìn)行比較全面地清潔，實現(xiàn)比較良好的
清潔效果。
[0045]優(yōu)選地，參照圖13所示，本實施例中的真空管道152包括相互連接的第一管道1521和第二管道1522，第一管道1521的第一端1521a與除塵管1511的第一端1511a相連，第二管道1522的第一端與除塵管1511的第二端相連，第一管道1521的第二端和第二管道1522的第二端分別與負(fù)壓單元153的出入口相連。對于真空管道與負(fù)壓單元的連接關(guān)系示意圖如圖13所示。從圖13和圖3中可見，連接關(guān)系具體如下:第一管道1521和第二管道1522均包括垂直段和水平段，兩垂直段沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺12壁面內(nèi)，且分別位于除塵管1511的兩側(cè)，兩水平段沿水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺12壁面內(nèi)，且分別與負(fù)壓單元153的出入口相相連。其中第一管道和第二管道與除塵管連接關(guān)系以及第一管道和第二管道與檢測機(jī)臺的位置關(guān)系如圖3所示，除塵管1511、第一管道1521和第二管道1522圍設(shè)于檢測腔體的設(shè)備出入口 11處，除塵管1511水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺的箱體壁面內(nèi)，第一管道和第二管道沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺的箱體壁面內(nèi)，并位于除塵管兩側(cè)。
[0046]優(yōu)選地，參見圖3和圖13所示，檢測機(jī)臺12還包括兩個支撐板19，兩個支撐板19沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺12上且分別位于檢測腔體的設(shè)備出入口 11兩側(cè)，第一管道1521和第二管道1522的垂直段分別設(shè)置于兩個支撐板19內(nèi)部。
[0047]優(yōu)選地，本實施例中第一管道1521的第一端與除塵管1511的第一端通過轉(zhuǎn)接管相連和/或第二管道1522的第一端與除塵管1511的第二端通過轉(zhuǎn)接管相連。并且第一管道1521和第二管道1522與支撐板19為一體成型，圖14中示出的是第一管道1521的第一端1521a以及第二管道1522的第一端1522a通過轉(zhuǎn)接管之后露在支撐板19外面的部分。
[0048]還需要說明的是，上述第一管道1521和第二管道1522的水平段和垂直段之間可通過圖15中的可收縮軟管進(jìn)行固定連接的。
[0049]進(jìn)一步地，本實施例中提供的光學(xué)檢測設(shè)備中檢測機(jī)臺12下部還設(shè)置有底箱14，負(fù)壓單元153以及第一管道1521和第二管道1522的水平段均可設(shè)置于底箱14中，如圖3所示。
[0050]進(jìn)一步地，本實施例中提供的光學(xué)檢測設(shè)備中檢測腔體的設(shè)備出入口 11外側(cè)還設(shè)置有機(jī)械手臂13，用于攜帶待檢測基板通過設(shè)備出入口 11進(jìn)入和移出檢測腔體，如圖2和圖3所示。
[0051]根據(jù)上述光學(xué)檢測設(shè)備，對待檢測基板進(jìn)行清潔的過程如下:
[0052]當(dāng)機(jī)械手臂攜帶待檢測基板逐漸向檢測機(jī)臺移動的過程中，負(fù)壓單元提供負(fù)壓，由于真空管道與除塵管連通，除塵管中也會產(chǎn)生負(fù)壓，基板上的灰塵等微?？赏ㄟ^吸塵口吸入到除塵管中，進(jìn)而通過除塵管進(jìn)入真空管直至進(jìn)入到負(fù)壓單元中，負(fù)壓單元可將灰塵收集，實現(xiàn)清潔。在真空管道中的過程可以是:負(fù)壓單元產(chǎn)生的壓力氣體通過第一管道運(yùn)動到除塵管，將除塵管中的灰塵帶走，繼續(xù)運(yùn)動到第二管道，最后回到負(fù)壓單元中，將灰塵收集到負(fù)壓單元中；或者是負(fù)壓單元產(chǎn)生的壓力氣體通過第二管道運(yùn)動到除塵管，將除塵管中的灰塵帶走，繼續(xù)運(yùn)動到第一管道，最后回到負(fù)壓單元中，將灰塵收集到負(fù)壓單元中。
[0053]綜上所述，通過本實施例提供的光學(xué)檢測設(shè)備，在設(shè)備出入口增加設(shè)置除塵裝置，能夠在基板通過設(shè)備出入口進(jìn)入檢測機(jī)臺的檢測腔體時，通過除塵裝置對基板進(jìn)行整片掃描式除塵，實現(xiàn)對基板表面進(jìn)行更加良好的清潔效果，進(jìn)一步解決光學(xué)檢測設(shè)備在對基板表面進(jìn)行光學(xué)檢測過程中，由于清潔效果不夠良好導(dǎo)致的微粒殘留在基板表面導(dǎo)致的光學(xué)自動檢測誤判的問題。通過上述自動除塵的光學(xué)檢測設(shè)備實現(xiàn)對基板進(jìn)行光學(xué)檢測之前實時對基板表面進(jìn)行除塵，避免由于殘留微粒導(dǎo)致誤判。
[0054]以上實施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對本發(fā)明的限制，有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種光學(xué)檢測設(shè)備，包括檢測機(jī)臺，所述檢測機(jī)臺設(shè)置有檢測腔體，其特征在于，還包括除塵裝置，所述除塵裝置設(shè)置在所述檢測腔體的設(shè)備出入口處。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述除塵裝置包括除塵單元、真空管道和負(fù)壓單元，所述除塵單元設(shè)置在所述設(shè)備出入口的上方，所述除塵單元的兩端與所述真空管道相連，且所述真空管道與所述負(fù)壓單元的氣體出入口相連。
3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述除塵單元包括除塵管和除塵口，所述除塵管沿水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺壁面上，所述除塵口設(shè)置于所述除塵管的外壁上且與所述除塵管連通，所述除塵口面對待檢測基板。
4.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述除塵口為多個，且均勻分布于所述除塵管的外壁，各所述除塵口處還設(shè)置有圓盤形或者橫截面為V字形的條形吸塵件。
5.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述除塵管的兩端與所述真空管道之間螺接。
6.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述真空管道包括相互連接的第一管道和第二管道，所述第一管道的第一端與所述除塵管的第一端相連，所述第二管道的第一端與所述除塵管的第二端相連，所述第一管道的第二端和所述第二管道的第二端分別與所述負(fù)壓單元的出入口相連。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述第一管道和第二管道均包括垂直段和水平段，兩所述垂直段沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺壁面內(nèi)，且分別位于所述除塵管的兩側(cè)，兩所述水平段沿水平方向設(shè)置于檢測機(jī)臺壁面內(nèi)，且分別與所述負(fù)壓單元的出入口相相連。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測機(jī)臺還包括兩個支撐板，所述兩個支撐板沿垂直方向設(shè)置于檢測機(jī)臺上且分別位于檢測腔體的設(shè)備出入口兩側(cè)，所述第一管道和第二管道的垂直段分別設(shè)置于所述兩個支撐板內(nèi)部。
9.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測機(jī)臺下部還設(shè)置有底箱，所述負(fù)壓單元以及所述第一管道和第二管道的水平段均設(shè)置于所述底箱中。
10.如權(quán)利要求4所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述第一管道的第一端與所述除塵管的第一端通過轉(zhuǎn)接管相連和/或所述第二管道的第一端與所述除塵管的第二端通過轉(zhuǎn)接管相連。
11.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測腔體的設(shè)備出入口外側(cè)還設(shè)置有機(jī)械手臂，用于攜帶待檢測基板通過所述設(shè)備出入口進(jìn)入和移出所述檢測腔體。
【文檔編號】G01N21/956GK103558230SQ201310557179
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年11月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月11日
【發(fā)明者】鄭恒 申請人:合肥京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司