專利名稱：浸入式流體分析設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及氣體或液體的分析，尤其涉及一種浸入式流體分析設(shè)備。
背景技術(shù)：
隨著社會(huì)發(fā)展及生活水平的提高，人們對(duì)自身的生存環(huán)境越來(lái)越重視，對(duì)空氣、飲用、食品等的質(zhì)量的關(guān)注也逐步提高。光譜分析技術(shù)作為一種高精度、快速、低功耗的分析技術(shù)，如吸收光譜分析技術(shù)，可廣泛應(yīng)用在煙氣連續(xù)分析、水質(zhì)連續(xù)分析中。在煙氣分析中，通常采用取樣法和在位法。其中，取樣法的分析過(guò)程為:通過(guò)抽氣泵取樣煙道內(nèi)的待測(cè)煙氣，之后再送入加熱的氣體室內(nèi)，光源發(fā)出的光穿過(guò)煙道內(nèi)的待測(cè)煙氣，由于吸收而被衰減的光進(jìn)入光譜儀內(nèi)，后經(jīng)電子模塊的分析后獲知煙氣中各成分的含量。上述加熱氣體室、光譜儀及復(fù)雜的流路系統(tǒng)、控制系統(tǒng)都安裝在大體積的機(jī)柜內(nèi)。具體做法請(qǐng)參見(jiàn)專利文獻(xiàn) US5621213、DE3714346A1、JP2003-14627A、CN206100518957、CN2008101215043等。在位法的分析過(guò)程為:煙道外的光源穿過(guò)煙道內(nèi)的煙氣，由于吸收而被衰減的光進(jìn)入煙道外的光譜儀內(nèi)，后經(jīng)電子模塊的分析后獲知煙氣中各成分的含量。上述光譜儀及復(fù)雜控制系統(tǒng)都安裝在大體積的機(jī)柜內(nèi)，機(jī)柜體積通常超過(guò)lm3，重量超過(guò)IOOkg0 具體做法請(qǐng)參見(jiàn) CN008137250、《DOAS for flue gas monitoring-1II In-situmonitoring of sulfur dioxide, nitrogen monoxide and ammonia)) JohanMellqvistJ.Quant.Spectrosc.Radiat.Transfer Vol.56, N0.2, pp.225-240.1996。在水質(zhì)分析中，通常采用取樣法，分析過(guò)程為:通過(guò)泵取樣待測(cè)水樣，之后再送入測(cè)量池內(nèi)，光源發(fā)出的光穿過(guò)測(cè)量池內(nèi)的待測(cè)水樣，由于吸收而被衰減的光進(jìn)入光譜儀內(nèi)，后經(jīng)電子模塊的分析后獲知待測(cè)水樣的參數(shù)。上述光源、光譜儀及復(fù)雜的流路系統(tǒng)、控制系統(tǒng)都安裝在大體積的機(jī)柜內(nèi)，機(jī)柜體積通常超過(guò)0.5m3,重量超過(guò)120kg具體做法請(qǐng)參見(jiàn)中國(guó)專利文獻(xiàn) CN2008100622678、CN2008100622682。上述分析方式具有諸多不足，如:1、體積大，上述的光譜儀都是獨(dú)立的模塊，和控制系統(tǒng)、流路系統(tǒng)一起安裝在大的機(jī)柜內(nèi)；2、器件分散，生產(chǎn)、維護(hù)不方便。3、成本高，復(fù)雜的流路系統(tǒng)、獨(dú)立設(shè)計(jì)的光譜儀、大體積的機(jī)柜都提高了生產(chǎn)成本。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷，提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、維護(hù)方便、成本低、功能全面、能便攜的浸入式流體分析設(shè)備。本實(shí)用新型的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:浸入式流體分析設(shè)備，所述分析設(shè)備包括:光源，所述光源用于發(fā)出測(cè)量光；[0013]測(cè)量池，所述測(cè)量池處于所述光源和光學(xué)模塊之間，用于在浸入時(shí)容納待測(cè)流體；[0014]光電檢測(cè)部件，所述光電檢測(cè)部件用于將穿過(guò)所述測(cè)量池的測(cè)量光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到所述電子模塊；[0015]電子模塊，所述電子模塊用于根據(jù)光譜分析技術(shù)處理接收到的所述電信號(hào)，從而獲知所述待測(cè)流體的參數(shù)；[0016]第一腔體，所述第一腔體內(nèi)部中空，設(shè)置在所述光源的一側(cè)，并與所述測(cè)量池保持密封；[0017]電路保護(hù)模塊，所述電路保護(hù)模塊設(shè)置在所述第一腔體內(nèi)，用于保護(hù)光源模塊；[0018]第一堵頭，所述第一堵頭用于通過(guò)線纜，設(shè)置在所述第一腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，并與所述第一腔體保持密封。[0019]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，可選地，所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括:[0020]第二腔體，所述第二腔體內(nèi)部中空，設(shè)置在所述測(cè)量池和第一腔體之間，并與所述測(cè)量池、第一腔體保持密封；[0021]光源模塊，所述光源模塊設(shè)置在所述第二腔體內(nèi)，信號(hào)輸出端與所述光源連接；[0022]第二堵頭，所述第二堵頭設(shè)置在所述第二腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，用于固定所述光源模塊。[0023]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，可選地，所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括:[0024]第三腔體，所述第三腔體的內(nèi)部中空，設(shè)置在所述測(cè)量池的一側(cè)，并與所述測(cè)量池保持S封；[0025]會(huì)聚部件，所述會(huì)聚部件設(shè)置在所述第三腔體的內(nèi)部，用于將所述光源發(fā)出的且穿過(guò)所述測(cè)量池的測(cè)量光會(huì)聚在狹縫處；[0026]狹縫，所述狹縫設(shè)置在所述第三腔體的內(nèi)部，且處于所述會(huì)聚部件的一側(cè)；[0027]分光部件，所述分光部件通過(guò)安裝部件設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)；[0028]光電檢測(cè)部件，所述光電檢測(cè)部件設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)，用于將穿過(guò)所述狹縫且經(jīng)所述分光部件分光后的測(cè)量光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到所述電子模塊；[0029]端蓋，所述端蓋安裝在所述第三腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，并與第三腔體保持密封。[0030]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，可選地，所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括:[0031]調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)，用于調(diào)節(jié)所述會(huì)聚部件及狹縫，或所述分光部件，或光電檢測(cè)部件的位置。[0032]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，優(yōu)選地，所述電子模塊設(shè)置在所述第三腔體的內(nèi)部。[0033]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，優(yōu)選地，所述會(huì)聚部件和狹縫固定在一起。[0034]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，可選地，所述第一堵頭或第一腔體上設(shè)有檢漏孔。[0035]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，優(yōu)選地，所述測(cè)量池呈“凹”狀。[0036]根據(jù)上述的流體分析設(shè)備，可選地，所述流體是氣體或液體。[0037]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果:[0038]1、體積小，入射狹縫、分光部件及光電檢測(cè)部件都集成在較小的第三腔體內(nèi)，無(wú)需設(shè)置復(fù)雜的流路系統(tǒng)、機(jī)柜，極大地降低了分析設(shè)備的體積，僅為3.14X10-3cm3左右，重量也僅為2kg左右，真正實(shí)現(xiàn)了便攜性；2、器件緊湊，光源、入射狹縫、分光部件及光電檢測(cè)部件的安裝方式極為緊湊、科學(xué)，生產(chǎn)、維護(hù)很方便；3、成本低，無(wú)需設(shè)計(jì)復(fù)雜的流路系統(tǒng)、獨(dú)立的光譜儀、大體積的機(jī)柜，大大降低了生產(chǎn)成本，為該分析設(shè)備的推廣應(yīng)用奠定了基礎(chǔ)；4、功能全面，為電路系統(tǒng)(如光源模塊)設(shè)計(jì)了專門(mén)的保護(hù)模塊，有效地防止了電路由于意外(如雷擊)而損壞。還設(shè)置了固定電源模塊的堵頭，防止了電源模塊松動(dòng)而碰撞損壞或意外停機(jī)。

參照附圖，本實(shí)用新型的公開(kāi)內(nèi)容將變得更易理解。本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解的是:這些附圖僅僅用于舉例說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而并非意在對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍構(gòu)成限制。圖中:圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例1的流體分析設(shè)備的基本結(jié)構(gòu)圖；圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例1的測(cè)量池的基本結(jié)構(gòu)圖；圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例1的優(yōu)選的光學(xué)模塊的基本結(jié)構(gòu)圖；圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例1的優(yōu)選的第一、第二腔體的基本結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
圖1-4和以下說(shuō)明描述了本實(shí)用新型的可選實(shí)施方式以教導(dǎo)本領(lǐng)域技術(shù)人員如何實(shí)施和再現(xiàn)本實(shí)用新型。為了教導(dǎo)本實(shí)用新型技術(shù)方案，已簡(jiǎn)化或省略了一些常規(guī)方面。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解源自這些實(shí)施方式的變型或替換將在本實(shí)用新型的范圍內(nèi)。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解下述特征能夠以各種方式組合以形成本實(shí)用新型的多個(gè)變型。由此，本實(shí)用新型并不局限于下述可選實(shí)施方式，而僅由權(quán)利要求和它們的等同物限定。實(shí)施例1:圖1示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的浸入式流體分析設(shè)備的基本結(jié)構(gòu)圖，如圖1所示，所述浸入式流體分析設(shè)備包括光源1，所述光源I發(fā)出的光具有對(duì)應(yīng)于待測(cè)流體的吸收光譜譜線的測(cè)量光；如氙燈、氘燈等寬譜光源。測(cè)量池2，所述測(cè)量池處于所述光源和光學(xué)模塊之間，用于在浸入時(shí)容納所述待測(cè)流體；圖2示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的優(yōu)選的測(cè)量池的基本結(jié)構(gòu)圖，如圖2所示，所述測(cè)量池2呈“凹”狀，具有光學(xué)窗口 21、22，光學(xué)窗口 21、22之間為自由空間，待測(cè)流體進(jìn)入該自由空間內(nèi)，光源I發(fā)出的光穿過(guò)光學(xué)窗口 21、22之間的距離為測(cè)量光程。光學(xué)模塊，圖3示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的光學(xué)模塊的基本結(jié)構(gòu)圖，如圖3所示，所述光學(xué)模塊3包括:第三腔體31，所述第三腔體31的內(nèi)部中空，設(shè)置在所述測(cè)量池2的一側(cè)，并與所述測(cè)量池2保持密封；所述第三腔體31可采用不銹鋼或塑料，對(duì)待測(cè)氣體或液體有耐腐蝕性。會(huì)聚部件32，所述會(huì)聚部件32設(shè)置在所述第三腔體31的內(nèi)部，用于將所述光源I發(fā)出的且穿過(guò)所述測(cè)量池2的測(cè)量光會(huì)聚在狹縫33處；所述會(huì)聚部件可采用透鏡。[0056]狹縫33，所述狹縫33設(shè)置在所述第三腔體31的內(nèi)部，且處于所述會(huì)聚部件32的一側(cè)；優(yōu)選地，所述會(huì)聚部件和狹縫固定在一起。[0057]分光部件34，所述分光部件34通過(guò)安裝部件37設(shè)置在所述第三腔體31內(nèi)；所述分光部件可采用光柵、棱鏡等器件。[0058]光電檢測(cè)部件35，所述光電檢測(cè)部件35設(shè)置在所述第三腔體31內(nèi)，用于將穿過(guò)所述狹縫33且經(jīng)所述分光部件34分光后的測(cè)量光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到所述電子模塊36 ;所述光電檢測(cè)部件采用光電傳感器，如CCD、CMOS等。[0059]端蓋39，所述端蓋39通過(guò)螺紋、螺栓等方式安裝在所述第三腔體31的一側(cè)，并與第三腔體31保持密封；[0060]電子模塊36，所述電子模塊36用于根據(jù)光譜分析技術(shù)處理接收到的所述電信號(hào)，從而獲知所述待測(cè)流體的參數(shù)，如氣體濃度，液體的濁度等參數(shù)。優(yōu)選地，所述電子模塊設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)。[0061]為了更好地保護(hù)所述電源模塊免受意外(如雷擊或外界強(qiáng)信號(hào)干擾)損壞，所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括:[0062]第一腔體，圖4示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的第一腔體的基本結(jié)構(gòu)圖，如圖4所示，所述第一腔體51內(nèi)部中空，設(shè)置在所述光源I的一側(cè)，并與所述第二腔體41保持S封；[0063]電路保護(hù)模塊52，所述電路保護(hù)模塊52設(shè)置在所述第一腔體51內(nèi)，用于保護(hù)所述光源模塊42 ;電路保護(hù)模塊52主要用于防止所述光源模塊42由于外界雷擊、強(qiáng)信號(hào)干擾而損壞，具體的電路保護(hù)模塊是現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。[0064]第一堵頭53，所述第一堵頭53用于通過(guò)線纜，通過(guò)螺紋等方式設(shè)置在所述第一腔體51的一側(cè)，并與所述第一腔體51保持密封。[0065]為了更好地調(diào)節(jié)分析設(shè)備的測(cè)量精度及測(cè)量范圍，可選地，所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括:[0066]第一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述第一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)，用于調(diào)節(jié)所述會(huì)聚部件和狹縫的位置。[0067]第二調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述第二調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述安裝部件上，用于調(diào)節(jié)所述分光部件的位置。[0068]第三調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述第三調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)，用于調(diào)節(jié)所述光電檢測(cè)部件的位置。[0069]上述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的具體機(jī)構(gòu)是本領(lǐng)域的現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。[0070]可選地，所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括:[0071]第二腔體，圖4示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的第二腔體的基本結(jié)構(gòu)圖，如圖4所示，所述第二腔體41內(nèi)部中空，設(shè)置在所述測(cè)量池2和第一腔體51之間，并與所述測(cè)量池2、第一腔體51保持密封；[0072]光源模塊42，所述光源模塊42設(shè)置在所述第二腔體41內(nèi)，信號(hào)輸出端與所述光源I連接；[0073]第二堵頭43，所述第二堵頭43通過(guò)螺紋等方式安裝在所述第二腔體41的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池2的一端，用于固定所述光源模塊42，與所述光源模塊42連接的線纜穿過(guò)該第二堵頭43。為了使整個(gè)分析設(shè)備與外界待測(cè)氣體或液體保持隔離，腔體之間應(yīng)密封，還需對(duì)整個(gè)分析設(shè)備做檢漏實(shí)驗(yàn)，可選地，所述第一堵頭或第一腔體上設(shè)有檢漏孔。實(shí)施例2:根據(jù)實(shí)施例1所述的流體分析設(shè)備及其調(diào)試方法在煙氣連續(xù)監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用例，在該應(yīng)用例中，光源采用氙燈，發(fā)出的光中具有對(duì)應(yīng)于一氧化氮、二氧化硫的吸收光譜譜線的測(cè)量光，采用透鏡組作為會(huì)聚部件，利用光柵作為分光部件，探測(cè)器采用CMOS。測(cè)量池呈“凹”狀，中間凹陷部位的兩側(cè)設(shè)置玻璃窗片，隔離待測(cè)煙氣與腔體內(nèi)部件，窗片之間為測(cè)量光程。所述光源和會(huì)聚透鏡處于所述窗片的兩側(cè)，使得光源發(fā)出的光穿過(guò)窗片、待測(cè)煙氣后被所述會(huì)聚透鏡會(huì)聚在狹縫處。為了能進(jìn)一步調(diào)節(jié)分析設(shè)備的測(cè)量精度、范圍，透鏡組和狹縫通過(guò)第一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在第三腔體內(nèi)，使得所述透鏡組和狹縫能前后移動(dòng)，以調(diào)節(jié)光譜分辨率；所述光柵通過(guò)第二調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在安裝部件上，使得能三維調(diào)節(jié)所述光柵，以提高光譜檢測(cè)范圍；所述探測(cè)器通過(guò)第三調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在第三腔體內(nèi)，以提高接收光強(qiáng)。如，所述安裝部件通過(guò)螺栓安裝在第三腔體的內(nèi)部，所述安裝部件和第三腔體之間設(shè)置彈性材料(如橡膠圈)，通過(guò)調(diào)節(jié)所述螺栓以調(diào)整光柵的位置，從而實(shí)現(xiàn)第三調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)的功能。所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)還可采用常規(guī)的一維、二維、三維光學(xué)調(diào)節(jié)架。上述腔體、端蓋及堵頭都采用不銹鋼材料，提高了耐腐蝕、耐高溫、耐沖刷能力，且
第一、第二和第三腔體都采用圓筒。在所述分析設(shè)備的出廠調(diào)試中，光學(xué)模塊的調(diào)試方式為:通過(guò)調(diào)節(jié)所述狹縫的位置去調(diào)節(jié)光譜分辨率，通過(guò)調(diào)節(jié)所述分光部件的位置去調(diào)節(jié)光譜范圍、通過(guò)調(diào)節(jié)所述光電檢測(cè)部件的位置去調(diào)節(jié)光強(qiáng)，當(dāng)調(diào)試結(jié)果滿足要求后，固定好狹縫、光柵、CMOS的位置并密封。在檢測(cè)時(shí)，將整個(gè)分析設(shè)備浸沒(méi)在煙氣中，煙氣充滿測(cè)量池，電子模塊輸出煙氣中一氧化氮、二氧化硫的濃度值。實(shí)施例3:根據(jù)實(shí)施例1所述的流體分析設(shè)備及其調(diào)試方法在水質(zhì)分析中的應(yīng)用例，在該應(yīng)用例中，光源采用氙燈，采用透鏡組作為會(huì)聚部件，利用光柵作為分光部件，探測(cè)器采用CCD。測(cè)量池呈“凹”狀，中間凹陷部位的兩側(cè)設(shè)置玻璃窗片，隔離待測(cè)煙氣與腔體內(nèi)部件，窗片之間為測(cè)量光程。所述光源和會(huì)聚透鏡處于所述窗片的兩側(cè)，使得光源發(fā)出的光穿過(guò)窗片、待測(cè)水樣后被所述會(huì)聚透鏡會(huì)聚在狹縫處。為了能進(jìn)一步調(diào)節(jié)分析設(shè)備的測(cè)量精度、范圍，透鏡組和狹縫通過(guò)第一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在第三腔體內(nèi)，使得所述透鏡組和狹縫能前后移動(dòng)，以調(diào)節(jié)光譜分辨率；所述光柵通過(guò)第二調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在安裝部件上，使得能三維調(diào)節(jié)所述光柵，以提高光譜檢測(cè)范圍；所述探測(cè)器通過(guò)第三調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在第三腔體內(nèi)，以提高接收光強(qiáng)。如，所述安裝部件通過(guò)螺栓安裝在第三腔體的內(nèi)部，所述安裝部件和第三腔體之間設(shè)置彈性材料(如橡膠圈)，通過(guò)調(diào)節(jié)所述螺栓以調(diào)整光柵的位置，從而實(shí)現(xiàn)第三調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)的功能。所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)還可采用常規(guī)的一維、二維、三維光學(xué)調(diào)節(jié)架。[0085]上述腔體、端蓋及堵頭都采用不銹鋼材料，提高了耐腐蝕、耐高溫、耐沖刷能力，且第一、第二和第三腔體都采用圓筒。[0086]在所述分析設(shè)備的出廠調(diào)試中，光學(xué)模塊的調(diào)試方式為:[0087]通過(guò)調(diào)節(jié)所述狹縫的位置去調(diào)節(jié)光譜分辨率，通過(guò)調(diào)節(jié)所述分光部件的位置去調(diào)節(jié)光譜范圍、通過(guò)調(diào)節(jié)所述光電檢測(cè)部件的位置去調(diào)節(jié)光強(qiáng)，當(dāng)調(diào)試結(jié)果滿足要求后，固定好狹縫、光柵、CMOS的位置并密封。[0088]在檢測(cè)時(shí)，將整個(gè)分析設(shè)備浸沒(méi)在水樣中，水樣充滿測(cè)量池，電子模塊輸出水樣的參數(shù)值。[0089]根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例3達(dá)到的益處在于:入射狹縫、分光部件及光電檢測(cè)部件都集成在較小的第三腔體內(nèi)，結(jié)構(gòu)緊湊，同時(shí)無(wú)需設(shè)置復(fù)雜的流路系統(tǒng)、機(jī)柜，體積小，長(zhǎng)度僅為40cm,直徑僅為5cm,重量?jī)H為2kg,輕便易攜帶,可作為便攜式分析設(shè)備,還具有電路保護(hù)功能。[0090]上述是實(shí)施例僅是示例性地給出了各部件的具體選用，如分光部件采用光柵，光源采用氙燈，當(dāng)然，上述各部件還可以是其它選用，如分光部件棱鏡等器件，光源采用氘燈等寬譜光源。這對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，是能夠預(yù)料到的，是能夠?qū)崿F(xiàn)本實(shí)用新型的目的的。
權(quán)利要求1.一種浸入式流體分析設(shè)備，所述分析設(shè)備包括: 光源，所述光源用于發(fā)出測(cè)量光； 測(cè)量池，所述測(cè)量池處于所述光源和光學(xué)模塊之間，用于在浸入時(shí)容納待測(cè)流體；光電檢測(cè)部件，所述光電檢測(cè)部件用于將穿過(guò)所述測(cè)量池的測(cè)量光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到電子模塊； 電子模塊，所述電子模塊用于根據(jù)光譜分析技術(shù)處理接收到的所述電信號(hào)，從而獲知所述待測(cè)流體的參數(shù)； 第一腔體，所述第一腔體內(nèi)部中空，設(shè)置在所述光源的一側(cè)，并與所述測(cè)量池保持密封； 電路保護(hù)模塊，所述電路保護(hù)模塊設(shè)置在所述第一腔體內(nèi)，用于保護(hù)光源模塊； 第一堵頭，所述第一堵頭用于通過(guò)線纜，設(shè)置在所述第一腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，并與所述第一腔體保持密封。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括: 第二腔體，所述第二腔體內(nèi)部中空，設(shè)置在所述測(cè)量池和第一腔體之間，并與所述測(cè)量池、第一腔體保持密封； 光源模塊，所述光源模塊設(shè)置在所述第二腔體內(nèi)，信號(hào)輸出端與所述光源連接； 第二堵頭，所述第二堵頭設(shè)置在所述第二腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，用于固定所述光源模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括: 第三腔體，所述第三腔體的內(nèi)部中空，設(shè)置在所述測(cè)量池的一側(cè)，并與所述測(cè)量池保持S封； 會(huì)聚部件，所述會(huì)聚部件設(shè)置在所述第三腔體的內(nèi)部，用于將所述光源發(fā)出的且穿過(guò)所述測(cè)量池的測(cè)量光會(huì)聚在狹縫處； 狹縫，所述狹縫設(shè)置在所述第三腔體的內(nèi)部，且處于所述會(huì)聚部件的一側(cè)； 分光部件，所述分光部件通過(guò)安裝部件設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)； 光電檢測(cè)部件，所述光電檢測(cè)部件設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)，用于將穿過(guò)所述狹縫且經(jīng)所述分光部件分光后的測(cè)量光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到所述電子模塊； 端蓋，所述端蓋安裝在所述第三腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，并與第三腔體保持密封。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述分析設(shè)備進(jìn)一步包括: 調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第三腔體內(nèi)，用于調(diào)節(jié)所述會(huì)聚部件及狹縫，或分光部件，或光電檢測(cè)部件的位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述電子模塊設(shè)置在所述第三腔體的內(nèi)部。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述會(huì)聚部件和狹縫固定在一起。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述第一堵頭或第一腔體上設(shè)有檢漏孔。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述測(cè)量池呈“凹”狀。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述 的流體分析設(shè)備，其特征在于:所述流體是氣體或液體。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種浸入式流體分析設(shè)備，包括光源，用于發(fā)出測(cè)量光；測(cè)量池，處于所述光源和光學(xué)模塊之間，用于在浸入時(shí)容納所述待測(cè)流體；光電檢測(cè)部件，用于將穿過(guò)所述測(cè)量池的測(cè)量光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到所述電子模塊；電子模塊，用于根據(jù)光譜分析技術(shù)處理接收到的所述電信號(hào)，從而獲知所述待測(cè)流體的參數(shù)；第一腔體，內(nèi)部中空，設(shè)置在所述光源的一側(cè)，并與所述測(cè)量池保持密封；電路保護(hù)模塊，設(shè)置在所述第一腔體內(nèi)，用于保護(hù)電源模塊；第一堵頭，用于通過(guò)線纜，設(shè)置在所述第一腔體的遠(yuǎn)離所述測(cè)量池的一端，并與所述第一腔體保持密封。本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)緊湊、維護(hù)方便、成本低、功能全面等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01N21/01GK202994651SQ20122061815
公開(kāi)日2013年6月12日 申請(qǐng)日期2012年11月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月21日
發(fā)明者于志偉 申請(qǐng)人:于志偉