專(zhuān)利名稱(chēng)：利用陣列連接器的拓?fù)洮F(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器和利用陣列連接器的拓?fù)涠嗖ㄩL(zhǎng)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器的制作方法
利用陣列連接器的拓?fù)洮F(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器和利用陣列連接器的拓?fù)涠嗖ㄩL(zhǎng)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器
背景技術(shù)：
本發(fā)明涉及光纖測(cè)試，并且更特別地涉及一種光纖功率、損耗以及極性測(cè)試器，所述測(cè)試器合并了多光纖接口以使得能實(shí)現(xiàn)已經(jīng)用多光纖連接器端接的電纜和連接的有效測(cè)試。測(cè)試光纖在安裝、修理、移動(dòng)/添加/更新等之后的損耗和/或長(zhǎng)度是通常的做法?，F(xiàn)今的最常見(jiàn)的拓?fù)浒ǜ竭B到單股光纖的單光纖連接器。這些光纖最經(jīng)常被用在雙工拓?fù)渲?，使得一個(gè)光纖在一個(gè)方向上發(fā)射網(wǎng)絡(luò)通信量而另一個(gè)光纖在相反方向上發(fā)射。各個(gè)光纖常常被捆綁成電纜內(nèi)的大組，但然后在光纖的每端處逐個(gè)地用連接器端接。圖1圖示了適用于雙工光纖系統(tǒng)的這個(gè)普遍做法，其中，主測(cè)試單元12在斷接(break-out)處被連接到光纖，而遠(yuǎn)程測(cè)試單元14在電纜的遠(yuǎn)端處被連接到對(duì)應(yīng)的光纖，并且通過(guò)使用兩個(gè)單元來(lái)執(zhí)行測(cè)試。在現(xiàn)今的高密度數(shù)據(jù)中心中所見(jiàn)到的另一通用拓?fù)涫怯萌缑绹?guó)專(zhuān)利6004042和美國(guó)專(zhuān)利6931193中所描述的多光纖陣列連接器和電纜代替單光纖連接器。已經(jīng)習(xí)慣將多光纖陣列連接器端接到斷 接盒(常常被稱(chēng)作模塊或盒)中。斷接通過(guò)使用短的一組光纖來(lái)完成，所述短的一組光纖被端接到在一端上的多光纖陣列連接器并且然后到在相反端處的各個(gè)單光纖連接器。所述盒使得能實(shí)現(xiàn)多光纖陣列電纜站到雙工電子設(shè)備的連接，或者利用標(biāo)準(zhǔn)插接線與單光纖連接器交叉連接。正變得越來(lái)越流行的并且已經(jīng)由IEEE在它們的802.3ba -用于40吉比特以太網(wǎng)(40GbE)和100吉比特以太網(wǎng)(IOOGbE)兩者的2010年標(biāo)準(zhǔn)中標(biāo)準(zhǔn)化的新拓?fù)淅昧司哂须娮釉O(shè)備中的多光纖陣列接口(代替雙工接口)的收發(fā)器，使得具有多光纖陣列連接器的插接線能夠直接地從該收發(fā)器連接到電纜的多光纖端接。因此，消除了對(duì)于斷接盒的需要。然而，斷接盒的消除還消除了對(duì)于測(cè)試電纜站所需要的單光纖連接器接口。現(xiàn)有技術(shù)已經(jīng)繼續(xù)通過(guò)創(chuàng)建與圖2中所圖示的先前所描述的斷接盒類(lèi)似的斷接電纜來(lái)利用具有單光纖接口的傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備。在美國(guó)專(zhuān)利5940559和美國(guó)專(zhuān)利5196899中找到某現(xiàn)有技術(shù)。該現(xiàn)有技術(shù)使電纜的測(cè)試非常慢并且容易發(fā)生錯(cuò)誤。此外，多光纖電纜站的極性的測(cè)量是高度備受期待的，但是現(xiàn)有技術(shù)不能夠自動(dòng)地完成這個(gè)。如何創(chuàng)建用于多光纖連接器的光功率、損耗以及極性測(cè)試器對(duì)于光纖測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)人員而言不是清楚的。如何在多波長(zhǎng)下進(jìn)行測(cè)試的附加要求情況下創(chuàng)建所述測(cè)試器甚至更是不清楚的。在多波長(zhǎng)下進(jìn)行測(cè)試與雙工光纖測(cè)試器有共同之處，在多波長(zhǎng)下進(jìn)行測(cè)試的主要目的是確保電纜連接站在將在有源網(wǎng)絡(luò)上運(yùn)行的波長(zhǎng)下滿(mǎn)足損耗預(yù)算。利用長(zhǎng)波長(zhǎng)以便確保無(wú)彎曲損耗存在于電纜連接站中也是在多波長(zhǎng)下進(jìn)行測(cè)試的目的。光纖在較長(zhǎng)波長(zhǎng)下通常對(duì)彎曲損耗更敏感。具有能夠在單一和多波長(zhǎng)下容易地測(cè)試多光纖連接器的測(cè)試器將是備受期待的。發(fā)明內(nèi)容
依照本發(fā)明，提供了具有用于連接到被測(cè)試光網(wǎng)絡(luò)的陣列連接器接口的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器。因此，本公開(kāi)的目的是提供改進(jìn)的用于光網(wǎng)絡(luò)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器。本發(fā)明的再一目的是提供改進(jìn)的用于與陣列連接器一起使用的測(cè)試器。在本說(shuō)明書(shū)的結(jié)束部分中特別地指出并且顯然地要求保護(hù)了本發(fā)明的主題。然而，操作的組織和方法兩者、及其進(jìn)一步的優(yōu)點(diǎn)和目的可以通過(guò)參考與附圖相結(jié)合地進(jìn)行的以下描述來(lái)最好地理解，在附圖中相同的附圖標(biāo)記指代相同的元件。


圖1是依照現(xiàn)有技術(shù)建立的測(cè)試的 圖2是依照現(xiàn)有技術(shù)的采用斷接電纜的測(cè)試配置的 圖3是依照本公開(kāi)建立的測(cè)試儀器的 圖4是測(cè)試儀器的實(shí)施例的框圖；以及 圖5是測(cè)試儀器的示例配置的 圖6是測(cè)試儀器的另一示例配置的 圖7是測(cè)試儀器的又一示例配置的 圖8是與圖7的配置相對(duì)應(yīng)的對(duì) 應(yīng)的另一端測(cè)試儀器的 圖9是雙波長(zhǎng)測(cè)試儀器的 圖10是可替換的雙波長(zhǎng)測(cè)試儀器的 圖11是另一可替換的雙波長(zhǎng)測(cè)試儀器的圖；以及 圖12是又一可替換的雙波長(zhǎng)測(cè)試儀器的圖。
具體實(shí)施例方式根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的系統(tǒng)包括用于采用陣列連接器的光網(wǎng)絡(luò)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器。所述測(cè)試器可以被作為便攜式或手持式儀器提供以便在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試光網(wǎng)絡(luò)。參考圖4，依照本公開(kāi)的測(cè)試儀器(儀器20)的第一實(shí)施例的框圖，所述儀器經(jīng)由多光纖測(cè)試端口 22連接到被測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，被測(cè)試網(wǎng)絡(luò)在特定實(shí)施例中為光網(wǎng)絡(luò)，所述多光纖測(cè)試端口 22通過(guò)分配器24而被對(duì)接到測(cè)試儀器。分配器與LED/激光器26和檢測(cè)器28對(duì)接，以便從激活器接收光信號(hào)并且發(fā)射到測(cè)試端口，并且以便將接收到的光信號(hào)從測(cè)試端口供應(yīng)到檢測(cè)器。所述儀器包括(一個(gè)或多個(gè))處理器30、諸如RAM/R0M 32之類(lèi)的存儲(chǔ)器、持久性?xún)?chǔ)存器34、將設(shè)備附連到網(wǎng)絡(luò)或其他外部設(shè)備(儲(chǔ)存器、其他計(jì)算機(jī)等)的I/O36、顯示器38、用戶(hù)輸入設(shè)備40 (諸如，例如鍵盤(pán)、鼠標(biāo)或其他定點(diǎn)設(shè)備、觸摸屏等)、可以包括電池或AC電源的電源42。所述(一個(gè)或多個(gè))處理器操作該儀器以提供針對(duì)網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試和測(cè)量功能。在操作中，網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器被附連到網(wǎng)絡(luò)，并且觀察該網(wǎng)絡(luò)上的傳輸，以及提供激勵(lì)和響應(yīng)測(cè)量以收集信息和統(tǒng)計(jì)并且實(shí)現(xiàn)測(cè)試和測(cè)量。在本文中該設(shè)備和方法通過(guò)在測(cè)試端口處提供多光纖接口而消除了對(duì)于斷接電纜和斷接盒的需要。這使得多光纖測(cè)試線的使用能夠?qū)y(cè)試器20連接到被測(cè)試的電纜站44 (見(jiàn)圖3)。參考圖3，在特定實(shí)施例中，提供了兩個(gè)測(cè)試器，其中儀器20在被測(cè)試鏈路的一端上，而儀器45在被測(cè)試鏈路的另一端，所述儀器兩者皆可以包括便攜式或手持式測(cè)試儀器。儀器20和45合作以實(shí)現(xiàn)測(cè)試，并且可以包括兩者的有源的測(cè)試儀器或有源的和更無(wú)源的測(cè)試儀器，其中有源儀器控制測(cè)試，而更無(wú)源的儀器將測(cè)量結(jié)果往回提供給有源儀器。所述儀器將功率/損耗測(cè)量功能與測(cè)量極性的能力相組合。根據(jù)本公開(kāi)的這個(gè)裝置和方法通過(guò)將多光纖測(cè)試接口直接地集成到測(cè)試器本身之上使得能實(shí)現(xiàn)新的測(cè)試范式。雖然將接口集成到測(cè)試器之上的概念可能是顯而易見(jiàn)的，但完成集成同時(shí)維持測(cè)量功率、損耗以及極性的能力的方式是不清楚的。測(cè)試裝置包括源儀表20和功率表45。源儀表發(fā)射將被測(cè)量的光信號(hào)和用于確定極性所需要的必需編碼。功率表測(cè)量源的光信號(hào)的光功率并且對(duì)它進(jìn)行解碼以確定極性。存在創(chuàng)建集成了多光纖測(cè)試接口的源儀表的若干方式。第一方法利用了單個(gè)LED 46或激光器，并且用執(zhí)行圖4的分配器24的功能的Ixn分光器48將其分離成許多的光信號(hào)，如圖5示例性配置的圖中所見(jiàn)的那樣。η個(gè)分離信號(hào)然后經(jīng)由η個(gè)接頭50被提供給多光纖測(cè)試端口 52。采用圖5的配置的優(yōu)點(diǎn)是成本低以及耐久性高和精度高。缺點(diǎn)是所有光纖都具有施加于它們的相同的光信號(hào)。在不能夠區(qū)分彼此的情況下，功率表不能 夠確定極性。由于這個(gè)原因，不認(rèn)為該方法是最合乎需要的解決方案。參考圖6，可替換的方法在源儀表內(nèi)利用單個(gè)激光器或LED 54，并且將其與作為分配器的Ixn光開(kāi)關(guān)56復(fù)用在一起,所述光開(kāi)關(guān)經(jīng)由接頭束58與多光纖測(cè)試端口 60對(duì)接。該方法的優(yōu)點(diǎn)是隔離和控制到被測(cè)試光纖中的任何一個(gè)上的光信號(hào)的能力。如果源用對(duì)開(kāi)關(guān)的位置進(jìn)行描述的信息進(jìn)行編碼并且用能夠?qū)υ撔畔⑦M(jìn)行解碼的功率表進(jìn)行配對(duì)，則還可以測(cè)量多光纖電纜的極性。該方法的缺點(diǎn)是開(kāi)關(guān)往往是成本高的，尤其對(duì)于多模開(kāi)關(guān)來(lái)說(shuō)。另一缺點(diǎn)是開(kāi)關(guān)的重復(fù)性可能不足以進(jìn)行精確的損耗測(cè)量。另一缺點(diǎn)是開(kāi)關(guān)可能不是非常魯棒的。通過(guò)添加濾出除了在感興趣的光纖上承載的一個(gè)信號(hào)以外的所有光信號(hào)的能力，圖6的實(shí)施方式對(duì)圖5配置之上進(jìn)行了改進(jìn)(允許極性測(cè)量)。該濾波器可以包括例如可移動(dòng)孔徑。所述孔徑被移動(dòng)(線性地、旋轉(zhuǎn)地或以其他方式)以允許來(lái)自每個(gè)光纖的信號(hào)被測(cè)量。機(jī)械旋鈕或滑動(dòng)片可以被使用在手動(dòng)方法中，或者孔徑可以被通過(guò)諸如蝸桿螺釘之類(lèi)的機(jī)電設(shè)備來(lái)控制。優(yōu)點(diǎn)是極性現(xiàn)在可以被確定。缺點(diǎn)是該解決方案可能不是成本有效的。它可能不是魯棒的。手動(dòng)版本是效率低的，而機(jī)電版本不像無(wú)移動(dòng)零件的方法一樣有效率。因此在圖7中示出了另一實(shí)施例，其利用了經(jīng)由η個(gè)接頭64供應(yīng)給連接器66代替復(fù)用方法的η個(gè)LED或激光源62、62’等。由于將η個(gè)源添加到源儀表的成本和長(zhǎng)期可靠性，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可能將該方法認(rèn)為是可能是最不希望的。然而，采用現(xiàn)代工藝這些源的成本已經(jīng)下跌而可靠性上升，使得該方法成為優(yōu)選的。該方法具有被測(cè)試每個(gè)光纖的單獨(dú)控制、高精度和可重復(fù)、低成本以及高可靠性的優(yōu)點(diǎn)。檢測(cè)器可以由分配器供應(yīng)，或者可以采用多個(gè)檢測(cè)器。檢測(cè)器的圖8的配置用被“撓性接線(pigtailed)”到具有η個(gè)單獨(dú)光纖的多光纖接口的η個(gè)單獨(dú)的小面積檢測(cè)器代替在遠(yuǎn)程儀器45處的大面積檢測(cè)器，其中，多光纖測(cè)試端口連接器68被通過(guò)η個(gè)接頭70饋送到多個(gè)光電二極管72、72’等。該方法允許所有光纖的同時(shí)測(cè)量，以便如果極性是不正確的使得所期望的信號(hào)在錯(cuò)誤的檢測(cè)器上被發(fā)現(xiàn)，錯(cuò)誤可以立即被發(fā)現(xiàn)。考慮到機(jī)械零件的復(fù)雜性，這樣的布置的成本最可能比得上圖6的配置。缺點(diǎn)是由于能夠發(fā)生在這樣的接口處的損耗，在測(cè)試端口處的光纖接口對(duì)于功率損耗測(cè)量來(lái)說(shuō)不是理想的。非接觸透鏡系統(tǒng)或粗芯光纖的使用是用于減輕問(wèn)題的一個(gè)方式?？商鎿Q的配置用η個(gè)光電二極管的光電二極管陣列代替單獨(dú)的“撓性接線”檢測(cè)器?？梢杂迷摲椒▽?shí)現(xiàn)降低的成本。此外，光電二極管陣列可以通過(guò)非接觸體光學(xué)或平面光波電路的使用而被直接地耦合到多光纖接口，所述多光纖接口消除了對(duì)于多光纖接口與光電二極管之間的光纖的需要。這最終改進(jìn)了耐久性、精度以及重復(fù)性。上述配置示出了單波長(zhǎng)LED/激光源。然而，還提供了多波長(zhǎng)版本。參考圖9-12中所圖示的多波長(zhǎng)版本，圖9中所描繪的多波長(zhǎng)方法I是在下文中所描述的四個(gè)配置中的第一個(gè)。在本配置中，主和遠(yuǎn)程測(cè)試儀器將具有完全相同的光學(xué)線束，每個(gè)線束都具有波長(zhǎng)I的LED或激光器74、波長(zhǎng)2的另一 LED或激光器76、以及能夠檢測(cè)和測(cè)量波長(zhǎng)I和2的光電二極管78。這三個(gè)部件被復(fù)制η次以與多光纖連接器中的光纖的數(shù)目(η)匹配。這三個(gè)部件通過(guò)將被復(fù)制η次的光稱(chēng)合器80而被稱(chēng)合到輸入/輸出端口 82。稱(chēng)合器本性上是雙向設(shè)備，并且因此LED/激光器將通過(guò)它發(fā)射以測(cè)試它被連接到的光纖，并且檢測(cè)器將通過(guò)它接收以測(cè)試它被連接到的光纖。該配置通過(guò)具有不發(fā)射直到其接收到為做此的主的信號(hào)為止的到遠(yuǎn)程的主發(fā)射實(shí)現(xiàn)在每個(gè)光纖上的全雙向測(cè)試。極性測(cè)試容易地完成，因?yàn)槊總€(gè)發(fā)射機(jī)都可以被編碼以用信號(hào)發(fā)送它被附連到哪一個(gè)光纖，并且每個(gè)檢測(cè)器都可以確定該信號(hào)是否在正確的光纖上被接收到。長(zhǎng)度測(cè)試通過(guò)測(cè)量待發(fā)射的信號(hào)從主到遠(yuǎn)程并且返回到主的時(shí)間來(lái)完成。對(duì)于將有銷(xiāo)路的方法I的潛在缺點(diǎn)是由大量的光學(xué)部件產(chǎn)生的高成本。

圖10中所圖示的多波長(zhǎng)方法2消除了對(duì)于方法I所需要的LED/激光器的一半。代替在兩個(gè)方向上用2個(gè)波長(zhǎng)對(duì)每個(gè)光纖進(jìn)行測(cè)試，方法2在一個(gè)方向上用I個(gè)波長(zhǎng)測(cè)試每個(gè)光纖，并且然后另一方向用另一個(gè)波長(zhǎng)來(lái)測(cè)試。在被測(cè)試鏈路的一端處的主測(cè)試儀器84包含通過(guò)I X 2分光器90、90’等連接的、具有對(duì)應(yīng)的光電二極管88、88’等的波長(zhǎng)λ I的多個(gè)LED/激光器86、86’等，所述I x 2分光器90、90’等連接到多光纖測(cè)試端口 92中的單獨(dú)光纖。在被測(cè)試鏈路的相反端處，在被測(cè)試鏈路的相反端處的遠(yuǎn)程測(cè)試儀器94包含:包括多個(gè)LED/激光器96，所有的都具有波長(zhǎng)λ 2 ;以及光電二極管98，其經(jīng)由1x2分光器102連接到多光纖測(cè)試端口 104。測(cè)試在每個(gè)光纖上仍然是雙向的。圖11中所圖示的可替換的方法(方法3)與方法2非常類(lèi)似，除了方法3在交替的光纖上使波長(zhǎng)交替使得主測(cè)試器和遠(yuǎn)程測(cè)試器每一個(gè)都包含波長(zhǎng)λ I和λ2兩者之外，其中，儀器106使波長(zhǎng)λ I的LED/激光器108與波長(zhǎng)λ 2的LED/激光器112交替。光電二極管110在具有LED/激光器108的第一光纖上。因此，各種光纖具有交變信號(hào)λ 1、λ 2、λ 1、λ 2、…。儀器116相應(yīng)地具有供應(yīng)給1x2分光器118的波長(zhǎng)2的LED/激光器112’和光電二極管114，后面是供應(yīng)給分光器118’的LED/激光器108’和光電二極管114’，采用波長(zhǎng)λ 2和λ I繼續(xù)交替λ 2、λ 1、λ 2、λ 1...。通過(guò)對(duì)主測(cè)試器中的交替光纖采用波長(zhǎng)I的LED/激光器，并且對(duì)不具有主單元中的波長(zhǎng)I LED/激光器的那些光纖采用遠(yuǎn)程測(cè)試器中的波長(zhǎng)2的LED/激光器，圖12中所示出的方法4消除了相對(duì)于方法I所需要的LED/激光器的75%。用于完成這個(gè)成本節(jié)省的權(quán)衡是每個(gè)光纖的雙向測(cè)試是不可能的。主120在光纖I處將具有波長(zhǎng)I的LED/激光器122,而遠(yuǎn)程124在光纖I處將具有光電二極管126。相反的情況在光纖2處也成立,其中主將具有光電二極管128而遠(yuǎn)程將具有波長(zhǎng)λ 2的LED/激光器130。長(zhǎng)度測(cè)試將通過(guò)在光纖I上將信號(hào)從主發(fā)送到遠(yuǎn)程并且然后在光纖2上從遠(yuǎn)程發(fā)送到主來(lái)完成。為了完成極性測(cè)試，每個(gè)LED/激光器都將必須與光電二極管132、134配對(duì)。該光電二極管將能夠檢測(cè)來(lái)自光纖η的信號(hào)是否到達(dá)正確的位置。在沒(méi)有這些額外的光電二極管的情況下不能夠針對(duì)極性監(jiān)測(cè)每個(gè)光纖。雙向測(cè)試的消除對(duì)于本申請(qǐng)來(lái)說(shuō)是無(wú)害的。已經(jīng)注意到，當(dāng)損耗測(cè)試?yán)眠B續(xù)波光源的直接測(cè)量時(shí)，光纖和光纖連接器未展示大量的方向差異性。雖然示出了單波長(zhǎng)單向和多波長(zhǎng)多向?qū)嵤├且勒毡疚墓_(kāi)的精神，可以具有單波長(zhǎng)多向(或多波長(zhǎng)單向)實(shí)施例。因此，提供了采用了利用陣列連接器的拓?fù)涞母倪M(jìn)的用于光網(wǎng)絡(luò)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器。測(cè)試器將功率/損耗測(cè)量與極性測(cè)試集成在一起。雖然已經(jīng)示出并且描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言將顯而易見(jiàn)的是，在不背離本發(fā)明的情況下可以在其更廣的方面進(jìn)行許多改變和修改。所附權(quán)利要求因此旨在覆蓋如落入本 發(fā)明的真實(shí)精神和范圍內(nèi)的所有這樣的改變和修改。
權(quán)利要求
1.一種光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，包括: 在第一波長(zhǎng)下的多個(gè)第一光信號(hào)源；以及 分配器，其被耦合到所述多個(gè)第一光信號(hào)源以將所產(chǎn)生的所述信號(hào)供應(yīng)給多光纖測(cè)試端口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測(cè)試端口接收信號(hào)的多個(gè)光信號(hào)檢測(cè)器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括:在第二波長(zhǎng)下的多個(gè)第二光信號(hào)源；所述分配器，其被耦合到所述多個(gè)第二光信號(hào)源以將所產(chǎn)生的所述信號(hào)供應(yīng)給所述多光纖測(cè)試端口。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，其中，所述多個(gè)第一和多個(gè)第二光信號(hào)源被耦合到所述分配器，以用交替第一、第二、第一、第二等方式將所述信號(hào)從其中供應(yīng)到所述多光纖測(cè)試端口。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測(cè)試端口接收信號(hào)的多個(gè)光信號(hào)檢測(cè)器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，其中，所述分配器包括多個(gè)1x2分光器，所述多個(gè)1x2分光器將檢測(cè)器以及所述第一和第二光源中的一個(gè)連接到所述多光纖測(cè)試端□。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測(cè)試端口接收信號(hào)的多個(gè)光信號(hào)檢測(cè)器，并且其中，所述分配器包括多個(gè)1x3分光器，所述多個(gè)1x3分光器將檢測(cè)器以及所述第一光源中的一個(gè)和所述第二光源中的一個(gè)連接到所述多光纖測(cè)試端口。
8.一種光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器裝置，包括: 第一測(cè)試儀器，其包括在第一波長(zhǎng)下的多個(gè)第一光信號(hào)源； 第一分配器，其被耦合到所述多個(gè)第一光信號(hào)源以將所產(chǎn)生的所述信號(hào)供應(yīng)給在被測(cè)試鏈路的第一端處的多光纖測(cè)試端口； 第二測(cè)試儀器，其包括在第二波長(zhǎng)下的多個(gè)第二光信號(hào)源；以及第二分配器，其被耦合到所述多個(gè)第二光信號(hào)源以將所產(chǎn)生的所述信號(hào)供應(yīng)給在被測(cè)試鏈路的第二端處的多光纖測(cè)試端口。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，其中，所述第一和第二波長(zhǎng)包括相同的波長(zhǎng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，其中，所述第一和第二波長(zhǎng)包括不同的波長(zhǎng)。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括:多個(gè)第一光信號(hào)檢測(cè)器，其被耦合到所述分配器以從在所述第一測(cè)試儀器處的所述多光纖測(cè)試端口接收信號(hào)；以及多個(gè)第二光信號(hào)檢測(cè)器，其被耦合到所述分配器以從在所述第二測(cè)試儀器處的所述多光纖測(cè)試端口接收信號(hào)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括所述第一測(cè)試儀器中的在所述第二波長(zhǎng)下的多個(gè)第三光信號(hào)源，所述分配器被耦合到所述多個(gè)第三光信號(hào)源以將所產(chǎn)生的所述信號(hào)供應(yīng)給所述多光纖測(cè)試端口。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，其中，所述多個(gè)第一和多個(gè)第三光信號(hào)源被耦合到所述分配器，以用交替第一、第三、第一、第三等方式將所述信號(hào)從其中供應(yīng)給所述多光纖測(cè)試端口。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，進(jìn)一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測(cè)試端口接收信號(hào)的多個(gè)光信號(hào)檢測(cè)器。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器，其中，所述分配器包括多個(gè)1x2分光器，所述多個(gè)1x2分光器將檢測(cè)器以及所述第一和第三光源中的一個(gè)連接到所述多光纖測(cè)試端 口。
全文摘要
本發(fā)明涉及利用陣列連接器的拓?fù)洮F(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器和利用陣列連接器的拓?fù)涠嗖ㄩL(zhǎng)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試器。一種測(cè)試儀器包括在第一波長(zhǎng)下的多個(gè)第一光信號(hào)源和分配器，所述分配器被耦合到所述多個(gè)第一光信號(hào)源以將所產(chǎn)生的信號(hào)供應(yīng)給多光纖測(cè)試端口?？梢蕴峁└郊拥牡诙ㄩL(zhǎng)信號(hào)源，并且可以提供用于在被測(cè)試鏈路的第二端處使用的第二測(cè)試儀器，以實(shí)現(xiàn)光鏈路的測(cè)試。
文檔編號(hào)G01M11/02GK103226056SQ20131003972
公開(kāi)日2013年7月31日 申請(qǐng)日期2013年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月31日
發(fā)明者J.D.謝爾, S.戈德斯泰因, H.卡斯勒, J.薩林 申請(qǐng)人:弗蘭克公司