一種可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種電路，特別是指可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路。本發(fā)明采用如下技術(shù)：一種可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路，其特征在于：所述第二試驗(yàn)繞組的第一端接地，第二試驗(yàn)繞組的第二端上連接有雙向光耦U1，并通過雙向光耦U1與微控制單元MCU實(shí)現(xiàn)電連接。通過采用上述方案，本發(fā)明克服現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種通過上位機(jī)與MCU之間的通信，由MCU控制雙向光耦的通斷，使零序電流互感器檢測(cè)到一個(gè)剩余電流，并通過采樣電路的處理，使剩余電流動(dòng)作斷路器分閘，從而完成對(duì)剩余電流動(dòng)作斷路器進(jìn)行試驗(yàn)測(cè)試的新型的可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路。
【專利說明】—種可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電路，特別是指可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]剩余電流動(dòng)作斷路器應(yīng)用越來越廣泛，網(wǎng)絡(luò)通訊越來越普及。而現(xiàn)有大多數(shù)剩余電流動(dòng)作斷路器均無通信裝置，只能通過人力去現(xiàn)場(chǎng)對(duì)剩余電流動(dòng)作斷路器進(jìn)行試驗(yàn)按鈕操作，來驗(yàn)證剩余電流動(dòng)作斷路器是否能正常工作；或極少數(shù)有通訊功能的，也只是通過上位機(jī)與MCU之間通信，由MCU給脫扣器或分閘裝置發(fā)送一個(gè)信號(hào)使剩余電流動(dòng)作斷路器分閘，而不能真正做到檢測(cè)零序電流互感器、剩余電流信號(hào)檢測(cè)電路是否能正常工作，如圖1所示。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明克服現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種通過上位機(jī)與MCU之間的通信，由MCU控制雙向光耦的通斷，使零序電流互感器檢測(cè)到一個(gè)剩余電流，并通過采樣電路的處理，使剩余電流動(dòng)作斷路器分閘，從而完成對(duì)剩余電流動(dòng)作斷路器進(jìn)行試驗(yàn)測(cè)試，以驗(yàn)證剩余電流動(dòng)作斷路器是否能可靠運(yùn)行的新型的可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路。
[0004]實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù):一種可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路，包括有零序電流互感器ZCT、剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元、微控制單元MCU和上位機(jī)，電流互感器ZCT上設(shè)置有采樣繞組和第二試驗(yàn)繞組，其中采樣繞組連接在剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元上，其特征在于:所述第二試驗(yàn)繞組的第一端接地，第二試驗(yàn)繞組的第二端上連接有雙向光耦Ul，并通過雙向光耦Ul與微控制單元MCU實(shí)現(xiàn)電連接。
[0005]通過采用上述方案，可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器是否能可靠工作。
[0006]本發(fā)明的進(jìn)一步設(shè)置是:所述第二試驗(yàn)繞組的第二端與雙向光耦Ul的腳3連接，雙向光耦Ul的腳4上連接有電阻R1，電阻Rl另一端連接有交流信號(hào)，雙向光耦Ul的腳3與腳4之間連接有試驗(yàn)按鈕，雙向光耦Ul的陽極腳I接有+5V電源，雙向光耦Ul的陰極腳2上連接有三極管Q1，并連接在三極管Ql的集電極上，三極管Ql的發(fā)射極接地，三極管Ql的基極接有電阻R2，電阻R2另一端與微控制單元MCU連接，電阻R2與微控制單元MCU連接處接有電容Cl，電容Cl另一端接地。
[0007]通過采用上述方案，是對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)化，其目的均是為了工作更加穩(wěn)定。
[0008]下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步描述。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本發(fā)明實(shí)施例【背景技術(shù)】電路圖；
圖2為本發(fā)明實(shí)施例的電路圖。
具體實(shí)施例[0010]如圖2所示，一種可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路，包括有零序電流互感器ZCT5、剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元6、微控制單元MCU7和上位機(jī)8，電流互感器ZCT5上設(shè)置有采樣繞組51和第二試驗(yàn)繞組52，其中采樣繞組51連接在剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元6上，在本實(shí)施例中，所述第二試驗(yàn)繞組52的第一端接地，第二試驗(yàn)繞組52的第二端上連接有雙向光耦U1，且第二試驗(yàn)繞組52的第二端與雙向光耦Ul的腳3連接，雙向光耦Ul的腳4上連接有電阻R1，電阻Rl另一端連接有交流信號(hào)，雙向光耦Ul的腳3與腳4之間連接有試驗(yàn)按鈕Kl，雙向光耦Ul的陽極腳I接有+5V電源，雙向光耦Ul的陰極腳2上連接有三極管Q1，并連接在三極管Ql的集電極上，三極管Ql的發(fā)射極接地，三極管Ql的基極接有電阻R2，電阻R2另一端與微控制單元MCU7連接，電阻R2與微控制單元MCU7連接處接有電容Cl，電容Cl另一端接地。
[0011]具體工作原理:由上位機(jī)8給微控制單元MCU7發(fā)指令，然后微控制單元MCU7輸出一個(gè)高電平信號(hào)，經(jīng)過電容Cl濾波和電阻R2限流，驅(qū)動(dòng)三極管Ql，使雙向光耦Ul的陰極腳2得到一個(gè)低電平，從而使雙向光耦Ul工作，然后雙向光耦Ul的腳3和腳4導(dǎo)通，AC的交流信號(hào)從雙向光耦Ul的腳4流向，零序電流互感器ZCT 5的第二端，零序電流互感器ZCT5的采樣繞組51就感應(yīng)到一個(gè)信號(hào)，經(jīng)過剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元6，再通過微控制單元MCU7的AD采樣、計(jì)算,然后通過給剩余電流動(dòng)作斷路器ACT發(fā)指令,使剩余電流動(dòng)作斷路器ACT分閘并得到一個(gè)分閘的信息，并通過微控制單元MCU7反饋給上位機(jī)8，然后判斷剩余電流動(dòng)作斷路器是否可正常工作。
[0012]本發(fā)明所揭示，乃較佳實(shí)施例的一種，舉凡局部的變更或是修飾而源于本發(fā)明的技術(shù)思想而為熟習(xí)該技術(shù)的人所易于推知者，俱不脫本發(fā)明的專利范疇。
【權(quán)利要求】
1.一種可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路，包括有零序電流互感器ZCT、剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元、微控制單元MCU和上位機(jī)，電流互感器ZCT上設(shè)置有采樣繞組和第二試驗(yàn)繞組，其中采樣繞組連接在剩余電流信號(hào)檢測(cè)處理電路單元上，其特征在于:所述第二試驗(yàn)繞組的第一端接地，第二試驗(yàn)繞組的第二端上連接有雙向光耦U1，并通過雙向光耦Ul與微控制單元MCU實(shí)現(xiàn)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可遠(yuǎn)程檢測(cè)剩余電流動(dòng)作斷路器的試驗(yàn)電路，其特征在于:所述第二試驗(yàn)繞組的第二端與雙向光耦Ul的腳3連接，雙向光耦Ul的腳4上連接有電阻Rl,電阻Rl另一端連接有交流信號(hào)AC，雙向光耦Ul的腳3與腳4之間連接有試驗(yàn)按鈕，雙向光耦Ul的陽極腳I接有+5V電源，雙向光耦Ul的陰極腳2上連接有三極管Ql，并連接在三極管Ql的集電極上，三極管Ql的發(fā)射極接地，三極管Ql的基極接有電阻R2，電阻R2另一端與微控制單元MCU連接，電阻R2與微控制單元MCU連接處接有電容Cl，電容Cl另一端接地。
【文檔編號(hào)】G01R31/327GK103487750SQ201310431770
【公開日】2014年1月1日 申請(qǐng)日期:2013年9月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月18日
【發(fā)明者】謝太林, 白建社, 馬超, 高鴻鵬 申請(qǐng)人:德力西電氣有限公司