專(zhuān)利名稱(chēng)：晶體管測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電氣測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種晶體管測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
隨著電子科技的發(fā)展，電子元器件的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，尤其是晶體管的應(yīng)用。人們?cè)谫?gòu)買(mǎi)或使用晶體管時(shí)常需要知道所購(gòu)買(mǎi)或使用的晶體管是否可用，在使用晶體管時(shí)還需要知道晶體管的參數(shù)，以用于電路開(kāi)發(fā)或電子維修。在晶體管測(cè)試初期，采用萬(wàn)用表測(cè)試晶體管的好壞，比較麻煩，且測(cè)試晶體管參數(shù)時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。目前，常用手動(dòng)晶體管測(cè)試儀測(cè)試晶體管參數(shù)，使用時(shí)通過(guò)測(cè)試開(kāi)關(guān)控制測(cè)試。使用開(kāi)關(guān)控制晶體管測(cè)試，在進(jìn)行大量晶體管測(cè)試時(shí)需要人工頻繁控制開(kāi)關(guān)開(kāi)斷，比較麻煩。

實(shí)用新型內(nèi)容基于此，有必要針對(duì)進(jìn)行大量測(cè)試時(shí)需要人工頻繁控制開(kāi)關(guān)較麻煩的問(wèn)題，提供一種不需人工控制的晶體管測(cè)試裝置。一種晶體管測(cè)試裝置，包括對(duì)接入的晶體管進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試模塊，還包括檢測(cè)晶體管的接入狀態(tài)并根據(jù)晶體管的接入狀態(tài)輸出測(cè)試控制信號(hào)的測(cè)試控制模塊，所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試控制模塊包括感應(yīng)開(kāi)關(guān)和第一繼電器，所述感應(yīng)開(kāi)關(guān)連接所述第一繼電器的線圈，所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)一端接地另一端作為所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)接地的一端串聯(lián)第一下拉電阻。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試控制模塊還包括控制燈，對(duì)應(yīng)所述第一繼電器還包括常閉開(kāi)關(guān)，所述控制燈連接所述第一繼電器的常閉開(kāi)關(guān)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試控制模塊還包括延時(shí)電路單元；所述延時(shí)電路單元連接所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)，所述延時(shí)電路單元的信號(hào)輸出端作為所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述延時(shí)電路單元為延時(shí)繼電器組成的延時(shí)電路；所述第一繼電器的線圈連接所述感應(yīng)開(kāi)關(guān)，所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)連接所述延時(shí)繼電器的線圈，所述延時(shí)繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)一端接地另一端作為所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述延時(shí)繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)接地的一端串聯(lián)第二下拉電阻。在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括顯示模塊，所述測(cè)試模塊的信號(hào)輸出端連接所述顯不模塊的信號(hào)輸入端。上述晶體管測(cè)試裝置，用于對(duì)晶體管參數(shù)和使用狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試，包括測(cè)試模塊和檢測(cè)晶體管的接入狀態(tài)并根據(jù)晶體管的接入狀態(tài)輸出測(cè)試控制信號(hào)的測(cè)試控制模塊。當(dāng)晶體管接入時(shí)，測(cè)試控制模塊自動(dòng)控制測(cè)試模塊對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后，晶體管撤離測(cè)試裝置，測(cè)試控制模塊控制測(cè)試模塊自動(dòng)停止測(cè)試。通過(guò)測(cè)試控制模塊自動(dòng)控制測(cè)試模塊對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試，在進(jìn)行大量測(cè)試時(shí)，避免了手工頻繁的開(kāi)關(guān)操作，十分方便。

圖1為本實(shí)用新型晶體管測(cè)試裝置一實(shí)施例的模塊圖；圖2為本實(shí)用新型晶體管測(cè)試裝置另一實(shí)施例的模塊圖；圖3為本實(shí)用新型晶體管測(cè)試裝置又一實(shí)施例的模塊圖；圖4為本實(shí)用新型晶體管測(cè)試裝置再一實(shí)施例的模塊圖。
具體實(shí)施方式
一種晶體管測(cè)試裝置，用于對(duì)晶體管參數(shù)和使用狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)設(shè)置測(cè)試控制模塊，當(dāng)晶體管接入測(cè)試模塊時(shí)，測(cè)試控制模塊控制測(cè)試模塊自動(dòng)對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試，當(dāng)晶體管撤離測(cè)試模塊時(shí)測(cè)試自動(dòng)停止。通過(guò)測(cè)試控制模塊自動(dòng)控制測(cè)試模塊對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試，在進(jìn)行大量測(cè)試時(shí)，避免了手工頻繁的開(kāi)關(guān)操作，十分方便。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。圖1所示，為本實(shí)用新型晶體管測(cè)試裝置一實(shí)施例的模塊圖。一種晶體管測(cè)試裝置，包括對(duì)接入的晶體管進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試模塊10和檢測(cè)晶體管的接入狀態(tài)并根據(jù)晶體管的接入狀態(tài)輸出測(cè)試控制信號(hào)的測(cè)試控制模塊20，測(cè)試控制模塊20的信號(hào)輸出端連接測(cè)試模塊10。當(dāng)晶體管接入測(cè)試模塊10時(shí)，測(cè)試控制模塊20自動(dòng)感應(yīng)并控制測(cè)試模塊10對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試；當(dāng)晶體管撤離測(cè)試模塊10時(shí)，測(cè)試控制模塊20控制測(cè)試模塊10自動(dòng)停止測(cè)試。在對(duì)晶體管進(jìn)行大量測(cè)試時(shí)，只需將晶體管測(cè)試裝置上電，將晶體管接入測(cè)試模塊10后進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，晶體管撤離測(cè)試模塊10后自動(dòng)停止檢測(cè)。避免了人工手工頻繁的開(kāi)關(guān)操作，方便省時(shí)。測(cè)試控制模塊20包括感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl和第一繼電器220，感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl連接第一繼電器220的線圈，第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)K2 —端接地另一端作為測(cè)試控制模塊20的信號(hào)輸出端連接測(cè)試模塊10。當(dāng)感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl感應(yīng)到晶體管接入測(cè)試模塊10后閉合，第一繼電器220的線圈得電，第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)K2閉合，測(cè)試模塊10得電對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試。晶體管撤離后，感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl斷開(kāi)，第一繼電器220的線圈斷電，第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)K2斷開(kāi)，測(cè)試模塊10斷電并停止對(duì)晶體管的測(cè)試。上述感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl對(duì)晶體管的接入位置進(jìn)行監(jiān)測(cè)，當(dāng)晶體管接入到位后感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl自動(dòng)閉合；當(dāng)晶體管撤離后，感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl自動(dòng)斷開(kāi)。具體的，上述感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl可為紅外感應(yīng)開(kāi)關(guān)。在其他實(shí)施例中，還可以采用鍵合開(kāi)關(guān)等，晶體管占據(jù)位置使得感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl閉合，否則感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl就斷開(kāi)。參考圖2，該晶體管測(cè)試裝置還包括控制燈240，控制燈240連接第一繼電器的常閉開(kāi)關(guān)K3。當(dāng)晶體管接入測(cè)試模塊10時(shí)，感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl閉合，第一繼電器220的線圈得電，第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ2閉合,測(cè)試模塊10得電開(kāi)始測(cè)試。同時(shí),第一繼電器220的常閉開(kāi)關(guān)Κ3斷開(kāi)，晶體管測(cè)試裝置上電后點(diǎn)亮的控制燈240斷電熄滅，表示晶體管已經(jīng)接入測(cè)試模塊10并已接入到位。上述晶體管測(cè)試裝置，晶體管接入測(cè)試模塊10后對(duì)其進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通過(guò)控制燈240顯示晶體管是否接入。晶體管接入后，控制燈240熄滅，表示晶體管接觸良好，如果此時(shí)測(cè)試出現(xiàn)故障，可能測(cè)試模塊10出現(xiàn)問(wèn)題；如果晶體管接入測(cè)試模塊10后，控制燈240仍繼續(xù)處于點(diǎn)亮狀態(tài)，可能晶體管未接入到位，此時(shí)可對(duì)故障點(diǎn)進(jìn)行排查。通過(guò)設(shè)置控制燈240可更加明確故障點(diǎn)，方便排查，節(jié)省時(shí)間并提高機(jī)器檢修效率。進(jìn)一步，上述晶體管測(cè)試裝置還包括延時(shí)電路單元(圖未示)，延時(shí)電路單元連接第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ2后連接電源，延時(shí)電路單元的信號(hào)輸出端作為測(cè)試控制模塊20的信號(hào)輸出端連接測(cè)試模塊10，用于控制測(cè)試模塊10延時(shí)對(duì)晶體管進(jìn)行檢測(cè)。參考圖3，上述延時(shí)電路單元為延時(shí)繼電器260組成的延時(shí)電路。第一繼電器220的線圈連接感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl后連接電源，第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ2連接延時(shí)繼電器260的線圈后連接電源，第一繼電器220的常閉開(kāi)關(guān)Κ3連接控制燈240后連接電源，延時(shí)繼電器260的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ4 一端接地另一端作為測(cè)試控制模塊20的信號(hào)輸出端連接測(cè)試模塊10。上述晶體管測(cè)定裝置設(shè)置控制燈240對(duì)晶體管接入狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，如果測(cè)試裝置10開(kāi)始對(duì)晶體管進(jìn)行檢測(cè)時(shí)控制燈240還未熄滅，則其余光會(huì)影響測(cè)試模塊10的測(cè)試結(jié)果，通過(guò)設(shè)置延時(shí)繼電器260的延時(shí)時(shí)間控制測(cè)試模塊10適時(shí)開(kāi)始測(cè)試。當(dāng)晶體管接入時(shí)，感應(yīng)開(kāi)關(guān)Kl閉合，第一繼電器220的線圈得電，第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ2閉合延時(shí)繼電器260開(kāi)始工作，同時(shí)第一繼電器220的常閉開(kāi)關(guān)Κ3斷開(kāi)，控制燈240熄滅，通過(guò)設(shè)置延時(shí)繼電器260的延時(shí)時(shí)間，在控制燈240剛好熄滅時(shí)或剛好熄滅后極短時(shí)間內(nèi)延時(shí)繼電器常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ4閉合，測(cè)試模塊10得電開(kāi)始測(cè)試。通過(guò)合理設(shè)置延時(shí)繼電器260的延時(shí)時(shí)間，保證控制燈240熄滅后測(cè)試模塊10開(kāi)始測(cè)試，不影響測(cè)試效果，延時(shí)時(shí)間設(shè)置合理，不會(huì)影響測(cè)試的效率。同時(shí)，延時(shí)時(shí)間可以進(jìn)行調(diào)節(jié)，以配合不同的控制燈240。如圖2所示，與測(cè)試模塊10連接的第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ2的接地的一端連接第一下拉電阻Rl，當(dāng)上述第一繼電器220的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ2閉合時(shí)，通過(guò)第一下拉電阻Rl提供給測(cè)試模塊10 —個(gè)固定的低電平，使測(cè)試模塊10接通電源開(kāi)始測(cè)試。同樣的，如圖3所示，與測(cè)試模塊10連接的延時(shí)繼電器260的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ4的接地的一端連接第二下拉電阻R2，當(dāng)上述延時(shí)繼電器260的常開(kāi)開(kāi)關(guān)Κ4閉合時(shí)，通過(guò)第二下拉電阻R2提供給測(cè)試模塊10 —個(gè)固定的低電平，使測(cè)試模塊10得電開(kāi)始測(cè)試。如圖4所示，上述晶體管測(cè)試裝置還包括顯示模塊280，顯示模塊280連接電源，測(cè)試模塊10的信號(hào)輸出端連接顯示模塊280的信號(hào)輸入端。通過(guò)顯示模塊280將測(cè)試模塊10對(duì)晶體管的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)顯示，當(dāng)顯示結(jié)果正常，則進(jìn)行下一步操作。如果顯示結(jié)果異常，則配合控制燈240 (參考圖2)的狀態(tài)進(jìn)行檢修，對(duì)故障進(jìn)行排查。以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專(zhuān)利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專(zhuān)利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種晶體管測(cè)試裝置，包括對(duì)接入的晶體管進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試模塊，其特征在于，還包括檢測(cè)晶體管的接入狀態(tài)并根據(jù)晶體管的接入狀態(tài)輸出測(cè)試控制信號(hào)的測(cè)試控制模塊，所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試控制模塊包括感應(yīng)開(kāi)關(guān)和第一繼電器，所述感應(yīng)開(kāi)關(guān)連接所述第一繼電器的線圈，所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)一端接地另一端作為所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)接地的一端串聯(lián)第一下拉電阻。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試控制模塊還包括控制燈，對(duì)應(yīng)所述第一繼電器還包括常閉開(kāi)關(guān)，所述控制燈連接所述第一繼電器的常閉開(kāi)關(guān)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試控制模塊還包括延時(shí)電路單元；所述延時(shí)電路單元連接所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)，所述延時(shí)電路單元的信號(hào)輸出端作為所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，所述延時(shí)電路單元為延時(shí)繼電器組成的延時(shí)電路； 所述第一繼電器的線圈連接所述感應(yīng)開(kāi)關(guān)，所述第一繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)連接所述延時(shí)繼電器的線圈，所述延時(shí)繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)一端接地另一端作為所述測(cè)試控制模塊的信號(hào)輸出端連接所述測(cè)試模塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，所述延時(shí)繼電器的常開(kāi)開(kāi)關(guān)接地的一端串聯(lián)第二下拉電阻。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體管測(cè)試裝置，其特征在于，還包括顯示模塊，所述測(cè)試模塊的信號(hào)輸出端連接所述顯示模塊的信號(hào)輸入端。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種晶體管測(cè)試裝置，用于對(duì)晶體管參數(shù)和使用狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試，包括對(duì)接入的晶體管進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試模塊和檢測(cè)晶體管的接入狀態(tài)并根據(jù)晶體管的接入狀態(tài)輸出測(cè)試控制信號(hào)的測(cè)試控制模塊。當(dāng)晶體管接入測(cè)試模塊時(shí)，測(cè)試控制模塊控制測(cè)試模塊自動(dòng)對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試；晶體管撤離測(cè)試模塊時(shí)，測(cè)試控制模塊控制測(cè)試模塊自動(dòng)停止測(cè)試。通過(guò)測(cè)試控制模塊自動(dòng)控制測(cè)試模塊對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試，在進(jìn)行大量測(cè)試時(shí)，避免了手工頻繁的開(kāi)關(guān)操作，十分方便。
文檔編號(hào)G01R31/26GK202975255SQ20122067672
公開(kāi)日2013年6月5日 申請(qǐng)日期2012年12月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月10日
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