電壓跌落的模擬測(cè)試電路及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電壓跌落的模擬測(cè)試電路及方法，在上述電路中，電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路，與交流電源和被測(cè)試設(shè)備串聯(lián)而成的電路相并聯(lián)，用于在被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落時(shí)，調(diào)節(jié)一個(gè)或多個(gè)與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)的取值，確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。根據(jù)本發(fā)明提供的技術(shù)方案，達(dá)到了操作簡(jiǎn)單、實(shí)施方便、功能完善和成本低廉的效果。
【專利說明】電壓跌落的模擬測(cè)試電路及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種電壓跌落的模擬測(cè)試電路及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著社會(huì)發(fā)展和科技進(jìn)步，計(jì)算機(jī)應(yīng)用技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)和大功率電力電子技術(shù)等高新技術(shù)的迅速發(fā)展，基于計(jì)算機(jī)、微處理器的管理、分析、檢測(cè)、控制的高性能、高度自動(dòng)化的新型用電設(shè)備和各種電力電子設(shè)備在電力系統(tǒng)中被大量投入使用。它們對(duì)系統(tǒng)干擾非常敏感，比較于相關(guān)技術(shù)中的用電設(shè)備對(duì)電能質(zhì)量的要求更加苛刻。無(wú)論系統(tǒng)處于正常穩(wěn)定運(yùn)行狀態(tài)還是故障暫停使用狀態(tài)，均需確保幅值偏差很小(例如:僅允許在額定值的±10%之間或者更小的范圍內(nèi)波動(dòng))的基波正弦電力的可使用性，即高動(dòng)態(tài)恒定特性，多個(gè)周期的電壓跌落都將影響這些設(shè)備的正常工作。
[0003]在電網(wǎng)實(shí)際運(yùn)行過程中，引起電壓跌落的原因主要有:因雷擊、外力、設(shè)備絕緣損壞等因素引發(fā)的短路故障，由此造成的電壓跌落幅值大，影響范圍較大。與較長(zhǎng)時(shí)間的供電中斷事故相比，電壓跌落發(fā)生機(jī)率更高，應(yīng)對(duì)也較為困難，其重要原因在于當(dāng)線路發(fā)生故障時(shí)，通常會(huì)造成本線路負(fù)荷供電中斷或電壓跌落，同時(shí)還會(huì)引發(fā)同母線相鄰饋線上的不同程度的電壓跌落。電壓跌落可能會(huì)引起敏感負(fù)荷的工作中斷，造成計(jì)算機(jī)系統(tǒng)停運(yùn)、自動(dòng)化裝置停頓或者誤動(dòng)、變頻調(diào)速器停頓等故障；還會(huì)引發(fā)接觸器脫扣或者低電壓保護(hù)啟動(dòng)，造成電動(dòng)機(jī)停轉(zhuǎn)、電梯停頓等；以及引發(fā)氣體放電燈熄滅，造成短時(shí)照明中斷。因此，電壓跌落不僅會(huì)造成極大的經(jīng)濟(jì)損失，還會(huì)對(duì)人們的日常生活和生命安全、電氣與電子設(shè)備的正常運(yùn)作造成極大的危害。
[0004]相關(guān)技術(shù)中公開的電壓跌落模擬裝置與電壓跌落模擬技術(shù)主要有以下兩種:變壓器型形式的電壓跌落模擬技術(shù)和電力電子器件形式的電壓跌落模擬技術(shù)，其缺陷在于:
[0005](I)變壓器型形式的電壓跌落模擬技術(shù)
[0006]變壓器型形式的電壓跌落模擬技術(shù)的問題主要有以下幾點(diǎn):
[0007]I)這類技術(shù)中最常用的開關(guān)器件是接觸器，其功率范圍很大，但是接觸器、繼電器件由于自身結(jié)構(gòu)的原因，動(dòng)作時(shí)間難以精確控制，同時(shí)接觸器等器件使用壽命有限，易受環(huán)境因素影響，因此，目前較為先進(jìn)的此類技術(shù)使用電子開關(guān)，例如:靜態(tài)開關(guān)(雙向晶閘管)
坐寸ο
[0008]2)此項(xiàng)技術(shù)運(yùn)用在功率較大的場(chǎng)景下，將會(huì)導(dǎo)致變壓器的體積和重量過大，不便攜帶。同時(shí)對(duì)于普通變壓器，變比是不可調(diào)的，因而也只能獲得固定的電壓跌落深度，而且對(duì)于帶中心抽頭的變壓器，設(shè)計(jì)和工藝要更復(fù)雜一些。采用半控型器件晶閘管組成交流開關(guān)時(shí)，電壓的切換只能發(fā)生在輸出電壓或電流的過零點(diǎn)，無(wú)法對(duì)電壓跌落的相位進(jìn)行控制。
[0009](2)電力電子器件形式的電壓跌落模擬技術(shù)
[0010]電力電子變換形式的電壓跌落裝置，通常采用功率二極管、絕緣柵雙極晶體管(IGBT)等作為開關(guān)器件，但是受器件功率的制約，功率等級(jí)嚴(yán)重受限。IGBT等電力電子器件成本較高。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]本發(fā)明提供了一種電壓跌落的模擬測(cè)試電路及方法，以至少解決相關(guān)技術(shù)中對(duì)于電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)取值的可控性較差的問題。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種電壓跌落的模擬測(cè)試電路。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的電壓跌落的模擬測(cè)試電路包括:電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路，與交流電源和被測(cè)試設(shè)備串聯(lián)而成的電路相并聯(lián)，用于在被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落時(shí)，調(diào)節(jié)一個(gè)或多個(gè)與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)的取值，確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。
[0014]優(yōu)選地，電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路包括:自耦調(diào)壓器；自耦調(diào)壓器，用于調(diào)節(jié)被測(cè)試設(shè)備的電壓跌落的幅值。
[0015]優(yōu)選地，電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路包括:至少一個(gè)開關(guān)；至少一個(gè)開關(guān)，用于調(diào)節(jié)被測(cè)試設(shè)備的電壓跌落的相角和/或電壓跌落的持續(xù)時(shí)間。
[0016]優(yōu)選地，至少一個(gè)開關(guān)為三端雙向可控硅開關(guān)。
[0017]優(yōu)選地，電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路包括:自耦調(diào)壓器、第一開關(guān)和第二開關(guān)，其中，自耦調(diào)壓器的一端與交流電源的一端相連接，自耦調(diào)壓器的另一端與第二開關(guān)的一個(gè)接線端相連接，第二開關(guān)的另一個(gè)接線端與被測(cè)試設(shè)備的一端相連接，第一開關(guān)的一個(gè)接線端與交流電源的一端相連接，第一開關(guān)的另一個(gè)接線端與被測(cè)試設(shè)備的一端相連接。
[0018]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種電壓跌落的模擬測(cè)試方法。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的電壓跌落的模擬測(cè)試方法包括:確定被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落；調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。
[0020]優(yōu)選地，調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值包括:調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，確定對(duì)電壓跌落敏感的相角的極值；根據(jù)相角的極值確定幅值的極值與持續(xù)時(shí)間的極值。
[0021]優(yōu)選地，調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，確定對(duì)電壓跌落敏感的相角的極值包括:調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，獲取電壓跌落的相角對(duì)電壓跌落的敏感區(qū)域；在敏感區(qū)域中確定對(duì)電壓跌落最敏感的相角。
[0022]優(yōu)選地，根據(jù)相角的極值確定幅值的極值與持續(xù)時(shí)間的極值包括:在相角的極值保持不變的情況下，依次選取幅值；根據(jù)選取的幅值對(duì)持續(xù)時(shí)間進(jìn)行調(diào)節(jié)依次獲取與選取的幅值相對(duì)應(yīng)的持續(xù)時(shí)間的極值；在選取的幅值中確定幅值的極值，獲取與確定的幅值的極值相對(duì)應(yīng)的持續(xù)時(shí)間的極值。
[0023]優(yōu)選地，在調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值之后，還包括:獲取被測(cè)試設(shè)備恢復(fù)正常運(yùn)行的起始時(shí)刻。
[0024]通過本發(fā)明，采用電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路，與交流電源和被測(cè)試設(shè)備串聯(lián)而成的電路相并聯(lián)，用于在被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落時(shí)，調(diào)節(jié)一個(gè)或多個(gè)與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)的取值，確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值，解決了相關(guān)技術(shù)中對(duì)于電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)取值的可控性較差的問題，進(jìn)而達(dá)到了操作簡(jiǎn)單、實(shí)施方便、功能完善和成本低廉的效果。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0025]此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0026]圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電壓跌落的模擬測(cè)試電路的示意圖；
[0027]圖2是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的電壓跌落的模擬測(cè)試電路的示意圖；以及
[0028]圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電壓跌落的模擬測(cè)試方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0029]下文中將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0030]圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電壓跌落的模擬測(cè)試電路的示意圖。如圖1所示，該電壓跌落的模擬測(cè)試電路可以包括:電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路，與交流電源和被測(cè)試設(shè)備串聯(lián)而成的電路相并聯(lián)，用于在被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落時(shí)，調(diào)節(jié)一個(gè)或多個(gè)與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)的取值，確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。
[0031]相關(guān)技術(shù)中，對(duì)于電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)取值的可控性較差。采用如圖1所示的電路，針對(duì)現(xiàn)有各種電壓跌落發(fā)生器的局限性，結(jié)合現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)與實(shí)際情況，采用電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路，與交流電源和被測(cè)試設(shè)備串聯(lián)而成的電路相并聯(lián)，用于在被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落時(shí)，調(diào)節(jié)一個(gè)或多個(gè)與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)(例如:相角、幅值和時(shí)間)的取值，確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值，解決了相關(guān)技術(shù)中對(duì)于電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)取值的可控性較差的問題，進(jìn)而達(dá)到了操作簡(jiǎn)單、實(shí)施方便、功能完善和成本低廉的效果。
[0032]在優(yōu)選實(shí)施例中，基于單片機(jī)控制，應(yīng)用絕緣柵雙極晶體管(IGBT)開發(fā)電壓跌落模擬電路，具備可調(diào)相角、幅值和時(shí)間功能，滿足相關(guān)試驗(yàn)精度要求。
[0033]在優(yōu)選實(shí)施過程中，上述特征參數(shù)可以包括但不限于以下至少之一:
[0034]特征參數(shù)一、電壓跌落的幅值；
[0035]特征參數(shù)二、電壓跌落的相角；
[0036]特征參數(shù)三、電壓跌落的持續(xù)時(shí)間。
[0037]上述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路的主要特征參數(shù)的取值范圍如下:
[0038]( I)跌落幅值范圍:0-100% ；
[0039](2)跌落持續(xù)時(shí)間范圍:lms-5min，分辨率:10μ s ;
[0040](3)跌落相角范圍:0-359°，分辨率:1° ;
[0041](4)輸出電流:100A。
[0042]優(yōu)選地，上述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路可以包括:自耦調(diào)壓器；該自耦調(diào)壓器，用于調(diào)節(jié)被測(cè)試設(shè)備的電壓跌落的幅值，便于電壓跌落步長(zhǎng)的自行設(shè)置。由于電壓跌落幅值范圍達(dá)到了 0-100%，使得電壓跌落范圍可以滿足各種設(shè)備的測(cè)試需求，由此克服了相關(guān)技術(shù)中的電壓跌落發(fā)生器電壓跌落檔位少和跌落程度低的問題。[0043]優(yōu)選地，上述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路可以包括:至少一個(gè)開關(guān)；該至少一個(gè)開關(guān)，用于調(diào)節(jié)被測(cè)試設(shè)備的電壓跌落的相角和/或電壓跌落的持續(xù)時(shí)間。由此，電壓跌落持續(xù)時(shí)間范圍可以自行設(shè)置，其范圍:lms-5min，遠(yuǎn)高于目前現(xiàn)有的電壓跌落發(fā)生器的跌落持續(xù)時(shí)間，能夠滿足瞬時(shí)跌落、暫時(shí)跌落和短時(shí)跌落等各種不同時(shí)間長(zhǎng)度的測(cè)試要求；時(shí)間調(diào)節(jié)的分辨率10 μ S，從而確保跌落時(shí)間的精確程度很高。與此同時(shí)，在本發(fā)明提供的技術(shù)方案中，電壓跌落的相角的范圍:0-359°，分辨率1°，可調(diào)范圍明顯加大而且分辨率較高，可以精確和完善地測(cè)試跌落相角對(duì)被測(cè)試設(shè)備運(yùn)行的影響。
[0044]在優(yōu)選實(shí)施過程中，上述至少一個(gè)開關(guān)可以為但不限于:三端雙向可控硅開關(guān)。
[0045]不僅如此，通過本發(fā)明所提供的技術(shù)方案，由于采用基于單片機(jī)控制，應(yīng)用IGBT開發(fā)了電壓跌落模擬測(cè)試電路，控制系統(tǒng)和電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本也較為低廉，擺脫了相關(guān)技術(shù)中的電壓跌落發(fā)生器的價(jià)格昂貴、控制系統(tǒng)和電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜的困擾。
[0046]優(yōu)選地，圖2是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的電壓跌落的模擬測(cè)試電路的示意圖。如圖2所示，在上述電壓跌落的模擬測(cè)試電路中的電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路可以包括:自耦調(diào)壓器、第一開關(guān)和第二開關(guān)，其中，自耦調(diào)壓器的一端與交流電源的一端相連接，自耦調(diào)壓器的另一端與第二開關(guān)的一個(gè)接線端相連接，第二開關(guān)的另一個(gè)接線端與被測(cè)試設(shè)備的一端相連接，第一開關(guān)的一個(gè)接線端與交流電源的一端相連接，第一開關(guān)的另一個(gè)接線端與被測(cè)試設(shè)備的一端相連接。
[0047]在優(yōu)選實(shí)施例中，上述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路可以使用IGBT實(shí)現(xiàn)兩個(gè)開關(guān)按照反相邏輯的開通或閉合。通過自耦調(diào)壓器調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值以及通過與系統(tǒng)電壓同步并控制開關(guān)開、斷時(shí)刻調(diào)節(jié)電壓跌落發(fā)生的相角和持續(xù)時(shí)間。在第一開關(guān)與第二開關(guān)的開、斷控制中，設(shè)置了 IGBT的死區(qū)保護(hù)。
[0048]圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電壓跌落的模擬測(cè)試方法的流程圖。如圖3所示，該方法可以包括以下處理步驟:
[0049]步驟S302:確定被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落；
[0050]步驟S304:調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。
[0051]采用如圖3所示的方法，解決了相關(guān)技術(shù)中對(duì)于電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)取值的可控性較差的問題，進(jìn)而達(dá)到了操作簡(jiǎn)單、實(shí)施方便、功能完善和成本低廉的效果。
[0052]優(yōu)選地，在步驟S304中，調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值可以包括以下操作:
[0053]步驟S1:調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，確定對(duì)電壓跌落敏感的相角的極值；
[0054]步驟S2:根據(jù)相角的極值確定幅值的極值與持續(xù)時(shí)間的極值。
[0055]在優(yōu)選實(shí)施例中，在對(duì)被測(cè)試設(shè)備進(jìn)行電壓跌落測(cè)試時(shí)，首先通過測(cè)試確定引起該被測(cè)試設(shè)備熄滅最敏感的跌落相角。然后，在該相角下利用測(cè)試電路模擬發(fā)生不同幅值、不同持續(xù)時(shí)間的電壓跌落以及被測(cè)試設(shè)備的耐受能力，并最終確定允許跌落的幅值和持續(xù)時(shí)間的極值。
[0056]優(yōu)選地，在步驟SI中，調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，確定對(duì)電壓跌落敏感的相角的極值可以包括以下步驟:
[0057]步驟Sll:調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，獲取電壓跌落的相角對(duì)電壓跌落的敏感區(qū)域；
[0058]步驟S12:在敏感區(qū)域中確定對(duì)電壓跌落最敏感的相角。
[0059]優(yōu)選地，在步驟S2中，根據(jù)相角的極值確定幅值的極值與持續(xù)時(shí)間的極值可以包括以下操作:
[0060]步驟S21:在相角的極值保持不變的情況下，依次選取幅值；
[0061]步驟S22:根據(jù)選取的幅值對(duì)持續(xù)時(shí)間進(jìn)行調(diào)節(jié)依次獲取與選取的幅值相對(duì)應(yīng)的持續(xù)時(shí)間的極值；
[0062]步驟S23:在選取的幅值中確定幅值的極值，獲取與確定的幅值的極值相對(duì)應(yīng)的持續(xù)時(shí)間的極值。
[0063]優(yōu)選地，在步驟S304，調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值之后，還可以包括以下處理:獲取被測(cè)試設(shè)備恢復(fù)正常運(yùn)行的起始時(shí)刻。
[0064]在優(yōu)選實(shí)施例中，試驗(yàn)電壓等級(jí)為系統(tǒng)標(biāo)稱電壓Ue=220V。被測(cè)試設(shè)備通電運(yùn)行穩(wěn)定后開始測(cè)試。針對(duì)跌落幅值、持續(xù)時(shí)間、跌落相角三個(gè)特征參數(shù)進(jìn)行組合試驗(yàn)，每個(gè)組合進(jìn)行三次，兩次試驗(yàn)之間最小時(shí)間間隔依被測(cè)試設(shè)備的特性而不同，試驗(yàn)中記錄被測(cè)試設(shè)備的電壓和電流波形；引起被測(cè)試設(shè)備故障發(fā)生的跌落相角、跌落幅值和持續(xù)時(shí)間以及被測(cè)試設(shè)備恢復(fù)正常運(yùn)行的重啟時(shí)間。具體的操作流程如下:
[0065]首先，將跌落幅值和持續(xù)時(shí)間調(diào)整到對(duì)相角的敏感區(qū)域，測(cè)試確定引起被測(cè)試設(shè)備故障的極端跌落相角，即對(duì)電壓跌落最敏感的相角。測(cè)試步長(zhǎng):1°，范圍:0-360° ;
[0066]其次，鎖定在已經(jīng)確定的極端跌落相角，設(shè)置一個(gè)電壓跌落幅值，調(diào)整電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，測(cè)試確定在上述跌落幅值下引起被測(cè)試設(shè)備發(fā)生故障的最短持續(xù)時(shí)間；
[0067]然后，調(diào)節(jié)電壓的跌落幅值的設(shè)置，繼續(xù)對(duì)電壓跌落的持續(xù)時(shí)間進(jìn)行測(cè)試。跌落幅值調(diào)整步長(zhǎng):5%Ue，范圍:0_95%Ue (關(guān)鍵點(diǎn)插值步長(zhǎng):l%Ue)。
[0068]需要說明的是，本發(fā)明所提供的技術(shù)方案操作簡(jiǎn)單、實(shí)施方便、功能完善和成本低廉，還可以用來測(cè)試其他類型的設(shè)備，例如:計(jì)算機(jī)、二次控制設(shè)備、音視頻設(shè)備等對(duì)電壓的敏感程度特性。本發(fā)明已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)節(jié)能燈、氣體放電燈、白熾燈、LED燈類等各種照明設(shè)備的測(cè)試。針對(duì)跌落幅值、持續(xù)時(shí)間、跌落相角三個(gè)特征參數(shù)進(jìn)行組合試驗(yàn)，記錄被試燈具的電壓和電流波形；引起熄滅發(fā)生的跌落相角、跌落幅值和持續(xù)時(shí)間以及被測(cè)試燈具熄滅后恢復(fù)正常運(yùn)行的重啟時(shí)間，測(cè)試照明負(fù)荷的耐受能力，并最終確定允許跌落幅值和持續(xù)時(shí)間的極值，獲取了電網(wǎng)電壓跌落對(duì)各種照明設(shè)備的影響程度。
[0069]從以上的描述中，可以看出，上述實(shí)施例實(shí)現(xiàn)了如下技術(shù)效果(需要說明的是這些效果是某些優(yōu)選實(shí)施例可以達(dá)到的效果):解決了相關(guān)技術(shù)中對(duì)于電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)取值的可控性較差的問題，進(jìn)而達(dá)到了操作簡(jiǎn)單、實(shí)施方便、功能完善和成本低廉的效果。
[0070]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用的計(jì)算裝置來實(shí)現(xiàn)，它們可以集中在單個(gè)的計(jì)算裝置上，或者分布在多個(gè)計(jì)算裝置所組成的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計(jì)算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實(shí)現(xiàn)，從而，可以將它們存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置中由計(jì)算裝置來執(zhí)行，并且在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟，或者將它們分別制作成各個(gè)集成電路模塊，或者將它們中的多個(gè)模塊或步驟制作成單個(gè)集成電路模塊來實(shí)現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。
[0071]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電壓跌落的模擬測(cè)試電路，其特征在于，包括: 電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路，與交流電源和被測(cè)試設(shè)備串聯(lián)而成的電路相并聯(lián)，用于在所述被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落時(shí)，調(diào)節(jié)一個(gè)或多個(gè)與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)的取值，確定所述一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模擬測(cè)試電路，其特征在于，所述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路包括:自耦調(diào)壓器； 所述自耦調(diào)壓器，用于調(diào)節(jié)所述被測(cè)試設(shè)備的電壓跌落的幅值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的模擬測(cè)試電路，其特征在于，所述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路包括:至少一個(gè)開關(guān)； 所述至少一個(gè)開關(guān)，用于調(diào)節(jié)所述被測(cè)試設(shè)備的電壓跌落的相角和/或電壓跌落的持續(xù)時(shí)間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模擬測(cè)試電路，其特征在于，所述至少一個(gè)開關(guān)為三端雙向可控硅開關(guān)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模擬測(cè)試電路，其特征在于，所述電壓跌落特征參數(shù)調(diào)節(jié)電路包括:自耦調(diào)壓器、第一開關(guān)和第二開關(guān)，其中，所述自耦調(diào)壓器的一端與所述交流電源的一端相連接，所述自耦調(diào)壓器的另一端與所述第二開關(guān)的一個(gè)接線端相連接，所述第二開關(guān)的另一個(gè)接線端與所述被測(cè)試設(shè)備的一端相連接，所述第一開關(guān)的一個(gè)接線端與所述交流電源的所述一端相連接 ，所述第一開關(guān)的另一個(gè)接線端與所述被測(cè)試設(shè)備的所述一端相連接。
6.—種電壓跌落的模擬測(cè)試方法,其特征在于,包括: 確定被測(cè)試設(shè)備發(fā)生電壓跌落； 調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定所述一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定所述一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值包括: 調(diào)節(jié)電壓跌落的幅值和電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，確定對(duì)電壓跌落敏感的相角的極值； 根據(jù)所述相角的極值確定所述幅值的極值與所述持續(xù)時(shí)間的極值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，調(diào)節(jié)所述電壓跌落的幅值和所述電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，確定對(duì)電壓跌落敏感的所述相角的極值包括: 調(diào)節(jié)所述電壓跌落的幅值和所述電壓跌落的持續(xù)時(shí)間，獲取所述電壓跌落的相角對(duì)所述電壓跌落的敏感區(qū)域； 在所述敏感區(qū)域中確定對(duì)電壓跌落最敏感的相角。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述相角的極值確定所述幅值的極值與所述持續(xù)時(shí)間的極值包括: 在所述相角的極值保持不變的情況下，依次選取所述幅值； 根據(jù)選取的幅值對(duì)所述持續(xù)時(shí)間進(jìn)行調(diào)節(jié)依次獲取與所述選取的幅值相對(duì)應(yīng)的持續(xù)時(shí)間的極值； 在所述選取的幅值中確定所述幅值的極值，獲取與確定的所述幅值的極值相對(duì)應(yīng)的所述持續(xù)時(shí)間的極值。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，在調(diào)節(jié)電壓跌落過程中與電壓跌落相對(duì)應(yīng)的所述一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)的取值，分別確定所述一個(gè)或多個(gè)特征參數(shù)中每個(gè)特征參數(shù)的極值之后，還包括: 獲取所述被測(cè)試設(shè)備恢復(fù)正常運(yùn)行的起始時(shí)刻。
【文檔編號(hào)】G01R19/00GK103926443SQ201310016759
【公開日】2014年7月16日 申請(qǐng)日期:2013年1月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月16日
【發(fā)明者】段大鵬, 王鵬, 于希娟, 趙賀, 王語(yǔ)潔, 任志剛 申請(qǐng)人:國(guó)家電網(wǎng)公司, 北京市電力公司