專利名稱：一種電阻抗測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電學(xué)性能測(cè)試領(lǐng)域，特別是一種電阻抗測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
電阻抗成像是一種只需在物體表面進(jìn)行測(cè)量，而重構(gòu)出內(nèi)部阻抗分布的手段。它通過注入電流到一個(gè)目標(biāo)區(qū)域建立電場(chǎng)，隨后對(duì)目標(biāo)周邊產(chǎn)生的電壓進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)的電阻抗斷層成像技術(shù)中，往往采用一個(gè)固定大小，固定電極位置的模型，然而，實(shí)際使用時(shí)由于被測(cè)物體的個(gè)體差異，使得該固定電極的方式無法很好與體表接觸而產(chǎn)生誤差。同時(shí)，由于傳統(tǒng)測(cè)量方法中所使用的電極均是固定在一個(gè)模型上，對(duì)測(cè)量區(qū)域進(jìn)行一次性均勻測(cè)量，在第一次測(cè)量完成后，無法根據(jù)需要，對(duì)特定區(qū)域再進(jìn)行精確測(cè)量，無法滿足實(shí)際使用需求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的就是提供一種電阻抗測(cè)試方法，它可以直接與被測(cè)相接觸，提高信號(hào)測(cè)量精度，同時(shí)，可以對(duì)待測(cè)物體進(jìn)行初步測(cè)量和精確測(cè)量，根據(jù)被測(cè)物體的實(shí)際情況，確定適合的測(cè)量方式，提高成像效果。本發(fā)明的目的是通過這樣的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的，它包括有信號(hào)生成處理裝置、激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與信號(hào)生成處理裝置的激勵(lì)信號(hào)輸出端連接，反饋信號(hào)接收探頭通過導(dǎo)線II與信號(hào)生成處理裝置的信號(hào)接收端連接；
具體測(cè)試步驟如下:
1)初步測(cè)量
1-1)確定待測(cè)物體的測(cè)量區(qū)域；
1-2)根據(jù)測(cè)量區(qū)域的范圍大小和初步測(cè)量的精度需求，確定反饋信號(hào)接收探頭在測(cè)量區(qū)域內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)；
1-3)根據(jù)步驟1-2)中測(cè)量區(qū)域的范圍大小和測(cè)量的次數(shù)，制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線，以標(biāo)示出反饋信號(hào)接收探頭每次測(cè)量的具體位置；
1-4)將激勵(lì)信號(hào)輸出探頭放置在待測(cè)物體的表面，反饋信號(hào)接收探頭根據(jù)步驟1-3)確定的具體位置依次測(cè)量電壓信號(hào)；
1-5)信號(hào)生成處理裝置對(duì)步驟1-4)中測(cè)量到的電壓信號(hào)進(jìn)行處理，完成待測(cè)物體的測(cè)量區(qū)域在三維空間上的電阻抗圖像重構(gòu)；
2)根據(jù)上一次測(cè)量后所重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像，判斷是否需要精確測(cè)量，若是則轉(zhuǎn)入步驟3)，若不是，則轉(zhuǎn)入步驟4)；
3)精確測(cè)量
3-1)根據(jù)上一次測(cè)量后所重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像，確定下一步測(cè)量過程中的待測(cè)區(qū)域；3-2)根據(jù)待測(cè)區(qū)域范圍大小和精確測(cè)量的精度需求，確定反饋信號(hào)接收探頭在待測(cè)區(qū)域內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)；
3-3)根據(jù)步驟3-2)中待測(cè)區(qū)域的范圍大小和測(cè)量的次數(shù)，制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線，以標(biāo)示出反饋信號(hào)接收探頭每次測(cè)量的具體位置；
3-4)將激勵(lì)信號(hào)輸出探頭放置在待測(cè)物體的表面，反饋信號(hào)接收探頭根據(jù)步驟3-3)確定的具體位置依次測(cè)量電壓信號(hào)；
3-5)信號(hào)生成處理裝置對(duì)步驟3-4)中測(cè)量到的電壓信號(hào)進(jìn)行處理，完成被測(cè)區(qū)域在三維空間上的電阻抗圖像重構(gòu)，并轉(zhuǎn)入步驟2)；
4)輸出重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像。進(jìn)一步，步驟1-2)和步驟3-2)中反饋信號(hào)接收探頭在待測(cè)部位范圍內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)為8或8的倍數(shù)。進(jìn)一步，步驟1-3)和步驟3-3)中所述制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線中，反饋信號(hào)接收探頭的每次測(cè)量位置平均分布在待測(cè)區(qū)域內(nèi)。進(jìn)一步，所述信號(hào)生成處理裝置包括有主控芯片和阻抗變換器，主控芯片發(fā)出控制指令，控制阻抗變換器生成激勵(lì)信號(hào)，阻抗變換器接收反饋電壓信號(hào)，根據(jù)反饋的電壓信號(hào)生成測(cè)量數(shù)據(jù)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸至主控芯片進(jìn)行存儲(chǔ)，所述測(cè)量?jī)x還包括有激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與阻抗變換器的激勵(lì)信號(hào)輸出端連接，反饋信號(hào)接收探頭通過導(dǎo)線II將反饋電壓信號(hào)輸送至阻抗變換器。進(jìn)一步，所述激勵(lì)信號(hào)輸出探頭為圓柱形銅鍍金探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與環(huán)形電極片連接，環(huán)形電極片套在激勵(lì)信號(hào)輸出端。

進(jìn)一步，所述反饋信號(hào)接收探頭包括有內(nèi)圓形電極和外圓環(huán)形電極，內(nèi)圓形電極嵌于外圓環(huán)形電極內(nèi)，導(dǎo)線II與外圓形電極連接。進(jìn)一步，所述阻抗變換器為激勵(lì)與測(cè)量一體化電阻抗轉(zhuǎn)換芯片AD5933。進(jìn)一步，所述信號(hào)生成算是裝置還包括有前端放大濾波電路，反饋信號(hào)接收探頭接收的電壓信號(hào)通過前端放大濾波電路處理后發(fā)送至阻抗變換器。進(jìn)一步，所述主控芯片包括有激勵(lì)信號(hào)控制電路和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路，激勵(lì)信號(hào)控制電路用于發(fā)送控制指令至阻抗變換器，控制阻抗變換器生成激勵(lì)信號(hào)，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路用于接收并儲(chǔ)存阻抗變換器發(fā)送的測(cè)量數(shù)據(jù)。進(jìn)一步，所述主控芯片包括有充電控制模塊、顯示屏接口電路和人機(jī)接口電路；
充電控模塊用于控制電池的充電時(shí)間，并顯示電池剩余電量；
顯示屏接口電路，與顯示屏連接，用于顯示測(cè)量數(shù)據(jù)；
人機(jī)接口電路，用于輸出控制指令。由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明具有如下的優(yōu)點(diǎn):
本發(fā)明在操作人員確定了被測(cè)物體的初步測(cè)量區(qū)域后，對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行初步測(cè)量，初步測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)多少由操作人員確定，根據(jù)測(cè)試結(jié)果生成被測(cè)區(qū)域的導(dǎo)電率三維圖像；操作人員對(duì)三維圖像進(jìn)行判斷，是否有地方需要更清晰的三維圖像，確定精確測(cè)量的成像區(qū)域，操作人員確定該區(qū)域的成像精確程度，從而確定精確測(cè)量過程中的測(cè)試點(diǎn)數(shù)和測(cè)試點(diǎn)分布區(qū)域，再依次讀取測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)，生成精確測(cè)量的三維圖像。根據(jù)需要，操作人員可以多次重新確定測(cè)量區(qū)域，確定每次測(cè)量的方式，生成實(shí)際需要的三維圖像，適用性更強(qiáng)。同時(shí)，本發(fā)明所使用的探頭不受固有模型的限制，可以與待測(cè)物體更好的貼合，提高信號(hào)接收的精度。本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)、目標(biāo)和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進(jìn)行闡述，并且在某種程度上，基于對(duì)下文的考察研究對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是顯而易見的，或者可以從本發(fā)明的實(shí)踐中得到教導(dǎo)。本發(fā)明的目標(biāo)和其他優(yōu)點(diǎn)可以通過下面的說明書和權(quán)利要求書來實(shí)現(xiàn)和獲得。


本發(fā)明的

如下。圖1為本發(fā)明方法流程 圖2為信號(hào)生成處理裝置的結(jié)構(gòu)示意 圖3為前端放大濾波電路的電路結(jié)構(gòu)示意 圖4為激勵(lì)信號(hào)輸出探頭的結(jié)構(gòu)示意 圖5為反饋信號(hào)接收探頭的結(jié)構(gòu)示意 圖6為重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像的方法示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。一種電阻抗測(cè)試方法，它包括信號(hào)生成處理裝置、激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭 通過導(dǎo)線I與信號(hào)生成處理裝置的激勵(lì)信號(hào)輸出端連接，反饋信號(hào)接收探頭通過導(dǎo)線II與信號(hào)生成處理裝置的信號(hào)接收端連接；
具體測(cè)試步驟如下:
1)初步測(cè)量
1-1)確定待測(cè)物體的測(cè)量區(qū)域；
1-2)根據(jù)測(cè)量區(qū)域的范圍大小和初步測(cè)量的精度需求，確定反饋信號(hào)接收探頭在測(cè)量區(qū)域內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)；
1-3)根據(jù)步驟1-2)中測(cè)量區(qū)域的范圍大小和測(cè)量的次數(shù)，制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線，以標(biāo)示出反饋信號(hào)接收探頭每次測(cè)量的具體位置；
1-4)將激勵(lì)信號(hào)輸出探頭放置在待測(cè)物體的表面，反饋信號(hào)接收探頭根據(jù)步驟1-3)確定的具體位置依次測(cè)量電壓信號(hào)；
1-5)信號(hào)生成處理裝置對(duì)步驟1-4)中測(cè)量到的電壓信號(hào)進(jìn)行處理，完成待測(cè)物體的測(cè)量區(qū)域在三維空間上的電阻抗圖像重構(gòu)；
2)根據(jù)上一次測(cè)量后所重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像，判斷是否需要精確測(cè)量，若是則轉(zhuǎn)入步驟3)，若不是，則轉(zhuǎn)入步驟4)；
3)精確測(cè)量
3-1)根據(jù)上一次測(cè)量后所重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像，確定下一步測(cè)量過程中的待測(cè)區(qū)域；
3-2)根據(jù)待測(cè)區(qū)域范圍大小和精確測(cè)量的精度需求，確定反饋信號(hào)接收探頭在待測(cè)區(qū)域內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)；3-3)根據(jù)步驟3-2)中待測(cè)區(qū)域的范圍大小和測(cè)量的次數(shù)，制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線，以標(biāo)示出反饋信號(hào)接收探頭每次測(cè)量的具體位置；
3-4)將激勵(lì)信號(hào)輸出探頭放置在待測(cè)物體的表面，反饋信號(hào)接收探頭根據(jù)步驟3-3)確定的具體位置依次測(cè)量電壓信號(hào)；
3-5)信號(hào)生成處理裝置對(duì)步驟3-4)中測(cè)量到的電壓信號(hào)進(jìn)行處理，完成被測(cè)區(qū)域在三維空間上的電阻抗圖像重構(gòu)，并轉(zhuǎn)入步驟2)； 4)輸出重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像。根據(jù)測(cè)量方式的不同，對(duì)于測(cè)量點(diǎn)分布在平面區(qū)域中的重構(gòu)采用正則化方法，而對(duì)于分布在環(huán)形區(qū)域上的重構(gòu)采用反投影方法，如圖6所示。本發(fā)明在操作人員確定了被測(cè)物體的初步測(cè)量區(qū)域后，對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行初步測(cè)量，初步測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)多少由操作人員確定，根據(jù)測(cè)試結(jié)果生成被測(cè)區(qū)域的導(dǎo)電率三維圖像；操作人員對(duì)三維圖像進(jìn)行判斷，是否有地方需要更清晰的三維圖像，確定精確測(cè)量的成像區(qū)域，操作人員確定該區(qū)域的成像精確程度，從而確定精確測(cè)量過程中的測(cè)試點(diǎn)數(shù)和測(cè)試點(diǎn)分布區(qū)域，再依次讀取測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)，生成精確測(cè)量的三維圖像。根據(jù)需要，操作人員可以多次重新確定測(cè)量區(qū)域，確定每次測(cè)量的方式，生成實(shí)際需要的三維圖像，適用性更強(qiáng)。同時(shí)，本發(fā)明所使用的探頭不受固有模型的限制，可以與待測(cè)物體更好的貼合，提高信號(hào)接收的精度。本發(fā)明可以作用于生物或各種具有導(dǎo)電性能的物體。步驟1-2)和步驟3-2)中反饋信號(hào)接收探頭在待測(cè)部位范圍內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)為8或8的倍數(shù)。步驟1-3)和步驟3-3)中所述制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線中，反饋信號(hào)接收探頭的每次測(cè)量位置平均分布在待測(cè)區(qū)域內(nèi)。所述信號(hào)生成處理裝置包括有主控芯片和阻抗變換器，主控芯片發(fā)出控制指令，控制阻抗變換器生成激勵(lì)信號(hào)，阻抗變換器接收反饋電壓信號(hào)，根據(jù)反饋的電壓信號(hào)生成測(cè)量數(shù)據(jù)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸至主控芯片進(jìn)行存儲(chǔ)，所述測(cè)量?jī)x還包括有激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與阻抗變換器的激勵(lì)信號(hào)輸出端連接，反饋信號(hào)接收探頭通過導(dǎo)線II將反饋電壓信號(hào)輸送至阻抗變換器。所述激勵(lì)信號(hào)輸出探頭為圓柱形銅鍍金探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與環(huán)形電極片連接，環(huán)形電極片套在激勵(lì)信號(hào)輸出端。所述反饋信號(hào)接收探頭包括有內(nèi)圓形電極和外圓環(huán)形電極，內(nèi)圓形電極嵌于外圓環(huán)形電極內(nèi)，導(dǎo)線II與外圓形電極連接。所述阻抗變換器為激勵(lì)與測(cè)量一體化電阻抗轉(zhuǎn)換芯片AD5933。所述信號(hào)生成算是裝置還包括有前端放大濾波電路，反饋信號(hào)接收探頭接收的電壓信號(hào)通過前端放大濾波電路處理后發(fā)送至阻抗變換器。所述主控芯片包括有激勵(lì)信號(hào)控制電路和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路，激勵(lì)信號(hào)控制電路用于發(fā)送控制指令至阻抗變換器，控制阻抗變換器生成激勵(lì)信號(hào)，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路用于接收并儲(chǔ)存阻抗變換器發(fā)送的測(cè)量數(shù)據(jù)。所述主控芯片包括有充電控制模塊、顯示屏接口電路和人機(jī)接口電路；
充電控模塊用于控制電池的充電時(shí)間，并顯示電池剩余電量；
顯示屏接口電路，與顯示屏連接，用于顯示測(cè)量數(shù)據(jù)；人機(jī)接口電路，用于輸出控制指令。最后說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范 圍當(dāng)中。
權(quán)利要求
1.一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:它包括信號(hào)生成處理裝置、激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與信號(hào)生成處理裝置的激勵(lì)信號(hào)輸出端連接，反饋信號(hào)接收探頭通過導(dǎo)線II與信號(hào)生成處理裝置的信號(hào)接收端連接； 具體測(cè)試步驟如下: 1)初步測(cè)量 1-1)確定待測(cè)物體的測(cè)量區(qū)域； 1-2)根據(jù)測(cè)量區(qū)域的范圍大小和初步測(cè)量的精度需求，確定反饋信號(hào)接收探頭在測(cè)量區(qū)域內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)； 1-3)根據(jù)步驟1-2)中測(cè)量區(qū)域的范圍大小和測(cè)量的次數(shù)，制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線，以標(biāo)示出反饋信號(hào)接收探頭每次測(cè)量的具體位置； 1-4)將激勵(lì)信號(hào)輸出探頭放置在待測(cè)物體的表面，反饋信號(hào)接收探頭根據(jù)步驟1-3)確定的具體位置依次測(cè)量電壓信號(hào)； 1-5)信號(hào)生成處理裝置對(duì)步驟1-4)中測(cè)量到的電壓信號(hào)進(jìn)行處理，完成待測(cè)物體的測(cè)量區(qū)域在三維空間上的電阻抗圖像重構(gòu)； 2)根據(jù)上一次測(cè)量后所重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像，判斷是否需要精確測(cè)量，若是則轉(zhuǎn)入步驟3)，若不是，則轉(zhuǎn)入步驟4)； 3)精確測(cè)量 3-1)根據(jù)上一次測(cè)量后所重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像，確定下一步測(cè)量過程中的待測(cè)區(qū)域； 3-2)根據(jù)待測(cè)區(qū)域范圍大小和精確測(cè)量的精度需求，確定反饋信號(hào)接收探頭在待測(cè)區(qū)域內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)； 3-3)根據(jù)步驟3-2)中待測(cè)區(qū)域的范圍大小和測(cè)量的次數(shù)，制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線，以標(biāo)示出反饋信號(hào)接收探頭每次測(cè)量的具體位置； 3-4)將激勵(lì)信號(hào)輸出探頭放置在待測(cè)物體的表面，反饋信號(hào)接收探頭根據(jù)步驟3-3)確定的具體位置依次測(cè)量電壓信號(hào)； 3-5)信號(hào)生成處理裝置對(duì)步驟3-4)中測(cè)量到的電壓信號(hào)進(jìn)行處理，完成被測(cè)區(qū)域在三維空間上的電阻抗圖像重構(gòu)，并轉(zhuǎn)入步驟2)； 4 )輸出重構(gòu)的三維空間電阻抗圖像。
2.如權(quán)利要求1所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:步驟1-2)和步驟3-2)中反饋信號(hào)接收探頭在待測(cè)部位范圍內(nèi)進(jìn)行不同位置測(cè)量的次數(shù)為8或8的倍數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:步驟1-3)和步驟3-3)中所述制作相應(yīng)的柔性表面覆膜或標(biāo)示線中，反饋信號(hào)接收探頭的每次測(cè)量位置平均分布在待測(cè)區(qū)域內(nèi)。
4.如權(quán)利要求1所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述信號(hào)生成處理裝置包括有主控芯片和阻抗變換器，主控芯片發(fā)出控制指令，控制阻抗變換器生成激勵(lì)信號(hào)，阻抗變換器接收反饋電壓信號(hào)，根據(jù)反饋的電壓信號(hào)生成測(cè)量數(shù)據(jù)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸至主控芯片進(jìn)行存儲(chǔ)，所述測(cè)量?jī)x還包括有激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與阻抗變換器的激勵(lì)信號(hào)輸出端連接，反饋信號(hào)接收探頭通過導(dǎo)線II將反饋電壓信號(hào)輸送至阻抗變換器。
5.如權(quán)利要求4所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述激勵(lì)信號(hào)輸出探頭為圓柱形銅鍍金探頭，激勵(lì)信號(hào)輸出探頭通過導(dǎo)線I與環(huán)形電極片連接，環(huán)形電極片套在激勵(lì)信號(hào)輸出端。
6.如權(quán)利要求4所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述反饋信號(hào)接收探頭包括有內(nèi)圓形電極和外圓環(huán)形電極，內(nèi)圓形電極嵌于外圓環(huán)形電極內(nèi)，導(dǎo)線II與外圓形電極連接。
7.如權(quán)利要求4所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述阻抗變換器為激勵(lì)與測(cè)量一體化電阻抗轉(zhuǎn)換芯片AD5933。
8.如權(quán)利要求4所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述信號(hào)生成算是裝置還包括有前端放大濾波電路，反饋信號(hào)接收探頭接收的電壓信號(hào)通過前端放大濾波電路處理后發(fā)送至阻抗變換器。
9.如權(quán)利要求4所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述主控芯片包括有激勵(lì)信號(hào)控制電路和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路，激勵(lì)信號(hào)控制電路用于發(fā)送控制指令至阻抗變換器，控制阻抗變換器生成激勵(lì)信號(hào)，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路用于接收并儲(chǔ)存阻抗變換器發(fā)送的測(cè)量數(shù)據(jù)。
10.如權(quán)利要求4所述的一種電阻抗測(cè)試方法，其特征在于:所述主控芯片包括有充電控制模塊、顯示屏接口電路和人機(jī)接口電路； 充電控模塊用于控制電池的充電時(shí)間，并顯示電池剩余電量； 顯示屏接口電路，與顯示屏連接，用于顯示測(cè)量數(shù)據(jù)； 人機(jī)接口電路，用于輸出 控制指令。
全文摘要
一種電阻抗測(cè)試方法，包括信號(hào)生成處理裝置、激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭；具體測(cè)試步驟為1)初步測(cè)量；2)判斷是否需要精確測(cè)量；3)精確測(cè)量；4)輸出三維空間電阻抗圖像。本發(fā)明在操作人員確定了被測(cè)物體的初步測(cè)量區(qū)域后，對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行初步測(cè)量，初步測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)多少由操作人員確定，根據(jù)測(cè)試結(jié)果生成導(dǎo)電率三維圖像；操作人員對(duì)三維圖像進(jìn)行判斷，確定精確測(cè)量的成像區(qū)域，確定精確測(cè)量過程中的測(cè)試點(diǎn)數(shù)和測(cè)試點(diǎn)分布區(qū)域，再依次讀取測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)，生成精確測(cè)量的三維圖像。根據(jù)需要，可以多次重新確定測(cè)量區(qū)域，確定每次測(cè)量的方式，適用性更強(qiáng)。本發(fā)明探頭不受固有模型的限制，可以與待測(cè)物體更好的貼合。
文檔編號(hào)G01R27/14GK103235190SQ20131013797
公開日2013年8月7日 申請(qǐng)日期2013年4月19日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月19日
發(fā)明者冉鵬, 何為, 肖曉明 申請(qǐng)人:何為