全自動(dòng)平面光譜分析儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種全自動(dòng)平面光譜分析儀，包括外罩、光源、前端與光源相連接的光路、二軸控制器、與二軸控制器連接的載物臺(tái)、與二軸控制器連接的檢測(cè)裝置和與檢測(cè)裝置連接的數(shù)據(jù)處理裝置，二軸控制器與數(shù)據(jù)處理裝置相連接，檢測(cè)裝置包括反射鏡和檢測(cè)器，檢測(cè)器包括相并聯(lián)的可見(jiàn)光檢測(cè)器和不可見(jiàn)光檢測(cè)器。本發(fā)明公開(kāi)的全自動(dòng)平面光譜分析儀具有能夠方便快捷檢測(cè)光學(xué)鏡片的任意角度的光的折射和反射性能，檢測(cè)效率高以及能檢測(cè)波長(zhǎng)范圍很廣的特點(diǎn)。
【專利說(shuō)明】全自動(dòng)平面光譜分析儀
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于一種光學(xué)鏡片檢測(cè)儀器，尤其是涉及一種全自動(dòng)平面光譜分析儀。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的平面光學(xué)鏡片的檢測(cè)儀器在檢測(cè)鏡片的光學(xué)性能時(shí)，大多采用光柵掃描的方式進(jìn)行透過(guò)率測(cè)量，一次只能檢測(cè)鏡片的某一特定角度的光的折射或者反射，如果需要進(jìn)行另一角度的測(cè)量，則需要重新裝載待測(cè)鏡片和調(diào)整反射鏡片的位置。而調(diào)整待測(cè)鏡片和反射鏡片的相對(duì)角度時(shí)，需要手動(dòng)調(diào)節(jié)，檢測(cè)效率低，難度較大。現(xiàn)有的平面光學(xué)鏡片的檢測(cè)儀器能檢測(cè)到的光的波長(zhǎng)范圍一般為250nnTll00nm，波長(zhǎng)范圍較窄，從而不能得出準(zhǔn)確的光學(xué)鏡片的性能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種能夠方便快捷檢測(cè)光學(xué)鏡片的任意角度的光的折射和反射性能，檢測(cè)效率高以及能檢測(cè)波長(zhǎng)范圍很廣的全自動(dòng)平面光譜分析儀。
[0004]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種全自動(dòng)平面光譜分析儀，包括外罩、光源、前端與光源相連接的光路、二軸控制器、與二軸控制器連接的載物臺(tái)、與二軸控制器連接的檢測(cè)裝置和與檢測(cè)裝置連接的數(shù)據(jù)處理裝置，二軸控制器與數(shù)據(jù)處理裝置相連接，檢測(cè)裝置包括反射鏡和檢測(cè)器，檢測(cè)器包括相并聯(lián)的可見(jiàn)光檢測(cè)器和不可見(jiàn)光檢測(cè)器。二軸控制器與載物臺(tái)和檢測(cè)裝置相連接，使得可以通過(guò)二軸控制器控制載物臺(tái)與檢測(cè)裝置的位置，即控制載物臺(tái)上的待測(cè)光學(xué)鏡片與反射鏡的位置，方便快捷的檢測(cè)光學(xué)鏡片任意角度的折射和反射性能。設(shè)有并聯(lián)的可見(jiàn)光檢測(cè)器和不可見(jiàn)光檢測(cè)器使本發(fā)明的全自動(dòng)平面光譜分析儀的檢測(cè)波長(zhǎng)范圍增加，檢測(cè)光學(xué)鏡片對(duì)可見(jiàn)光的性能時(shí)，開(kāi)啟可見(jiàn)光檢測(cè)器，檢測(cè)光學(xué)鏡片對(duì)不可見(jiàn)光的性能時(shí)，開(kāi)啟不可見(jiàn)光檢測(cè)器，使用方便。數(shù)據(jù)處理裝置可以將檢測(cè)器檢測(cè)到的光的能量轉(zhuǎn)換為透過(guò)率或反射率能量曲線顯示出來(lái)，從而可以直觀地得出待測(cè)鏡片的透光率或反射率。
[0005]在一些實(shí)施方式中，全自動(dòng)平面光譜分析儀還包括底座，載物臺(tái)設(shè)于底座上，保證了載物臺(tái)的平穩(wěn)性。
[0006]在一些實(shí)施方式中，檢測(cè)裝置還包括設(shè)于反射鏡與檢測(cè)器之間的積分球和與檢測(cè)器相連接的連接件，積分球與檢測(cè)器和反射鏡相連接，檢測(cè)裝置通過(guò)連接件與底座相連接，連接件設(shè)于底座與載物臺(tái)之間。設(shè)有積分球，從而使得反射鏡反射的光經(jīng)過(guò)積分球很高效地作用在檢測(cè)器上，減少了光的散失。
[0007]在一些實(shí)施方式中，數(shù)據(jù)處理裝置為電腦，從而，可以將檢測(cè)器檢測(cè)的結(jié)果通過(guò)電腦顯示出來(lái)。
[0008]在一些實(shí)施方式中，光源與光路通過(guò)光纖相連接。
[0009]在一些實(shí)施方式中，載物臺(tái)和連接件與底座連接處設(shè)有刻度盤(pán)，使得更直觀的觀察到載物臺(tái)和檢測(cè)裝置的位置關(guān)系。[0010]在一些實(shí)施方式中，光路后端設(shè)有偏振片。從而通過(guò)調(diào)整偏振片的方向，達(dá)到自動(dòng)測(cè)量S偏振光和P偏振光的要求。
[0011 ] 在一些實(shí)施方式中，二軸控制器為步進(jìn)電機(jī)控制器。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1是本發(fā)明的全自動(dòng)平面光譜分析儀的一種實(shí)施方式示意圖；
[0013]圖2是本發(fā)明的全自動(dòng)平面光譜分析儀的另一種實(shí)施方式示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0015]參照?qǐng)D1和圖2:全自動(dòng)平面光譜分析儀，包括外罩1、光源2、前端與光源2相連接的光路3、二軸控制器4、與二軸控制器4連接的載物臺(tái)8、與二軸控制器4連接的檢測(cè)裝置5和與檢測(cè)裝置5連接的數(shù)據(jù)處理裝置6，檢測(cè)裝置5與數(shù)據(jù)處理裝置6通過(guò)數(shù)據(jù)線相連接，光源2與光路3通過(guò)光纖9相連接，二軸控制器4與數(shù)據(jù)處理裝置6相連接。數(shù)據(jù)處理裝置6為電腦，二軸控制器 4為步進(jìn)電機(jī)控制器。檢測(cè)裝置5包括反射鏡51和檢測(cè)器52，檢測(cè)器52包括相并聯(lián)的可見(jiàn)光檢測(cè)器521和不可見(jiàn)光檢測(cè)器522，可見(jiàn)光檢測(cè)器521和不可見(jiàn)光檢測(cè)器522通過(guò)數(shù)據(jù)線分別與數(shù)據(jù)處理裝置6連接，檢測(cè)器52的檢測(cè)波長(zhǎng)范圍為380nnT2500nm。
[0016]全自動(dòng)平面光譜分析儀還包括底座7，載物臺(tái)8設(shè)于底座7上。
[0017]檢測(cè)裝置5還包括設(shè)于反射鏡51與檢測(cè)器52之間的積分球53和與檢測(cè)器52相連接的連接件54，檢測(cè)器52通過(guò)可見(jiàn)光檢測(cè)器521與連接件54相連接，可見(jiàn)光檢測(cè)器521設(shè)于連接件54上，積分球53與檢測(cè)器52和反射鏡51相連接，積分球53通過(guò)光纖與檢測(cè)器52連接，檢測(cè)裝置5通過(guò)連接件54與底座7相連接，連接件54設(shè)于底座7與載物臺(tái)8之間。
[0018]載物臺(tái)8和連接件54與底座7連接處設(shè)有刻度盤(pán)10。
[0019]光路3后端設(shè)有偏振片31，通過(guò)調(diào)整偏振片31的方向，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量S偏振光和P偏振光。
[0020]當(dāng)全自動(dòng)平面光譜分析儀工作時(shí)，開(kāi)啟光源2，確認(rèn)光源發(fā)出的光經(jīng)光路3后進(jìn)入積分球53，確認(rèn)光的能量，將待測(cè)鏡片置于載物臺(tái)8，通過(guò)二軸控制器4設(shè)置載物臺(tái)8的旋轉(zhuǎn)角度，從而設(shè)定固定在載物臺(tái)8上的待測(cè)鏡片與光路3的水平角度。啟動(dòng)光源2，光線經(jīng)過(guò)光路3后邊為I飛mm的平行光，再作用在待測(cè)鏡片上。參照?qǐng)D1，當(dāng)待測(cè)鏡片與光路3垂直時(shí)，同時(shí)通過(guò)二軸控制器4的控制，連接件54帶動(dòng)反射鏡51、積分球53和檢測(cè)器52旋轉(zhuǎn)適當(dāng)?shù)慕嵌龋沟糜晒饴?發(fā)出的光水平作用在待測(cè)鏡片上，透過(guò)待測(cè)鏡片的光水平作用在反射鏡51上,作用在反射鏡51的光經(jīng)過(guò)積分球53作用,積分球53將光的能量經(jīng)由光纖傳送至檢測(cè)器52上，電腦再將傳送至檢測(cè)器52的能量運(yùn)算出待測(cè)鏡片的透過(guò)能量曲線，將檢測(cè)結(jié)果顯示出來(lái)，從而測(cè)得待測(cè)鏡片的透光率，檢測(cè)時(shí)間在0.5s以內(nèi)，提高了檢測(cè)速度。
[0021]參照?qǐng)D2:當(dāng)待測(cè)鏡片與光路3不垂直時(shí)，通過(guò)二軸控制器4的控制，將反射鏡51旋轉(zhuǎn)一定角度，角度測(cè)量范圍為5° ^80°，使得光路2作用于待測(cè)鏡片的光，經(jīng)待測(cè)鏡片反射后，反射光線作用在反射鏡51上，最后測(cè)得光學(xué)鏡片的反射性能。同時(shí)，可以通過(guò)使用可見(jiàn)光檢測(cè)器521和不可見(jiàn)光檢測(cè)器522，得出待測(cè)鏡片對(duì)不同波長(zhǎng)的光的反射性能。
[0022]本發(fā)明的全自動(dòng)平面光譜分析儀通過(guò)對(duì)待測(cè)鏡片的透光率和反射率的測(cè)量，可得出待測(cè)鏡片的能量吸收量。
[0023]以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，包括外罩、光源、前端與光源相連接的光路、二軸控制器、與二軸控制器連接的載物臺(tái)、與二軸控制器連接的檢測(cè)裝置和與檢測(cè)裝置連接的數(shù)據(jù)處理裝置，所述二軸控制器與數(shù)據(jù)處理裝置相連接，所述檢測(cè)裝置包括反射鏡和檢測(cè)器，所述檢測(cè)器包括相并聯(lián)的可見(jiàn)光檢測(cè)器和不可見(jiàn)光檢測(cè)器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，還包括底座，所述載物臺(tái)設(shè)于底座上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，所述檢測(cè)裝置還包括設(shè)于反射鏡與檢測(cè)器之間的積分球和與檢測(cè)器相連接的連接件，所述積分球與檢測(cè)器和反射鏡相連接，所述檢測(cè)裝置通過(guò)連接件與底座相連接，所述連接件設(shè)于底座與載物臺(tái)之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理裝置為電腦。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，所述光源與光路通過(guò)光纖相連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，所述載物臺(tái)和連接件與底座連接處設(shè)有刻度盤(pán)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，所述光路后端設(shè)有偏振片。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動(dòng)平面光譜分析儀，其特征在于，所述二軸控制器為步進(jìn)電機(jī)控制器。
【文檔編號(hào)】G01J3/28GK103968942SQ201310034908
【公開(kāi)日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2013年1月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月30日
【發(fā)明者】覃亞, 肖順東 申請(qǐng)人:佛山市北創(chuàng)光電科技有限公司