壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，它包括電極探針、導(dǎo)線、電源、數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)，其特征在于：所述電極探針通過導(dǎo)線與電源和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)連接，所述電極探針共四個(gè)，沿壩體走向垂直分布，高聚物注漿帷幕兩側(cè)分別有兩個(gè)電極探針，外側(cè)的兩個(gè)為供電探針，內(nèi)側(cè)的兩個(gè)為測(cè)量探針，所述數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)通過虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)，可以實(shí)時(shí)顯示高聚物注漿帷幕兩側(cè)探針之間的大地電阻率，移動(dòng)測(cè)量探針的位置可以測(cè)量不同深度的大地電阻率，通過尋找大地電阻率的突變值可以確定壩體高聚物注漿帷幕缺陷位置。采用該系統(tǒng)對(duì)壩體高聚物注漿帷幕缺陷進(jìn)行檢測(cè)，具有快捷、高效、無損、低成本等優(yōu)點(diǎn)。
【專利說明】壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
:
[0001]本發(fā)明涉及壩體防滲檢測(cè)領(lǐng)域，特別涉及一種壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
:
[0002]高聚物注漿帷幕技術(shù)是一種處理堤壩滲水病害的新技術(shù)，該技術(shù)具有施工快捷、防滲效果好、造價(jià)低、對(duì)堤壩擾動(dòng)小等優(yōu)點(diǎn)，具有廣闊的發(fā)展應(yīng)用前景。但對(duì)高聚物注漿帷幕施工效果的檢測(cè)技術(shù)卻鮮有報(bào)道，這使得高聚物注漿帷幕技術(shù)的發(fā)展受到了一定的限制。如何快速檢測(cè)高聚物注漿帷幕的缺陷成為該技術(shù)發(fā)展的關(guān)鍵。
[0003]虛擬儀器技術(shù)就是利用高性能的模塊化硬件，結(jié)合高效靈活的軟件來完成各種測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化的應(yīng)用。它具有性能高、擴(kuò)展性強(qiáng)、開發(fā)時(shí)間少以及無縫集成等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛用于數(shù)據(jù)采集與測(cè)試中，如能將其運(yùn)用到高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)上，將很好的解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

:
[0004]本發(fā)明針對(duì)目前高聚物注漿帷幕技術(shù)注漿效果的檢測(cè)問題，開發(fā)一種壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，目的在于為高聚物注漿帷幕技術(shù)注漿效果提供一種快速、有效的檢測(cè)系統(tǒng)。
[0005]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案。
[0006]壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，它包括電極探針、導(dǎo)線、電源、數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)，其特征在于:所述電極探針通過導(dǎo)線與電源和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)連接，所述電極探針共四個(gè)，沿壩體走向垂直分布，高聚物注漿帷幕兩側(cè)分別有兩個(gè)電極探針，外側(cè)的兩個(gè)為供電探針，內(nèi)側(cè)的兩個(gè)為測(cè)量探針，所述數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)通過虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)，可以實(shí)時(shí)顯示高聚物注漿帷幕兩側(cè)探針之間的大地電阻率，移動(dòng)測(cè)量探針的位置可以測(cè)量不同深度的大地電阻率，通過尋找大地電阻率的突變值可以確定壩體高聚物注漿帷幕缺陷位置。
[0007]壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的原理為:當(dāng)高聚物注漿帷幕未出現(xiàn)缺陷時(shí)，由于高聚物為絕緣材料，阻抗極大，因此防滲墻兩側(cè)電極M、N間的電阻率是極大的；而當(dāng)高聚物注漿帷幕出現(xiàn)缺陷時(shí)，由于缺陷部位的土體能夠?qū)щ?，使得兩?cè)電極M、N間的電阻率大大減小，然后對(duì)缺陷部位進(jìn)行詳細(xì)探測(cè)，不斷變化兩側(cè)電極M、N間的距離，從而確定缺陷部位的具體位置。
[0008]具體實(shí)施步驟如下:
[0009](I)將A、B兩個(gè)供電探針插入大壩土體中，打開供電開關(guān)。
[0010](2)將M、N兩個(gè)測(cè)量探針與數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)連接并調(diào)試，然后把M、N兩個(gè)測(cè)量探針插入離高聚物注漿帷幕較近的土體中，測(cè)量大地電阻率。
[0011](3)移動(dòng)M、N兩個(gè)測(cè)量探針，使其與高聚物注漿帷幕的距離逐漸增大，繼續(xù)測(cè)量大地電阻率。
[0012](4)當(dāng)遇到大地電阻率突然減小的情況，則說明此處高聚物注漿帷幕有缺陷，進(jìn)一步測(cè)量確定缺陷處的位置并記錄下來。
[0013](5)當(dāng)M、N兩個(gè)測(cè)量探針移動(dòng)到A、B兩個(gè)供電探針處時(shí)，完成第一組測(cè)試，然后沿壩體走向移動(dòng)M、N、A、B四個(gè)探針進(jìn)行第二組測(cè)量。
[0014](6)重復(fù)步驟(I)?(5)，直到完成整個(gè)高聚物注漿帷幕的檢測(cè)工作。
[0015]壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)充分利用高聚物的絕緣性和虛擬儀器技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，采用四探針測(cè)量大地電阻率的方法對(duì)壩體高聚物注漿帷幕缺陷進(jìn)行檢測(cè)，具有快捷、聞效、無損、低成本等優(yōu)點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說明】
:
[0016]圖1是壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)示意圖。
[0017]圖中:1、壩體橫斷面，2、不透水層，3、高聚物注漿帷幕，4、電極探針，5、數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)。

【具體實(shí)施方式】
:
[0018]實(shí)施例:下面結(jié)合附圖進(jìn)一步說明壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的具體施工方法:
[0019](I)將A、B兩個(gè)供電探針插入大壩土體⑴中，打開供電開關(guān)。
[0020](2)將M、N兩個(gè)測(cè)量探針與數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)(5)連接并調(diào)試，然后把M、N兩個(gè)測(cè)量探針插入離高聚物注漿帷幕(3)較近的土體中，測(cè)量大地電阻率。
[0021](3)移動(dòng)M、N兩個(gè)測(cè)量探針，使其與高聚物注漿帷幕的距離逐漸增大，繼續(xù)測(cè)量大地電阻率。
[0022](4)當(dāng)遇到大地電阻率突然減小的情況，則說明此處高聚物注漿帷幕有缺陷，進(jìn)一步測(cè)量確定缺陷處的位置并記錄下來。
[0023](5)當(dāng)M、N兩個(gè)測(cè)量探針移動(dòng)到A、B兩個(gè)供電探針處時(shí)，完成第一組測(cè)試，然后沿壩體走向移動(dòng)M、N、A、B四個(gè)探針進(jìn)行第二組測(cè)量。
[0024](6)重復(fù)步驟(I)?(5)，直到完成整個(gè)高聚物注漿帷幕的檢測(cè)工作。
[0025]壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)充分利用高聚物的絕緣性和虛擬儀器技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，采用四探針測(cè)量大地電阻率的方法對(duì)壩體高聚物注漿帷幕缺陷進(jìn)行檢測(cè)，具有快捷、聞效、無損、低成本等優(yōu)點(diǎn)。
【權(quán)利要求】
1.壩體高聚物注漿帷幕缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，它包括電極探針、導(dǎo)線、電源、數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)，其特征在于:所述電極探針通過導(dǎo)線與電源和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)連接，所述電極探針共四個(gè)，沿壩體走向垂直分布，高聚物注漿帷幕兩側(cè)分別有兩個(gè)電極探針，外側(cè)的兩個(gè)為供電探針，內(nèi)側(cè)的兩個(gè)為測(cè)量探針，所述數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集處理系統(tǒng)通過虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)，可以實(shí)時(shí)顯示高聚物注漿帷幕兩側(cè)探針之間的大地電阻率，移動(dòng)測(cè)量探針的位置可以測(cè)量不同深度的大地電阻率，通過尋找大地電阻率的突變值可以確定壩體高聚物注漿帷幕缺陷位置。
【文檔編號(hào)】G01N27/20GK104237328SQ201310503614
【公開日】2014年12月24日 申請(qǐng)日期:2013年10月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月22日
【發(fā)明者】王磊, 王奎華 申請(qǐng)人:王磊