專利名稱：一種適合于x熒光多元素分析儀測量的防沉積節(jié)能載流裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種適合于X熒光多元素分析儀測量的防沉積節(jié)能載流裝技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實用新型涉及一種防沉積節(jié)能載流裝置及方法，具體說是涉及一種適合于X熒光多元素分析儀測量的防沉積節(jié)能載流裝置及方法。
背景技術(shù)：
[0002]我國冶金、有色金屬、礦山、建材等眾多領(lǐng)域的生產(chǎn)過程中，原料中各種元素的配比對產(chǎn)品質(zhì)量起著關(guān)鍵的作用。目前基于專利技術(shù)“在流檢測多元素分析裝置及方法”(專利號:200710010105.5)的在流X熒光多元素分析儀器已經(jīng)很好的實現(xiàn)了對料流的各組成元素含量的實時檢測，擺脫了人工取樣后再進(jìn)行化學(xué)分析的煩瑣程序，大大提高了生產(chǎn)效率。[0003]但是礦漿將磨細(xì)至一定粒度要求的礦石顆粒和浸取劑水溶液按一定的液固比調(diào)制而成的，在靜止或流動緩慢的時候容易發(fā)生沉積，而且在平緩流動時還導(dǎo)致礦漿的濃度并不均勻，即礦漿的上層密度比下層密度要小。因此在流X熒光多元素分析儀器在測量的同時，還采用攪拌器對礦漿進(jìn)行攪拌，使礦漿混勻且不發(fā)生沉積。目前的狀況是[0004]在儀器的實際應(yīng)用中，由于被分析的礦漿濃度變化范圍很大，導(dǎo)致雖然在流槽中設(shè)有攪拌器，但是其轉(zhuǎn)速只能為固定值，不能根據(jù)礦漿的濃度變化而隨之調(diào)節(jié)，導(dǎo)致當(dāng)?shù)V漿濃度過高時依然會產(chǎn)生沉積，而當(dāng)?shù)V漿濃度過低時又浪費能源。發(fā)明內(nèi)容[0005]本實用新型針對現(xiàn)有在流X熒光多元素分析儀器在應(yīng)用中所存在的缺陷，提出一種針對工業(yè)在流X熒光多元素分析儀器在應(yīng)用中能夠防止礦漿沉積的、有效節(jié)能的裝置及方法。[0006]本實用新型所采用的技術(shù)方案是:[0007]流槽24中裝有前檔板23及后檔板8，將流槽24分隔成進(jìn)礦倉25、測量倉26及排礦倉27三個空間，其中進(jìn)礦倉25與測量倉26之間在后檔板8的下方連通，測量倉26與排礦倉27之間在前擋板23的上方連通。在進(jìn)礦倉25的側(cè)面位置制有進(jìn)料管9。在測量倉26的底部中心位置制有排料口 10，并且測量倉26及進(jìn)礦倉25的整個底面成兩邊高、中間低的形狀，排料口 10處于測量倉26及進(jìn)礦倉25的整個底面最低的位置。排料口 10平時封堵，其作用是當(dāng)?shù)V漿斷流時，可以通過打開排料口 10將測量倉26及進(jìn)礦倉25中的淤礦排空。在排礦倉27的底部制有出料管11。前擋板23的頂部向排礦倉27方向彎折，在前擋板23的上方分別裝有一定高度的左橡膠擋板21和右橡膠擋板22。[0008]在流槽24上方固定有探測腔體1，在探測腔體I的頭部中固定有放射源及X射線探測器。探測腔體I的頭部深入到測量倉26中，并低于前擋板23的上沿，保證能夠浸入在礦漿中。在流槽24上方固定有攪拌電機(jī)4，攪拌電機(jī)4接有長桿3，在長桿3的底端裝有葉輪2，當(dāng)攪拌電機(jī)4轉(zhuǎn)動時將通過長桿3帶動葉輪2在處于測量倉26中的探測腔體I的下方空間中旋轉(zhuǎn)。[0009]本實用新型的具體應(yīng)用方法是:[0010]當(dāng)?shù)V漿由進(jìn)料管9流入流槽24，按箭頭所示方向，先流經(jīng)進(jìn)礦倉25，然后從后檔板8的下方流入測量倉26，再從前擋板23的上方及左橡膠擋板21和右橡膠擋板22之間的區(qū)域溢流入排礦倉27，最后由出料管11流出流槽24。由于連通器的原理，礦漿將淹沒探測腔體I的頭部以及葉輪2。礦漿在測量倉26中的流動方向是從下向上，并在葉輪2的攪拌作用下，充分混合均勻。[0011]探測腔體I的頭部中固定的X射線探測器的信號通過信號電纜傳輸給多道能譜儀5。多道能譜儀5將接收到的信號轉(zhuǎn)化為能譜后通過信號電纜傳輸給工控機(jī)6。工控機(jī)6對接收到的能譜進(jìn)行尋峰、定道址(確定能量)、峰面積求和、扣除相應(yīng)本底等相應(yīng)處理后，計算出放射源射線散射峰面積Stl，具體計算Stl的方法在專利技術(shù)“在流檢測多元素分析裝置及方法”(專利號:200710010105.5)的公開文件中已有說明，已經(jīng)是目前的公知技術(shù)。由于礦漿濃度與放射源射線散射峰面積Stl存在線性關(guān)系，因此工控機(jī)6可以根據(jù)放射源射線散射峰面積Stl計算得到合適的攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速P (單位:轉(zhuǎn)/分鐘)。工控機(jī)6通過信號電纜將攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速P傳輸給電氣控制柜7，電氣控制柜7調(diào)節(jié)攪拌電機(jī)4的轉(zhuǎn)速為P。[0012]通過放射源射線散射峰面積Stl計算得到攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速P的公式為:[0013]p^A-S0-S0+B-S0+C[0014]式中:P為攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速，單位為“轉(zhuǎn)/分鐘”;Stl為放射源射線散射峰面積；A、B、C為經(jīng)驗系數(shù)，這些系數(shù)的確定，可以在實際應(yīng)用過程中逐步調(diào)整，直至達(dá)到一個滿意的效果為止。[0015]本實用新型的有益效果是:[0016]礦漿在測量倉26中上返，以及葉輪2的攪拌作用，可以解決礦漿濃度分層的問題，混合均勻的礦漿使得在流X熒光多元素分析儀器的檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確。[0017]當(dāng)?shù)V漿斷流時，可以通過打開排料口 10將測量倉26及進(jìn)礦倉25中的淤礦排空，避免礦漿在測量倉26及進(jìn)礦倉25中沉積成為死礦。[0018]攪拌電機(jī)的轉(zhuǎn)速根據(jù)礦漿的濃度變化隨時調(diào)整，當(dāng)?shù)V漿濃度升高時隨之提高轉(zhuǎn)速避免產(chǎn)生沉積，而當(dāng)?shù)V漿濃度降低時隨之減小轉(zhuǎn)速可以節(jié)約能源。


圖1是本實用新型的裝置結(jié)構(gòu)示意圖[0020]圖2是流槽的俯視圖[0021]圖中:1探測腔體，2葉輪，3長桿，4攪拌電機(jī)，5多道能譜分析儀，6工控機(jī)，7電氣控制柜，8后擋板，9進(jìn)料管，10排料口，11出料管，21左橡膠擋板，22右橡膠擋板，23前擋板，24流槽，25進(jìn)礦倉，26測量倉，27排礦倉。
具體實施方式
[0022]結(jié)合附圖詳細(xì)說明本實用新型的裝置結(jié)構(gòu)和使用方法。[0023]如圖1及圖2所示，流槽24中裝有前檔板23及后檔板8，將流槽24分隔成進(jìn)礦倉25、測量倉26及排礦倉27三個空間，其中進(jìn)礦倉25與測量倉26之間在后檔板8的下方連通，測量倉26與排礦倉27之間在前擋板23的上方連通。在進(jìn)礦倉25的側(cè)面位置制有進(jìn)料管9。在測量倉26的底部中心位置制有排料口 10，并且測量倉26及進(jìn)礦倉25的整個底面成兩邊高、中間低的形狀，排料口 10處于測量倉26及進(jìn)礦倉25的整個底面最低的位置。排料口 10平時封堵，其作用是當(dāng)?shù)V漿斷流時，可以通過打開排料口 10將測量倉26及進(jìn)礦倉25中的淤礦排空。在排礦倉27的底部制有出料管11。前擋板23的頂部向排礦倉27方向彎折，在前擋板23的上方分別裝有一定高度的左橡膠擋板21和右橡膠擋板22。[0024]在流槽24上方固定有探測腔體1，探測腔體I的頭部深入到測量倉26中，并低于前擋板23的上沿，保證浸入在礦漿中。在流槽24上方固定有攪拌電機(jī)4，攪拌電機(jī)4接有長桿3，在長桿3的底端裝有葉輪2，當(dāng)攪拌電機(jī)4轉(zhuǎn)動時將通過長桿3帶動葉輪2在處于測量倉26中的探測腔體I的下方空間中旋轉(zhuǎn)。[0025]當(dāng)?shù)V漿由進(jìn)料管9流入流槽24，按箭頭所示方向，先流經(jīng)進(jìn)礦倉25，然后從后檔板8的下方流入測量倉26，再從前擋板23的上方及左橡膠擋板21和右橡膠擋板22之間的區(qū)域溢流入排礦倉27，最后由出料管11流出流槽24。由于連通器的原理，礦漿將淹沒探測腔體I的頭部以及葉輪2。礦漿在測量倉26中的流動方向是從下向上，并在葉輪2的攪拌作用下，充分混合均勻。[0026]在探測腔體I的頭部中固定有放射源及X射線探測器。X射線探測器的信號通過信號電纜傳輸給多道能譜儀5。多道能譜儀5將接收到的信號轉(zhuǎn)化為能譜后通過信號電纜傳輸給工控機(jī)6。工控機(jī)6對接收到的能譜進(jìn)行尋峰、定道址(確定能量)、峰面積求和、扣除相應(yīng)本底等相應(yīng)處理后，計算出放射源射線散射峰面積Stl，具體計算Stl的方法已經(jīng)是目前的公知技術(shù)。由于礦漿濃度與放射源射線散射峰面積Stl存在線性關(guān)系，因此工控機(jī)6可以根據(jù)放射源射線散射峰面積Stl計算得到合適的攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速P (單位:轉(zhuǎn)/分鐘)。工控機(jī)6通過信號電纜將攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速P傳輸給電氣控制柜7，電氣控制柜7調(diào)節(jié)攪拌電機(jī)4的轉(zhuǎn)速為P。[0027]通過放射源射線散射峰面積Stl計算得到攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速P的公式為:[0028]P = Λ ■ Sq ■ Sq B ' Sq ~l.C[0029]式中:P為攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速，單位為“轉(zhuǎn)/分鐘”;Stl為放射源射線散射峰面積；A、B、C為經(jīng)驗系數(shù)，這些系數(shù)的確定，可以在實際應(yīng)用過程中逐步調(diào)整，直至達(dá)到一個滿意的效果為止。`[0030]電氣控制柜7調(diào)節(jié)攪拌電機(jī)4轉(zhuǎn)速的方法有很多，屬于目前的公知技術(shù)，是有經(jīng)驗的電氣工程師可以掌握的，具體可以通過常規(guī)的PLC或單片機(jī)再配合以變頻器的途徑來實現(xiàn)。[0031]應(yīng)用實例:[0032]流槽、圓柱滑軌、擺桿、取樣漏斗、框架、防護(hù)罩等為委托機(jī)械加工單位定制。[0033]攪拌電機(jī)選用可調(diào)速的常規(guī)三相異步電機(jī)。[0034]經(jīng)過在某選礦廠的實際應(yīng)用，設(shè)置參數(shù)如下:[0035]A=0.03 ；[0036]B=3.7 ；[0037] C=1權(quán)利要求1.一種適合于X熒光多元素分析儀測量的防沉積節(jié)能載流裝置，其特征是: 流槽中裝有前檔板及后檔板，將流槽分隔成進(jìn)礦倉、測量倉及排礦倉三個空間，其中進(jìn)礦倉與測量倉之間在后檔板的下方連通，測量倉與排礦倉之間在前擋板的上方連通，在進(jìn)礦倉的側(cè)面位置制有進(jìn)料管，在測量倉的底部中心位置制有排料口，并且測量倉及進(jìn)礦倉的整個底面成兩邊高、中間低的形狀，排料口處于測量倉及進(jìn)礦倉的整個底面最低的位置，在排礦倉的底部制有出料管，在前擋板的上方分別裝有一定高度的左橡膠擋板和右橡膠擋板； 在流槽上方固定有探測腔體，在探測腔體的頭部中固定有放射源及X射線探測器，探測腔體的頭部深入到測量倉中，并低于前擋板的上沿，保證能夠浸入在礦漿中；在流槽上方固定有攪拌電機(jī)，攪拌電機(jī)接有長桿，在長桿的底端裝有葉輪。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的一種適合于X熒光多元素分析儀測量的防沉積節(jié)能載流裝置，其特征在于:當(dāng)攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)動時將通過長桿帶動葉輪在處于測量倉中的探測腔體的下方空間中旋轉(zhuǎn)。
專利摘要本實用新型涉及一種適合于X熒光多元素分析儀測量的防沉積節(jié)能載流裝置。流槽中裝有前檔板及后檔板，將流槽分隔成進(jìn)礦倉、測量倉及排礦倉三個空間，其中進(jìn)礦倉與測量倉之間在后檔板的下方連通，測量倉與排礦倉之間在前擋板的上方連通，使礦漿在測量倉中由下向上流動。在測量倉的底部中心位置制有排料口，排料口平時封堵。流槽的上方固定有探測腔體和攪拌電機(jī)，通過對探測腔體中探測器測量信號處理后獲得與礦漿濃度成線性關(guān)系的放射源射線散射峰面積S0，并根據(jù)S0調(diào)節(jié)攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速。攪拌電機(jī)的轉(zhuǎn)速根據(jù)礦漿的濃度變化隨時調(diào)整，當(dāng)?shù)V漿濃度升高時隨之提高轉(zhuǎn)速避免產(chǎn)生沉積，而當(dāng)?shù)V漿濃度降低時隨之減小轉(zhuǎn)速可以節(jié)約能源。
文檔編號G01N23/223GK202974896SQ20122059955
公開日2013年6月5日 申請日期2012年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月14日
發(fā)明者張偉, 佟超, 李劍鋒, 龔亞林, 周洪軍, 尹兆余, 陳樹軍, 于海明, 張建, 趙龍, 魏曉云, 劉永超, 畢然, 劉業(yè)紹 申請人:丹東東方測控技術(shù)有限公司